专利名称：分光光度计的制作方法
技术领域：
本发明涉及分光光度计，尤其涉及对在分光光度计的试料室内保持多个试料管的可移动式试料管架进行位置控制的试管位置控制器。
如图3所示，在已有的试管位置控制器中，由光电遮断器5与位置检测板6构成的位置检测器设置在试料管架1的驱动系统(来自驱动电动机7的动力的传送部分8)上，将位置检测板6遮挡光电遮断器5的光束的点作为原点，利用假定料管2的间隔1为已知的开路控制，进行试料管2的位置检测控制。
在已有的试管位置控制器中，为了使分光光度计的测定光与试料管的中心一致，有必要在试料管架的移动方向正确地调整位置检测器(光电遮断器与位置检测板)的安装位置，但是，这种调整必须在确认试料管架的停止位置和测定光的位置的同时进行，因此，不仅很麻烦，还必须根据分光光度计的光学系统等的调整误差范围内的偏差对每个装置进行再次调整。
本发明目的在于提供一种试管位置控制器，它不需要位置检测器，因而不要作该检测器的位置调整，即使分光光度计测定光束的位置存在偏差，也总能够正确地将试料管(试料管架)定位在该光束位置上。
为了达到上述目的，在本发明的试管位置控制器中，在试料管架的侧壁上穿出位置检测通孔，用测量检测器测出穿过该通孔的测量光。
设置位置检测通孔的位置可能在试料管架侧壁的适当地方，当然，在穿孔时，一定要使它与测量通孔之间有足够的相对位置精度。
位置检测通孔的直径最好比对应于各个试料管而设的测量通孔小得多。
另外，位置检测通孔有1个也足够了，但是为了更准确，最好对应于各个测量通孔(试料管)而设置多个检测通孔。
再有，如果设置多个直径各异的位置检测通孔，则有可能检测试料管架的移动方向，且效果较好。
而且，通过将试料管架用模铸成形、注射模塑成形、机械加工等方法做成，则同时也能高精度地加工位置检测通孔。
如果驱动象上面那样构成的试管位置控制器，而使试料管架移动，并用测量检测器检测穿过位置检测通孔的测量光，则令该位置为试料管架的原点位置。
而且，由于从该原点位置到最近的试料管的间隔和试料管间隔是预先知道的，因此，很容易通过移动试料管架使试料管与测量光中心一致，从而定位。
图1显示本发明的试管位置控制器，A是俯视图，B是侧视图。图2显示检测器的测光输出。图3显示已有的试管位置控制器，A为俯视图，B为侧视图。
1…试料管架，2…试料管，4…测量检测器，7…驱动电动机，8…动力传输部分，10…分光光度计的控制部分，11…位置检测通孔，12…测量通孔。
参照
实施例。在图1中，试管位置控制器由在被遮蔽的试料室内保持有四个方形试料管2的试料管架1、和通过固定于试料管架1的底部并从试料室前板3突出的动力传送部分8在箭头A方向驱动试料管架1的驱动电动机7构成，在试料管架1的侧面，除对应于各试料管2而穿设的测量通孔外，还设有位置检测通孔11。
该位置检测通孔11的直径要做得比测量通孔12的直径还小得多。从而，如果在箭头A方向移动试料管1的同时用测量检测器4对穿过位置检测通孔11和测量通孔12的分光光度计的测量光进行接收光测量，则如图2所示，分别获得如下测光输出，即对于位置检测通孔11，在时间幅度t1中为输出值P1，对于测量通孔12，在时间幅度t2中为输出值P2，通过比较时间幅度和/或输出值，能够容易地判别两种通孔11、12。
试料管架1的原点位置定为检测到位置检测通孔11的位置，但是，为了更加准确，最好求出来自该通孔11的测光输出时间幅度t的中间点。
试料管架1例如如果用模铸成形方法做成，则能够将位置检测通孔11设置得与测量通孔12之间(间隔1)有足够的相对位置精度。
另外，对来自用于检测试料管架1原点位置的上述测量检测器4的测光输出的比较、原点位置的计算、试料管架1的驱动等等是利用通常装在分光光度计控制部分10内的测光用的高精度A/D变换器、数据处理功能等等来进行的。
本发明象上面说明的那样构成，因此，即使分光光度计的光束位置有偏差，也能够将试料管架正确地定位在该测量光位置上。当然，因此不必有特别的位置检测器，也不需进行位置检测器的调整。
权利要求
1.一种分光光度计，其特征在于，在被遮蔽的试料室内保持多个试料管的可移动的试料管架的侧壁上设置位置检测通孔，用测量检测器对穿过该通孔的测量光进行测量，从而检测并控制试料管架的位置。
全文摘要
一种分光光度计，在其用于保持多个试料管的可移动的试料管的侧壁上适当位置处，设置有位置检测通孔，用测量检测器接收并测量穿过该通孔的测量光，从而检测出试料管架的位置，并对此加以控制。相对于已有的分光光度计，本发明的分光光度计在试料管架定位方面更加精确，并且方便，省去了原来所必需的复杂的调整工作。
文档编号G01N21/13GK1046041SQ9010189
公开日1990年10月10日 申请日期1990年3月31日 优先权日1989年3月31日
发明者安藤修 申请人:株式会社岛津制作所