0022]在一个优选的实施例中，分光部件2用于将宽谱带近红外光源I发出的近红外按照设定的分光比光分成两束光，包括一光纤环形器21和一親合器22，本实施例中光纤环形器21采用三端环形器。宽谱带近红外光源I发出的宽带光发射到光纤环形器21，经光纤环形器21出射的光经親合器22按照设定的分光比将光分成两部分，本发明实施例中的分光比为9:1，但是不限于此，可以根据实际情况进行选择;另外，分光器件2也可以单独使用2x2耦合器22实现按照设定的分光比将光分成两部分。
[0023]在一个优选的实施例中，参考臂光学器件3包括一光纤准直器31、一聚焦透镜32和一平面反射镜33，将耦合器22出射的一部分光发射到光纤准直器31将发散光束准直为平行光并将准直后的平行光发射到聚焦透镜32，聚焦透镜32将平行光束聚焦到平面反射镜33，经平面反射镜33反射的光按照原光路返回。
[0024]在一个优选的实施例中，样品臂光学器件4包括一光纤准直器41、一二维电动扫描系统42、一物镜系统43和一样品台44，光纤准直器41将发散光束准直为平行光发射到二维电动扫描系统42，二维电动扫描系统42由偏转方向相互正交的两组振镜及相应的电动控制台组成，电动控制台根据数据采集处理装置6发送的指令给出相应的电压信号控制振镜的偏转，实现光束二维扫描并将二维光束分别发送到物镜系统43，物镜系统43由一个或一组透镜组成，用于将光束聚焦到朱墨样品45上，物镜系统43的焦距决定图像的横向分辨率。样品台44用于承载和固定待识别朱墨时序的朱墨样品45，样品台44可以根据朱墨样品情况调整高低、俯仰等姿态，以得到更清晰图像。
[0025]在一个优选的实施例中，当近红外光源I采用SLED光源时，本发明还包括一光谱仪7用于检测参考光和样品光干涉后的干涉光光谱，可以采用现有技术的各种光谱仪，根据实际需要选择即可，本发明实施例中所采用的光谱仪包括一光纤准直器71、一光栅72和一透镜组73，干涉光经耦合器22进入光纤环形器21，经光纤环形器21出射的光经光纤准直器51发射到光栅52发射衍射生成若干条纹，每一条纹分别经透镜被探测器5探测接收后发送到数据采集处理装置6进行图像处理和显示，其中，光栅72可以采用闪耀式反射光栅，也可采用透射式光栅.
[0026]在一个优选的实施例中，探测器5可以采用CCD或者CMOS器件。另外，数据采集处理装置6可以采用基于OCT的数据采集与处理过程，包括采集卡、图像工作站以及相应的控制装置，主要完成数据采集、数据处理和图像显示功能，数据处理过程包括去本底、插值校正、色散校正、傅里叶变换、色彩空间显示、三维渲染，由于此部分内容为现有技术，在此不再赘述。
[0027]下面通过具体实施例详细说明本发明的朱墨时序断层成像检验仪的具体使用过程为:首先准备两件朱墨样品，朱墨时序分别是先墨后朱和先朱后墨。开启本发明的成像检验仪的宽谱带近红外光源I和数据采集处理装置6，将朱墨样品放置于样品台44上，调节样品台高低，调整样品台俯仰角度，使图像出现在屏幕中。调节参数使图像分辨率最佳。将两件朱墨样品分别成像，得到各自的三维图像。可以看到，如图2(a)所示，先墨后朱的样品内部较为平滑;如图2(b)所示，先朱后墨的样品内部有颗粒状印泥存在，因此本发明可以根据朱墨样品断层图像的差异来识别朱墨样品的朱墨时序，从而判断文件的形成顺序以及鉴定文件的真伪。
[0028]上述各实施例仅用于说明本发明，其中各部件的结构、连接方式和制作工艺等都是可以有所变化的，凡是在本发明技术方案的基础上进行的等同变换和改进，均不应排除在本发明的保护范围之外。
【主权项】
1.一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，该成像检验仪包括一近红外光源、一分光部件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置； 所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光部件分为参考光和样品光，所述参考光发送到所述参考臂光学器件，所述样品光经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品，经所述朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的光发生干涉，干涉光经所述探测器发送到所述数据采集处理装置。2.如权利要求1所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述近红外光源采用中心波长为700nm?1500nm的宽谱带近红外光源，当所述近红外光源采用宽谱带近红外光源时，还包括一光谱仪，所述干涉光经所述光谱仪检测参考光和样品光干涉后的干涉光光谱并发送到所述探测器。3.如权利要求2所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述光谱仪包括一光纤准直器、一光栅和一透镜组器，干涉光经所述分光器件发送到所述光纤准直器，所述光纤准直器将准直后的光发射到所述光栅发生衍射生成若干图像条纹，图像条纹经所述透镜组被所述探测器探测接收。4.如权利要求1所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述近红外光源采用近红外扫频光源。5.如权利要求1或2或3或4所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述分光部件包括一光纤环形器和一耦合器，所述近红外光源发出的近红外光发射到所述光纤环形器，经所述光纤环形器出射的光经所述耦合器按照设定的分光比分成两部分光。6.如权利要求1或2或3或4所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述分光部件采用2X2耦合器，所述近红外光源发出的近红外光发射到所述2X2耦合器按照设定的分光比分成两部分光。7.如权利要求1或2或4所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述参考臂光学器件包括一光纤准直器、一聚焦透镜和一平面反射镜，经所述分光器件出射的一部分光分别经所述光纤准直器和聚焦透镜聚焦到所述平面反射镜，经所述平面反射镜反射的光按照原光路返回。8.如权利要求1或2或4所述的一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，所述样品臂光学器件包括一光纤准直器、一二维电动扫描系统、一物镜系统和一样品台，所述光纤准直器将发散光束准直为平行光发射到所述二维电动扫描系统，所述二维电动扫描系统实现光束二维扫描并将二维光束分别发送到所述物镜系统用于将光束聚焦到所述朱墨样品上，所述样品台用于承载和固定待识别朱墨时序的朱墨样品。
【专利摘要】本发明涉及一种朱墨时序断层成像检验仪，其特征在于，该成像检验仪包括一近红外光源、一分光部件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置；所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光部件分为参考光和样品光，所述参考光发送到所述参考臂光学器件，所述样品光经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品，经所述朱墨样品散射或反射的光沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的光发生干涉，干涉光经所述探测器发送到所述数据采集处理装置。本发明可以广泛应用于朱墨样品的识别过程中。
【IPC分类】G01N21/3563, G01N21/359
【公开号】CN105606564
【申请号】CN201610177569
【发明人】秦达, 张宁, 王晓光, 黄威, 黎智辉, 郝红光
【申请人】公安部物证鉴定中心
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2016年3月25日