一种用于集成电路测试的嵌入式开发板的制作方法

文档序号:37751443发布日期:2024-04-25 10:38阅读:6来源:国知局
一种用于集成电路测试的嵌入式开发板的制作方法

本技术涉及开发板,具体为一种用于集成电路测试的嵌入式开发板。


背景技术:

1、开发板是用来嵌入式系统开发的一种电路板,包括中央处理器、储存器、输入设备、输出设备等零部件组成,开发板也是为初学者了解和学习系统的硬件和软件。

2、而现在大多数的用于集成电路测试的嵌入式开发板存在以下几个问题:

3、一、现有的集成电路测试的嵌入式开发板通常通过焊接或者多个螺栓进行安装固定,拆卸时需要对多个螺栓进行拆卸,费时费力,无法便捷稳定的进行拆卸修理。

4、二、现有的集成电路测试的嵌入式开发板在长时间使用时,容易产生高温,若无法对开发板进行降温,容易导致开发板上零部件受损,从而影响开发板的使用寿命。

5、所以我们提出了一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,以便于解决上述中提出的问题。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,以解决上述背景技术提出的目前市场上的集成电路测试的嵌入式开发板拆卸时需要对多个螺栓进行拆卸,同时长时间使用时,容易产生高温问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,包括安装底板、卡合杆和卡槽,所述安装底板内转动连接有双向螺纹杆,所述双向螺纹杆上螺纹连接有移动块,所述移动块上固定连接有固定板,所述固定板内固定连接有第一弹簧,所述第一弹簧另一端连接有限位块,所述安装底板一侧转动连接有转动件,所述转动件固定连接在双向螺纹杆一侧,所述安装底板上固定连接有扶持架,所述扶持架上转动连接有防护罩,所述防护罩顶部开设有通孔,所述通孔内固定连接有防尘网,所述通孔内固定连接有散热扇,所述安装底板上安装有开发板主体,所述防护罩一侧开设有插口槽,所述防护罩上固定连接有第二弹簧,所述第二弹簧另一端固定连接有卡合杆,所述卡合杆限位滑动连接在防护罩上,所述安装底板一侧开设有卡槽。

3、优选的,所述双向螺纹杆螺纹连接在移动块的中心部位,所述移动块底端面与安装底板内部底端面相贴合。

4、优选的,所述移动块对称分布在双向螺纹杆左右两侧,所述移动块与固定板一一对应。

5、优选的,所述第一弹簧对称分布在固定板的前后两侧,所述第一弹簧与限位块一一对应。

6、优选的,所述转动件固定连接在双向螺纹杆一侧中心部位,所述插口槽等距开设在防护罩的一侧。

7、优选的,所述散热扇设置两组,两组散热扇对称分布在防护罩的前后两侧,每组散热扇等距分布在防护罩上。

8、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该用于集成电路测试的嵌入式开发板设置有。

9、(1)该用于集成电路测试的嵌入式开发板设有双向螺纹杆,通过转动转动件,转动件通过双向螺纹杆带动移动块与固定板进行限位移动,位移的同时对开发板主体进行夹持,防止开发板主体发生位移脱落,能够便捷稳定的拆卸修理。

10、(2)该用于集成电路测试的嵌入式开发板设有散热扇,在开发板主体长时间运行时,通过开启防护罩上的散热扇,对开发板主体进行风冷散热,顶部的防尘网防止散热扇吹风时空中的灰尘被吸入防护罩内,影响开发板主体正常运行,同时吹风对开发板主体进行快速有效的降温,防止影响开发板主体的使用寿命。



技术特征:

1.一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,包括安装底板(1)、卡合杆(16)和卡槽(17),其特征在于:所述安装底板(1)内转动连接有双向螺纹杆(2),所述双向螺纹杆(2)上螺纹连接有移动块(3),所述移动块(3)上固定连接有固定板(4),所述固定板(4)内固定连接有第一弹簧(5),所述第一弹簧(5)另一端连接有限位块(6),所述安装底板(1)一侧转动连接有转动件(7),所述转动件(7)固定连接在双向螺纹杆(2)一侧,所述安装底板(1)上固定连接有扶持架(8),所述扶持架(8)上转动连接有防护罩(9),所述防护罩(9)顶部开设有通孔(10),所述通孔(10)内固定连接有防尘网(11),所述通孔(10)内固定连接有散热扇(12),所述安装底板(1)上安装有开发板主体(13),所述防护罩(9)一侧开设有插口槽(14),所述防护罩(9)上固定连接有第二弹簧(15),所述第二弹簧(15)另一端固定连接有卡合杆(16),所述卡合杆(16)限位滑动连接在防护罩(9)上,所述安装底板(1)一侧开设有卡槽(17)。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,其特征在于:所述双向螺纹杆(2)螺纹连接在移动块(3)的中心部位,所述移动块(3)底端面与安装底板(1)内部底端面相贴合。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,其特征在于:所述移动块(3)对称分布在双向螺纹杆(2)左右两侧,所述移动块(3)与固定板(4)一一对应。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,其特征在于:所述第一弹簧(5)对称分布在固定板(4)的前后两侧,所述第一弹簧(5)与限位块(6)一一对应。

5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,其特征在于:所述转动件(7)固定连接在双向螺纹杆(2)一侧中心部位,所述插口槽(14)等距开设在防护罩(9)的一侧。

6.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,其特征在于:所述散热扇(12)设置两组,两组散热扇(12)对称分布在防护罩(9)的前后两侧,每组散热扇(12)等距分布在防护罩(9)上。


技术总结
本技术公开了一种用于集成电路测试的嵌入式开发板,包括安装底板、卡合杆和卡槽,所述安装底板内转动连接有双向螺纹杆,所述双向螺纹杆上螺纹连接有移动块,所述防护罩一侧开设有插口槽,所述防护罩上固定连接有第二弹簧,所述第二弹簧另一端固定连接有卡合杆,所述卡合杆限位滑动连接在防护罩上,所述安装底板一侧开设有卡槽,该用于集成电路测试的嵌入式开发板设有散热扇,在开发板主体长时间运行时,通过开启防护罩上的散热扇,对开发板主体进行风冷散热,顶部的防尘网防止散热扇吹风时空中的灰尘被吸入防护罩内,影响开发板主体正常运行,同时吹风对开发板主体进行快速有效的降温,防止影响开发板主体的使用寿命。

技术研发人员:谢伟良
受保护的技术使用者:湖南国科鸿飞科技有限公司
技术研发日:20230913
技术公布日:2024/4/24
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1