一种集成电路测试座的制作方法

本技术涉及集成电路测试，尤其涉及一种集成电路测试座。

背景技术：

1、集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，而在工厂生产的芯片需要用测试座检测。

2、现有技术中，如中国专利cn218885986u公开了一种集成电路测试座，包括操作台，操作台的顶端开设有升降槽，升降槽的内部设有升降机构，升降槽的内部底端固定连接有底座，底座的顶端靠近两侧处均开设有滑槽。

3、但现有技术中，工厂使用的集成电路测试座，现有的设备检测完成通过人工将芯片从测试座中取出，而此方法会可能会出现芯片的一侧先出来，而另一侧还在测试座的内部，可能导致的测试座引脚和芯片引脚损坏，从而不便使用。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的工厂使用的集成电路测试座，现有的设备检测完成通过人工将芯片从测试座中取出，而此方法会可能会出现芯片的一侧先出来，而另一侧还在测试座的内部，可能导致的测试座引脚和芯片引脚损坏，从而不便使用的问题，而提出的一种集成电路测试座。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种集成电路测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的内部一侧开设有安装槽，所述安装槽内部的底部固定安装有马达，所述马达的输出端固定连接有异型块，所述异型块的一侧转动连接有二号转动杆，所述二号转动杆的外侧壁的一侧转动连接有升降杆，所述升降杆的一端固定连接有升降台，所述安装槽的内壁的一侧固定连接有连接杆，两个所述连接杆之间固定连接有限位架，所述限位架的内壁与升降杆的外侧壁滑动连接。

3、优选的，所述测试座本体的一侧固定连接有一号转动杆，所述一号转动杆的外侧壁转动连接有转动块，所述转动块的一侧固定连接有盖板。

4、优选的，所述盖板的一侧固定连接有拉动把手，所述拉动把手的一侧设置有夹持块，所述夹持块的一侧与盖板的一侧固定连接。

5、优选的，所述测试座本体的另一侧边缘处固定连接有限位块，所述限位块的一侧与夹持块的一侧卡接。

6、优选的，所述测试座本体的上端一侧开设有密封凹槽，所述盖板的另一侧固定连接有密封橡胶垫。

7、优选的，所述测试座本体的上端设置有测试架，所述测试架的上端螺纹连接有固定螺栓，四个所述固定螺栓的一侧均与测试座本体的一侧螺纹连接，所述测试架的上端设置有测试引脚。

8、优选的，所述测试座本体的下端四角处均固定连接有支撑脚。

9、与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于：

10、1、本实用新型中，通过升降台与异型块的设置，开启马达将异型块沿着马达的输出方向旋转，从而将升降杆进行移动，其限位架对升降杆进行限位，将升降杆上下移动，从而将测试架上的芯片顶出，从而防止在取出时，出现芯片的一侧先出来，而另一侧还在测试座的内部，可能导致的测试座引脚和芯片引脚损坏。

11、2、本实用新型中，通过密封凹槽与密封橡胶垫的设置，将手握持在拉动把手上，将拉动把手向下压，从而将盖板盖在测试座本体上，从而将密封橡胶垫进入密封凹槽内，防止了不使用时，会有潮湿的空气和细小的灰尘进入测试座本体内。

技术特征：

1.一种集成电路测试座，包括测试座本体（1），其特征在于：所述测试座本体（1）的内部一侧开设有安装槽（14），所述安装槽（14）内部的底部固定安装有马达（54），所述马达（54）的输出端固定连接有异型块（51），所述异型块（51）的一侧转动连接有二号转动杆（52），所述二号转动杆（52）的外侧壁的一侧转动连接有升降杆（53），所述升降杆（53）的一端固定连接有升降台（5），所述安装槽（14）的内壁的一侧固定连接有连接杆（15），两个所述连接杆（15）之间固定连接有限位架（16），所述限位架（16）的内壁与升降杆（53）的外侧壁滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座本体（1）的一侧固定连接有一号转动杆（12），所述一号转动杆（12）的外侧壁转动连接有转动块（13），所述转动块（13）的一侧固定连接有盖板（11）。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述盖板（11）的一侧固定连接有拉动把手（3），所述拉动把手（3）的一侧设置有夹持块（31），所述夹持块（31）的一侧与盖板（11）的一侧固定连接。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座本体（1）的另一侧边缘处固定连接有限位块（32），所述限位块（32）的一侧与夹持块（31）的一侧卡接。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座本体（1）的上端一侧开设有密封凹槽（33），所述盖板（11）的另一侧固定连接有密封橡胶垫（34）。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座本体（1）的上端设置有测试架（4），所述测试架（4）的上端螺纹连接有固定螺栓（41），四个所述固定螺栓（41）的一侧均与测试座本体（1）的一侧螺纹连接，所述测试架（4）的上端设置有测试引脚（42）。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试座，其特征在于：所述测试座本体（1）的下端四角处均固定连接有支撑脚（2）。

技术总结
本技术公开了一种集成电路测试座，涉及集成电路测试技术领域，包括测试座本体，所述测试座本体的内部一侧开设有安装槽，所述安装槽内部的底部固定安装有马达，所述马达的输出端固定连接有异型块，所述异型块的一侧转动连接有二号转动杆，所述二号转动杆的外侧壁的一侧转动连接有升降杆，所述升降杆的一端固定连接有升降台。本技术通过升降台与异型块的设置，开启马达将异型块沿着马达的输出方向旋转，从而将升降杆进行移动，其限位架对升降杆进行限位，将升降杆上下移动，从而将测试架上的芯片顶出，从而防止在取出时，出现芯片的一侧先出来，而另一侧还在测试座的内部，可能导致的测试座引脚和芯片引脚损坏。

技术研发人员：陆豫君
受保护的技术使用者：无锡涛升集成电路有限公司
技术研发日：20230713
技术公布日：2024/2/21