一种多路并行产品测试控制电路的制作方法

文档序号:32190502发布日期:2022-11-15 21:50阅读:80来源:国知局
一种多路并行产品测试控制电路的制作方法

1.本实用新型属于测试电路技术领域,具体涉及一种多路并行产品测试控制电路。


背景技术:

2.任何产品在生产完成后都需要进行测试,并且需要逐个的进行一一测试,且测试一般都是人工一一进行上电检测,测试速度非常缓慢,测试时,每测试完一个产品,就要将其电源和负载拆下来,再装到下一个待测的产品上进行下一个产品的测试,每测一个产品就需要拆装一次电源和负载。操作复杂且影响测试速度。
3.普通测试架都是人工手工用焊线方式来制作测试架逻辑。人工焊线会跟容易把逻辑搞错,搞错了还不好查找问题,大大增加了做测试架的难度。需要专业的工程师才能完成这种测试架的制作,成本较高,应对上述问题,本司提供一种多路并行产品测试控制电路,一次可完成多个产品的测试。


技术实现要素:

4.本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种结构简单,设计合理的多路并行产品测试控制电路。
5.本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的:
6.一种多路并行产品测试控制电路,包括控制器、数据选择器与开关,所述控制器的输入端口与开关连接,所述控制器的输出端口与数据选择器的控制端口连接,所述数据选择器的多个输入端口与灯具连接,所述灯具的输出端口与待测产品的输入端口连接,所述数据选择器的另一端口与待测产品的输出端口连接。
7.作为本实用新型的进一步优化方案,所述控制器选用mcu单片机,所述开关数量对应一组数据选择器连接的待测产品数量设置。
8.作为本实用新型的进一步优化方案,所述数据选择器的数量为若干组,每组数据选择器的相同输入端口由控制器统一控制。
9.作为本实用新型的进一步优化方案,所述开关包括手动式开关组件或电动式开关组件。
10.作为本实用新型的进一步优化方案,所述开关包括手动式开关组件与电动式开关组件。
11.作为本实用新型的进一步优化方案,所述手动式开关组件与电动式开关组件并联。
12.作为本实用新型的进一步优化方案,所述手动式开关组件与电动式开关组件串联,所述电动式开关组件包括感应待测产品安装的传感器,所述传感器的输出端与所述控制器的输入端连接,所述控制器得到待测产品对应数据选择器的输入端口,所述控制器连接有计时模块,所述手动式开关组件开启后,所述传感器感应所有所述数据选择器的某一端口均已连接待测产品后,在计时模块的设定时间下,上述端口与输出端口连通。
13.本实用新型的有益效果在于:本实用新型的整个控制电路通过设置开关来配合控制器控制使用,极大的减小了工人师傅的工作量,便于工人师傅安装待测试产品使用,且方便测试架的制备,降低测试架的制备难度;整个电路结构简单,操作方便,使用灵活,极大的降低了工人的工作量,降低测试架的制备难度,便于测试领域推广使用。
附图说明
14.图1是本实用新型的整体结构示意图;
15.图2是本实用新型的数据选择器的内部逻辑图;
16.图3是本实用新型控制电路图。
具体实施方式
17.下面结合附图对本技术作进一步详细描述,有必要在此指出的是,以下具体实施方式只用于对本技术进行进一步的说明,不能理解为对本技术保护范围的限制,该领域的技术人员可以根据上述申请内容对本技术作出一些非本质的改进和调整。
18.实施例1
19.如图1、图2与图3所示,一种多路并行产品测试控制电路,包括控制器、数据选择器与开关,所述控制器的输入端口与开关连接,所述控制器的输出端口与数据选择器的控制端口连接,所述数据选择器的多个输入端口与灯具连接,所述灯具的输出端口与待测产品的输入端口连接,所述数据选择器的另一端口与待测产品的输出端口连接。
20.所述控制器选用mcu单片机,所述开关数量对应一组数据选择器连接的待测产品数量设置。
21.所述数据选择器的数量为若干组,每组数据选择器的相同输入端口由控制器统一控制。
22.所述开关包括手动式开关组件或电动式开关组件。
23.需要说明的是,如图2所示,数据选择器的d0-d7可以连接8组待测产品,此时需要8组开关进行配合使用,具体的,当某一开关开启时,y口的数据输出至dn口(d0-d7),y口接的待测产品的输出端口,dn口接的显示灯具,当dn口与y口导通后,灯具会被点亮,从而判断待测产品是没有问题的;
24.mcu检测外部的8个开关,通过abc三个数据口控制数据选择器的dn个通道导通,如abc输出001时,d0通道导通,与多个数据选择器的d0连接的灯具此刻都被连通,亮起则表明待测产品没有问题,未亮起则表明待测产品有问题;若abc输出010时,d2通道连通,一次仅一路数据导通。
25.abc三个数据口可以并联输出给n个数据选择器,n个数据选择器的导通通道都是一样的,即通过abc三个数据口理论上可以测量n*8个产品,但在实际的使用中,仅选用了数据选择器的5个通道(d0-d4),10个数据选择器并联,从而实现拨动5次开关测试5*10个待测产品。
26.还需要补充的是,本技术中的待测产品实际为pcb板,5个开关只能同时开一个,当5个开关中的一个打开时,这个开关对应的那一列待测产品将被供电,其它4列是不会供电的。在具体的使用中,mcu有5个检测脚分别接在5列的电源上,通过此检测脚,mcu就能精准
判断出是哪一列的开关被打开了。mcu就会通过abc三个数据口的数据让选择器选择对应的那一列的控制器的输出信号,即点亮输出口接的灯具;(10个并联的选择器会同时收到abc的数据做出相同的选择,从而就一次点亮了10个灯具);mcu内部写了软件,通过软件算法配合硬件完成上述逻辑功能,该软件内容并非实用新型所保护的内容,在此不再累述;选择5个开关就完成对这个50个待测产品的测试。即,如果开关1打开,此时第一列的电源就会接通,mcu就检测到第一列的10个控制器上电了,然后mcu就用告诉选择器选择第一列的10个控制器的输出数据,输出给灯具,从而这一列的10个控制器就分别点亮了10个灯具,如果某一个待测产品损坏,那对应的灯具就不会亮,从而准确的测出产品的好坏。(用了这种多路并行产品测试控制电路的测试架可以测50片,只用放一次5*10拼版的产品pcb板,拨动5个开关即可)。
27.方便产品测试接线,一次放50个待测产品在测试架中,中间拨动5次开关既可,不用反复拆装电源线和负载,简化了工人操作步骤,节省了反复拆装电源线和负载的时间。(因为要测控制器一定要给控制器供电,还要接上灯具还能看到效果,从而才能判断待测产品的好坏。)
28.一次并行测试10个,之前测一个产品的时间,现在可以同时测试10个;
29.把测试架的逻辑控制电路做成了pcb板,实际在做测试架的时候,只需要做好与测试顶针的搭配即可,整个测试架非常整洁,做测试架也会变的非常简单,同时也大大减少了错误率。
30.实施例2
31.一种多路并行产品测试控制电路,包括控制器、数据选择器与开关,所述控制器的输入端口与开关连接,所述控制器的输出端口与数据选择器的控制端口连接,所述数据选择器的多个输入端口与多个待测产品的输入端口连接,所述数据选择器的输出端口与待测产品的输出端口连接。
32.所述控制器选用mcu单片机,所述开关数量对应一组数据选择器连接的待测产品数量设置。控制器可以选择单片机作为控制机使用,也可以选用其他形式的控制器使用,在本实施例中控制器选用单片机,上述实施例1以及本实施例2中的控制器以及数据选择器并无特殊要求,根据实际情况选择相应数量端口的器件即可。
33.进一步的,所述数据选择器的数量为若干组,每组数据选择器的相同输入端口由控制器统一控制;
34.再进一步的,所述开关包括手动式开关组件与电动式开关组件。
35.在本实施例中,手动式开关组件与电动式开关组件可以采用并联的方式也可以采用串联的方式,在采用并联的方式时,即可以通过电动式开关组件启动整个电路,也可以通过手动式的开关组件启动整个电路,电动式开关组件可以是任一远程可控的开关组件。
36.当所述手动式开关组件与电动式开关组件选择串联时,此时,手动式开关组件为整个电路的总开关,所述电动式开关组件包括感应待测产品安装的传感器以及电控式开关,传感器部分可以选择压力传感器或者光电传感器,具体型号可以根据实际安装条件选择即可,并无其他限定,所述传感器的输出端与所述控制器的输入端连接,所述控制器得到待测产品对应数据选择器的输入端口,所述控制器连接有计时模块(若选用了单片机,采用单片机本身的计时模块即可;若选用了其他控制器,则可以根据实际情况选择相应的计时
模块配合使用),所述手动式开关组件开启后,所述传感器感应所有所述数据选择器的某一端口均已连接待测产品后,在计时模块的设定时间下,上述端口与输出端口连通;
37.若手动式开关组件闭合后,传感器检测到任一端口均未满配(满载被测产品),则可以根据相应端口安装的待测产品的数量多少,来进行相应的连通;如,d0端口连接了5组待测产品,而d1端口连接了4组待测产品,则,在手动式开关组件闭合后,先控制d0端口连通,再控制d1端口连通,便于工人师傅使用。
38.需要说明的是,综上两组实施例,该多路并行产品测试控制电路,在使用时,整个控制电路通过设置开关来配合控制器控制使用,极大的减小了工人师傅的工作量,便于工人师傅安装待测试产品使用,且方便测试架的制备,降低测试架的制备难度;整个电路结构简单,操作方便,使用灵活,极大的降低了工人的工作量,降低测试架的制备难度,便于测试领域推广使用。
39.以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。
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