一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试夹具，具体的说是一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，属于集成电路测试分选设备技术领域。
【背景技术】
[0002]集成电路测试分选机用于对集成电路进行电性能测试并根据测试结果对集成电路进行分类。测试夹具是测试分选机的一个非常重要的部件。在测试分选机的工作过程中，真空吸笔吸取集成电路移动到测试分选机的测试夹具上方，通过机构控制真空吸笔下压，把吸附在真空吸笔末端的集成电路的海鸥型引脚压在测试夹具的测试簧片上，并一一对应，进行电性能测试。测试时要求集成电路的引脚与测试簧片位置对齐，因而集成电路引脚与测试簧片的接触情况直接影响集成电路的测试结果。
[0003]以往，由于集成电路体积较大，其引脚间距也较大，测试时对电路引脚与测试簧片接触的位置精度要求不高，一般情况下不带定位功能的测试夹具就能满足测试要求。随着终端消费电子的便携化及节省电力等的要求，超小型封装形式的集成电路数量迅猛增长，目前已经占到了集成电路市场总量的70%以上，其主要特征表现为芯片体积小、引脚多且密集、集成功能强大，因此对测试夹具的要求较高。如果集成电路引脚与测试簧片间的定位不够精确，可能会造成集成电路引脚与测试簧片接触不到位，导致测试良率低下，甚至造成集成电路引脚间短路，烧毁集成电路。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于克服现有技术中存在的不足，提供一种用于集成电路测试分选机的测试夹具，具有集成电路自动定位功能，能够在真空吸笔吸附集成电路下压的过程中，自动对集成电路进行位置校正，保证集成电路引脚与测试簧片接触良好，从而提高测试质量。
[0005]按照本发明提供的技术方案:一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，包括测试底座、测试支座、压块限位块、测试压块、测试绝缘块、压缩弹簧、导向轴和测试簧片;所述测试支座通过三维调整机构连接在测试底座上，压块限位块安装在测试支座的顶部，压块限位块中间开有槽口 ；所述测试压块置于压块限位块的槽口内并能上下移动，压块限位块限制着测试压块向上移动的行程;在测试支座和压块限位块之间安装有两根竖向的导向轴，所述测试压块上设有两个导孔，测试压块通过其上的导孔与所述导向轴构成滑动导向配合;压缩弹簧设置在测试支座和测试压块之间，压缩弹簧下端连接测试支座，压缩弹簧上端连接测试压块，测试压块可沿导向轴在压缩弹簧作用下上下往复移动;所述测试压块顶部安装着用于承托集成电路的测试绝缘块，所述测试支座前后两侧分别用簧片固定组件夹紧有一个用于与集成电路引脚接触的测试簧片，两个测试簧片前后对称。
[0006]作为本发明的进一步改进，所述三维调整机构包括水平调节块、下竖直调节块和上竖直调节块;所述水平调节块放置在测试底座上并通过横向调整组件和纵向调整组件与之连接;所述横向调整组件安装在测试底座右端，横向调整组件包括横向调节螺栓、横向调节垫片、横向调节滑块和横向定位销，所述测试底座右端中部设有横向滑槽，所述横向调节滑块置于横向滑槽内，所述横向调节垫片固定在测试底座右端面上，所述横向螺杆螺纹连接在横向调节垫片上，横向调节螺杆内端与横向调节滑块螺纹连接，横向调节螺杆旋转时带动横向调节滑块在横向滑槽内左右滑动;所述横向定位销下端固定在横向滑块上，横向定位销上端活动插接在水平调节块上的销孔内；所述横向滑块通过横向定位销与水平调节块连接;所述纵向调整组件安装在测试底座侧边，纵向调整组件包括纵向调节螺栓、纵向调节垫片、纵向调节滑块和纵向定位销，所述测试底座内设有纵向滑槽，所述纵向调节滑块置于纵向滑槽内，所述纵向调节垫片固定在测试底座侧边上，所述纵向螺杆螺纹连接在纵向调节垫片上，纵向调节螺杆内端与纵向调节滑块螺纹连接，纵向调节螺杆旋转时带动纵向调节滑块在纵向滑槽内前后滑动;所述纵向定位销下端固定在纵向滑块上，纵向定位销上端活动插接在水平调节块上的横向腰形孔内；所述下竖直调节块通过第一螺栓连接在水平调节块上，所述上竖直调节块通过第二螺栓连接在下竖直调节块上，所述下竖直调节块上用于安装第二螺栓的孔为竖向腰形孔;所述测试支座连接在上竖直调节块上。
[0007]作为本发明的进一步改进，所述簧片固定组件包括簧片固定横块和C型固定块，所述簧片固定横块和簧片C型固定块分别固定连接在测试支座侧面，所述测试簧片夹紧在簧片固定横块、簧片C型固定块与测试支座之间。
[0008]作为本发明的进一步改进，所述簧片固定横块上加工有长槽，所述簧片C型固定块的横框上安装有两件能够左右移动调整的簧片卡块，两件簧片卡块卡在测试簧片两侧，通过左右横移调整簧片卡块就可以微调测试簧片的位置。
[0009]作为本发明的进一步改进，所述压块限位块的槽口上方设有斜坡面且左右对称。
[0010]作为本发明的进一步改进，所述测试绝缘块的上表面设有凹槽，所述凹槽的前后边内壁面均为斜坡面且相互对称。
[0011]作为本发明的进一步改进，所述凹槽的前后边内壁面均为弧形斜坡面。
[0012]作为本发明的进一步改进，所述测试压块与测试绝缘块之间通过外轮廓卡紧固定。
[0013]作为本发明的进一步改进，所述测试压块为非导电金属材料，所述测试绝缘块为硬质塑料类非金属材料。
[0014]本发明与已有技术相比，具有以下优点:本发明结构简单、紧凑、合理，具有集成电路定位功能，能够在真空吸笔末端吸附集成电路下压过程中，对集成电路进行位置调整和定位，提高了集成电路的引脚和测试簧片的接触精度，进而提高了测试的质量。
【附图说明】
[0015]图1为本发明实施例的立体结构示意图。
[0016]图2为图1中A部放大图。
[0017]图3为本发明实施例的结构剖视图。
[0018]图4为图3中的局部放大图。
[0019]附图标记说明:1-测试底座、2-水平调节块、3-下竖直调节块、4-上竖直调节块、5-测试支座、6-压块限位块、7-测试压块、8-测试绝缘块、9-压缩弹簧、10-导向轴、11-簧片固定横块、12-C型固定块、13-簧片卡块、14-测试簧片、15-真空吸笔、16-集成电路、17.1-横向调节螺栓、18.1-横向调节垫片、19.1-横向调节滑块、20.1-横向定位销、17.2-纵向调节螺栓、18.2-纵向调节垫片、19.2-纵向调节滑块、20.2-纵向定位销、21-第一螺栓、22-第二螺栓。
【具体实施方式】
[0020]下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
[0021]如图所示:实施例是一种具有定位功能的用于集成电路16测试分选机的测试夹具，其主要由测试底座1、水平调节块2、下竖直调节块3、上竖直调节块4、测试支座5、压块限位块6、测试压块7、测试绝缘块8、压缩弹簧9、导向轴10、簧片固定横块11、C型固定块12、簧片卡块13、测试簧片14、横向调节螺栓17.1、横向调节垫片18.1、横向调节滑块19.1、横向定位销20.1、纵向调节螺栓17.2、纵向调节垫片18.2、纵向调节滑块19.2、纵向定位销20.2、第一螺栓21和第二螺栓22等组成。
[0022]如图1?图4所示，所述测试支座5通过三维调整机构连接在测试底座I上，压块限位块6安装在测试支座5的顶部，压块限位块6中间开有槽口，所述测试压块置7于压块限位块6的槽口内并能上下移动，压块限位块6限制着测试压块7向上移动的行程;在测试支座5和压块限位块6之间安装有两根竖向的导向轴10，所述测试压块7上设有两个导孔，测试压块7通过其上的导孔与所述导向轴10构成滑动导向配合;压缩弹簧9设置在测试支座5和测试压块7之间，压缩弹簧9下端连接测试支座5，压缩弹簧9上端连接测试压块7，测试压块7可沿导向轴10在压缩弹簧9作用下上下往复移动;所述测试压块7顶部安装着用于承托集成电路16的测试绝缘块8，所述测试支座5前后两侧分别用簧片固定组件夹紧有一个用于与集成电路16引脚接触的测试簧片14，两个测试簧片14前后对称。
[0023]如图1?图4所示，本实施例中，所述三维调整机构主要包括水平调节块2、下竖直调节块3和上竖直调节块4;所述水平调节块2放置在测试底座I上并通过横向调整组件和纵向调整组件与之连接;所述横向调整组件安装在测试底座I右端，横向调整组件包括横向调节螺栓17.1、横向调节垫片18.1、横向调节滑块19.1和横向定位销20.1，所述测试底座I右端中部设有横向滑槽，所述横向调节滑块19.1置于横向滑槽内，所述横向调节垫片18.1固定在测试底座I右端面上，所述横向螺杆螺纹连接在横向调节垫片18.1上，横向调节螺杆内端与横向调节滑块19.1螺纹连接，横向调节螺杆旋转时带动横向调节滑块19.1在横向滑槽内左右滑动;所述横向定位销20.1下端固定在横向滑块上，横向定位销20.1上端活动插接在水平调节块2上的销孔内；所述横向滑块通过横向定位销20.1与水平调节块2连接;所述纵向调整组件安装在测试底座I侧边，纵向调整组件包括纵向调节螺栓17.2、纵向调节垫片18.2、纵向调节滑块19.2和纵向定位销20.2，所述测试底座I内设有纵向滑槽，所述纵向调节滑块19.2置于纵向滑槽内，所述纵向调节垫片18.2固定在测试底座I侧边上，所述纵向螺杆螺纹连接在纵向调节垫片18.2上，纵向调节螺杆内端与纵向调节滑块19.2螺纹连接，纵向调节螺杆旋转时带动纵向调节滑块19.2在纵向滑槽内前后滑动;所述纵向定位销20.2下端固定在纵向滑块上，纵向定位销20.2上端活动插接在水平调节块2上的横向腰形孔内；所述下竖直调节块3通过第一螺栓21连接在水平调节块2上，所述上竖直调节块4通过第二螺栓22连接在下竖直调节块3上，所述下竖直调节块3上用于安装第二螺栓22的