>[0078]图5示出根据本公开示例实施方式的双能探测的方法的流程图。该方法可例如利用如图1、2、3或4所示的双能探测装置和系统实现，但本公开不限于此。需要注意的是，图5仅是根据本公开示例实施方式的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，图5所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块/进程/线程中同步或异步执行的。
[0079]通过以上的实施例的描述，本领域的技术人员易于理解，本公开实施例的方法和相应模块可以通过软件或部分软件硬化的方式来实现。因此，本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-R0M，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本公开实施例的方法。
[0080]本领域技术人员可以理解，附图只是示例实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本公开所必须的，因此不能用于限制本公开的保护范围。
[0081]本领域技术人员可以理解上述各模块可以按照实施例的描述分布于装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施例的一个或多个装置中。上述实施例的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。
[0082]以上具体地示出和描述了本公开的示例性实施例。应该理解，本公开不限于所公开的实施例，相反，本公开意图涵盖包含在所附权利要求的精神和范围内的各种修改和等效布置。
【主权项】
1.一种双能探测装置，其特征在于，包括: 靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子； 远离所述射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测经过所述第一像素探测器阵列后的相对高能的所述射线源光子;其中 所述第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，所述第一像素探测器包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于所述射线源入射的第一入射面及与所述第一光敏器件耦合的第一窗口，所述第一入射面朝向所述射线源； 所述第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，所述第二像素探测器包括第二灵敏介质、第二光敏器件、用于所述射线源入射的第二入射面及与所述第二光敏器件耦合的第二窗口； 每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。2.如权利要求1所述的装置，其中所述第一灵敏介质为第一闪烁体，每个第一像素探测器包括长方形的所述第一闪烁体及包覆所述第一闪烁体的第一反射层，所述第一反射层暴露所述第一窗口，每个第一像素探测器的与所述第一窗口相对的一侧为所述第一入射面。3.如权利要求1所述的装置，其中所述第二灵敏介质为第二闪烁体，每个第二像素探测器包括长方形的所述第二闪烁体及包覆所述第二闪烁体的第二反射层，所述第二反射层暴露所述第二窗口。4.如权利要求1所述的装置，其中所述第一像素探测器还包括第一数据采集板。5.如权利要求1所述的装置，其中所述第二像素探测器还包括第二数据采集板。6.如权利要求1所述的装置，其中所述射线源包括X射线源和同位素源。7.如权利要求1所述的装置，其中所述第一像素探测器的质量厚度根据所述射线源类型、第一灵敏介质类型和像素大小中的任意一种或几种的组合确定。8.如权利要求7所述的装置，其中所述第二像素探测器的质量厚度选择使得所述第二像素探测器阵列能够有效探测到所述相对高能的所述射线源光子，且所述第二像素探测器的质量厚度大于所述第一像素探测器的质量厚度。9.一种用于双能探测的系统，其特征在于，包括: 位于被检物体一侧的射线源； 位于所述被检物体另一侧的双能探测装置;其中 所述双能探测装置包括: 靠近所述射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子； 远离所述射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测经过所述第一像素探测器阵列后的相对高能的所述射线源光子;其中 所述第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，所述第一像素探测器包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于所述射线源入射的第一入射面及与所述第一光敏器件耦合的第一窗口，所述第一入射面朝向所述射线源； 所述第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，所述第二像素探测器包括第二灵敏介质、第二光敏器件、用于所述射线源入射的第二入射面及与所述第二光敏器件耦合的第二窗口； 每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。10.如权利要求9所述的系统，其中所述第一像素探测器还包括第一数据采集板。11.如权利要求10所述的系统，其中所述第二像素探测器还包括第二数据采集板。12.如权利要求10所述的系统，还包括处理装置，所述处理装置分别与所述第一数据采集板和所述第二数据采集板连接，读取所述第一像素探测器阵列和所述第二像素探测器阵列的输出信号，并根据所述输出信号获得所述被检物质的有效原子序数信息。13.如权利要求9所述的系统，其中所述射线源包括X射线源和同位素源。14.一种用于双能探测的方法，其特征在于，包括: 在靠近射线源一侧设置第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子，其中所述第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，所述第一像素探测器包括第一闪烁体、第一光敏器件、用于所述射线源入射的第一入射面及与所述第一光敏器件耦合的第一窗口，所述第一入射面朝向所述射线源； 在远离所述射线源一侧设置第二像素探测器阵列，用于探测经过所述第一像素探测器阵列后的相对高能的所述射线源光子，其中所述第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，所述第二像素探测器包括第二闪烁体、第二光敏器件、用于所述射线源入射的第二入射面及与所述第二光敏器件耦合的第二窗口，每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同； 用所述射线源从所述第一入射面照射所述第一像素探测器阵列。15.如权利要求14所述的方法，还包括: 读取所述第一像素探测器阵列和所述第二像素探测器阵列的输出信号； 根据所述输出信号获得所述被检物质的有效原子序数信息。
【专利摘要】本申请涉及双能探测装置、系统及方法，属于辐射检查领域。该装置包括：靠近射线源一侧的第一像素探测器阵列，用于探测相对低能的射线源光子；远离射线源一侧的第二像素探测器阵列，用于探测相对高能的射线源光子；其中第一像素探测器阵列包括多排第一像素探测器，其包括第一灵敏介质、第一光敏器件、用于射线源入射的第一入射面及与第一光敏器件耦合的第一窗口，第一入射面朝向射线源；第二像素探测器阵列包括单排第二像素探测器，其包括第二灵敏介质、第二光敏器件、第二入射面及与第二光敏器件耦合的第二窗口；每个第二像素探测器与其相应的多个第一像素探测器的像素面积相同。本公开能够同时兼顾物质有效原子序数的识别、提升空间分辨能力和增强对射线的有效探测。
【IPC分类】G01N23/04
【公开号】CN105510363
【申请号】CN201511017642
【发明人】张清军, 李元景, 李树伟, 赵自然, 朱维彬, 王均效, 李建华
【申请人】同方威视技术股份有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年12月29日