一种用于漏电保护器的测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于漏电保护器的测试系统，属于漏电保护技术领域。
【背景技术】
[0002]目前，因漏电而引起的触电事故、火灾造成数千人死亡和数十亿的经济损失，因此，对可以防止漏电火灾及人身触电保护的漏电保护器的性能提出了更高的要求。现有的漏电保护器测试系统，测试时，不能对测试电流进行调节，不能够多点测试，单一电流的测试，测试效果不佳。
【发明内容】
[0003]本发明所解决的技术问题是现有的漏电保护器测试系统，测试时，不能对测试电流进行调节，不能够多点测试，单一电流的测试，测试效果不佳的问题。本发明的用于漏电保护器的测试系统，包括测试电流产生及调节模块，能够自动调节测试电流值，测试不同电流下的漏电保护器的性能，提高测试效果，具有良好的应用前景。
[0004]为了达到上述的目的，本发明所采用的技术方案如下:
一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机，所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接，所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接，所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接，所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接，所述编码调节电路与微处理器相连接。
[0005]前述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:还包括看门狗电路、时钟电路和存储电路，所述看门狗电路、时钟电路、存储电路分别与微处理器相连接。
[0006]前述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述微处理器为ARM处理器。
[0007]前述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述ARM处理器为LPC2132处理器。
[0008]前述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述电流检测电路包括AD采集电路，所述AD采集电路设有16位AD采集芯片。
[0009]前述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述编码调节电路为8路编码器。
[0010]本发明的有益效果是:本发明的用于漏电保护器的测试系统，包括测试电流产生及调节模块，能够自动调节测试电流值，测试不同电流下的漏电保护器的性能，提高测试效果，具有良好的应用前景。
【附图说明】
[0011]图1是本发明的用于漏电保护器的测试系统的系统框图。
【具体实施方式】
[0012]下面将结合说明书附图，对本发明作进一步的说明。
[0013]如图1所示，一种用于漏电保护器的测试系统，包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机，所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接，所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接，所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接，所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接，所述编码调节电路与微处理器相连接。
[0014]本发明还包括看门狗电路、时钟电路和存储电路，所述看门狗电路、时钟电路、存储电路分别与微处理器相连接，其中看门狗电路能够在微处理器受到外界干扰时(如静电干扰)，重启微处理器，保证微处理器的正常运行，时钟单元用于给微处理器提供工作时钟，存储电路用于存储历史测试数据。
[0015]所述微处理器为ARM处理器，ARM处理器为LPC2132处理器，价格便宜，外设接口多，便于扩展。
[0016]所述电流检测电路包括AD采集电路，所述AD采集电路设有16位AD采集芯片，采集精度高，所述编码调节电路为8路编码器，调节输入，通过微处理器控制驱动电路的输出，调节测试电流产生及调节模块内的输出电流给漏电保护器，测试不同电流下的漏电保护器的性能，提高测试效果。
[0017]综上所述，本发明的用于漏电保护器的测试系统，包括测试电流产生及调节模块，能够自动调节测试电流值，测试不同电流下的漏电保护器的性能，提高测试效果，具有良好的应用前景。
[0018]以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
【主权项】
1.一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机，所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接，所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接，所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接，所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接，所述编码调节电路与微处理器相连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:还包括看门狗电路、时钟电路和存储电路，所述看门狗电路、时钟电路、存储电路分别与微处理器相连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述微处理器为ARM处理器。
4.根据权利要求1所述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述ARM处理器为LPC2132处理器。
5.根据权利要求1所述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述电流检测电路包括AD采集电路，所述AD采集电路设有16位AD采集芯片。
6.根据权利要求1所述的一种用于漏电保护器的测试系统，其特征在于:所述编码调节电路为8路编码器。
【专利摘要】本发明公开了一种用于漏电保护器的测试系统，包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机，所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接，所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接，所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接，所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接，所述编码调节电路与微处理器相连接。本发明的用于漏电保护器的测试系统，包括测试电流产生及调节模块，能够自动调节测试电流值，测试不同电流下的漏电保护器的性能，提高测试效果，具有良好的应用前景。
【IPC分类】G05B23-02, G01R31-00
【公开号】CN104569663
【申请号】CN201410814312
【发明人】陈昊书
【申请人】陈昊书
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月23日