一种铜箔电阻测试夹具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试夹具的技术领域，尤其是涉及一种铜箔电阻测试夹具。
【背景技术】
[0002]现有的技术中需要将铜片接入到低电阻测试仪的测试端口中，由于端口小且频繁插接，导致接触不良或插接不到位，影响测量样品的准确度。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是解决上述提出的问题，提供一种结构简单、使用方便的一种铜箔电阻测试夹具。
[0004]本实用新型的目的是以如下方式实现的:一种铜箔电阻测试夹具，具有本体，所述本体表面具有若干卡槽，所述卡槽的横截面呈锥型结构。
[0005]更进一步的优化方案是上述的一种铜箔电阻测试夹具，所述卡槽为等距分布的圆柱形槽孔。
[0006]更进一步的优化方案是上述的一种铜箔电阻测试夹具，所述卡槽的两端为刀口状结构。
[0007]本实用新型的优点:本实用新型将卡槽设置成尖刀口结构能够方便铜片快速插接定位，其结构简单和使用方便。
【附图说明】
[0008]为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明，其中
[0009]图1是本实用新型的结构示意图；
[0010]图2是图1的剖视图；
[0011]附图标记:1、本体，2、卡槽。
【具体实施方式】
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[0012]见图1至图2所示，一种铜箔电阻测试夹具，具有本体1，所述本体，I表面具有若干卡槽2，所述卡槽2的横截面呈锥型结构。所述卡槽2为等距分布的圆柱形槽孔。所述卡槽2的两端为刀口状结构。其工作原理为:首先将四个铜片接入到低电阻测试仪的四个测试端口中，其次将铜片与样品接触处的卡槽2加工成刀口状，将铜片插入标准要求的尺寸所对应的卡槽2中，最后将整套测试夹具放于铜箔电阻样品上方，测量样品铜箔电阻。
[0013]以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种铜箔电阻测试夹具，具有本体(I);其特征在于:所述本体(I)表面具有若干卡槽(2)，所述卡槽(2)的横截面呈锥型结构。2.根据权利要求1所述的一种铜箔电阻测试夹具，其特征在于:所述卡槽(2)为等距分布的圆柱形槽孔。3.根据权利要求1所述的一种铜箔电阻测试夹具，其特征在于:所述卡槽(2)的两端为刀口状结构。
【专利摘要】本实用新型公开了一种铜箔电阻测试夹具，具有本体，所述本体表面具有若干卡槽，所述卡槽的横截面呈锥型结构，本实用新型将卡槽设置成尖刀口结构能够方便铜片快速插接定位，其结构简单和使用方便。
【IPC分类】G01R27/02, G01R1/04
【公开号】CN204855563
【申请号】CN201520250975
【发明人】戈昕
【申请人】麦可罗泰克（常州）产品服务有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2015年4月22日