一种发光体表面发光均匀性检测装置、方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于图像处理技术领域，尤其涉及一种发光体表面发光均匀性检测装置、 方法及系统。
【背景技术】
[0002] 发光体包含球体、立方体、椎体、多边形体、弧形发光面等，其广泛应用于玩具、商 务办公用品和电子游戏等电子产品。由于发光体对发光均匀度有一定的要求标准，因此，相 应的发光体均匀性检测装置应运而生。
[0003] 目前，对于发光体表面发光均匀性的检测，主要运用积分球等设备进行检测，这种 检测方法检测效率低，仅适用于实验室等小批量样品测量，并不适用于大批量产品快速检 测，而且成本较高。
【发明内容】
[0004] 本发明的目的在于提供一种发光体表面发光均匀性检测装置，旨在解决现有技术 中运用积分球进行发光均匀性检测方法，其检测效率低，仅适用于实验室等小批量样品测 量，并不适用于大批量产品快速检测，而且成本较高的问题。
[0005] 本发明是这样实现的，一种发光体表面发光均匀性检测装置，所述发光体表面发 光均匀性检测装置包括发光体固定支架、图像采集设备以及图像处理设备，其中：
[0006] 所述发光体固定支架，用于对发光体进行固定，所述发光体固定支架上设有若干 个设置在所述发光体四周的反光棱镜；
[0007] 所述图像采集设备用于对固定在所述发光体固定支架上的发光体发射的光进行 图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个侧面图像；
[0008] 所述图像处理设备用于对前面图像和若干个侧面图像进行处理，获取发光体的均 匀性参数值，所述发光体的均匀性参数值包括发光体所有面单色均匀性参数和发光体所有 单个面单色标准差参数。
[0009] 作为一种改进的方案，所述图像采集设备的镜头中心与所述发光体的中心的连线 与水平面平行；
[0010] 所述反光棱镜的数量为四个，四个所述反光棱镜均匀的设置在所述发光体四周。
[0011] 本发明的另一目的在于提供一种基于发光体表面发光均匀性检测装置的发光体 表面发光均匀性检测方法，所述方法包括下述步骤：
[0012] 控制图像采集设备对发光体进行图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个 侧面图像；
[0013] 对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所对应的所有面的单色均匀性 参数值；
[0014] 对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处理，获取发光体的所有单个面单 色像素亮度值的标准差参数值。
[0015] 作为一种改进的方案，所述对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所 对应的所有面的单色均匀性参数值的步骤具体包括下述步骤：
[0016] 对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光体所有面的单色平均亮度值；
[0017] 对所有面的单色平均亮度值进行遍历，获取单色最大平均亮度值和最小平均亮度 值；
[0018] 根据所述单色最大平均亮度值和最小平均亮度值，计算获取发光体所对应的所有 面的单色均匀性参数值。
[0019] 作为一种改进的方案，所述对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处理， 获取发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值的步骤具体包括下述步骤：
[0020] 对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光体所有面的单色平均亮度值；
[0021 ]计算发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值。
[0022] 作为一种改进的方案，所述方法还包括下述步骤：
[0023] 根据图像采集设备的镜头中心和发光体的直线距离与反光棱镜的反射光程之间 的光路差值，计算亮度值补偿率；
[0024] 根据计算得到的亮度值补偿率，对若干个侧面图像所对应的单色平均亮度值进行 亮度补偿。
[0025] 本发明的另一目的在于提供一种基于发光体表面发光均匀性检测方法的发光体 表面发光均匀性检测系统，所述发光体表面发光均匀性检测系统内置于所述图像处理设备 内，所述发光体表面发光均匀性检测系统包括：
[0026] 图像采集控制模块，用于控制图像采集设备对发光体进行图像采集，采集到的图 像包括前面图像和若干个侧面图像；
[0027]单色均匀性处理模块，用于对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所 对应的所有面的单色均匀性参数值；
[0028]单色像素亮度值处理模块，用于对采集到的图像进行单个面单色的像素亮度值处 理，获取发光体的所有单个面单色像素亮度值的标准差参数值。
[0029]作为一种改进的方案，所述单色均匀性处理模块具体包括：
[0030] 第一单色平均亮度值计算模块，用于对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光 体所有面的单色平均亮度值；
[0031] 最大最小亮度值计算模块，用于对所有面的单色平均亮度值进行遍历，获取单色 最大平均亮度值和最小平均亮度值；
[0032] 单色均匀性参数值计算模块，用于根据所述单色最大平均亮度值和最小平均亮度 值，计算获取发光体所对应的所有面的单色均匀性参数值。
[0033]作为一种改进的方案，所述单色像素亮度值处理模块具体包括：
[0034] 第二单色平均亮度值计算模块，用于对采集到的图像进行亮度值计算，获取发光 体所有面的单色平均亮度值；
[0035] 单色标准差参数值计算模块，用于计算发光体的所有单个面单色像素亮度值的标 准差参数值。
[0036] 作为一种改进的方案，所述系统还包括：
[0037]亮度值补偿率计算模块，用于根据图像采集设备的镜头中心和发光体的直线距离 与反光棱镜的反射光程之间的光路差值，计算亮度值补偿率；
[0038] 亮度补偿模块，用于根据计算得到的亮度值补偿率，对若干个侧面图像所对应的 单色平均亮度值进行亮度补偿。
[0039] 在本发明中，发光体表面发光均匀性检测装置包括发光体固定支架、图像采集设 备以及图像处理设备，发光体固定支架用于对发光体进行固定，发光体固定支架上设有若 干个设置在发光体四周的反光棱镜；图像采集设备用于对固定在所述发光体固定支架上的 发光体发射的光进行图像采集，采集到的图像包括前面图像和若干个侧面图像；图像处理 设备用于对前面图像和若干个侧面图像进行处理，获取发光体的均匀性参数值，实现对各 种强度范围的发光体的检测，检测速度快，而且成本较低。
【附图说明】
[0040] 图1是本发明提供的发光体表面发光均匀性检测装置的结构示意图；
[0041 ]图2是本发明提供的反光棱镜的示意图；
[0042]图3是本发明提供的发光体表面发光均匀性检测方法的实现流程图；
[0043]图4是本发明提供的对采集到的图像进行单色均匀性处理，获取发光体所对应的 所有面的单色均匀性参数值的实现流程图；
[0044]图5a和图5b是本发明提供的棱镜反射补偿原理图；
[0045]图6是本发明提供的发光体表面发光均匀性检测系统的结构框图。
【具体实施方式】
[0046] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0047] 图1示出了本发明提供的的