一种通行卡自动测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及自动化技术领域，尤其设及一种通行卡自动测试系统。
【背景技术】
[0002] 目前，我国很多省市都建设了高速公路多义性路径识别收费系统。多义性路径识 别系统是高速公路联网收费系统的一个子系统。车辆在高速公路入口时领取复合通行卡， 当车辆高速通过路侧标识站时，复合通行卡接收路径标识码信息并存储在复合通行卡中， 在出口时通过读写器读取出卡内的入口信息和路径信息，确定车辆行驶的路径和通行费金 额。
[0003] 经过多方面研究已经研制出专口针对高速公路联网收费多义性路径识别的第二 代复合通行卡，第二代复合通行卡作为多义性路径识别系统中的车载无线通信设备，在进 行产品开发和生产测试时，需要检验复合通行卡的功能参数是否符合标准和规范的要求， 因此需要对复合通行卡进行各类物理电气W及通信性能进行测试。
[0004] 第一代复合通行卡的测试方法为人工手动采集测试数据，并依据测试数据进行判 断是否符合标准，第二代复合通行卡生产工艺精密度高、工艺复杂且数量大，若采用手工方 式获取测试数据则测试效率较低，且准确性较低，因此现在需要一种方法能够自动获取测 试数据，W便自动对复合通行卡进行测试，W提高测试效率和准确性。
【发明内容】
[0005] 本发明提供了一种通行卡自动测试系统，本系统能够自动获取待测通行卡的测试 数据，提高了测试效率和测试的准确性。
[0006] 为了实现上述目的，本发明提供了 W下技术手段：
[0007] 一种通行卡自动测试系统，包括：
[000引在接收测试指令后，发送第一下行指令和第二下行指令的微处理器；
[0009] 一端与所述微处理器相连、另一端与至少两个测试通行卡相连的，用于依据所述 第一下行指令采集待测通行卡的卡片测试数据，并将所述卡片测试数据反馈至所述微处理 器的采样模块；
[0010] 一端与所述微处理器相连、另一端与所述至少两个测试通行卡相连的，用于导通 所述微处理器与所述待测通行卡，并依据所述第二下行指令获取所述待测通行卡的交易测 试数据，并将所述交易测试数据反馈至所述微处理器的通信模块。
[0011] 优选的，所述通信模块包括：
[0012] 第一通信模块，用于接收微处理器发送的第二下行指令，并依据所述第二下行指 令获取所述待测通行卡的交易测试数据，并将所述交易测试数据反馈至所述微处理器。
[0013] 优选的，所述第一通信模块包括433M通信巧片。
[0014] 优选的，所述通信模块还包括第二通信模块，所述第二通信模块包括：
[0015] 与所述微处理器相连的读写模块和多路射频开关，所述多路射频开关的第一导通 端与所述读写模块相连，第二导通端与所述至少两个测试通行卡相连，控制端与所述微处 理器相连；
[0016] 所述读写模块，用于根据微处理器的第S下行指令发送13. 56M监信号；
[0017] 所述多路射频开关，用于在接收所述微处理器发送的选通指令后导通所述读写模 块与所述待测通行卡，W使所述待测通行卡接收13. 56MHZ信号。
[0018] 优选的，所述读写模块还用于获取所述至少两个测试通行卡的集成电路卡识别码 ICCID，并将至少两个测试通行卡的ICCID发送至所述微处理器。
[0019] 优选的，所述第一通信模块和/或第二通信模块与所述至少两个测试通行卡之间 为有线连接。
[0020] 优选的，所述卡片测试数据包括：
[0021] 与所述待测通行卡的充电电路性能对应的第一电压；和/或与所述待测通行卡的 静态电流对应的第二电压；和/或与所述待测通行卡的射频接收电流和射频发送电流对应 的第=电压；
[0022] 所述交易测试数据包括；所述待测通行卡的出口信息、车载电子标签OBUID和电 池电压。
[0023] 优选的，还包括；与所述微处理器相连的上位机；
[0024] 所述上位机用于接收所述微处理器上传的所述卡片测试数据和所述交易测试数 据；
[0025] 针对所述卡片测试数据在验证所述第一电压大于第一阔值时，确认所述目标测试 通行卡的充电电路性能合格，在验证所述第二电压大于第二阔值时，确认所述目标测试通 行卡的漏电性能合格，在验证所述第=电压在预设范围内时，确认所述目标测试通行卡的 射频发送和射频接收性能合格；
[0026] 针对所述交易测试数据在验证所述出口信息和所述OBU ID完整时，确认所述待测 通行卡的交易性能合格，验证所述电池电压大于第=阔值时，确认所述电池电源合格。
[0027] 优选的，还包括：
[002引 n型衰减模块，用于接收所述微处理器发送的第二下行指令，并将所述第二下行 指令衰减至预设值后，再发送至所述第一通信模块。
[0029] 优选的，还包括：
[0030] 与所述微处理器相连的，用于对交易流程的安全验证进行模拟测试的PSAM模块； 和/或
[0031] 与所述微处理器相连的，用于对测试系统进行在线编程或软件升级的JTAG模块； 和/或
[0032] 与所述微处理器相连的，用于指示测试系统的工作状态、测试进度和异常报警的 声光提示模块。
[0033] 本发明提供了一种通行卡自动测试系统，本系统由微处理器、采样模块和通信模 块组成，微处理器向采样模块与通信模块发送测试指令，采样模块及通信模块依据测试指 令与待测通行卡进行数据交互后获得测试数据，并将测试数据发送至微处理器。本发明中 采集待测通行卡测试数据的过程是自动执行的，相对于现有技术中采用手动的方式逐个获 取测试数据而言，大大提高了测试数据的采集效率和准确性，进一步提高了通行卡的测试 效率和准确性。
【附图说明】
[0034] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W 根据该些附图获得其他的附图。
[0035] 图1为本发明实施例公开的一种通行卡自动测试系统的结构示意图；
[0036] 图2为本发明实施例公开的又一种通行卡自动测试系统的结构示意图；
[0037] 图3为本发明实施例公开的又一种通行卡自动测试系统的结构示意图；
[003引图4为本发明实施例公开的又一种通行卡自动测试系统的结构示意图；
[0039] 图5为本发明实施例公开的一种通行卡自动测试系统中第二通信模块的结构示 意图。
【具体实施方式】
[0040] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。
[0041] 如图1所示，本发明提供了一种通行卡自动测试系统，包括：
[0042] 在接收测试指令后，发送第一下行指令和第二下行指令的微处理器100 ;
[0043] 一端与所述微处理器100相连、另一端与至少两个测试通行卡400相连的，用于依 据所述第一下行指令采集待测通行卡的卡片测试数据，并将所述卡片测试数据反馈至所述 微处理器100的采样模块200 ;
[0044] 一端与所述微处理器100相连、另一端与所述至少两个测试通行卡400相连的，用 于导通所述微处理器100与所述待测通行卡400,并依据所述第二下行指令获取所述待测 通行卡的交易测试数据，并将所述交易测试数据反馈至所述微处理器100的通信模块300。 其中至少两个测试通行卡400采用测试通行卡1、测试通行卡2……测试通行卡N表示，N为 大于1的自然数，待测通行卡为多个测试通行卡中一个。
[0045] 如图2所示，所述通信模块300包括：
[0046] 第一通信模块301，用于接收微处理器100发送的第二下行指令，并依据所述第二 下行指令获取所述待测通行卡的交易测试数据，并将所述交易测试数据反馈至所述微处理 器100 ;所述第一通信模块包括433M通信巧片。
[0047] 第二通信模块302,用于在接收所述微处理器100发送的选通指令后导通所述微 处理器100与所述待测通行卡400。
[0048] 如图3所示，所述第二通信模块302包括；与所述微处理器100相连的读写模块 3021和多路射频开关3022,所述多路射频开关3022的第一导通端与所述读写模块3021相 连，第二导通端与所述至少两个测试通行卡400相连，控制端与所述微处理器100相连；
[0049] 所述读写模块3021，用于根据微处理器的第S下行指令发送13. 56M监信号；微处 理器100与读写模块之间采用SPI方式进行通信。
[0050] 所述多路射频开关3022,用于在接收所述微处理器100发送的选通指令后导通所 述读写模块3021与所述待测通行卡，W使所述待测通行卡接收13. 56MHZ信号。在实际使 用时，为了避免干扰，各射频开关的信道之间必须保证-40化W上的隔离度。
[0化1] 如图1所示，本发明还包括与所述微处理器100相连的上位机500,微处理器100 与上位机500之间通过485通信接口相连。
[0化2] 下面详细介绍本发明的具体执行过程：
[0化3] 上位机500在技术人员的操控下，向微处理器100发送测试指令，微处理器100在 接收测试指令后，便开始本次测试，首先确定当前需要测试的待测通行卡，微处理器100向 多路射频开关3022的控制端发送选通指令，多路射频开关3022依据选通指令导通读写模 块3021和待测通行卡，读写模块3021能够发射13. 56MHZ信号，所W待测通行卡接收读写 模块3021经过多路射频开关3022发射的13. 56MHZ信号。
[0化4] 微处理器100向采样模块200发送第一下行指令采集待测通行卡本身的卡片测试 数据，然后将卡片测试数据发送至上位机500, W便上位机通过卡片测试数据来判定待测通 行卡本身是否合格。
[0055] 具体的，卡片测试数据包括：与所述