Lcd屏测试过流保护方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电子技术领域，特别是涉及一种IXD屏测试过流保护方法及装置。
【背景技术】
[0002]液晶显示屏(Liquid Crystal Display，简称为LCD)是属于平面显示器的一种，常用于电视机、计算机和手机的屏幕显示。
[0003]目前对于液晶显示屏模组厂，由于其处于链条的终端，常常会遇到包括设计不合理、工艺不合格、生产作业粗放造成的各种短路情况，造成电压把信号传输回路烧毁而损伤液晶显示屏模组的情况。
[0004]如图1所示，为现有的通用IXD屏测试装置I的结构示意图，包括主控端11和IXD屏12 ;主控端11与IXD屏12连接，根据自身指令向IXD屏12提供信号源和测试电源。图1中测试装置I虽然能否测出信号线的开短路不良状态，但由于人为操纵的滞后易导致集成电路在短时间烧毁，LCD屏上玻璃也容易连带报废，经济损失较大。
[0005]现有技术中，对于上述问题，液晶显示屏显示模组测试工厂对IXD屏监测通常如下有两种极端:
[0006]其一，从成本考虑，未加入相应的保护单元，一旦类似状况发生，即会损伤IXD屏组件。
[0007]其二，在LCD屏测试电路中加入较为复杂的电路单元，成本较高。例如申请号为201320274044.4，发明名称为信号输出保护装置即属于此种情况。
[0008]鉴于上述情况，设计一种电路结构简单、成本较低的LCD屏测试过流保护方法，以避免测试过程中因电源和信号线短路造成的LCD屏损坏，减少测试损耗，成为当前亟待解决的问题。
【发明内容】
[0009]鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种LCD屏测试过流保护方法及装置，用于解决现有技术中在测试过程中因信号线和电源线短路造成的LCD屏损坏的问题。
[0010]为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种LCD屏测试过流保护方法，所述LCD屏与主控端连接，所述主控端用于在LCD屏测试过程中向所述LCD屏提供信号源和测试电源；所述LCD屏测试过流保护方法包括以下步骤:获取所述LCD屏发出的初始信号；将所述初始信号放大预订倍数，以获取参考信号量；判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；若是，则触发所述主控端关闭所述LCD屏的测试电源。
[0011]优选地，在确定所述参考信号量大于信号量阈值之后，以及触发所述主控端关闭所述LCD屏的测试电源之前，所述LCD屏测试过流保护方法还包括:确定所述参考信号量大于信号量阈值是否为首次行为；若是，则在预订时间之后重新获取参考信号量，并再次判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；若否，则触发所述主控端关闭所述LCD屏的测试电源。
[0012]相应的，本发明还提供了一种LCD屏测试过流保护装置，所述LCD屏与主控端连接，所述主控端用于在LCD屏测试过程中向所述LCD屏提供信号源和测试电源；所述LCD屏测试过流保护装置包括:放大电路，分别与所述LCD屏和所述主控端连接，用于获取所述LCD屏发出的初始信号，并将所述初始信号放大预订倍数，以获取参考信号量；所述主控端还用于判断所述参考信号量是否大于信号量阈值，以及在所述参考信号量大于信号量阈值时，关闭所述LCD屏的测试电源。
[0013]优选的，所述主控端通过GP1端口与所述放大电路连接；在所述参考信号量大于信号量阈值时，所述GP1端口的电平状态改变，以触发所述主控端关闭所述LCD屏的测试电源。
[0014]优选的，所述主控端进一步包括:供能单元，与所述IXD屏连接，用于向所述IXD屏提供信号源和测试电源；第一判断单元，与所述放大电路连接，用于判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；处理单元，与所述第一判断单元和供能单元连接，用于在所述参考信号量大于信号量阈值时，关闭所述LCD屏的测试电源。
[0015]优选的，所述主控端还包括:第二判断单元，与所述第一判断单元和所述处理单元连接，用于确定所述参考信号量大于信号量阈值是否为首次行为；以及用于在所述参考信号量大于信号量阈值为首次行为时，触发所述第一判断单元在预订时间之后重新获取参考信号量，并再次判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；并用于在所述参考信号量大于信号量阈值不为首次行为时，触发所述处理单元关闭所述LCD屏的测试电源。
[0016]优选的，所述放大电路为CA3140运算放大器。
[0017]优选的，所述IXD屏与主控端通过MIPI线路连接。
[0018]如上所述，本发明的LCD屏测试过流保护方法及装置，具有以下有益效果:
[0019]通过将LCD屏发出的信号进行放大，若放大后获取的参考信号量大于信号量阈值，则触发主控端关闭所述LCD屏的测试电源，实现对LCD屏的保护，避免电源和信号线短路造成的集成电路烧毁，而避免测试过程中LCD屏的损坏，减少测试损耗，该测试方法简单，成本低。
[0020]进一步的，在首次确定参考信号量大于信号量阈值之后，预订时间后重新获取参考信号量，并将其与信号量阈值进行比较，若再次获取的参考信号量仍大于信号量阈值，则关闭LCD的测试电源，避免干扰电波的造成的误判断。
【附图说明】
[0021]图1显示为现有技术中IXD屏测试装置的结构示意图。
[0022]图2显示为本发明的LCD屏测试过流保护方法一个实施例的流程示意图。
[0023]图3显示为本发明的LCD屏测试过流保护方法另一个实施例的流程示意图。
[0024]图4显示为本发明的LCD屏测试过流保护装置一个实施例的结构示意图。
[0025]图5显示为本发明的LCD屏测试过流保护装置另一个实施例的结构示意图。
[0026]图6显示为本发明的LCD屏测试过流保护装置再一个实施例的结构示意图。
[0027]元件标号说明
[0028]ILCD屏测试装置
[0029]11,21主控端
[0030]12、22LCD 屏
[0031]23放大电路
[0032]2IXD屏测试过流保护装置
[0033]211功能单元
[0034]212第一判断单元
[0035]213处理单元
[0036]214第二判断单元
[0037]Sll ?S14步骤
[0038]S21 ?S25步骤
【具体实施方式】
[0039]以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的【具体实施方式】加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0040]需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
[0041]请参阅图2，为本发明提供一种LCD屏测试过流保护方法的一个实施例的流程示意图。所述LCD屏与主控端连接，所述主控端用于在LCD屏测试过程中向所述LCD屏提供信号源和测试电源；所述LCD屏测试过流保护方法包括以下步骤:
[0042]步骤Sll，获取所述IXD屏发出的初始信号；
[0043]步骤S12，将所述初始信号放大预订倍数，以获取参考信号量；
[0044]步骤S13，判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；
[0045]若所述参考信号量是否大于信号量阈值，则执行步骤S14，触发所述主控端关闭所述LCD屏的测试电源；
[0046]若所述参考信号量小于或等于信号量阈值，则执行步骤SI I。
[0047]本实施例中LCD屏测试过流保护方法通过将LCD屏发出的信号进行放大，若放大后获取的参考信号量大于信号量阈值，则触发主控端关闭所述LCD屏的测试电源，实现对LCD屏的保护，避免电源和信号线短路造成的集成电路烧毁，而避免测试过程中LCD屏的损坏，减少测试损耗，该测试方法简单，成本低。
[0048]请参阅图3，为本发明提供的LCD屏测试过流保护方法另一个实施例的流程示意图。所述LCD屏与主控端连接，所述主控端用于在LCD屏测试过程中向所述LCD屏提供信号源和测试电源；所述LCD屏测试过流保护方法包括以下步骤:
[0049]步骤S21，获取所述IXD屏发出的初始信号；
[0050]步骤S22，将所述初始信号放大预订倍数，以获取参考信号量；
[0051]步骤S23，判断所述参考信号量是否大于信号量阈值；
[0052]若所述参考信号量小于或等于信号量阈值，则执行步骤S21