一种孔内深槽测量装置的制作方法

本技术涉及量具领域，具体涉及一种孔内深槽测量装置。

背景技术：

1、现有很多领域中，有许多深孔环槽的机械零部件，诸如发动机缸体的缸孔需要在孔内较深位置加工环槽。内环槽的直径测量中碍于“孔深口小肚大面窄”的形状，致使很多同类检具无法使用，如内径量表、三爪内径千分尺，量具卡尺等。

2、申请号为cn201821429284.6的实用新型专利公开了一种待检测孔深环槽检测装置，包括与环形槽匹配的塞规和标准规格的钢球，所述塞规包括塞杆，在塞杆的两端设有中空结构的塞头，所述塞头上通过螺纹连接有塞盖，并且塞头内设有若干标准规格的钢球，检测时，打开塞盖，将塞头内的钢球拿出并涂抹黄油，均布、填满环形槽，将塞规放入工件待检测孔，塞头能够顺利通过环形槽，可以保证工件为合格品，完成检测。检测装置，只能适用于某一规格的待检测孔环槽检测，且在将钢球填塞到环槽内时操作十分不便，在大批量检测时效率不高，此外无法准确计算出环槽的深度。

技术实现思路

1、针对上述现有技术中的不足之处，本实用新型提供一种孔内深槽测量装置，其结构简单，操作方便，适合多种规格的待检测孔深槽检测，方便计算环槽深度。

2、为了达到上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

3、一种孔内深槽测量装置，其特征在于：包括塞规、测量杆、驱动杆，所述塞规的下部具有径向贯通的活动孔，所述测量杆活动设置于所述活动孔中，所述塞规上具有竖向孔，所述竖向孔下部与所述活动孔连通，所述驱动杆旋转设置于所述竖向孔中，所述驱动杆下端设置有齿轮，所述测量杆朝向所述竖向孔的一侧具有齿条结构，所述齿轮与所述齿条结构啮合，所述驱动杆上端伸出所述塞规的顶面，所述驱动杆上端设置有示位结构，所述塞规顶面设置刻度线，所述示位结构与所述刻度线的对齐位置用以显示所述测量杆端部伸出所述塞规表面的距离。

4、进一步地，所述测量杆的伸出端的端部为球头结构。

5、进一步地，所述驱动杆上端设置有旋钮，所述示位结构位于所述旋钮上。

6、进一步地，所述示位结构为刻线或指针。

7、进一步地，所述竖向孔内设置有轴套，所述驱动杆与所述轴套转动配合。

8、进一步地，所述轴套替换为滚针轴承。

9、进一步地，所述塞规上设置有定位套，所述定位套轴向滑动设置于所述塞规上，所述定位套上设置有紧定螺钉，用以将定位套定位到塞规上预定位置。

10、本实用新型的有益效果包括：结构简单，操作方便，适用于大于塞规直接的多种待检测孔深位置的环槽深度测量，通过尺寸转换计算可以直接读数，方便快速的测量环槽深度，适用于大批量检测，测量精度高。

技术特征：

1.一种孔内深槽测量装置，其特征在于：包括塞规(1)、测量杆(2)、驱动杆(3)，所述塞规(1)的下部具有径向贯通的活动孔(11)，所述测量杆(2)活动设置于所述活动孔(11)中，所述塞规(1)上具有竖向孔(12)，所述竖向孔(12)下部与所述活动孔(11)一侧连通，所述驱动杆(3)旋转设置于所述竖向孔(12)中，所述驱动杆(3)下端设置有齿轮(4)，所述测量杆(2)朝向所述竖向孔(12)的一侧具有齿条结构(21)，所述齿轮(4)与所述齿条结构(21)啮合，所述驱动杆(3)上端伸出所述塞规(1)的顶面，所述驱动杆(3)上端设置有示位结构(31)，所述塞规(1)顶面设置刻度线(13)，所述示位结构(31)与所述刻度线(13)的对齐位置用以显示所述测量杆(2)端部伸出所述塞规(1)表面的距离。

2.根据权利要求1所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述测量杆(2)的伸出端的端部为球头结构。

3.根据权利要求1所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述驱动杆(3)上端设置有旋钮(32)，所述示位结构(31)位于所述旋钮(32)上。

4.根据权利要求1或3所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述示位结构(31)为刻线或指针。

5.根据权利要求1所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述竖向孔(12)内设置有轴套(5)，所述驱动杆(3)与所述轴套(5)转动配合。

6.根据权利要求5所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述轴套(5)替换为滚针轴承。

7.根据权利要求1所述的一种孔内深槽测量装置，其特征在于：所述塞规(1)上设置有定位套(6)，所述定位套(6)轴向滑动设置于所述塞规(1)上，所述定位套(6)上设置有紧定螺钉(7)，用以将定位套(6)定位到塞规(1)上预定位置。

技术总结
本技术公开了一种孔内深槽测量装置，其特征在于：包括塞规、测量杆、驱动杆，塞规的下部具有径向贯通的活动孔，测量杆活动设置于活动孔中，塞规上具有竖向孔，竖向孔下部与活动孔连通，驱动杆旋转设置于竖向孔中，驱动杆下端设置有齿轮，测量杆朝向竖向孔的一侧具有齿条结构，齿轮与齿条结构啮合，驱动杆上端伸出塞规的顶面，驱动杆上端设置有示位结构，塞规顶面设置刻度线，示位结构与刻度线的对齐位置用以显示测量杆端部伸出塞规表面的距离。本技术的有益效果包括：结构简单，操作方便，适用于大于塞规直接的多种待检测孔深位置的环槽深度测量，通过尺寸转换计算可以直接读数，方便快速的测量环槽深度，适用于大批量检测，测量精度高。

技术研发人员：刘迁伍,罗宾,马俊驰
受保护的技术使用者：重庆美利信科技股份有限公司
技术研发日：20230720
技术公布日：2024/3/11