专利名称：探棒新结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种探棒，特别是一种可更换探针的探棒。
因电脑、电子工业的迅速发展，各种待测物，如电子电路板，其式样繁多，其上的焊脚更是日新月异，然而，当电子电路板产生故障时，则需使用电表侦测其是否有短路现象，但在使用过程中，测量用探棒常会滑动及偏移而无法对准焊脚，故其测试效率低，测量结果的准确率也低。
目前所用的探棒，如
图1所示，探棒上的探针8为固定式铜质材料外表镀镍，头型为尖状，是市面上通用的头型，此型探棒的探针无法进行更换，更无法普遍使用各式焊脚及超小焊脚、锡点等，而且容易滑动，导致待测点和其他焊点有造成短路的缺失。例如，当需测试长导脚或绕线柱时，因其大多为柱状体，且端面面积小，如使用传统的探棒，其尖状头型的探针，通常无法稳固地触接于长导脚或绕线柱的端面，且常会因滑动而造成偏移对不准的现象，甚至会损坏到其他焊点或焊脚，所以导致测试者需化较多时间及精力去注意，因而不仅测试效率低，其测试结果的正确性也成问题；在追求“效率”的现代工业社会中，是十分不合经济效益原则。
本实用新型的目的是要提供一种探棒新结构，它的探针可以更换，增加其使用上的效益，并可以更换不同头型的探针，以适应不同待测物，以达到成功地测试。
实用新型是这样实现的在探针上设置一套管，套管内部插置一探头。
套管近端部外缘设一凸缘；在套管适当位置上，具有一个以上的定位部，定位部紧迫固定插置在套管内的探头；套管的一端部具有一斜导角；探头的针头可为不同头型的针头。
本实用新型使探针藉其套管，可加以更换，以增加其使用上的效益，当需测试不同待测物时，如各种焊脚、锡点等，可依据其种类的不同，更换不同头型的探针，如针状头型、内锥面头型等，藉以完成不同待测物的测试，达到更高的测试效率。
实用新型的具体结构由以下实施例及其附图给出。
图1是传统结构示意图。
图2是本实用新型轴测示意图。
图3是本实用新型结构轴测分解示意图。
图4是本实用新型组合剖视示意图。
图5是本实用新型使用例轴测示意图。
图6是本实用新型第一实施例示意图(一)。
图7是本实用新型第一实施例示意图(二)。
图8是本实用新型第二实施例示意图(一)。
图9是本实用新型第二实施例示意图(二)。
参照图2、3，探棒新结构由一探针1及一包覆体2构成，其中探针1包括一套管11及一插置在套管11内的探头12，套管11是一空心管体，其一端部为具斜导角111的探头插入口112，近该端部外缘设有一凸缘113，另一端部则为略具缩径并延伸形成一组接部114，在套管11外缘适当位置处，以冲压方式形成有复数个定位部115、115′，定位部115、115′是等分式配置在套管11的圆径上；探头12可为固定式或可伸缩式，伸缩式即为探头内部设置一伸缩元件(为已知技术)；一包覆体2是射出成型包覆在探针1的套管11外缘，并使其探头插入口112显露在外。
参照图4，包覆体2是射出成型包覆在探针1的套管11外缘，并使其套管11一端上的探头插入口112显露在外，藉近该部上的凸缘113，使其无法自包覆体2内脱出；探头插入口112使探头12更容易且准确地插置在套管11内，并藉套管11上和定位部115、115′，迫紧探头12，使其卡制在套管11内。
参照图5，当探棒新结构应用在三用电表上的探棒时，包覆体2是一绝缘塑胶棒，以射出成型方式包覆在套管11外缘，并使其探头插入口112显露在外，套管11的组接部是和三用电表的导线3组接；藉探头插入口112，可使探头12准确地插置在套管11内，且可易于置换不同头型的探头，以配合不同种类待测物的测试。
参照图6、7，测试人员常需测试各类的焊脚、锡点，如需测试锡点4时，即可使用针状头型的针头5进行测试，不仅测试方便，也不会造成滑动现象。
参照图8、9，当测试人员需测试各类型的焊脚，如长导脚6、6′时，就不适合使用上述的针状头型针头5，因其无法稳固地和长导脚6、6′触接，导致测试结果不精确，如选用具有内锥面头型的针头7，即可适应测试长导脚6、6′，不会造成滑动或偏移对不准的现象。因此为配合测试作业的需要，不同类型的探针是需要的，藉以可完成不同待测物的测试，并可达到更高的测试效率。
权利要求1.一种探棒新结构，由探针和一包覆探针的包覆体构成，其特征在于在探针(1)上设置一套管(11)，套管(11)内部插置一探头(12)。
2.根据权利要求1所述的探棒新结构，其特征是套管(11)近端部外缘设有一凸缘。
3.根据权利要求1所述的探棒新结构，其特征是套管(11)适当位置上，具有一个以上的定位部(115、115′)，定位部(115、115′)紧迫固定插置在套管(11)内的探头(12)。
4.根据权利要求1所述的探棒新结构，其特征是套管(11)的一端部具有一斜导角(111)。
5.根据权利要求1所述的探棒新结构，其特征是探头(12)的针头可为不同头型的针头(7)。
专利摘要本实用新型提供了一种探棒新结构,由探针和一包覆在探针外缘的包覆体构成,藉探针和待测物的测点接触,以测得待测物导通与否,该探针上设置一套管,套管内插置一可更换不同头型的探头,藉更换不同头型的探头,以达到成功测试不同待测物的目的。
文档编号G01R1/067GK2350769SQ9822504
公开日1999年11月24日 申请日期1998年9月7日 优先权日1998年9月7日
发明者黄介崇 申请人:黄介崇