一种测试二阶系统试验装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及二阶系统试验装置，特别提供了一种测试二阶系统试验装置。
【背景技术】
[0002]目前，二阶系统试验装置性能不够稳定，造成资源的浪费和成本的增加。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是为了节约资源，降低成本，特提供了一种测试二阶系统试验装置。
[0004]本发明提供了一种测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置包括测试二阶系统试验装置阻尼杆(I )，测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，测试二阶系统试验装置固定结构(3)，测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构(3)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，一端或两端带有螺纹。
[0005]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0006]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用直接的插拔的方式连接；测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带有螺纹的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0007]按照权利要求3所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为光滑的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部带有螺纹，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0008]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部光滑，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接。
[0009]本发明的优点:
本发明所述的测试二阶系统试验装置能够重复使用，节约资源，避免浪费，降低成本。
【附图说明】
[0010]下面结合附图及实施方式对本发明作进一步详细的说明。
[0011]图1为测试二阶系统试验装置结构图。
【具体实施方式】
[0012]实施例1
本发明提供了一种测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置包括测试二阶系统试验装置阻尼杆(1)，测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，测试二阶系统试验装置固定结构(3)，测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构(3)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构
(2)，为直筒形结构，一端或两端带有螺纹。
[0013]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0014]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用直接的插拔的方式连接；测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带有螺纹的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0015]按照权利要求3所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为光滑的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部带有螺纹，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0016]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部光滑，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接。
[0017]实施例2
本发明提供了一种测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置包括测试二阶系统试验装置阻尼杆(I )，测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，测试二阶系统试验装置固定结构(3)，测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构(3)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构
(2)，为直筒形结构，一端或两端带有螺纹。
[0018]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
[0019]按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用直接的插拔的方式连接；测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带有螺纹的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
【主权项】
1.一种测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置包括测试二阶系统试验装置阻尼杆(I )，测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，测试二阶系统试验装置固定结构(3)，测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构(3)与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，一端或两端带有螺纹。
2.按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置壳体结构(2)，为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
3.按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用直接的插拔的方式连接；测试二阶系统试验装置固定结构(3)为带有螺纹的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
4.按照权利要求3所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置固定结构(3)为光滑的端盖，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部带有螺纹，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)采用螺纹连接。
5.按照权利要求1所述的测试二阶系统试验装置，其特征在于:所述的测试二阶系统试验装置阻尼杆(I)的尾部光滑，其与测试二阶系统试验装置壳体结构(2)之间采用直接插拔的方式连接。
【专利摘要】一种测试二阶系统试验装置，包括测试二阶系统试验装置阻尼杆（1），测试二阶系统试验装置壳体结构（2），测试二阶系统试验装置固定结构（3），测试二阶系统试验装置阻尼杆（1）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接，测试二阶系统试验装置固定结构（3）与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用可拆卸的方式连接；所述的测试二阶系统试验装置壳体结构（2），为直筒形结构，两端光滑；所述的测试二阶系统试验装置固定结构（3）为带柄的活塞，其与测试二阶系统试验装置壳体结构（2）采用螺纹连接。本发明的优点：本发明所述的测试二阶系统试验装置能够重复使用，节约资源，避免浪费，降低成本。
【IPC分类】G01D21-00
【公开号】CN104655169
【申请号】CN201310571496
【发明人】杨光
【申请人】杨光
【公开日】2015年5月27日
【申请日】2013年11月17日