一种温度测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试电路，具体是一种温度测试电路。
【背景技术】
[0002]温度测试在日常生活中运用广泛，目前市场上常见的测温装置大多使用温度传感器作为测温元件，成本较高，而且由于将温度信号转换成电压信号，因此供电电压的波动会对测试结果产生较大的影响，从而影响精确度，因此有待于改进。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种结构简单、性能稳定的温度测试电路，以解决上述【背景技术】中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:
[0005]一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管Dl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接电源VCC，电阻Rl的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管D1，瞬态电压抑制二极管Dl的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RPl的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RPl的另一个固定端，电阻R3的另一端连接电阻Rll和电阻R5的另一端，电阻R12的另一端连接电阻R13，电阻R4的另一端连接电阻Rll的另一端和芯片ICl的引脚1，电位器RPl的滑动端连接电阻R6和芯片ICl的引脚3，芯片ICl的引脚4连接电阻R6的另一端和电阻R7，电阻R7的另一端连接电阻R9、电容Cl、二极管D2的阳极、二极管D3的阴极和芯片IC2的引脚3，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、电容Cl的另一端、电阻R8和芯片IC2的引脚1，电阻R8的另一端接地，电阻R9的另一端连接电阻R10、电容C2、电位器RP2的一个固定端和芯片IC2的引脚4，电阻RlO的另一端连接电容C2的另一端并接地，电位器RP2的另一个固定端接地，电位器RP2的滑动端连接电压表P，电压表P的另一端接地。
[0006]作为本实用新型的优选方案:所述芯片ICl和芯片IC2的型号均为LM321。
[0007]作为本实用新型的优选方案:所述电阻R5为热敏电阻。
[0008]作为本实用新型的优选方案:所述电阻R3、电阻R12和电阻R13的阻值均为100 Ω 0
[0009]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:本实用新型温度测试电路利用简单且价格低廉的电阻组成非平衡电桥作为温度测试模块，极大的降低制作成本，并且利用瞬态电压抑制二极管的工作特性对电源中的尖峰脉冲进行抑制，减少了电源对测量结果的影响，因此具有结构简单、制作成本低和测量精准的优点。
【附图说明】
[0010]图1为温度测试电路的电路图。
【具体实施方式】
[0011 ] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0012]请参阅图1，一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管Dl和芯片IC1，所述电阻Rl的一端连接电源VCC，电阻Rl的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管Dl，瞬态电压抑制二极管Dl的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RPl的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RPl的另一个固定端，电阻R3的另一端连接电阻Rll和电阻R5的另一端，电阻R12的另一端连接电阻R13，电阻R4的另一端连接电阻Rll的另一端和芯片ICl的引脚1，电位器RPl的滑动端连接电阻R6和芯片ICl的引脚3，芯片ICl的引脚4连接电阻R6的另一端和电阻R7，电阻R7的另一端连接电阻R9、电容Cl、二极管D2的阳极、二极管D3的阴极和芯片IC2的引脚3，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、电容Cl的另一端、电阻R8和芯片IC2的引脚1，电阻R8的另一端接地，电阻R9的另一端连接电阻R10、电容C2、电位器RP2的一个固定端和芯片IC2的引脚4，电阻RlO的另一端连接电容C2的另一端并接地，电位器RP2的另一个固定端接地，电位器RP2的滑动端连接电压表P，电压表P的另一端接地。
[0013]芯片ICl和芯片IC2的型号均为LM321。电阻R5为热敏电阻。电阻R3、电阻R12和电阻R13的阻值均为100 Ω。
[0014]本实用新型的工作原理是:电路中的电阻R3、电阻R5、电阻R12、电阻Rll和电阻R13组成非平衡电桥，由于热敏电阻R5受温度的影响而改变阻值，从而影响整个非平衡电桥的阻值，进而影响芯片ICl的I脚输入电压值，由于芯片ICl的3脚电压恒定，因此其输出端4脚电压和输入端I脚电压呈线性比例关系，即和电阻R5和阻值呈线性比例关系，芯片ICl和芯片IC2组成两级放大电路将电压信号进行放大，最终通过电位器RP2的滑动端加在电压表A上进行数字指示，瞬态电压抑制二极管Dl能对电源VCC中的电压波动进行衰减，达到平稳电压的目的，电路利用简单且价格低廉的电阻组成非平衡电桥作为温度测试模块，极大的降低制作成本，并且利用瞬态电压抑制二极管的工作特性对电源中的尖峰脉冲进行抑制，减少了电源对测量结果的影响，因此具有结构简单、制作成本低和测量精准的优点。
【主权项】
1.一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管Dl和芯片IC1，其特征在于，所述电阻Rl的一端连接电源VCC，电阻Rl的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管Dl，瞬态电压抑制二极管Dl的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RPl的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RPl的另一个固定端，电阻R3的另一端连接电阻Rll和电阻R5的另一端，电阻R12的另一端连接电阻R13，电阻R4的另一端连接电阻Rll的另一端和芯片ICl的引脚1，电位器RPl的滑动端连接电阻R6和芯片ICl的引脚3，芯片ICl的引脚4连接电阻R6的另一端和电阻R7，电阻R7的另一端连接电阻R9、电容Cl、二极管D2的阳极、二极管D3的阴极和芯片IC2的引脚3，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、电容Cl的另一端、电阻R8和芯片IC2的引脚1，电阻R8的另一端接地，电阻R9的另一端连接电阻R10、电容C2、电位器RP2的一个固定端和芯片IC2的引脚4，电阻RlO的另一端连接电容C2的另一端并接地，电位器RP2的另一个固定端接地，电位器RP2的滑动端连接电压表P，电压表P的另一端接地。2.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述芯片ICl和芯片IC2的型号均为LM321。3.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述电阻R5为热敏电阻。4.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述电阻R3、电阻R12和电阻R13的阻值均为100 Ω。
【专利摘要】本实用新型公开了一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接电源VCC，电阻R1的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管D1，瞬态电压抑制二极管D1的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RP1的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RP1的另一个固定端。本实用新型温度测试电路利用简单且价格低廉的电阻组成非平衡电桥作为温度测试模块，极大的降低制作成本，并且利用瞬态电压抑制二极管的工作特性对电源中的尖峰脉冲进行抑制，减少了电源对测量结果的影响，因此具有结构简单、制作成本低和测量精准的优点。
【IPC分类】G01K7/24
【公开号】CN204694371
【申请号】CN201520460888
【发明人】卢承领, 张刚, 杜成涛, 吴学娟
【申请人】皖西学院
【公开日】2015年10月7日
【申请日】2015年6月24日