摄像透镜镜筒及其动作控制方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及一种摄像透镜镜筒及其动作控制方法。
【背景技术】
[0002] 随着电视装置的大画面化及高分辨率化，对映在显示画面的影像的高像素化要求 也在高涨。为了应对高像素化要求，电影用及广播用的摄像透镜镜筒中，需要高精度地检测 内置的摄像透镜的位置。
[0003] 因此，例如专利文献1中公开有将静电型编码器用作透镜位置检测构件的内窥镜 装置，该内窥镜装置能够进行高精度的透镜定位。并且，例如专利文献2中公开有W简单的 结构高精度地检测宽范围的距离且立即检测绝对位置的位置检测装置。
[0004] 在先技术文献 [000引专利文献
[0006] 专利文献1 ;日本专利公开2011-27999号公报
[0007] 专利文献2 ;日本专利公开2012-83313号公报
【发明内容】
[000引-发明要解决的课题-
[0009] 然而，专利文献1及2的装置中，在进行摄像透镜的位置检测时均仍然缺乏准确 性。
[0010] 本发明的目的在于提供一种能够高精度地检测摄像透镜的位置的摄影透镜镜筒 及其动作控制方法。
[0011] -用于解决课题的手段-
[0012] 本发明的一方式所设及的摄像透镜镜筒，其具备；镜筒主体，将摄像透镜保持为能 够沿光轴方向移动；旋转体，随着摄像透镜的移动进行旋转，并且沿着周向平行地形成有第 1磁标尺及第2磁标尺，上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁分 量；磁传感器装置，包括第1磁传感器和第2磁传感器，并且配置于与旋转体的周面对置的 位置，上述第1磁传感器通过旋转体的旋转，从第1磁标尺检测正弦波的第1相位信号及相 位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号，上述第2磁传感器通过旋转体的旋转，从第2 磁标尺检测正弦波的第3相位信号及相位相对于第3相位信号偏离的第4相位信号；相位 差计算构件，使用在第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信号、W及在第2磁 传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相 位差；校正表存储器，存储校正表，上述校正表中与通过旋转体的旋转在第1相位信号的相 位成为0度的定时在相位差计算构件中计算出的相位差对应地保存有校正与相位差的设 计值之间的差量的校正值；相位差校正构件，从存储于校正表存储器中的校正表读出W下 校正值，并使用读出的校正值来校正在相位差计算构件中计算出的相位差，上述校正值与 通过旋转体的旋转在第1相位信号的相位不同于0度的定时在相位差计算构件中计算出的 相位差对应；及绝对位置计算构件，根据通过相位差校正构件校正过的相位差和预先规定 的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算摄像透镜的绝对位置。
[0013] 本发明的另一方式还提供一种适于摄像透镜镜筒的动作控制方法。目P，一种摄像 透镜镜筒的动作控制方法，上述摄像透镜镜筒具备；镜筒主体，将摄像透镜保持为能够沿光 轴方向移动；及旋转体，随着摄像透镜的移动进行旋转，并且沿着周向平行地形成有第1磁 标尺及第2磁标尺，上述第1磁标尺及第2磁标尺分别被周期性磁化有不同波长的磁分量， 其中，相位差计算构件使用在磁传感器装置所包含的第1磁传感器中检测出的第1相位信 号及第2相位信号、W及在第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号来计算 第1相位信号与第3相位信号的相位差，上述磁传感器装置包括第1磁传感器和第2磁传 感器，并且配置于与旋转体的周面对置的位置，上述第1磁传感器通过旋转体的旋转，从第 1磁标尺检测正弦波的第1相位信号及相位相对于第1相位信号偏离的第2相位信号，上述 第2磁传感器通过旋转体的旋转，从第2磁标尺检测正弦波的第3相位信号及相位相对于 第3相位信号偏离的第4相位信号，相位差校正构件从存储校正表的校正表存储器所存储 的校正表读出W下校正值，并使用读出的校正值来校正在相位差计算构件中计算出的相位 差，上述校正表与通过旋转体的旋转在第1相位信号的相位成为0度的定时在相位差计算 构件中计算出的相位差相对应地保存有对与相位差的设计值之间的差量进行校正的校正 值，所读出的上述校正值与通过旋转体的旋转在第1相位信号的相位不同于0度的定时在 相位差计算构件中计算出的相位差对应，绝对位置计算构件根据通过相位差校正构件校正 过的相位差和预先规定的相位差与摄像透镜的绝对位置之间的关系来计算摄像透镜的绝 对位置。
[0014] 根据本发明的上述方式，旋转体随着摄像透镜的移动进行旋转。该旋转体上平行 地形成有第1磁标尺及第2磁标尺，上述第1磁标尺及第2磁标尺被周期性磁化有不同波 长的磁分量。若旋转体进行旋转，则通过第1磁传感器从第1磁标尺检测出正弦波的第1 相位信号及相位相对于该第1相位信号偏离的第2相位信号，并且通过第2磁传感器从第2 磁标尺检测出正弦波的第3相位信号及相位相对于该第3相位信号偏离的第4相位信号。 使用检测出的第1相位信号至第4相位信号来计算第1相位信号与第3相位信号的相位差。 相位差和摄像透镜的绝对位置是唯一地决定的，因此基于计算出的相位差能计算摄像透镜 的绝对位置。并且，在本发明的上述方式中，存储有与通过旋转体的旋转实际计算出的相位 差对应地保存有校正与相位差的设计值之间的差量的校正值的校正表。由于在校正计算出 的相位差之后计算摄像透镜的绝对位置，因此能够更高精度地决定摄像透镜的位置。尤其， 在本发明的上述方式中，当制作校正表时，与在第1相位信号的相位成为0度的定时所获得 的相位差对应地获得校正值，当使用该种校正表实际校正相位差并计算摄像透镜的绝对位 置时，使用与在第1相位信号的相位不同于0度的定时所获得的相位差对应的校正值来校 正相位差。校正表是在工场内制作的，因此当制作校正表时，相位差与校正值之间的关系比 较准确，但使用校正表进行校正时，由于是用户实际使用摄像透镜镜筒的状况，因此第1磁 标尺及第2磁标尺产生偏差。有时，即使由第1磁标尺及第2磁标尺中被周期性磁化的磁 分量检测出第1相位信号等并想要从校正表读出与在第1相位信号的相位成为0度的定时 所获得的相位差对应的校正值，也会从校正表读出与之前的相位差对应的校正值。根据本 发明的上述方式，由于使用与在第1相位信号的相位不同于0度的定时所获得的相位差对 应的校正值来校正相位差，因此可w将从校正表读出与之前的相位差对应的校正值的现象 防范于未然。
[0015] 相位差校正构件例如从存储于校正表存储器中的校正表读出与通过旋转体的旋 转在第1相位信号的相位成为180度的定时在相位差计算构件中计算出的相位差对应的校 正值，并使用读出的校正值来校正在相位差计算构件中计算出的相位差。
[0016] 校正表存储器中可W存储有沿不同的方向移动摄像透镜时所获得的、表示在相位 差计算构件中计算出的相位差与相位差的设计值之间的差量的2个校正表。此时，相位差 校正构件例如使用2个校正表中与摄像透镜的移动方向对应的校正表来校正在相位差计 算构件中计算出的相位差。
[0017] 相位差校正构件可W校正在上述相位差构件中计算出的相位差，上述相位差不包 含由第1磁标尺及第2磁标尺中被磁化的磁分量中磁化不均较大的部分获得的相位差。
[0018] 相位差计算构件可W使用在第1磁传感器中检测出的第1相位信号及第2相位信 号、W及在第2磁传感器中检测出的第3相位信号及第4相位信号，W此来对n个计算出的 相位差的平均值进行计算。
[0019] 校正数据存储器中可W按摄像透镜的每一移动位置存储有关于包含与移动位置 对应的相位差在内的n个相位差的与相位差的设计值之间的差量的平均值作为校正表。
[0020] 发明效果
[0021] 根据本发明，能够高精度地检测摄像透镜的位置。
【附图说明】
[0022] 图1表示透镜镜筒的外观。
[0023] 图2表示透镜镜筒的局部剖面立体图。
[0024] 图3表示磁标尺部件与磁传感器装置之间的位置关系。
[0025] 图4表示磁标尺部件与磁传感器装置之间的关系。
[0026] 图5是从磁传感器装置输出的信号的波形图。
[0027] 图