一种颗粒检测光度计模块的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种颗粒检测光度计模块，包括激光散射检测单元、温湿度传感器、温度调节装置、控制芯片，所述控制芯片与温湿度传感器、激光散射检测单元、温度调节装置连接，所述激光散射检测单元包括光源、与所述光源呈90°的半导体光探测器，本实用新型用于颗粒物检测仪器中，通过控制芯片与温湿度传感器和温度调节装置，保证激光散射检测单元测量时处于合适的温度，并能通过控制芯片设置阈值范围，且利用湿度补偿保证激光散射检测单元的测量结果更加精确，本装置中，光源与探测器成90°，光的损失少，因此测量精度比较高。
【专利说明】
一种颗粒检测光度计模块
技术领域
[0001]本实用新型主要涉及大气环境科学、环境监测技术领域，尤其涉及一种颗粒检测光度计模块。
【背景技术】
[0002]颗粒物或尘(Particulate Matter ,Dust)，是指燃料和其他物质在燃烧、合成、分解以及各种物质在机械处理中所产生的悬浮于排放气体中的固体和液体颗粒状物质，城市中的细颗粒物绝大来自燃烧和工业生产等人为污染，颗粒物污染已经逐步成为影响环境空气质量的重要污染源之一，近年来，有关大气颗粒物粒径、化学组分、浓度等方面的研究进展迅速，由于空气中颗粒物的粒径分布范围较宽，可以从几个纳米到几十个微米。
[0003]颗粒检测光度计利用激光二极管发出的光，通过特定的光路照射一定的测量体积，经测试可知，温度、湿度都会影响到颗粒检测光度计的测量数据，光度计的原理是光源照射颗粒物之后被光探测模块接收，现有技术中光源和光探测模块之间的角度为180°，光的损失比较大，造成测量精度不高。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型提供一种颗粒检测光度计模块，消除了检测单元信号对温度的依赖，且避免了受热时影响测量值，保证其测量值的精确性，为了达到上述目的，本实用新型采用以下技术方案:本实用新型包括激光散射检测单元、温湿度传感器、温度调节装置、控制芯片，所述控制芯片与温湿度传感器、激光散射检测单元、温度调节装置连接，所述激光散射检测单元包括光源、与所述光源呈90°的半导体光探测器。
[0005]优选的，所述温度调节装置采用电加热装置，所述温度调节装置包括有:可加热铝块、加热电阻、过热保护器。
[0006]优选的，所述加热电阻与可加热铝块连接，所述加热电阻还与过热保护器连接。
[0007]优选的，所述光源采用激光二极管。
[0008]本实用新型的有益效果:本实用新型用于颗粒物检测仪器中，通过控制芯片与温湿度传感器和温度调节装置，保证激光散射检测单元测量时处于合适的温度，并能通过控制芯片设置阈值范围，且利用湿度补偿保证激光散射检测单元的测量结果更加精确，本装置中，光源与探测器成90°，光的损失少，因此测量精度比较高。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的结构示意图；
[0010]图2为本实用新型的电气系统连接示意图。
[0011]图中，1、激光散射检测单元;2、光源;3、半导体光探测器;4、温湿度传感器;5、温度调节装置;6、控制芯片;7、控制电缆;8、过热保护器;9、通气孔;10、可加热铝块。
【具体实施方式】
[0012]由图1所示可知，本实用新型包括激光散射检测单元1、温湿度传感器4、温度调节装置5、控制芯片6，所述激光散射检测单元I通过模数转换电路、放大电路后与控制芯片6连接，所述控制芯片6输入输出端与温湿度传感器4、温度调节装置5连接，用于调节激光散射检测单元I内的温度，所述控制芯片6将激光散射检测单元I检测的数据经过湿度补偿后，通过控制电缆7发送到存储器内，所述湿度补偿可采用湿度补偿算法，其计算公式为:
[0013]CPhot.corr=CPhot[1-0.005(r.h./%_50)]ο
[0014]如图1所示，所述激光散射检测单元I包括有:绝缘盒体、设置于所述绝缘盒体内的光源2和半导体光探测器3，所述绝缘盒体上还开设有通气孔9，所述光源2与半导体光探测器3之间呈90°的分布角度，所述通气孔9位于90°连接点位置上，此结构的目的为:颗粒物进入通气孔9内时，光源2发射光照射颗粒物后经反射被半导体光探测器3接收，可精确检测出颗粒物的体积数据，并将数据传输给控制芯片6。
[0015]优选的，所述光源2采用激光二极管。
[0016]由图1所示可知，所述温度调节装置5采用电加热装置，所述温度调节装置5包括有:可加热铝块10、设置于所述可加热铝块10内部的加热电阻11和过热保护器8，所述可加热铝块10包覆在所述绝缘盒体外侧，用于调控激光散射检测单元I内的温度，使得激光散射检测单元I测量处于合适的温度，提高测量精确度。
[0017]优选的，所述加热电阻11与可加热铝块10连接对其进行加热，所述加热电阻11通过控制芯片6与温湿度传感器4连接，所述加热电阻11还与过热保护器8电连接。
[0018]优选的，所述温湿度传感器4设置于所述可加热铝块10内部，实时监测可加热铝块1的温度，使可加热铝块1的温度控制在40 0C。
[0019]优选的，所述绝缘盒体为长方体或圆柱体或球体，也可为棱台、椎台，所述可加热铝块1为长方体或圆柱体或球体，也可为棱台、椎台。
[0020]上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利请的权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种颗粒检测光度计模块，包括激光散射检测单元、温湿度传感器、温度调节装置、控制芯片，其特征在于:所述控制芯片与温湿度传感器、激光散射检测单元、温度调节装置连接，所述激光散射检测单元包括光源、与所述光源呈90°的半导体光探测器。2.根据权利要求1所述的一种颗粒检测光度计模块，其特征在于:所述温度调节装置采用电加热装置，所述温度调节装置包括有:可加热铝块、加热电阻、过热保护器。3.根据权利要求2所述的一种颗粒检测光度计模块，其特征在于:所述加热电阻与可加热铝块连接，所述加热电阻还与过热保护器连接。4.根据权利要求1所述的一种颗粒检测光度计模块，其特征在于:所述光源采用激光二极管。
【文档编号】G01N15/00GK205538562SQ201521125861
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2015年12月30日
【发明人】邓楠, 孙雷
【申请人】康姆德润达（无锡）测量技术有限公司