聚乙烯薄膜电击穿检测设备的制造方法
【专利摘要】聚乙烯薄膜电击穿检测设备。在目前的地热膜生产过程中，主要是靠人工来完成聚乙烯薄膜的孔隙检测，该手段不但效率低，检测的精度不高，同时还会使得产品的造价增大。本实用新型的组成包括：高压脉冲电路（1），所述的高压脉冲电路与极板a（2）、极板b（3）电联接，所述的极板a和所述的极板b之间放置被测的聚乙烯薄膜（4），所述的聚乙烯薄膜通过探头与传感器电路（5）电联接，所述的传感器电路与逻辑控制电路（6）电联接，所述的逻辑控制电路与声光报警电路（7）电联接，所述的逻辑控制电路、所述的高压脉冲电路通过单片机控制装置（8）进行控制。本实用新型用于聚乙烯薄膜电击穿检测设备。
【专利说明】
聚乙烯薄膜电击穿检测设备
[0001 ] 技术领域:
[0002]本实用新型涉及一种聚乙烯薄膜电击穿检测设备。
[0003]【背景技术】:
[0004]地热膜在生产过程中，由于聚乙烯薄膜在生产或者运输过程中，会在聚乙烯薄膜上造成随机不规则的孔或者缝隙，这些孔缝都会影响到地热膜的产品质量，轻则会造成产品的报废，重则会在后续的产品使用中造成重大的经济损失。在目前的地热膜生产过程中，主要是靠人工来完成聚乙烯薄膜的孔隙检测，该手段不但效率低，检测的精度不高，同时还会使得产品的造价增大。
[0005]【实用新型内容】:
[0006]本实用新型的目的是提供一种聚乙烯薄膜电击穿检测设备。
[0007]上述的目的通过以下的技术方案实现:
[0008]—种聚乙烯薄膜电击穿检测设备，其组成包括:高压脉冲电路，所述的高压脉冲电路与极板a、极板b电联接，所述的极板a和所述的极板b之间放置被测的聚乙烯薄膜，所述的聚乙烯薄膜通过探头与传感器电路电联接，所述的传感器电路与逻辑控制电路电联接，所述的逻辑控制电路与声光报警电路电联接，所述的逻辑控制电路、所述的高压脉冲电路通过单片机控制装置进行控制。
[0009]所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，所述的极板a与所述的极板b之间的间距为Imm0
[0010]所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，被检测的所述的聚乙烯薄膜孔缝处的面积大于等于3mm。
[0011 ]本实用新型的有益效果:
[0012]本实用新型是一套具有自动化程度高和精度高、成本低的一套设备，利用电击穿原理实现对聚乙烯薄膜完整性进行检测的设备，是对薄膜孔缝等处进行在线检测，通过外加在薄膜上的高压电源，输出电压可以在0_4kV可调，使得在薄膜孔缝处产生击穿电流，利用该击穿电流发出报警信号，提示操作人员进行必要的处理，从而保证和提高地热膜产品的生产质量，提高地热膜生产过程中的自动化水平、降低产品造价，提高效率，具有自动化程度高、提高生产效率明显等优点；利用单片机作为控制芯片，实现对检测数据的保存，便于对实现数据的分析。
[0013]本实用新型利用高压电源所产生的高压通过极板a和极板b加到聚乙烯薄膜上，通过探头和传感器来检测聚乙烯薄膜的电流，当聚乙烯薄膜没有孔隙时，其绝缘强度高，绝缘电阻较大，电流小，该电流作为正常整定电流；当聚乙烯薄膜存在不规则或随机的孔隙时，由于绝缘电阻的突变式的减小，会产生一个较大的绝缘电流，单片机控制装置控制得到检测电流的大小，并经过逻辑控制电路与阈值电流进行对比，当检测电流超过阈值电流后，就会通过声光报警电路进行报警，表明聚乙烯薄膜存在质量问题，由单片机控制装置将问题反馈给工作人员进行处理，完成检测过程。
[0014]【附图说明】:
[0015]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0016]【具体实施方式】:
[0017]实施例1:
[0018]一种聚乙烯薄膜电击穿检测设备，其组成包括:高压脉冲电路I，所述的高压脉冲电路与极板a2、极板b3电联接，所述的极板a和所述的极板b之间放置被测的聚乙烯薄膜4，所述的聚乙烯薄膜通过探头与传感器电路5电联接，所述的传感器电路与逻辑控制电路6电联接，所述的逻辑控制电路与声光报警电路7电联接，所述的逻辑控制电路、所述的高压脉冲电路通过单片机控制装置8进行控制。
[0019]实施例2:
[0020]根据实施例1所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，所述的极板a与所述的极板b之间的间距为1mm。
[0021]实施例3:
[0022]根据实施例1所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，被检测的所述的聚乙烯薄膜孔缝处的面积大于等于3_。
【主权项】
1.一种聚乙烯薄膜电击穿检测设备，其组成包括:高压脉冲电路，其特征是:所述的高压脉冲电路与极板a、极板b电联接，所述的极板a和所述的极板b之间放置被测的聚乙烯薄膜，所述的聚乙烯薄膜通过探头与传感器电路电联接，所述的传感器电路与逻辑控制电路电联接，所述的逻辑控制电路与声光报警电路电联接，所述的逻辑控制电路、所述的高压脉冲电路通过单片机控制装置进行控制。2.根据权利要求1所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，其特征是:所述的极板a与所述的极板b之间的间距为1mm。3.根据权利要求1所述的聚乙烯薄膜电击穿检测设备，其特征是:被检测的所述的聚乙烯薄膜孔缝处的面积大于等于3mm。
【文档编号】G01R31/12GK205539342SQ201620311406
【公开日】2016年8月31日
【申请日】2016年4月14日
【发明人】邓立为, 宋歌, 高俊山
【申请人】哈尔滨理工大学