绝缘。74. 根据权利要求73的方法，其中在步骤（g)中，所有的接地与底部电触点彼此被电绝 缘。75. 根据权利要求66的方法，还包括步骤（h)提供光学传感器。76. 根据权利要求75的方法，还包括步骤（i)将光学传感器聚集到接触平台。77. 根据权利要求75的方法，还包括步骤（j)使光学传感器对齐接触平台。78. 根据权利要求75的方法，还包括步骤（k)使适合承载多井托盘的托盘滑架对齐接 触平台。79. 根据权利要求66的方法，还包括步骤（1)使接触平台的多对电触点对齐多井托盘 的底面。80. 根据权利要求79的方法，其中步骤（1)还包括提供托盘滑架框架的导电表面。81. 根据权利要求66的方法，还包括步骤（m)将多井托盘锁紧到托盘滑架框架。82. -种在多井板中进行发光化验的仪器，该仪器包括光探测子系统和板处理子系统， 其中板处理子系统包括： (a) 遮光外壳，包括壳体和能活动的抽屉，其中 (X)壳体包括壳体顶部、壳体前部、一个或多个板引入孔、检测孔、用于密封板引入孔的 滑动遮光门和多个对齐特征，其中该壳体适合接收能活动的抽屉，和 (y)能活动的抽屉，包括： (i) x-y副架，包括多个配对对齐特征，所述特征配置为与多个对齐特征配合和啮合，以 使壳体内的能活动的抽屉相对于光探测子系统对齐，其中能活动的抽屉的重量由壳体顶部 支撑； (ii) 带有能被升起和降下的板升降平台的一个或多个板升降机，其中该一个或多个板 升降机的位置低于板引入孔； (iii) 使板沿一个或多个水平方向平移的板平移台架，其中该台架包括用于支撑板的 板滑架，板滑架具有开口，允许位置低于板滑架的板升降机接近和提升板，并且板平移台架 配置为将板定位在检测孔下方，且将板定位在板升降机上方；和 (b) 安装在壳体顶部上、板引入孔上方的一个或多个板堆垛机，其中板堆垛机配置为接 收板或者将板输送到板升降机；和 其中光探测子系统包括安装在外壳顶部上并且结合到带有遮光密封的检测孔的光探 测器。83. 根据权利要求82的仪器，其中x-y副架被安装到壳体顶部。84. 根据权利要求82的仪器，其中该多个对齐特征包括一组始终分布在壳体内的对齐 销，而多个配对对齐特征包括配置为与该组对齐销啮合的一组孔。85. 根据权利要求82的仪器，其中壳体包括多个电连接器，而抽屉包括配置成与该多 个电连接器接触并啮合的多个配对电连接器。86. 根据权利要求82的仪器，其中一个或多个板堆垛机是能活动的。87. 根据权利要求82的仪器，还包括配置为容纳多个板的板堆垛机延长元件，其中该 板堆垛机延长元件被放置在板堆垛机的顶部上。88. 根据权利要求87的仪器，其中板堆垛机延长元件的高度是能调节的。89. 根据权利要求88的仪器，其中板堆垛机延长元件被配置成容纳高达20块板。90. 根据权利要求88的仪器，其中板堆垛机延长元件被配置成容纳高达10块板。91. 根据权利要求88的仪器，其中板堆垛机延长元件被配置成容纳高达5块板。92. 根据权利要求82的仪器，其中板处理子系统还包括配置成检测该子系统中的板的 板传感器。93. 根据权利要求92的仪器，其中板传感器包括电容传感器、接触开关、超声波传感 器、重量传感器、或者光学传感器。94. 根据权利要求82的仪器，其中抽屉还包括邻近一个或多个板升降机和/或板平移 台架的多个溢出收集机构。95. 根据权利要求94的仪器，其中溢出收集机构包括滴落防护装置。96. 根据权利要求82的仪器，其中一个或多个板升降平台包括一个防滑面。97. 根据权利要求82的仪器，其中一个或多个板升降机包括借助交叉机构连接的两个 相邻的升降平台，该交叉机构用于提高和降低该升降平台。98. 根据权利要求82的仪器，其中板平移台架包括配置为禁止该台架移动的锁定机 构。99. 根据权利要求82的仪器，其中板处理子系统还包括一个或多个板朝向传感器。100. 根据权利要求99的仪器，其中一个或多个板朝向传感器被放在板滑架、该一个或 多个板堆垛机和其组合上、或者与之相连。101. 根据权利要求82的仪器，其中光探测子系统包括照相机和照相机聚焦机构，用于 将照相机聚焦在x、y、z、和0方向上。102. 根据权利要求101的仪器，其中照相机聚焦机构包括能手动调节的元件。103. 根据权利要求102的仪器，其中能手动调节的元件包括旋钮。104. 根据权利要求101的仪器，其中光探测子系统还包括配置为驱动照相机聚焦机构 的马达。105. 根据权利要求101的仪器，其中光探测子系统包括安装到板处理子系统的光探测 子系统壳体。106. 根据权利要求105的仪器，其中光探测子系统壳体包括固定到遮光外壳壳体顶部 的卡子。107. 根据权利要求106的仪器，其中该卡子还包括配置为防止光从遮光外壳泄漏的一 个或多个遮光材料。108. 根据权利要求101的仪器，其中光探测子系统壳体还包括环绕照相机的遮光罩。109. 根据权利要求101的仪器，其中照相机包括透镜，透镜的F数在1. 3-1. 8的范围 内。110. 根据权利要求101的仪器，其中壳体包括内部冷却风扇、位于壳体第一侧的进气 口和位于相对于第一侧的壳体的相对侧上的排气口。111. 一种在多井板上进行发光化验的仪器，该仪器包括板处理子系统，该板处理子系 统包括用于支撑多井板的板滑架，其中板滑架包括框架和板锁紧机构，板锁紧机构包括： (a) 板滑架凸缘； (b) 垂直于该凸缘的板夹臂，包括相对于凸缘的近端和远端，其中臂的近端被附接到框 架，而臂的远端在X-Y板上能旋转，并且臂还包括上夹具，该上夹具包括配置为与板啮合的 倾斜表面； (c) 板定位元件，包括杆、踏板和弹簧，其中该杆垂直于臂、平行于凸缘、并且借助弹簧 附接到臂的远端，而踏板以一角度附接到杆；和 (d) 平行于臂的板壁，其垂直于定位元件和凸缘，并且布置在两者之间，板壁包括（i) 用于与多井板的裙部啮合的下板夹具，和（ii)配置为将下板夹具推向裙部的下板夹具斜 面。112. 根据权利要求111的仪器，其中板壁还包括配置为使下板夹脱离裙部的板排出元 件。113. -种将多井板嵌入权利要求111的仪器中的方法，包括： (a) 将板放置在框架上； (b) 压缩板定位元件的弹簧，从而朝着凸缘推动踏板抵靠板，并且使臂在X-Y面内朝着 板旋转； (C)使上夹具与板接触，从而将板推向滑架壁； (d)使下板夹具与裙部接触，从而将板锁在滑架内。114. 一种在多井板中进行发光化验的仪器，该仪器包括板处理子系统和板锁紧机构， 板处理子系统包括支撑多井板的板滑架， 其中多井板至少具有第一、第二、第三和第四侧面，并且第一和第三侧面基本上彼此平 行，而第二和第四侧面基本上彼此平行， 其中板滑架限定了孔，其形状与多井板基本相同，且其尺寸小于多井板以支撑位于多 井板周围的凸缘，其中板滑架还包括分别对应于多井板的第一和第二侧面的第一（501)和 第二（513)限位件， 其中板锁紧机构能够从用于接收一个多井板的开口配置移动到用于将多井板锁到板 滑架的夹紧配置， 其中板锁紧机构包括被偏置到夹紧位置的第一锁紧元件（509)和被偏置到夹紧位置 的板夹臂（502)，该第一锁紧元件具有适合将多井板的第一侧面推向第一限位件的踏板 (511)，该板夹臂具有能枢转地连接到板夹臂（502)并且适合将第二侧面推向第二限位件 (513)的托架（503)，其中第一锁紧机构（509)连接到板夹臂（502)，和 其中板锁紧机构包括至少一个偏置夹具（515)，其位置邻近第二限位件（513)，以将多 井托盘的裙部夹到板滑架。115. 根据权利要求114的仪器，其中托架（503)包括至少两条腿（504,506)，且两者都 与多井托盘的第四侧面接触。116. 根据权利要求115的仪器，其中至少一个腿（504, 506)包括斜面（507, 508)，从而 垂直于多井托盘的平面施加力。117. 根据权利要求114的仪器，其中第一锁紧元件包括被弹簧（512)偏置到夹紧位置 的致动杆（510)。118. 根据权利要求117的仪器，其中踏板（511)附接到致动杆（510)，且板滑架具有第 三限位件以在移动致动杆时推动踏板朝着和远离多井托盘移动。119. 根据权利要求117的仪器，其中踏板和板夹臂缩进开口配置中。120. 根据权利要求111的仪器，还包括使多井托盘远离第一或者第二限位件移动的排 出器。121. 根据权利要求120的仪器，其中排出器被弹簧加压。122. 根据权利要求120的仪器，其中排出器包括过移防护器。123. -种系统，包括： (i) 多井化验板，选自于由单井可寻址的板或者多井可寻址的板组成的组；和 (ii) 配置为测量来自于单井可寻址的板的单井和多井可寻址的板的一组井的电化学 发光（ECL)的装置。124. 权利要求123的系统，其中多井化验板包括单井可寻址的板，该板包括具有板顶 孔的板顶部和与板顶部配合以限定单井可寻址的板的井的板底部，板底部包括具有顶面和 底面的衬底，顶面上具有组成图案的电极，底面具有组成图案的电触点，其中电极和触点组 成图案，以限定单井可寻址的板的多个井底，其中井底内的图案包括： (a) 衬底的顶面上的工作电极，其中工作电极电连接到电触点；和 (b) 衬底顶面上的对电极，其中对电极与电触点电连接，而不是与单井可寻址的板的其 他井中的其他对电极电连接。125. 根据权利要求124的系统，其中单井可寻址的板是4井板、6井板、24井板、96井 板、384井板、1536井板、6144井板或者9600井板。126. 根据权利要求124的系统，其中电极和触点能独自编址。127. 根据权利要求124的系统，其中电极包括碳粒子。128. 根据权利要求124的系统，其中电极包括印刷导电材料。129. 根据权利要求128的系统，其中一个或多个电极包括形成在上面的多个化验区。130. 根据权利要求129的系统，其中该多个化验区包括至少4个化验区。131. 根据权利要求129的系统，其中该多个化验区包括至少7个化验区。132. 根据权利要求129的系统，其中该多个化验区包括至少10个化验区。133. 根据权利要求129的系统，其中该多个化验区由支撑在工作电极上的一个或多个 介电层中的开口限定。134. 根据权利要求123的系统，其中多井化验板包括多井可寻址的板，该板包括具有 板顶孔的板顶部和与板顶部配合以限定多井可寻址的板的井的板底部，板底部包括具有顶 面和底面的衬底，顶面上有组成图案的电极，底面上有组成图案的电触点，其中电极和触点 组成图案，以限定两个或多个可联合寻址的化验井的两个或多个可独立寻址的部分，每个 部分包括两个或多个井以及： (a) 位于衬底顶面上的可联合寻址的工作电极，其中每个工作电极都相互电连接并且 连接到至少电触点的第一个；和 (b) 位于衬底顶面上的可联合寻址的对电极，其中对电极的每一个都相互电连接，但不 与工作电极电连接，并且连接到至少电触点的第二个。135. 根据权利要求134的系统，其中多井可寻址的板是4井板、6井板、24井板、96井 板、384井板、1536井板、6144井板或者9600井板。136. 根据权利要求134的系统，其中可独立寻址的部分包括多井可寻址的板的少于 50 %的井。137. 根据权利要求134的系统，其中可独立寻址的部分包括多井可寻址的板的少于 20 %的井。138. 根据权利要求134的系统，其中可独立寻址的部分包括4x4阵列的井。139. 根据权利要求134的系统，其中多井板包括2x3阵列的可独立寻址的部分。140. 根据权利要求134的系统，其中可独立寻址的部分包括一排或多排或者一列或多 列的井。141. 根据权利要求134的系统，其中电极包括碳粒子。142. 根据权利要求134的系统，其中电极包括印刷导电材料。143. 根据权利要求142的系统，其中一个或多个电极包括形成在其上面的多个化验 区。144. 根据权利要求143的系统，其中该多个化验区包括至少4个化验区。145. 根据权利要求143的系统，其中该多个化验区包括至少7个化验区。146. 根据权利要求143的系统，其中该多个化验区包括至少10个化验区。147. 根据权利要求123-146中任一项的系统，其中该装置包括 接触平台，其中接触平台包括多个询问区域，并且每个询问区域包括将电势传导到询 问区域的至少一对电触点，和 操作地连接到电压源的控制器，其中电压源能连接到一对或多对电触点，和 连接到控制器和电压源的多路转换器，以有选择地将电压源连接到单个询问区域的该 对电触点，或者将电压源连接到一个以上询问区域的多对电触点。148. 根据权利要求147的系统，其中多个询问区域被布置成PxQ矩阵。149. 根据权利要求148的系统，其中PxQ矩阵是2x2矩阵。150. 根据权利要求147的系统，其中接触平台上的多对电触点包括直立的销。151. 根据权利要求150的系统，其中直立的销是弹簧加压的。152. 根据权利要求147的系统，还包括位置高于接触平台的光学传感器。153. 根据权利要求152的系统，还包括第一对齐机构，该第一对齐机构包括从接触平 台射向光学传感器以使接触平台对准光学传感器的光源。154. 根据权利要求147的系统，还包括板滑架平台，其适合搬运多井板并且相对于接 触平台定位该多井板，以便电势能够被施加到该多井板上的一个或多个井。155. 根据权利要求154的系统，还包括第二对齐机构，该第二对齐机构包括多个位于 板滑架框架上的孔，其中光源从接触平台通过孔照射，以使板滑架框架与平台进一步对齐。156. 根据权利要求155的系统，其中板滑架框架包括矩形开口，其规格和尺寸被制作 以将裙部支撑在多井板的周围。157. 根据权利要求156的系统，其中多个孔被定位在矩形开口的至少两侧。158. 根据权利要求154的系统，其中板滑架包括锁紧机构，以将多井板保持到板滑架 框架。159. 根据权利要求154的系统，还包括位于板滑架框架上的聚焦机构，以允许光学传 感器相对于聚焦机构被聚焦。160. 根据权利要求154的系统，还包括第三对齐机构，该第三对齐机构包括位于板滑 架框架上的导电表面，以便当接触平台上的电触点与该导电表面接触时，电流在接触平台 上的电触点之间流动，以指示电触点和板滑架框架之间的预定距离。161. 根据权利要求123-146中任一项的系统，其中该装置包括： 平台，其中该平台包括多个询问区域，并且每个询问区域包括将电势传导到询问区域 的至少一对电触点，和 操作地连接到电压源的控制器，其中电压源能连接到一对或多对电触点，和 连接到控制器和电压源的装置，以从电压源和单个询问区域的电触点之间的第一连接 切换到电压源和一个或多个询问区域的电触点之间的第二连接。162. -种用于测量来自多井板的发光的装置，多井板的板类型选自于由单井可寻址的 板或者多井可寻址的板构成的组，该装置包括： (i) 用于识别板类型的板类型识别接口； (ii) 用于保持并使多井板在x-y平面内平移的板平移台架； (iii) 包括多个接触探针的板接触机构，该板接触机构位置低于板平移台架并且位于 台架的运动范围内，其中该机构被安装在能升起和降下该机构的接触机构升降机上，以便 当板位于平移台架上时，使探针与板的底部接触表面接触或者不接触； (iv)通过接触探针将电势施加到板的电压源；和 (V)位置高于板平移台架并且与板接触机构垂直对齐的成像系统，其中 (a) 成像系统被配置用来为井的PxQ矩阵成像，板接触机构被配置用来接触与矩阵有 关的底部接触表面，而板平移台架被配置用来使板平移到矩阵与成像系统和板接触机构对 准的位置； (b) 该装置被配置用来顺序施加电压到单井能寻址的板的矩阵中的每个井，并且为矩 阵成像；和 (c) 该装置被配置用来同时施加电压到多井可寻址的板的矩阵中的每个井，并且为矩 阵成像。163. 根据权利要求162的装置，其中PxQ矩阵是2x2阵列的井。164. 根据权利要求163的装置，其中成像系统收集每个连续施加到单井可寻址的板的 矩阵中的每个井的电压的分开图像。165. 根据权利要求162的装置，其中板类型识别接口包括选自于由条形码读取器、 EPROM读取器、EEPROM读取器、或者RFID读取器构成的组的设备。166. 根据权利要求162的装置，其中板类型识别接口包括被配置用来能让用户输入板 类型识别信息的图形用户界面。167. 用于测量来自多井板的发光的方法，多井板的板类型选自于由单井可寻址的板或 者多井可寻址的板构成的组，该装置包括： (i) 用于识别板类型的板类型识别接口； (ii) 用于保持并使多井板在x-y平面内平移的板平移台架； (iii) 包括多个接触探针的板接触机构，该板接触机构位置低于板平移台架并且位于 台架的运动范围内，其中该机构被安装在能升起和降下该机构的接触机构升降机上，以便 当板位于平移台架上时，使探针与板的底部接触表面接触或者不接触； (iv) 通过接触探针将电势施加到板的电压源；和 (iv)位置高于板平移台架并且与板接触机构垂直对齐的成像系统， 该方法包括， (a) 将板装载到板平移台架上； (b) 识别板是单井还是多井可寻址的板； (c) 移动板平移台架，使井的第一PxQ矩阵与板接触机构和成像系统对准； (d) 提升板接触机构，以便接触机构上的接触探针接触与井的PxQ矩阵有关的底部接 触表面； (e) 如果板是单井可寻址的板，那么在该组被成像的同时，通过顺序施加电压到该组中 的每个井，在PxQ矩阵中产生发光并为之成像； (f) 如果板是多井可寻址的板，那么在该矩阵被成像的同时，通过同时施加电压到矩阵 中的每个井，在PxQ矩阵中产生发光并为之成像；和 (g) 对于板中其他的PxQ矩阵，重复步骤（c)到（f)。168. 根据权利要求167的方法，其中PxQ矩阵是井的2x2阵列。
【专利摘要】描述了进行化验的装置、系统、方法、试剂、和成套设备以及制备它们的工艺。它们特别适合以多井板化验格式进行自动分析。提供一种将光学传感器聚焦到隔开的平台的方法，包括如下步骤：提供至少一个图案化的上、中和下表面，其中图案化的中表面和平台彼此对齐，且图案化的上和中表面之间的第一距离以及中表面和图案化的下表面之间的第二距离基本上相等；利用光学传感器获得图案化的上和中表面之间的对比度值的第一差值；(c)利用光学传感器获得图案化的中和下表面之间的对比度值的第二差值；和(d)比较对比度值的第一和第二差值。
【IPC分类】G01N21/75, G01N21/76, C40B60/12
【公开号】CN105209886
【申请号】CN201480012891
【发明人】I·钱伯林, C·M·柯林顿, E·N·格勒泽, B·杰弗里-科克尔, M·科赫尔, S·科瓦奇, D.T.·勒, A·雷姆库凯勒, G·思加尔, L·塔巴金, J·威洛比
【申请人】梅索磅秤技术有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2014年1月3日
【公告号】CA2896541A1, EP2941633A2, US20140191109, WO2014107576A2, WO2014107576A3