专利名称：荧光管粉层厚度及面发光度测定仪的制作方法
技术领域：
荧光管涂粉层的厚度和涂层的均匀性影响荧光灯光输出特性，粉层过厚，不但增加了原料消耗而且粉层的附着牢度和光输出均会下降；粉层过薄，光输出也明显下降同时还会发生光色偏移，灯管发光显著不均匀以及外观质量下降。在灯管生产过程中，如何能通过测量灯管涂层的厚度及其局部的光转换特性，以调整涂粉工艺取得最佳涂复效果，始终是一个未能得到解决的问题。目前已有两种粉层厚度测量法即称重法和光电透射法，但还都没有行之有效的专用设备。称重法费工费时不能取得即时数据，测量虽然直观可靠，但只能取得粉层厚度的平均结果，不能反映粉层的不均匀性，而对于管形较复杂的紧凑型荧光灯，这种不均匀性对灯管质量有很大影响，因此不能适应大规模生产中工艺监测的需要。光电法快速、简单，但由于粉层的散射作用和内管壁粉层的漫反射所产生的背景光在探测器上所起的干扰作用，大大削弱了仪器的灵敏度。尤其当粉层厚度增加时，随着透射光强的减弱，背景光却逐渐加大，最后完全淹没了透射信号，这两种截然相反的光信号大大降低了现有的光电方法灵敏度，同时此法也不能测量粉层的不均匀性。因此按这种方法制成的测量仪器，始终未能得到推广使用。
本实用新型利用光电方法快捷、简单、直观的优点，在结构上作了改进，避免了传统方法及以往设备设计的缺点，同时增加了面发光测量装置，从而将粉层厚度测量结果与产品最终效率直接联系起来，完全可以满足生产实际的要求，本实用新型有一个放大器及读数表，在其顶部装一屏蔽定位导管，在后者的中心部位上装有光电探测器，在它的下方装有测厚光源；放大器及读数表还连接一探测光笔。
本实用新型结构简单，容易制造，能快速测出荧光管涂层的厚度及均匀性，并能测出面发光度。
下面通过实施例及附图
进一步说明本实用新型。
附图为本实用新型一个实施例的结构示意图。
使用本实用新型时，将内壁涂粉后的荧光灯管(3)插入屏蔽定位导管(4)中，此时装在后者中心部位的光电探测器(2)就深入到荧光灯管(3)之中，光电探测器(2)直接连在放大器及读数表(1)上。这里光屏蔽定位导管(4)同时对被测灯管起到定位作用，装在光屏蔽定位导管(4)下面的测厚光源(6)发出的光，经过灯管(3)的管壁被其内涂粉层衰减之后，被光探测器(2)接收并转换为光电流，后者经放大器及读数表(1)放大显示出来。在没有将灯管(3)插入屏蔽定位导管(4)之前，将读数表(1)的指针调整到满刻度100，在插入被测灯管(3)之后读数表(1)的读数即为灯管(3)的涂粉管壁之光透过率。该电流读数与涂层厚度之间的转换关系，可用称量法预先标定，然后在读数表(1)的表盘上标明，或经电路转换运算后直接显示涂层厚度。为了有助于生产中选择最佳涂层厚度，本实用新型中还包括一只探测光笔(5)，它有一笔形外壳，笔尖处有一小孔，笔的另一端也装一光电探测器，后者也连接放大器及读数表(1)上，在小孔与光电探测器之间有滤波片，测量时，让探测光笔(5)直接接触通电点燃后的荧光灯管(3)外壁，此时读数表(1)直接显示出被测点荧光粉层的发光亮度。选择确定粉层的最佳厚度时，可将已知厚度分布的涂粉灯管制成放电管，在标准状态下点燃，用探测光笔(5)测量其发光分布，即可得出最佳粉层厚度供工艺控制使用。
本实用新型的放大器电路如图2所示，这种电路是已知的(例如参见《光源电器原理及其应用》一书第298页，河南科学技术出版社，1988年)。
本实用新型将光电探测器(2)和光源(6)分别置于被测灯管内外两侧，限制了探测视场，从而大大提高了测量的信噪比和空间灵敏度，实际测量表明本实用新型适合的涂粉层测量范围为1～5毫克／厘米2。
权利要求1.一种荧光管粉层厚度及面发光度测定仪，其特征在于它有一放大器及读数表(1)，在后者的顶部装有屏蔽定位导管(4)，在此屏蔽定位导管(4)的中心部位装有光电探测器(2)，后者的下方装有测厚光源(6)，放大器及读数表(1)连接一探测光笔(5)。
2.如权利要求1所述的测定仪，其特征在于所述的探测光笔(5)有一笔形外壳，笔的尖端有一小孔，笔的另一端装有光电探测器，后者连接到放大器及读数表(1)上，在小孔与光电探测器之间有滤波片。
专利摘要一种荧光管粉层厚度及面发光度测定仪，其特征在于它有一放大器及读数表(1)，在后者的顶部装有屏蔽定位导管(4)，在此屏蔽定位导管(4)的中心部位装有光电控测器(2)，后者的下方装有测厚光源(6)，放大器及读数表(1)连接一探测光笔(5)。本测定仪结构简单，容易制造，能快速测出荧光管涂层的厚度及均匀性，并能测出面发光度。
文档编号G01J1/00GK2174686SQ9323076
公开日1994年8月17日 申请日期1993年4月17日 优先权日1993年4月17日
发明者关福民 申请人:关福民