本发明涉及测试领域。更具体地，涉及一种基于bit技术的分析与诊断测试系统。
背景技术：
测试系统是电子产品质量的检验工具，并可为产品提供定期维护，确保稳定可靠工作，但随着测试复杂度、测试难度的提升，对现场测试人员的水平和消耗与日俱增，为摆脱现场约束，自动化、智能化的测试数据分析、故障诊断成为迫切需求，因此进行了基于bit技术的测试分析与诊断系统设计。
当前广泛采用的测试系统主要主控计算机、测控组合、数据处理计算机等组成，不具备全部测试信号的实时判读能力，大部分靠事后现场判读的方式，更不具备自动化、实时预警和故障应急处理方式，无法满足电子产品爆炸式发展的需求。
技术实现要素：
为了解决上述技术问题中的至少一个，本发明提供了一种基于bit技术的分析与诊断测试系统，包括：测试模块、控制模块、计算机模块、存储模块；
测试模块测试被测对象，并采集测试数据；
存储模块存储内装测试及自诊断系统的诊断信息；
控制模块控制测试模块采集数据，并与计算机模块进行信息交互；
计算机模块处理接收的测试模块采集的数据，结合存储模块中的诊断信息解析故障信息并定位。
优选地，所述存储模块存储有测量的数字信息、设备上的模拟量信息、开关量信息、频率信息、脉冲信息、信号检测的粗故障信息以及该些信息相应编码信息。
优选地，所述测试模块包括：
模拟累加器，保存测试过程中的模拟量临时数据；
第一通讯模块，与被测对象进行协议通讯；
三用表模块，测量电压、电阻及电流信号；
示波器模块，记录测试过程中的波形；
并行ad模块，采集被测对象的模拟量；
功率计模块，测量被测信号的功率；以及
继电器模块，选择测试通道。
优选地，所述系统进一步包括：微处理模块和第二通讯模块；
所述微处理模块用于给系统提供标准时间基准、对存储到存储模块中的数据添加时间项以及对传输的数据提供时间节点；
所述第二通讯模块使所述微处理模块与计算机模块建立通讯连接。
优选地，所述系统进一步包括：
自激励模块，实时采集被测对象的自激励数据并使计算机模块通过通讯电缆实现对被测对象的自激励控制。
优选地，所述系统进一步包括：
自检模块，与计算机模块连接，用于对系统进行自检。
优选地，所述系统进一步包括采样保持放大器以及光电隔离模块，所述采样保持放大器与模拟累加器连接，所述光电隔离模块与所述采样保持放大器以及所述微处理模块连接。
优选地，所述系统进一步包括数字信号缓冲模块，与控制模块连接，用于抑制器件的内因过压或过流，并减小器件的开关损耗。
优选地，所述系统进一步包括信号调理模块，对采集到的逻辑量、频率量和脉冲量信号的差分放大、滤波、限幅和数据缓冲。
优选地，所述控制模块为零槽控制器，所述零槽控制器通过axi总线将控制信息进行解析。
本发明的有益效果如下：
本发明提供了一种基于bit技术的分析与诊断测试系统，与现有测试系统相比，在测试系统中增加了存储模块、计算机模块等，可以进行故障分析，从而将现有的测试系统改进为bit技术与测试系统同步操作的设备，满足故障特征提取、知识库的建立和推理计算机的实现。另外具有很好的自动化、通用化和智能化的应用，可借鉴设计思路批量推广使用。
附图说明
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
图1示出本发明实施例提供的基于bit技术的分析与诊断测试系统结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明，下面结合优选实施例和附图对本发明做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本发明的保护范围。
在附图中示出了根据本发明公开实施例的各种截面图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚表达的目的，放大了某些细节，并且可能省略了某些细节。图中所示出的各种区域、层的形状以及他们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，并且本领域人员根据实际所需可以另外设计具有不同形状、大小、相对位置的区域/层。
本发明提供了一种基于bit技术的分析与诊断测试系统，包括：测试模块、控制模块、计算机模块、存储模块、测试模块测试被测对象，并采集测试数据；存储模块存储内装测试及自诊断系统的诊断信息；控制模块控制测试模块采集数据，并与计算机模块进行信息交互；计算机模块处理接收的测试模块采集的数据，结合存储模块中的诊断信息解析故障信息并定位。
本发明提供了一种基于bit技术的分析与诊断测试系统，与现有测试系统相比，在测试系统中增加了存储模块、计算机模块等，可以进行故障分析，从而将现有的测试系统改进为bit技术与测试系统同步操作的设备，满足故障特征提取、知识库的建立和推理计算机的实现。另外具有很好的自动化、通用化和智能化的应用，可借鉴设计思路批量推广使用。
优选地，所述存储模块存储有测量的数字信息、设备上的模拟量信息、开关量信息、频率信息、脉冲信息、信号检测的粗故障信息以及该些信息相应编码信息。
此外，在图1所示出的实施例中，所述测试模块包括：模拟累加器，保存测试过程中的模拟量临时数据；第一通讯模块，与被测对象进行协议通讯；三用表模块，测量电压、电阻及电流信号；示波器模块，记录测试过程中的波形；并行ad模块，采集被测对象的模拟量；功率计模块，测量被测信号的功率；以及继电器模块，选择测试通道。
所述系统进一步包括：微处理模块和第二通讯模块；所述微处理模块用于给系统提供标准时间基准、对存储到存储模块中的数据添加时间项以及对传输的数据提供时间节点；所述第二通讯模块使所述微处理模块与计算机模块建立通讯连接。
优选地，所述系统进一步包括：自激励模块，实时采集被测对象的自激励数据并使计算机模块通过通讯电缆实现对被测对象的自激励控制。
优选地，所述系统进一步包括：自检模块，与计算机模块连接，用于对系统进行自检。
进一步的，所述系统进一步包括采样保持放大器以及光电隔离模块，所述采样保持放大器与模拟累加器连接，所述光电隔离模块与所述采样保持放大器以及所述微处理模块连接。
进一步的，所述系统进一步包括数字信号缓冲模块，与控制模块连接，用于抑制器件的内因过压或过流，并减小器件的开关损耗。
此外，所述系统进一步包括信号调理模块，对采集到的逻辑量、频率量和脉冲量信号的差分放大、滤波、限幅和数据缓冲。
下面结合图1对上述模块的连接关系进行详细说明，在图1示出的实施例中，所述控制模块为零槽控制器9，所述零槽控制器9通过axi总线将控制信息进行解析。图1中微处理模块为aduc812微处理器19，计算机模块为上位计算机26。模拟累加器2分别与被测对象1、采样放大器14相连，通讯模块ι3分别与被测对象1、背板10相连接，三用表模块4分别与被测对象1、背板10相连接，示波器模块5分别与被测对象1、背板10相连接，并行ad模块6分别与被测对象1、背板10相连接,功率计模块7分别与被测对象1、背板10相连接，继电器模块8分别与被测对象1、背板10相连接，零槽控制器9分别与背板10、信号调理模块18，采样保持放大器14与光电隔离模块16相连接，信号调理模块18与数字信号缓冲模块17相连接，光电隔离模块16分别与采样放大器14、aduc812微处理器19相连接，数字信号缓冲模块17分别与信号调理模块18、aduc812微处理器19相连接，自激励模块20分别与被测对象1、aduc812微处理器19相连接，aduc812微处理器19分别与光电隔离模块16、数字信号缓冲模块17、自激励模块20、通讯模块ⅱ23相连接，通讯模块ⅱ23分别与aduc812微处理器19、上位计算机26相连接，自检模块22与上位计算机26相连接，存储模块25与上位计算机26相连接，上位计算机26分别与自检模块22、存储模块25、通讯模块ⅱ23、电源27相连接，电源27与上位计算机26相连接。该装置可实现测试分析与诊断功能。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的属于“第一”、“第二”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法或设备固有的气体步骤或单元。
显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。