但允许辐射通过壳体的开口端30531下落。
[0035]电子设备部分3052包括信号处理单元30521 (例如，被实现为专用集成电路(ASIC))。每一行借助于作为通道的导体30512被连接到处理单元的输入。信号处理单元的输出可以通过线缆30522被连接到外部的处理元件(未示出)。代替或者与线缆30522组合，电子设备部分也可以设有RF发送器/接收器30523，用于将处理的数据传送到接收器。电子设备可以设有电源，采用板载电源或者外部电源。
[0036]行中的二极管的数量和层的数量取决于应用。检测器可以仅包括一个二极管，例如用于其中传感器包含有上述准直器的应用。然而，优选的实施例包括至少三层或更多层。
[0037]如先前提到的，传感器包括层叠的二极管，其中每个二极管层被同一源辐射来辐射。每个二极管层之间的过滤层改变源辐射的能量含量，即每个二极管层被尽管具有共同的源辐射但光谱不同的辐射来辐射。每个二极管层产生电流，电流取决于辐射强度和能量。二极管电流被连接到具有可变放大的放大器(例如，跨阻抗放大器)和具有可变放大的后继放大器(例如，电压放大器)。对于每个二极管层，二极管特定电压随后被转送到模数转换器(ADC)，用于进一步连接到处理单元，处理单元处理信号，以计算源辐射的剂量、kVp、总过滤、剂量率、曝光时间、HVL等中的一种或多种。
[0038]图4示出了网络400的示意图，其可以包含本发明的检测器和测量教导。根据该实施例的网络包括X射线检查装置401，诸如X射线机、CT、放射线照相机等，设有至少一个如先前描述的检测器405。检查装置401和检测器405可以被连接到RIS/PACS 406和/或数据收集器407。来自数据收集器407的信息可以被提供到计算机网络中的数据库408。
[0039]数据库可以由基于云的应用和本地安装的DIC0M或类似的(MWL，RDSR，MPPS，DICOMOCR)数据收集器构成。
[0040]用户诸如操作员409URS0物理学家4092、放射科医师4093等可以例如通过网络浏览器访问来自检查装置或检测器的信息。这能够使工作流程中的所有个人容易访问方案，无任何麻烦的软件安装。
[0041]数据收集器可以是可被安装在检查地点处的软件方案。数据收集器利用DIC0M网络连接X射线机和/或RIS/PACS系统。
[0042]为了示出和描述的目的，已经呈现了本发明的实施例的前述描述。前述的描述并非旨在是排除性的，或者将本发明的实施例限制到已公开的精确形式，而是根据以上教导，修改和变型是可能的，或者可以从本发明的各种实施例的实践中获得。选取和描述本文中描述的实施例以解释本发明的各种实施例的原理和本质以及其实际应用，以使本领域技术人员能够以各种实施例和适合于预期的特定应用的各种变形来利用本发明。本文中描述的实施例的特征可以被组合在方法、设备、模块、系统和计算机程序产品的所有可能的组合中。
[0043]应当注意，词语“包括”不排除存在除了列出的那些之外的其它元件或步骤，并且元件前的词语“一”不排除存在多个这种元件。应当进一步注意，任何参考标记不限制权利要求的范围，本发明可以至少部分通过硬件和软件来实施，并且若干个“部件”、“单元”或“设备”可以被硬件的相同项来表示。
[0044]本发明的各种实施例的软件和网络实现方式可以采用具有基于规则的逻辑和其它逻辑的标准的编程技术实现，以实现各种数据库检索步骤或过程、相关步骤或过程、对比步骤或过程以及决定步骤或过程。应当注意，在这里和以下权利要求书中使用的词语“部件”和“模块”旨在涵盖采用一行或多行软件代码的实现方式和/或硬件实现方式，和/或用于接收人工输入的设备。
[0045]在这里描述的本发明的各种实施例被描述在方法步骤或过程的一般语境中，在一种实施例中可以由实现在计算机可读介质中的计算机程序产品来实施，计算机程序产品包括计算机可读指令，诸如由网络环境中的计算机执行的程序代码。计算机可读介质可以包括可移除的和不可移除的存储设备，包括但不限于只读存储器(R0M)、随机存取存储器(RAM)、光盘(CD)、数字多媒体盘(DVD)等。通常，程序模块可以包括例程、程序、对象、部件、数据结构等，完成特定的任务或者实现特定的抽象数据类型。计算机可执行指令、相关的数据结构和程序模块代表用于执行本文中描述的方法步骤的程序代码的实例。这些可执行的指令或相关的数据结构的特定顺序代表用于实现在这些步骤或过程中描述的功能的相应行为的实例。
【主权项】
1.一种用于测量 X 射线剂量参数的装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)，所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051，3052)，其特征在于，所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除对再现图像的干扰。2.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测器(3051，3052)被配置为测量散射辐射。3.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测器(3051，3052)被配置为测量直接辐射。4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其中所述检测器(3051，3052)被布置在X射线源的壳体上并且被配置为检测穿过设置在壳体中的孔的散射射线。5.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其中所述检测器被布置在源的壳体的开口处，X射线从所述开口冒出，所述检测器至少部分或全部地被定位在图像场中，即辐射待检查的对象的射线阵式。6.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其中所述检测器被布置在源的壳体的内部的位置中，该位置对应于射线离开准直器孔的方向，所述检测器至少部分或全部地被定位在图像场中，即辐射待检查的对象的射线阵式。7.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其中所述检测器被布置在壳体的内部，位于源和准直器之间。8.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，其中所述检测器被布置在准直器的内部或准直器的表面上。9.根据权利要求1-8中任一项所述的装置，被配置为测量一种或几种放射性参数，放射性参数包括散射X射线的剂量、总剂量、剂量率、峰千伏电压(kVp)、半值层(HVL)、总过滤、曝光时间、脉冲、脉冲率和剂量/脉冲。10.根据权利要求1-9中任一项所述的装置，其中所述检测器包括包封许多层叠的二极管层(30511)的壳体，每个二极管层彼此间隔，并且在每个二极管层之间设有辐射过滤器，并且每个二极管层连接到用于产生与所述参数相对应的信号的处理单元。11.根据权利要求ι-?ο中任一项所述的装置，包括检测器，所述检测器包括将一个或几个二极管包封在一层中的壳体。12.根据权利要求1-11中任一项所述的装置，其中所述检测器包括RF通信部分。13.一种X射线检测器(305)，其特征在于， 许多层叠的二极管层(30511)， 每个二极管层(30511)之间的福射过滤层(30513);以及 处理单元(30521)，所述处理单元连接到每个二极管层或者每个二极管层中的二极管。14.根据权利要求13所述的X射线检测器，还包括辐射阻挡材料的壳体。15.根据权利要求13或14所述的X射线检测器，其中所述处理单元被实现在专用集成电路(ASIC)中。16.一种用于处理放射性信息的计算机网络(400)，其特征在于，所述网络包括X射线检查装置(401)、数据收集器(407)和数据库(408)，其中所述X射线检查装置设有X射线参数测量装置(405)，所述X射线参数测量装置包括用于测量所述X射线参数的检测器，该装置被配置为定位在邻近X射线源的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除时再现图像的干扰。17.根据权利要求17所述的计算机网络，其中所述数据库由中央应用和本地安装的DICOM 或 MWL、RDSR、MPPS、DICOMOCR 数据收集器构成。
【专利摘要】本发明涉及一种用于测量X射线剂量参数的装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)。所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051，3052)。所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除时再现图像的干扰。
【IPC分类】A61B6/10, G01T1/24, H05G1/26
【公开号】CN105393142
【申请号】CN201480031749
【发明人】T·安福斯
【申请人】安福斯射线安全股份公司
【公开日】2016年3月9日
【申请日】2014年5月30日
【公告号】EP3004931A1, US20140353514, WO2014196914A1