用于电子测试系统的宽插入器的制造方法
【技术领域】
[0001]本文描述的实施例通常涉及电子器件的测试的领域，且更具体地涉及用于电子测试系统的宽测试插入器和电子测试系统。
【背景技术】
[0002]电子器件，特别是半导体功率器件的测试要求能够比以往任何时候都提供更高电压和更敏感的电流测量的电子测试系统。作为结果，电子测试系统的部件(像例如测试板)的可用性使用期限相对短，特别是当测试涉及检测在1A以上的电流的高功率器件时。对测试板覆盖区出现的损坏主要由机械力和高功率电气测试的组合引起。机械力例如直接来自穿过测试插座的柄柱塞机构，所述测试插座使用柱塞对板(PTB)概念稳固地坐落在测试板上。作为结果，测试板必须被修理，且最终测试板必须被周期性地更换。
【附图说明】
[0003]附图被包括以提供对实施例的进一步理解，且合并在这个说明书中并构成这个说明书的一部分。附图示出实施例并与描述一起用来解释实施例的原理。其它实施例和实施例的很多预期优点将容易被认识到，因为它们通过参考下面的详细描述变得更好理解。附图的元件不一定相对于彼此按比例。相同的参考数字指定对应的相同部件。
[0004]图1示出根据示例的包括八个测试部位的测试插入器的示意性顶视图表示。
[0005]图2示出具有应用于测试部位中的一些的几个测试插座的图1的测试插入器的透视图。
[0006]图3A示出根据示例的包括四个测试部位的测试插入器的透视图。
[0007]图3B示出根据示例的包括四个测试部位和紧固条的非对称布置的测试插入器的透视图。
[0008]图4示出沿着线IV-1V的图1的测试插入器10的截面的示意性横截面侧视图表不O
【具体实施方式】
[0009]现在参考附图描述方面和实施例，其中相同的参考数字通常用于始终指代相同的元件。在下面的描述中，为了解释的目的，阐述了很多特定的细节，以便提供对实施例的一个或多个方面的彻底理解。然而，对本领域中的技术人员可能明显的是，可使用更少程度的特定细节实践实施例的一个或多个方面。在其它实例中，以示意性形式示出已知的结构和元件，以便便于描述实施例的一个或多个方面。应理解，可利用其它实施例，并可做出结构或逻辑改变，而不脱离本发明的范围。应进一步注意，附图并不按比例或不一定按比例。
[0010]在下面的详细描述中，参考形成其一部分的附图，且其中作为例证示出其中本发明可被实践的特定的方面。在这个方面中，可参考正被描述的附图的方位使用方向术语，例如“顶部”、“底部”、“前面”、“后面”等。因为所描述的器件的部件可在多个不同的方位上被定位，方向术语可用于例证的目的且决不是限制性的。应理解，可利用其它方面，且可做出结构或逻辑改变，而不脱离本发明的范围。下面的详细描述因此不在限制性的意义上被理解，且本发明的范围由所附权利要求限定。
[0011]此外，虽然可关于几个实现中的仅仅一个公开实施例的特别的特征或方面，但是如可对于任何给定或特别的应用是期望和有利的，这样的特征或方面可与其它实现的一个或多个其它特征或方面组合。此外，就术语“包括”、“具有”、“带有”或其中的其它变形在详细描述或权利要求任意一个中被使用来说，这样的术语以类似于术语“包含”的方式而意在是开放式的。可使用术语“耦合”和“连接”连同衍生词。应理解，这些术语可用于指示两个元件彼此协作或交互作用，而不管它们是直接物理或电接触还是它们彼此不直接接触。此夕卜，术语“示例性”仅仅意指作为示例，而不是最好或最佳的。下面的详细描述因此不在限制性意义上被理解，且本发明的范围由所附权利要求限定。
[0012]图1示出根据第一方面的用于电子测试系统的测试插入器的顶视图表示。图1的测试插入器10包括插入器层11，其包括几个测试部位11A，测试部位IlA中的每一个测试部位配置成接收测试插座(见图2)。图1的插入器因此也可被称为宽插入器，因为它能够将多个测试部位集成到一个连续的插入器单元内。这样的宽插入器可具有任意形式和尺寸，且它可以与测试板一样大。图1的测试插入器10还包括附着于插入器层11的加强层12，使得插入器层11保持在不可改变的形状中且测试部位IlA相对于彼此保持在固定位置上。
[0013]如在这个申请中使用的术语“插入器”、“宽插入器”、“测试插入器”、“插入器层”和“插入器单元”应被理解为在测试插座和器件接口板之间布线的电接口。这样的插入器的目的可以是将连接伸展到更宽的节距或将连接重布线到不同的连接。测试插座配置成接收将由电子测试系统测试的电子器件。
[0014]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12包括主要部分12A和从主要部分12A向外延伸的多个条12B，条12B中的每一个条包括在远离主要部分12A的条12B的端部处的通孔12B.1，所述通孔12B.1用于将条12B连接到器件接口板。连接层12的主要部分12A可包括矩形形状。
[0015]根据图1的测试插入器10的实施例，测试部位IlA中的每一个测试部位配置成接收如图1和2所示的一个测试插座。
[0016]根据图1的测试插入器10的实施例，测试部位IlA以规则的次序(像例如以矩阵的形式)布置。它们也可沿着行并排布置。
[0017]根据图1的测试插入器10的实施例，测试部位IlA与在图1的示例中所示的相同地形成。然而也可能的是，测试部位在形式、结构或尺寸中的一个或多个上是不同的。也可能的是，测试部位中的一些是相同的，而一些其它测试部位被不同地形成。
[0018]根据图1的测试插入器10的实施例，测试部位IlA中的每一个测试部位包括如在图1的示例中所示的矩形基底形状。
[0019]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12附着于插入器层11的部分，所述部分围绕如在图1的示例中所示的测试部位IlA中的每一个测试部位。以这种方式，可能的是，将插入器层11的测试部位IlA中的每一个测试部位保持在不可改变的形状中并避免插入器层11的压皱。也可能的是，以这种方式将测试部位IlA相对于彼此保持在固定位置上。图4示出沿着图1的线IV-1V的测试插入器10的横截面。
[0020]根据图1的测试插入器10的实施例，插入器层11包括聚酰亚胺材料，特别是基于聚酰亚胺胶带(Kapton)的材料。
[0021]根据图1的测试插入器10的实施例，插入器层11由包括比加强件层12的厚度更小的厚度的平坦层组成。
[0022]根据图1的测试插入器10的实施例，插入器层11由包括在从100 Mm到300 Mm
的范围内的厚度的平坦层组成。
[0023]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12包括在从500 Mm到1200 Mm的范围内的厚度。
[0024]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12包括环氧树脂材料，特别是玻璃增强环氧树脂材料，特别是基于FR4的材料。
[0025]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12通过粘合剂，特别是通过压力激活粘合剂与插入器层11连接。
[0026]根据图1的测试插入器10的实施例，加强件层12以这样的方式布置或配置，使得它起作用以便避免插入器层的压皱。
[0027]图2示出图1的测试插入器10的透视图。除了图1的表示以外，多个测试插座13被安装在测试部位IlA中的一些上。测试插座13中的每一个测试插座配置成接收待测试的电子器件。可也在图2中看到，测试插入器10通过条12B和通孔12B.1安装在器件接口板14上。器件接口板14连接到可布置在器件接口板14之下的自动测试设备(未示出)。器件接口板14可包括通孔14A，其可以以这样的方式布置，使得具有在条12B中的通孔的对应布局的测试插入器10可通过例如将螺丝插入通孔内来连接到器件接口板14。
[0028]图3A示出根据示例的测试插入器20的透视图。图3A的测试插入器20包括插入器层21，其包括以矩阵的形式布置的4个测试部位21A，其中加强件层22附着于插入器层21。加强件层22可以以与图1的测试插入器10的加强件层12相同的方式来配置，即，包括矩形形状的主要部分22A和从主要部分22A向外延伸的条22B，条22B包括在其相应的端部处的通孔22B.1，以便将测试插入器20固定到器件接口板24。在主要部分22k中，加强件层22附着于插入器层21的部分，所述部分围绕测试部位21A。
[0029]图3B示出根据示例的测试插入器30的透视图。图3B的测试插入器30包括插入器层31，其包括沿着行并排布置的四个测试部位31A。测试插入器30还包括附着于插入器层31的加强层32。加强层32包括矩形主要部分32A和从主要部分32A向外延伸的条32B。在主要部分31A中，加强层32覆盖插入器层31的部分，