一种用于光纤环全温零偏测试的装置及测试系统的制作方法

本技术属于光纤环测试，具体涉及一种用于光纤环全温零偏测试的装置及测试系统。

背景技术：

1、光纤环是光纤角度传感器/光纤陀螺的传感核心，它的缠绕质量的好坏往往直接决定光纤陀螺的精度。光纤环在绕制过程中需要采用特殊缠绕方式、精密绕制技术、完善的封装工艺，以之来保证光纤环具有高质量的静态特性（低的偏振串音、低的插入损耗等）和高质量的瞬态特性（抗振动、抗冲击、不受环境温度和磁场的影响）。

2、光纤环在具体的应用中会受到由机械张力、振动、冲击和温度梯度等因素引起的环境干扰，当环境干扰对相向传播的两束光信号影响不同时，会产生附加相位漂移误差。这种瞬态效应会妨碍sagnac相位差的精确检测，而在实际应用中，温度梯度造成的瞬态效应尤为突出。因此，在实际制备光纤环时，需要通过光纤环全温零偏测试对其进行筛选。

3、在现有技术中，光纤环全温零偏测试的温度范围通常为-45℃~80℃，并大多采用高低温箱来完成测试。然而，常规的高低温箱其内部湿度较大，光纤环由低温升至高温过程中，环体温度的变化相较于空气温度的变化缓慢，升温过程中会有水汽凝结到光纤环体表面，造成光纤环局部温差较大，局部温度不同造成光纤的折射率不同，从而影响零偏测试结果，引入较大的测试误差。

技术实现思路

1、针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种，本实用新型提供了一种用于光纤环全温零偏测试的装置及测试系统，能够有效满足光纤环全温零偏测试的需求，并有效降低湿度对光纤环全温零偏测试结果的影响，提升光纤环筛环的准确性。

2、为实现上述目的，本实用新型的一个方面，提供一种用于光纤环全温零偏测试的装置，其包括由导热材料制成的底板和密封罩；

3、所述底板与所述密封罩可拆卸连接，并在两者装配连接后形成有用于容置待测试光纤环的密封空腔；

4、所述密封空腔中设置有用于实时检测密封空腔中湿度的湿度传感器，并对应所述密封空腔开设有一对通孔，分别用于进气阀门和出气阀门的安装；且

5、在所述底板或者所述密封罩上还开设有连通所述密封空腔的尾纤孔，用于所述光纤环上两段尾纤的穿设。

6、作为本实用新型的进一步改进，所述密封罩包括盖板和罩体；

7、所述盖板为中部开设有通孔的环板结构，所述罩体为一端开口、一端封闭的筒状结构，所述罩体以其开口一侧连接在所述盖板上。

8、作为本实用新型的进一步改进，所述密封罩通过所述盖板与所述底板抵接装配，并在所述底板与所述盖板之间设置有密封圈。

9、作为本实用新型的进一步改进，对应所述密封圈在所述底板和/或所述盖板的端面上开设有密封凹槽，用于所述密封圈的嵌设；

10、所述密封圈的一侧嵌设于对应密封凹槽中，其另一侧突出于该密封凹槽。

11、作为本实用新型的进一步改进，所述一对通孔开设于所述罩体背离所述盖板的一侧端面；

12、和/或

13、所述尾纤孔开设于所述罩体的外周壁面上。

14、作为本实用新型的进一步改进，所述底板正对所述密封罩的端面上开设有定位凹槽，用于所述光纤环一侧凸起的嵌设容置。

15、作为本实用新型的进一步改进，所述底板和/或所述密封罩由铝合金材料制成。

16、本实用新型的另一个方面，还提供一种用于光纤环全温零偏测试的测试系统，其包括所述的用于光纤环全温零偏测试的装置；

17、该测试系统还包括高低温箱、测试设备和干燥气体输送组件；

18、所述高低温箱用于所述装置在测试时放置并进行测试温度的调节；所述测试设备用于与设置于所述装置内的光纤环的尾纤连接，以实现温度变化过程中光纤环的全温零偏测试；且

19、所述干燥气体输送组件通过进气阀门连通所述密封空腔，用于在所述密封空腔中湿度超标时向其中通入干燥气体。

20、作为本实用新型的进一步改进，所述高低温箱的温度调节范围为-40℃~90℃。

21、作为本实用新型的进一步改进，所述干燥气体为干燥的氮气。

22、上述改进技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

23、总体而言，通过本实用新型所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有的有益效果包括：

24、（1）本实用新型的用于光纤环全温零偏测试的装置，其包括由导热材料制成的底板和密封罩，两者装配后形成密封空腔，通过在该密封空腔中设置湿度传感器，并对应该密封空腔设置有可安装进出气阀门的通孔，使得密封空腔中的湿度可以得到实时测量，并为干燥气体的通入提供了条件，确保光纤环的全温零偏测试可在湿度可控的环境下进行，有效降低湿度对全温零偏测试的影响，提升光纤环全温零偏测试的准确性，保证光纤环筛环过程的精度。

25、（2）本实用新型的用于光纤环全温零偏测试的装置，其通过在底板与密封罩之间设置密封圈，并对应开设相应的密封凹槽，使得密封空腔的密封性可以进一步得到保证，充分保证光纤环全温零偏测试的准确性。

26、（3）本实用新型的用于光纤环全温零偏测试的装置，其通过在底板上开设定位凹槽，使得光纤环多次试验或者同一批次不同光纤环试验时可以设置在装置内的同一位置，保证光纤环全温零偏测试前试件设置的准确性，进一步提升测试结果的可靠性。

27、（4）本实用新型的用于光纤环全温零偏测试的装置，其结构简单，使用便捷，能够为光纤环的全温零偏提供封闭的测试空间，并能够准确完成测试空间中湿度的检测和调节，保证光纤环全温零偏测试的准确性，降低湿度对全温零偏测试的影响，减少光纤环全温零偏测试的误差，提升光纤环筛环过程的准确性，具有较好的实用价值。

技术特征：

1.一种用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，包括由导热材料制成的底板和密封罩；

2.根据权利要求1所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，所述密封罩包括盖板和罩体；

3.根据权利要求2所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，所述密封罩通过所述盖板与所述底板抵接装配，并在所述底板与所述盖板之间设置有密封圈。

4.根据权利要求3所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，对应所述密封圈在所述底板和/或所述盖板的端面上开设有密封凹槽，用于所述密封圈的嵌设；

5.根据权利要求2~4中任一项所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，所述一对通孔开设于所述罩体背离所述盖板的一侧端面；

6.根据权利要求1~4中任一项所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，所述底板正对所述密封罩的端面上开设有定位凹槽，用于所述光纤环一侧凸起的嵌设容置。

7.根据权利要求1~4中任一项所述的用于光纤环全温零偏测试的装置，其特征在于，所述底板和/或所述密封罩由铝合金材料制成。

8.一种用于光纤环全温零偏测试的测试系统，其特征在于，包括如权利要求1~7中任一项所述的用于光纤环全温零偏测试的装置；

9.根据权利要求8所述的用于光纤环全温零偏测试的测试系统，其特征在于，所述高低温箱的温度调节范围为-40℃~90℃。

10.根据权利要求8或9所述的用于光纤环全温零偏测试的测试系统，其特征在于，所述干燥气体为干燥的氮气。

技术总结
本技术公开了一种用于光纤环全温零偏测试的装置及测试系统，属于光纤环测试技术领域，其包括由导热材料制成的底板和密封罩，两者装配后形成密封空腔，通过在该密封空腔中设置湿度传感器，并对应设置可安装进出气阀门的通孔，使得密封空腔中的湿度可以得到实时测量，并为干燥气体的通入提供了条件，确保光纤环的全温零偏测试可在湿度可控的环境下进行。本技术的测试装置，其结构简单，使用便捷，能够为光纤环的全温零偏提供封闭的测试空间，并能够准确完成测试空间中湿度的检测和调节，保证光纤环全温零偏测试的准确性，降低湿度对全温零偏测试的影响，减少光纤环全温零偏测试的误差，提升光纤环筛环过程的准确性，具有较好的实用价值。

技术研发人员：胡义慧,曾沫,刘壮,胡小龙,杨坤,杨晨
受保护的技术使用者：长飞光纤光缆股份有限公司
技术研发日：20230911
技术公布日：2024/4/7