测量臂转站基准校对装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种基准校对装置，特别涉及一种测量臂转站基准校对装置。
【背景技术】
[0002]测量臂划线技术主要采用测量臂对铸件进行划线，以验证铸件的尺寸是否合格。测量臂的检测特点是将铸件放置在工作场地上，铸件不需要找正，通过测量臂测量点与铸件的划线基准相吻合后，随即在铸件上进行测量，软件将测量点自动与3D数模吻合，测量点的尺寸会自动显示在3D数模上，检测结果直观，利于发现问题。同时此技术也解决了三维划线检测圆弧面检测效率低的问题，极大的提升了检测效率。
[0003]当产品品种繁多、且规格不一致时，由于测量臂的检测设备手臂长为1.8米，因此在检测大型铸件时需要进行多次的转站(转移站位)ο目前使用的是设备自带的“蛙跳球”进行转站，基准校对的操作模式是沿着“蛙跳球”螺旋方向连续测量至少12个点，且必须测量三个“蛙跳球”，因此每转站一次，需要检测至少36个点。此基准校对方法费时费力、效率低下。
[0004]另外，在检测精度方面设备自带的“蛙跳球”基准测量方法误差较大，一方面对于设备自身而言，每转站一次，设备自身的精度误差在0.5mm左右;另一方面由于人为操作，每个人操作者采点手法不同会导致检测误差在0.5-1.0_。因此如果检测大型铸件，需转站两次以上时将会严重影响到检测尺寸的精度。
【发明内容】
[0005]针对现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种测量臂转站基准校对装置，以实现快捷、方便、准确地测量臂的转站。
[0006]根据本发明，提供了一种测量臂转站基准校对装置，包括:具有两个相对的端面的主体结构，所述主体结构的一个端面上设置有用于与测量臂的测量球相匹配的锥形盲孔，所述锥形盲孔从开口向封闭端孔径逐渐减小，所述主体结构的另一个端面上设置有附接结构。
[0007]根据本发明的一个实施例，所述附接结构为磁性结构。
[0008]根据本发明的一个实施例，所述锥形盲孔的深度占所述两个相对的端面之间的距离的三分之二。
[0009]根据本发明的一个实施例，所述测量臂转站基准校对装置由钢制成。
[0010]根据本发明的一个实施例，所述主体结构具有圆柱状结构。
[0011]根据本发明的一个实施例，所述主体结构具有圆台状结构。
[0012]根据本发明的一个实施例，所述锥形盲孔设置在所述圆台状结构的较小端面上。
[0013]本发明克服了现有技术中利用测量臂设备自带“蛙跳球”进行基准校对费时费力、效率低下的缺陷，能快捷、方便、准确的实现测量臂的转站，极大的提升了检测效率；同时解决了检测时的人为操作误差，使得每转站一次的误差控制在0.3_及以内，保证了检测尺寸精度。
[0014]本发明的测量臂转站基准校对装置具有操作灵活、准确性高、结构简单等特点。所述基准校对装置特别适合于公司生产的大型铸件，特别是长度超过3.5米及以上的铸件，同时也解决了多次转站导致的检测尺寸精度问题。
【附图说明】
[0015]图1是测量臂转站基准校对装置的俯视图；
[0016]图2是从图1的线A-A处截取的测量臂转站基准校对装置的截面图。
[0017]其中，1-主体结构;2-锥形盲孔;3-磁性结构；10-测量臂转站基准校对装置。
【具体实施方式】
[0018]下面结合附图对发明的各个实施例进行描述。
[0019]图1示出了根据本发明的测量臂转站基准校对装置10的一个实施例的俯视图。该测量臂转站基准校对装置10包括主体结构I，主体结构I具有两个相对的端面。主体结构的一个端面上设置有锥形盲孔2，如图2的截面图所示，锥形盲孔2从开口向封闭端孔径逐渐减小，用于与测量臂的测量球相匹配;主体结构的另一个端面上设置有附接结构3。在使用时，通过附接结构3将该测量臂转站基准校对装置10附接至待测量的铸件，测量臂的测量球伸入到锥形盲孔2中以与锥形盲孔2的锥面配合。与传统的“蛙跳球”基准测量方法相比，本发明将传统点配合改变为测量球与锥形盲孔2之间的面配合，提高了精度。
[0020]该主体结构具有如图所示的圆柱状结构，也可以具有圆台状结构或其他形状的结构。在该主体结构具有圆台状结构的实施例中，锥形盲孔可以设置在圆台状结构的较小端面上，相应地，附接结构设置在圆台状结构的较大端面上。然而，也可以根据实际需要将锥形盲孔设置在圆台状结构的较大端面上。
[0021]锥形盲孔2的深度可以自由选择，在一个优选实施例中，锥形盲孔2的深度可以占所述两个相对的端面之间的距离的三分之二。
[0022]针对铸件是铁铸件的情况，附接结构可以选择为磁性结构，例如磁铁。然而，在铸件由其他材料构成时，可以相应地将附接结构构造成其他结构，例如粘接结构、吸附结构等。
[0023]测量臂转站基准校对装置可以由钢制成，例如由45#钢制成。
[0024]在使用时，将三个转站基准校对装置放置在铸件平台上，将测量臂测量球伸到锥形盲孔中，通过测量臂的读数系统快速、准确的实现相应位置的基准，从而实现测量臂的快速转站。
[0025]本发明克服了现有技术中利用测量臂设备自带“蛙跳球”进行基准校对费时费力、效率低下的缺陷，能快捷、方便、准确的实现测量臂的转站，极大的提升了检测效率；同时解决了检测时的人为操作误差，使得每转站一次的误差控制在0.3_及以内，保证了检测尺寸精度。
[0026]本发明的测量臂转站基准校对装置具有操作灵活、准确性高、结构简单等特点。所述基准校对装置特别适合于公司生产的大型铸件，特别是长度超过3.5米及以上的铸件，同时也解决了多次转站导致的检测尺寸精度问题。
[0027]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种测量臂转站基准校对装置，其特征在于，包括:具有两个相对的端面的主体结构，所述主体结构的一个端面上设置有用于与测量臂的测量球相匹配的锥形盲孔，所述锥形盲孔从开口向封闭端孔径逐渐减小，所述主体结构的另一个端面上设置有附接结构。2.根据权利要求1所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述附接结构为磁性结构。3.根据权利要求1所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述锥形盲孔的深度占所述两个相对的端面之间的距离的三分之二。4.根据权利要求1所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述测量臂转站基准校对装置由钢制成。5.根据权利要求1所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述主体结构具有圆柱状结构。6.根据权利要求1所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述主体结构具有圆台状结构。7.根据权利要求6所述的测量臂转站基准校对装置，其特征在于，所述锥形盲孔设置在所述圆台状结构的较小端面上。
【专利摘要】本发明提供了一种测量臂转站基准校对装置，包括：具有两个相对的端面的主体结构，所述主体结构的一个端面上设置有用于与测量臂的测量球相匹配的锥形盲孔，所述锥形盲孔从开口向封闭端孔径逐渐减小，所述主体结构的另一个端面上设置有附接结构。本发明的测量臂转站基准校对装置具有操作灵活、准确性高、结构简单等特点。
【IPC分类】G01B5/00
【公开号】CN105588484
【申请号】CN201610107232
【发明人】郭新光, 石光顺
【申请人】共享装备股份有限公司
【公开日】2016年5月18日
【申请日】2016年2月26日