一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法
【专利说明】一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法
[0001] (一）技术领域 本发明涉及尺寸测量技术领域，特别涉及一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法。
[0002] (二）【背景技术】 手镯是人们喜爱的重要首饰品种之一，特别是我国，有着悠久的历史。近年来，玉石饰 品、金银饰品以及仿真饰品的销售都大幅增长，手镯的销售也一并走强。
[0003] 手锡尺寸是指手锡内圈圈口的大小，以手锡内圈周长来描述，间称手寸。但是，国 内手镯尺寸目前的标示方法很乱，不同企业有不同的结果和方式，如用内径表示、用内周长 表示等类型，造成许多不必要的麻烦和纠纷。另外，人们对自己适合的手镯尺寸一直不能准 确描述。
[0004] (三）
【发明内容】
本发明为了弥补现有技术的不足，提供了一种操作简单、结果准确的手镯尺寸的便利 测量卡及其测量方法。
[0005] 本发明是通过如下技术方案实现的： 一种手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体，其特征在于：所述卡片体为梯形，卡片体上 设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。
[0006] 本发明根据梯形卡片体在手镯内圈上的渐进，实现卡片体两侧边与手镯内圈的紧 密接触，从而通过卡片体上的检测线标注手镯内圈的尺寸，实现测量结果的取得。
[0007] 本发明所述的手镯尺寸的便利测量方法为，将测量卡垂直插入待测量手镯的内 圈，直接读取内圈最小直径位置所对应的测量线上的号码或尺寸数据，即可得到手镯的尺 寸。
[0008] 所述测量时保持测量卡不变形，以防止出现误差。
[0009] 本发明结构简单，使用方便，操作容易，便于消费者自行测量，填补了手寸的测量 办法和工具的空白，适于广泛推广应用。
[0010] (四）【附图说明】 下面结合附图对本发明作进一步的说明。
[0011] 图1为本发明标注号码的测量卡的结构示意图； 图2为本发明标注直径数据的测量卡的结构示意图。
[0012] 图中，1卡片体，2检测线。
[0013] (五）【具体实施方式】 附图为本发明的一种具体实施例。该实施例包括卡片体，所述卡片体为梯形，卡片体上 设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。
[0014] 测量时，将测量卡垂直插入待测量手镯的内圈，直接读取内圈最小直径位置所对 应的测量线上的号码或尺寸数据，即可得到手镯的尺寸；所述测量时保持测量卡不变形。
[0015] 其中，手寸与手镯内圈周长、内径的对照表如下：
【主权项】
1. 一种手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体（I )，其特征在于：所述卡片体（I)为梯形， 卡片体（1)上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线（2)，检测线（2)上标注有号 码或尺寸数据。2. 根据权利要求1所述的手镯尺寸的便利测量方法，其特征在于：将测量卡垂直插入 待测量手镯的内圈，直接读取内圈最小直径位置所对应的测量线上的号码或尺寸数据，即 可得到手镯的尺寸。3. 根据权利要求2所述的手镯尺寸的便利测量方法，其特征在于：所述测量时保持测 量卡不变形。
【专利摘要】本发明涉及尺寸测量技术领域，特别公开了一种手镯尺寸的便利测量卡及其测量方法。该手镯尺寸的便利测量卡，包括卡片体，其特征在于：所述卡片体为梯形，卡片体上设置有均匀分布的与两梯面平行的若干条检测线，检测线上标注有号码或尺寸数据。本发明结构简单，使用方便，操作容易，便于消费者自行测量，填补了手寸的测量办法和工具的空白，适于广泛推广应用。
【IPC分类】G01B5/12
【公开号】CN105021108
【申请号】CN201510429623
【发明人】范春丽, 李建军, 王岳, 王义善, 程佑法
【申请人】国家黄金钻石制品质量监督检验中心, 王义善
【公开日】2015年11月4日
【申请日】2015年7月21日