专利名称：校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及可以将信息记录在可记录可再现盘上和从该可记录可再现盘上再现信息的设备，尤其涉及校核盘记录和再现设备正常生成或更新盘缺陷管理区(DMA)信息的方法，和进行校核的测试设备。
可记录和可再现盘是一种利用激光将信息记录在上面和从上面再现信息的光盘，例如，数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一种可读盘。根据“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”，DVD-RAM在盘的每一面上包括四个管理其上缺陷的DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。
如
图1所示，DMA1和DMA2位于靠近盘的内径的导入区，和DMA3和DMA4位于靠近盘的外径的导出区。每个DMA后面跟随着一个保留扇区。
在DMA中存储着盘定义结构(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括关于盘的格式结构的信息，例如，盘认证标志、DDS/PDL更新计数器和每条区的开始逻辑扇区号。PDL包括关于在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括关于在盘正在使用的同时发生的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、在用于替换缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号、和关于备用区的信息。
包括在DMA中的一些信息可以直接读取和使用。另一方面，DMA包括随盘上缺陷的位置和数量而改变的信息。另外，一些信息，例如，每条区的开始扇区号的位置信息或逻辑扇区号0的位置信息，可以通过进行根据寄存在DMA中的缺陷信息的算法获得。
在盘的每一面上存在四个DMA是为了防止由于DMA信息中的错误引起的错误的缺陷管理。由于这样的DMA信息与物理数据扇区密切相关，因此，当不正确地写入或读取DMA信息时，诸如可移动光盘之类的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。
这是因为，当盘记录和再现设备(例如，DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现结构被划分成文件系统层，使主计算机与记录和再现设备相连接的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层和它的下一层进行DMA信息的写和读。
在实际的文件系统中，要记录和再现的用户信息只根据逻辑扇区号发送到盘记录和再现设备，盘记录和再现设备将逻辑扇区号转换成物理扇区号以记录或再现用户信息。在这种情况中，使用DMA信息。这样，当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，就不能在另一台记录和再现设备中正确地读取或写入数据。
因此，需要一种校核盘记录和再现设备正确地读取记录在盘上的DMA信息和将DMA信息正确地记录在盘上以生成或更新DMA信息的方法。
为了解决上述问题，本发明的第一个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析利用空白盘和满足测试条件构成的测试基准DMA镜像文件生成的盘的DMA信息的方法。
本发明的第三个目的是提供一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析盘的DMA信息的方法，DMA信息包含每个区的错误开始逻辑扇区号(LSN)。
本发明的第四个目的是提供一种用于测试盘记录和再现设备是否以读或写模式正常分析DMA信息的测试设备。
本发明的其它目的和优点部分体现在下述的说明书中，部分可以从说明书中明显看出，或可以从本发明的具体实践中得知。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明提供了校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息分析功能的方法。该方法包括利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备；和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核记录和再现设备的DMA信息分析功能。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明提供了测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息分析功能的设备。该设备包括带有测试基准信息的测试盘；和待测试驱动器，用于分析当测试盘装载到其中时记录在测试盘上的DMA信息，和用于试图以读或写模式进行处理。
通过结合附图对本发明的优选实施例进行详细描述，本发明的上述目的和优点将更加清楚。在附图中图1显示了可重写盘的示意性结构；图2是显示根据本发明的测试设备的功能的方块图；图3显示在图2的C-4盘上的缺陷管理区(DMA)的盘定义结构；图4是根据本发明的校核方法的流程图；和图5是图2所示的待测试驱动器的方块图。
现在开始详细说明本发明的优选实施例，这些示例显示在附图中，其中自始至终相同的标号表示相同的部件。下面参照附图描述这些实施例以便说明本发明。
参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-4盘207、待测试驱动器209、和校核器215。
C-1盘201是测试盘，为了测试能够将信息记录在诸如数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)之类的可重写盘上或从中再现信息的盘驱动器，有意在测试盘上制成一些物理缺陷，并且这样的测试盘基本上是没有记录在上面的空白盘。只要在C-1盘201上没有记录“信息”，和只存在“有意缺陷”，就可以认为C-1盘201是空白的。因此，当测试盘驱动器时，C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，将C-1盘设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件，该测试基准DMA镜像文件包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主要缺陷列表(PDL)信息和次要缺陷列表(SDL)信息。
具体地，测试基准DMA镜像文件包括有意错误地记录的每个区的开始逻辑扇区号(LSN)。如图3所示，关于开始LSN的信息记录在DMA的DDS中。当在盘上存在35个区时，就存在35个LSN。每个区的开始LSN表示数据以正常状态记录在其中的区的第一个扇区。测试基准DMA镜像文件除了包括区的错误开始LSN之外，可以包括所有类型的缺陷信息。
基准驱动器205是修改的测试盘记录和再现设备，用于测试能够将信息记录在盘上或从盘上再现信息的设备。当将C-1盘201装载到基准驱动器205中和DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205将测试基准DMA镜像文件记录在C-1盘201上以形成C-4盘207。将测试基准DMA镜像文件与C-1盘201上的物理缺陷无关地记录到C-1盘201上。这样，C-4盘207不仅包括C-1盘201上的物理缺陷，而且包括与物理缺陷无关的测试基准DMA镜像文件。记录在C-4盘207上的测试基准DMA镜像文件是用户已知的预定信息。C-4盘207被设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
待测试驱动器209是可以将信息记录在可重写盘上或从可重写盘上再现信息的盘记录和再现设备。当将C-4盘207装载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209从用户数据区读取数据或将数据写入用户数据区中。待测试驱动器209根据记录在C-4盘207上的DMA中的、LSN0的位置和每个区的开始LSN的位置，寻找用户数据区中的相应位置，并从用户数据区读取数据或将数据写入用户数据区中。
但是，由于在C-4盘207上记录了错误开始LSN，因此，如果是正常操作，则期望待测试驱动器不进行读或写操作。将测试待测试驱动器209是否以读或写模式进行处理的结果提供给校核器211。
当从待测试驱动器209接收到表示没有正常进行读或写操作的信号时，校核器211输出通知用户待测试驱动器209的DMA分析功能正常的测试结果。反之，当从待测试驱动器209接收到表示正常进行读或写操作的信号时，校核器211输出通知用户待测试驱动器209的DMA分析功能不正常的测试结果。
或者，可以不利用校核器211，通过待测试驱动器2 09将测试待测试驱动器2 09以读或写模式进行处理的结果通知用户。例如，用户可以直接校核待测试驱动器209是否以读或写模式进行处理。
图4是根据本发明的校核方法的流程图。在步骤401，通过将具有图2所述条件的测试基准DMA镜像文件记录在具有图2所述条件的空白C-1盘201上生成C-4盘207。
接着，在步骤402，将C-4盘207装载到待测试驱动器209中。在步骤403，待测试驱动器209进入读或写模式以便从用户数据区中读取数据或将数据写入用户数据区中。因此，待测试驱动器209试图从用户数据区中读取数据或将数据写入用户数据区中。同时，待测试驱动器209利用记录在C-4盘207上的DMA中的DDS中的LSN0和每个区的LSN。如上所述，由于记录在测试基准DMA镜像文件中的DDS中的开始LSN与用户数据区中的实际LSN不匹配，因此，不认为待测试驱动器209以正常状态进行读或写操作。
在步骤404，确定待测试驱动器209是否以读或写模式进行处理。因此，确定待测试驱动器209是否实际从用户数据区读取数据或将数据写入用户数据区中。当控制待测试驱动器209读数据或写数据，和确定待测试驱动器209进行读或写数据时，在步骤405，通知用户待测试驱动器209的DMA分析功能异常。另一方面，当确定待测试驱动器209不以读或写模式进行读或写处理时，在步骤406，通知用户待测试驱动器209的DMA分析功能正常。
图5显示了待测试驱动器110含有发光的光源22、将来自光源的光聚焦在盘D上的聚焦部件24、和控制光源22的控制器26。如上所述的校核处理试图校核控制器26的适当操作。
如上所述的实施例可以应用在C-1盘201和C-4盘207满足关于可重写盘第2.0版本的规范的环境中。
如上所述，本发明通过利用空白盘和含有错误开始LSN的测试基准DMA镜像文件生成的测试盘，确定待测试驱动器是否以读或写模式进行处理，以测试待测试驱动器的DMA分析功能，从而使用户能够校核是否以读或写模式正常进行待测试驱动器的DMA分析功能。另外，根据本发明，用户可以自己生产测试盘，从而不需要制造商生产和提供测试盘，降低了制造成本。用户可以利用基准驱动器、DMA镜像文件提供器和C-1盘生产C-4盘。
尽管已经对本发明的几个优选实施例作了图示和描述，但本领域普通技术人员应该明白，可以对这些实施例加以改动而不偏离本发明的原理和精神，本发明的范围由所附权利要求和它们的等效物来限定。
权利要求
1．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区(DMA)信息分析功能的方法，该方法包括利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备；和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核记录和再现设备的DMA信息分析功能。
2．根据权利要求1所述的方法，其中，测试基准信息是镜像文件。
3．根据权利要求1所述的方法，其中，测试基准信息是DMA镜像文件。
4．根据权利要求3所述的方法，其中，测试基准信息是其中错误地记录了至少一个区的开始逻辑扇区号的DMA镜像文件。
5．根据权利要求4所述的方法，其中校核包括确认当记录和再现设备以读或写模式操作时，记录和再现设备不正常分析测试盘上DMA信息。
6．根据权利要求3所述的方法，其中，测试基准信息是其中错误地记录了每个区的开始逻辑扇区号的DMA镜像文件。
7．根据权利要求1所述的方法，进一步包括将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘。
8．根据权利要求7所述的方法，其中解译当测试盘装载到其中时记录在测试盘上的DMA信息，并试图以读或写模式进行处理。
9．一种测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区(DMA)信息分析功能的设备，该设备包括带有测试基准信息的测试盘；和待测试驱动器，用于解译当测试盘装载到其中时记录在测试盘上的DMA信息，和试图以读或写模式进行处理。
10．根据权利要求9所述的设备，其中，测试基准信息是镜像文件。
11．根据权利要求9所述的设备，其中，测试基准信息是DMA镜像文件。
12．根据权利要求11所述的设备，其中，测试基准信息是其中错误地记录了至少一个区的开始逻辑扇区号的DMA镜像文件。
13．根据权利要求12所述的设备，其中当不正常分析测试盘上的DMA信息时，待测试驱动器以读或写模式操作。
14．根据权利要求11所述的设备，其中，测试基准信息是其中错误地记录了每个区的开始逻辑扇区号的DMA镜像文件。
15．根据权利要求9所述的设备，进一步包括基准驱动器，用于将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘。
16．根据权利要求15所述的设备，其中基准驱动器与空白盘的物理条件无关地记录测试基准信息。
17．根据权利要求9所述的设备，进一步包括校核器，用于通过校验当记录在测试盘上的至少一个区的开始逻辑扇区号不正确时待测试驱动器是否以读或写模式操作，校核待测试驱动器的状态。
18．根据权利要求17所述的设备，其中校核器一旦确定当记录在测试盘上的至少一个区的开始逻辑扇区号不正确时待测试驱动器以读或写模式操作，通知用户待测试驱动器处在异常状态。
19．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区(DMA)信息分析功能的方法，该方法包括在测试盘上存储含有至少一个区的不正确开始逻辑扇区号的测试信息；和确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
20．根据权利要求19所述的方法，其中，每个区的开始逻辑扇区号是不正确的。
21．根据权利要求19所述的方法，其中，区的开始逻辑扇区号记录在测试盘上DMA的盘定义结构中。
22．根据权利要求20所述的方法，其中，区的开始逻辑扇区号记录在测试盘上DMA的盘定义结构中。
23．根据权利要求19所述的方法，其中，测试信息是含有盘定义结构、主要缺陷列表和次要缺陷列表信息的DMA镜像文件，其中，至少一个区的不正确开始逻辑扇区号存储在盘定义结构中。
24．根据权利要求19所述的方法，其中，存储在盘定义结构中的不正确开始逻辑扇区号与测试盘的用户数据区中的相应实际开始逻辑扇区号不相匹配。
25．根据权利要求20所述的方法，其中，存储在盘定义结构中的不正确开始逻辑扇区号与测试盘的用户数据区中的相应实际开始逻辑扇区号不相匹配。
26．根据权利要求19所述的方法，进一步包括在将测试信息存储在测试盘上之前，将已知的物理缺陷存储在空白盘上以生成测试盘。
27．根据权利要求26所述的方法，其中测试信息与存储在测试盘上的已知物理缺陷无关地存储在测试盘上。
28．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的缺陷管理区(DMA)信息分析功能的设备，该设备包括基准驱动器，用于在测试盘上存储含有至少一个区的不正确开始逻辑扇区号的测试信息；其中测试盘不能够确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
29．根据权利要求28所述的设备，进一步包括校核器，用于确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
30．根据权利要求28所述的设备，其中，记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理是可以由用户来确定的。
31．根据权利要求28所述的设备，其中，每个区的开始逻辑扇区是不正确的。
32．根据权利要求28所述的设备，其中，基准驱动器将区的开始逻辑扇区号记录在测试盘上DMA的盘定义结构中。
33．根据权利要求31所述的设备，其中，基准驱动器将区的开始逻辑扇区号记录在测试盘上DMA的盘定义结构中。
34．根据权利要求28所述的设备，其中，测试信息是含有盘定义结构、主要缺陷列表和次要缺陷列表信息的DMA镜像文件，其中，至少一个区的不正确开始逻辑扇区号存储在盘定义结构中。
35．根据权利要求28所述的设备，其中，存储在盘定义结构中的不正确开始逻辑扇区号与测试盘的用户数据区中的相应实际开始逻辑扇区号不相匹配。
36．根据权利要求31所述的设备，其中，存储在盘定义结构中的不正确开始逻辑扇区号与测试盘的用户数据区中的相应实际开始逻辑扇区号不相匹配。
37．根据权利要求28所述的设备，其中，测试盘具有已知存储在空白盘上物理缺陷。
38．根据权利要求37所述的设备，其中，基准驱动器将测试信息与存储在测试盘上的已知物理缺陷无关地存储在测试盘上。
39．一种根据下列过程校核的记录和再现设备在测试盘上存储含有至少一个区的不正确开始逻辑扇区号的测试信息；和确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
40．根据权利要求39所述的记录和再现设备，其中，每个区的开始逻辑扇区是不正确的。
41．一种制造顺从性记录和再现设备的方法，该方法包括制造更新和生成缺陷管理区(DMA)信息的不认证记录和再现设备；和校核不认证记录和再现设备是否遵从一种标准，所述校核包括在测试盘上存储含有至少一个区的不正确开始逻辑扇区号的测试信息；和确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
42．根据权利要求41所述的方法，其中，每个区的开始逻辑扇区号是不正确的。
43．一种用于记录和再现光盘上的信息的盘记录和再现设备，该设备包括发射光的光源；将光聚焦在光盘上以记录和再现信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，所述控制器通过下列过程得到校核以更新和生成缺陷管理区(DMA)信息在测试盘上存储含有至少一个区的不正确开始逻辑扇区号的测试信息；和确定记录和再现设备是否对测试盘以读或写模式进行处理。
44．根据权利要求43所述的盘记录和再现设备，其中，每个区的开始逻辑扇区号是不正确的。
全文摘要
一种校核盘记录和再现设备以读或写模式正常分析缺陷管理区(DMA)信息的方法,以及实施该方法的测试设备。该方法包括利用带有测试基准信息的测试盘以读或写模式操作记录和再现设备;和校验记录和再现设备是否以读或写模式操作以校核该记录和再现设备的DMA信息分析功能。因此,可以测试以读或写模式进行的盘记录和再现设备的DMA信息分析功能。
文档编号G06F12/00GK1321977SQ01116270
公开日2001年11月14日 申请日期2001年4月9日 优先权日2000年4月8日
发明者高祯完, 郑铉权 申请人:三星电子株式会社