多参考频率的激光器波长校验装置及其校验方法_3

文档序号:9233887阅读:来源:国知局
< Π ;
[0100]第二种情况:待测光源频率大于第一参考光源频率,但是小于第二参考光源频率,即 fl < fx < f2 ;
[0101]第三种情况:待测光源频率大于第二参考光源频率,即f2 < fx。
[0102]而多频率参考光源与待测光源会产生三种频率值的拍频分量,分别为第一参考光源和第二参考光源频率值为|fl-f2| = f2-fl = Af固定频率的拍频分量;第一参考光源和待测光源频率值为|fl-fX|的拍频分量,第二参考光源和待测光源频率值为|f2-fx|的拍频分量。
[0103]那么与上述三种情况对应的各个拍频分量频率值和拍频结果分别为:
[0104]当fx < f I时,第一参考光源和待测光源拍频频率值为I f 1-fx I > Λ f或fl-fx< Δ?.,第二参考光源和待测光源拍频频率值为|f2-fx I > Λ f,此时得到的拍频结果为:在△ f处有一个固定频率的拍频分量,在大于△ f处有两个拍频分量,且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Af;或者,在Af处有一个固定频率的拍频分量,在大于Af和小于Af处各有一个拍频分量,且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Δ f
[0105]当fI < fx < f2时,第一参考光源和待测光源拍频频率值为I fl-fx I < Λ f,第二参考光源和待测光源拍频频率值为|f2-fX| < Λ?.,此时得到的拍频结果为:在Af处有一个固定频率的拍频分量,在小于Af处有两个拍频分量,且两个拍频分量的频率之和的绝对值为Δ f ;
[0106]当f2 < fx时,第一参考光源和待测光源拍频频率值为I fl-fx I > Af,第二参考光源和待测光源拍频频率值为|f2_fx| > Af或|f2_fx| < Λ f,此时得到的拍频结果为:在处有一个固定频率的拍频分量,在大于处有两个拍频分量,且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Δ?.;或者,在Af处有一个固定频率的拍频分量,在大于Af和小于Af处各有一个拍频分量,且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Δ f。
[0107]可见,在fx < f I和f2 < fx这两种情况下拍频分量的频率分布特征是一样的,但是由于第一参考光源和第二参考光源的光强度不等,即A # B,所以在这两种情况下,第一参考光源和待测光源拍频分量与第二参考光源和待测光源拍频分量频率值较大的功率大小存在差异,即频率较大的拍频分量功率较大或较小(如图4、图5、图7、图8所示),因此可根据第一参考光源和第二参考光源的光强度,以及第一参考光源和待测光源拍频分量与第二参考光源和待测光源拍频分量频率值,来判定待测光源频率fx与多频率参考光源频率之间具体属于fx < fl和f2 < fx哪一种情况,具体判定过程如下:
[0108]如果第一参考光源光强度A大于第二参考光源光强度B时,即A > B:
[0109]当拍频结果如图4所示,大于△ f处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I大于第二参考光源和待测光源拍频频率值I f2-fx I,即I fl-fx I > I f2-fx I,因为在本实施例中fI > f2,所以仅有fx > f2时,即待测光源频率fx大于第二参考光源频率时,I fl-fx I > f2-fx成立。
[0110]当拍频结果如图5所示,大于△ f处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较小时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I小于第二参考光源和待测光源拍频频率值f2-fx I, SP fl-fx < f2-fx|,因为在本实施例中Π > f2,所以仅有fx < Π时,即待测光源频率fx大于第一参考光源频率时,I fl-fx I < f2-fx成立。
[0111]当拍频结果如图7所示,大于Af处的拍频分量的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I大于第二参考光源和待测光源拍频频率值
f2-fx I, SP fl-fx > f2-fx|,因为在本实施例中fl > f2,所以仅有fx > f2时,即待测光源频率fx大于第二参考光源频率时,I fl-fx I > f2-fx成立。
[0112]当拍频结果如图8所示,大于Af处的拍频分量的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I小于第二参考光源和待测光源拍频频率值
f2-fx I, SP fl-fx < f2-fx|,因为在本实施例中fl >f2,所以仅有fx<fl时,即待测光源频率fx大于第一参考光源频率时,I fl-fx I < f2-fx成立。
[0113]如果第一参考光源光强度A小于第二参考光源光强度B时,即A < B:
[0114]当拍频结果如图4所示,大于△ f处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I小于第二参考光源和待测光源拍频频率值f2-fx I, SP fl-fx < f2-fx|,因为在本实施例中Π > f2,所以仅有fx < Π时,即待测光源频率fx小于第一参考光源频率时,I fl-fx I < f2-fx成立。
[0115]当拍频结果如图5所示,大于△ f处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较小时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I大于第二参考光源和待测光源拍频频率值I f2-fx I,即I fl-fx I > I f2-fx I,因为在本实施例中fI > f2,所以仅有fx > f2时,即待测光源频率fx大于第二参考光源频率时,I fl-fx I > f2-fx成立。
[0116]当拍频结果如图7所示,大于Af处的拍频分量的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I小于第二参考光源和待测光源拍频频率值
f2-fx I, SP fl-fx < f2-fx|,因为在本实施例中fl >f2,所以仅有fx<fl时,即待测光源频率fx小于第一参考光源频率时,I fl-fx I < f2-fx成立。
[0117]当拍频结果如图8所示,大于Af处的拍频分量的拍频分量功率较大时,则有第一参考光源和待测光源拍频频率值I fl-fx I大于第二参考光源和待测光源拍频频率值
f2-fx I, SP fl-fx > f2-fx|,因为在本实施例中fl > f2,所以仅有fx > f2时,即待测光源频率fx大于第二参考光源频率时,I fl-fx I > f2-fx成立。
[0118]本发明还提供的多参考频率的激光器波长校验方法,包括以下步骤:
[0119]产生多频率参考光源,所述多频率参考光源由频率为fI的第一参考光源和频率为f2的第二参考光源耦合而成,第一参考光源的光强度A不等于第二参考光源的光强度B ;
[0120]将多频率参考光源和激光器发射的待测光源进行耦合;
[0121]通过光电探测单元对多频率参考光源和待测光源的耦合光进行检测得到拍频结果;
[0122]根据拍频结果以及第一参考光源和第二参考光源的光强度大小关系判定待测光源频率偏差方向,得到该待测光源频率的偏差方向判定结果。
[0123]显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及
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