一种通用的超声探头测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及超声探头的测试领域，具体地，涉及一种通用的超声探头测试装置。
【背景技术】
[0002] B超系统是通过超声波来诊断疾病的设备，B超探头是能将电信号和声信号互相 转换的器件，是B超系统成像的关键部件。超声探头通过标准的接口与B超系统连接。但 是每家B超系统厂家对超声探头的接口线序定义不同。对于专业生产探头的厂家来说，客 户多，接口线序多会造成很大的麻烦。一直以来，超声探头的测试方法一般有两种：一种是 采用人工，对接口的线序一一触碰进行测试。此方法效率低下，耗费人工，还容易发生人为 错误；另外一种是测试装置的测试方法，就是针对固定的接口线序，制作对应的测试装置来 进行自动测试。采用测试装置的测试方法每个装置只能对应一个接口线序，对于多个客户 的多种接口线序，需要大量不同的测试装置。测试装置的测试方法不仅制作成本高，制作周 期长，对应的装置管理也会有很大工作量。一直以来，超声探头的测试装置都是针对指定接 口线序的探头。无法做到一个装置通用各种接口线序的探头测试。
【发明内容】
[0003] 针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种通用的超声探头测试装置。
[0004] 根据本发明提供的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、 测试设备、测试接口和若干测试通路；
[0005] 所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；
[0006] 所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通 过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述 待测引脚。
[0007] 作为一种优化方案，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引 脚，所述测试接口分别与所述继电器相连；
[0008] 所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连；
[0009] 所述继电器用于：
[0010] 响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测 试通路中的待测引脚连通，
[0011] 或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该 测试通路中的待测引脚断开；
[0012] 所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
[0013] 作为一种优化方案，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电 进行自动控制。
[0014] 作为一种优化方案，还包括一计算机，所述计算机分别与所述微处理器和所述测 试设备相连；所述计算机用于响应外部输入设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试 时序发送给所述微处理器；
[0015] 所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继 电器进行通电或断电状态控制。
[0016] 作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通； 所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路断开。
[0017] 作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开； 所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路导通。
[0018] 作为一种优化方案，所述超声探头是B超探头。
[0019] 与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：
[0020] 本发明提供的一种通用的超声探头测试装置，将标准接口的每个通道都接上一个 开关/继电器，由微处理器来控制多个开关/继电器，达到每条通道的顺序控制，来满足各 种不同的接口线序。本发明通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的 超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准 确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。
【附图说明】
[0021] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用 的附图作简单的介绍，显而易见，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领 域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附 图中：
[0022] 图1是一种可选实施例的B超探头测试装置原理图；
[0023] 图2是一种可选实施例的具有计算机的B超探头测试装置原理图。
【具体实施方式】
[0024] 下文结合附图以具体实施例的方式对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于 本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，还可以 使用其他的实施例，或者对本文列举的实施例进行结构和功能上的修改，而不会脱离本发 明的范围和实质。
[0025]
【主权项】
1. 一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口 和若干测试通路； 所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态； 所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过 所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一待测引 脚。
2. 根据权利要求1所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，每条所述测试 通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连； 所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连； 所述继电器用于： 响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通 路中的待测引脚连通， 或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试 通路中的待测引脚断开； 所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
3. 根据权利要求2所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述微处理器 根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。
4. 根据权利要求2所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，还包括一计算 机，所述计算机分别与所述微处理器和所述测试设备相连；所述计算机用于响应外部输入 设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器； 所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继电器 进行通电或断电状态控制。
5. 根据权利要求2或3或4所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述继 电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通；所述继电器在断电状态下使该继电器 所在的测试通路断开。
6. 根据权利要求2或3或4所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述继 电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开；所述继电器在断电状态下使该继电器 所在的测试通路导通。
7. 根据权利要求1所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述超声探头 是B超探头。
【专利摘要】本发明提供了一种通用的超声探头测试装置，超声探头通过一标准接口传输测试信号，所述标准接口包含若干个待测引脚。超声探头测试装置包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。本发明通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。
【IPC分类】G01R31-02
【公开号】CN104678248
【申请号】CN201510102707
【发明人】唐俊辉, 黄海涛
【申请人】上海爱声生物医疗科技有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年3月9日