高稳定多名义值标准电感器的制作方法

文档序号:6088746阅读:393来源:国知局
专利名称:高稳定多名义值标准电感器的制作方法
技术领域
本发明涉及的是一种校对测试设备的标准器具,特别涉及的是一种多名义值标准电感器。
现有的各种多名义值标准电感器,如英国Sullivan精密十进位电感器,均由壳体、安装在壳体内的具有若干不同引出端的电感线圈以及安装在壳体上的可分别与各引出端连接的示值旋钮组成。所使用的电感线圈均为直管形结构,其呈发散状的磁场不宜设置屏蔽层,因此受外界电磁场干扰大;通常的对线圈进行直接浸渍处理的密封方式由于其所引起的介质损耗增加和温度系数增大,达不到标准电感器的要求,因而均未设置防潮密封措施,使得现有的多名义值电感器湿度系数大,环境湿度的改变严重影响电感器的精度和稳定度;同时,由这种结构的电感器组成的标准电感箱不仅体积大,而且由于其相邻盘之间无屏蔽措施,因此其相邻盘之间的互感影响也很大。
本发明的目的是提供一种抗电磁干扰能力强、受环境湿度影响小的高稳定性多名义值标准电感器。
实现本发明的目的的多名义值标准电感器由壳体、安装在壳体内的具有多个不同引出端的镯环状电感线圈和安装在壳体上的示值旋钮所组成,其镯环状线圈带有一个防潮密封套,且通过数个韧性支撑件悬架在防潮密封套中,各引出端穿过密封套与示值旋钮相接。悬架在防潮密封套中的镯环状电感线圈由于其磁场是无定向结构,且封闭在线圈内部,漏磁少,因而不易受外界电磁场的影响;同时,在防潮密封套的作用下,隔住了环境湿度对线圈的浸入,避免了由湿气侵入线圈导致其绝缘电阻、分布电容以及芯架几何尺寸的改变所引起的电感量的变化;密封套与线圈之间设置的韧性支撑件,避免了防潮密封套在环境温度变化时引起的几何尺寸的改变或在外力的作用下造成的形状改变,施加到线圈上造成电感量改变,线圈与防潮密封套之间的间隙空间也有利于线圈工作时的热量的散发,保证了本发明的电感器稳定性好,不易受环境湿度及温度改变的影响。适当地限制电感器的工作频率范围、采用多股丝包漆包线在陶瓷镯环状芯架上以适当的分段绕制方式制做电感线圈、在密封套外距线圈适当距离处设置屏蔽层,可使本电感器具有良好的频率特性。将防潮密封套用屏蔽材料制作,并在内外表面上涂覆防潮物质,可进一步提高本电感器的抗电磁干扰的能力;在用于制做电感器时,尚可减小相邻盘之间的互感影响,避免相邻盘之间由于互感作用而产生的电感误差。
本发明精度高、稳定性好,抗电磁干扰的能力强,受环境条件变化的影响小,降低了对工作条件的荷刻要求,适用于用作可变电感标准,特别适用于校准交流电桥。
下面结合实施例和附图对本发明做进一步说明。


图1为本发明的结构示意图如图1所示,本发明在本实施例中的构成包括壳体1、安装在壳体1内的由数个韧性支撑件2悬架在防潮密封套3中的镯环状电感线圈4,镯环状线圈4具有若干个不同的抽头,分别穿过防潮密封套3与安装在壳体上的示值旋钮5相连接,旋转示值旋钮5,可使各抽头分别单独导通,从而获得不同的标准电感值。采用陶瓷做为镯环状线圈的芯架材料、并用多股丝包漆包线分段缠绕制做电感线圈,可进一步提高本电感器的品质因素、改善其频率特性,防潮密封套3可用绝缘板制做成筒盒状,韧性支撑件2可选用橡胶柱,用粘接剂粘接在线圈与密封套之间;也可直接由粘接胶凝固成柱状支撑在线圈与密封圈之间。在防潮密封套的内外表面涂覆防潮物质,或/和在其外围距线圈适当的距离处增设屏蔽层6,并在防潮密封套3与屏蔽层6之间填塞防潮绝缘材料7,可进一步保证线圈不受环境湿度的影响,增强抗电磁干扰的能力,同时,由此结构组成的电感箱,其相邻盘之间的互感影响也大为减低。
权利要求
1.一种多名义值标准电感器,包括壳体、安装在壳体内的具有多个不同引出端的电感线圈和安装在壳体上的可分别连通各引出端的示值旋钮,其特征是所述的电感线圈为带有防潮密封套的镯环状线圈,通过设置在线圈与防潮密封套之间的韧性支撑件悬架在防潮密封套中,各引出端穿过防潮密封套与示值旋钮相接。
2.如权利要求1所述的多名义值标准电感器,其特征是所述的防潮密封套为表面涂覆有防潮物质的筒盒状屏蔽罩。
3.如权利要求1所述的多名义值标准电感器,其特征是所述的韧性支撑件为橡胶柱。
4.如权利要求1所述的多名义值标准电感器,其特征是所述的镯环状电感线圈由多股丝包漆包线沿镯环状陶瓷芯架分段绕制构成。
全文摘要
本发明涉及一种多名义值标准电感器,通过将具有多个引出端的镯环状电感线圈用数个韧性支撑件悬架在防潮密封套中,从而使本发明的精度高、稳定性好,受环境湿度的影响小,抗电磁干扰的能力强,而且由此结构组成的电感箱体积小,相邻盘之间的互感影响甚微。降低了对工作条作的要求,特别适用于校准交流电桥。
文档编号G01R35/00GK1076545SQ9210806
公开日1993年9月22日 申请日期1992年3月17日 优先权日1992年3月17日
发明者李武, 连大震, 张宇新 申请人:中国测试技术研究院
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