专利名称：校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及可以将信息记录在可记录可再现盘上和从该可记录和可再现盘上再现信息的设备，尤其涉及校核盘记录再现设备正常生成或更新盘缺陷管理区(DMA)信息的方法，和进行校核的测试设备。
可记录和可再现盘是一种利用诸如激光束之类的光束将信息记录在上面和从上面读取信息的光盘，例如，数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是一种可重写盘。根据“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”，DVD-RAM在盘的每一面上包括四个管理其上缺陷的DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA4。
如
图1所示，DMA1和DMA2位于靠近盘的内径的导入区，和DMA3和DMA4位于靠近盘的外径的导出区。每个DMA后面跟随着一个保留扇区。
在DMA中存储着盘定义结构(DDS)、主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)。DDS包括关于盘的格式结构的信息，例如，盘认证标志、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括关于在盘初始化期间在盘上检测到的所有有缺陷扇区的信息。SDL包括关于在盘正在使用的同时发生的有缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、在用于替换有缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、和关于备用区的信息。
包括在DMA中的一些信息可以直接读取和使用。另一方面，DMA包括随盘上缺陷的位置和数量而改变的信息。另外，一些信息，例如，每条区的开始扇区号的位置信息或逻辑扇区号0的位置信息，可以通过进行根据寄存在DMA中的缺陷信息的算法获得。
在盘的每一面上存在四个DMA是为了防止由于DMA信息中的错误引起的错误的缺陷管理。由于这样的DMA信息与物理数据扇区密切相关，因此，当不正确地写入或读取DMA信息时，诸如可移动光盘之类的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。
这是因为，当盘记录和再现设备(例如，DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现结构被划分成文件系统层，使主计算机与记录和再现设备相连接的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层和它的下一层进行DMA信息的写和读。
在实际的文件系统中，要记录和再现的用户信息只根据逻辑扇区号发送到盘记录和再现设备，盘记录和再现设备将逻辑扇区号转换成物理扇区号以记录或再现用户信息。在这种情况中，使用DMA信息。这样，当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，就不能在另一台记录和再现设备中正确地读取或写入数据。
因此，需要一种校核盘记录和再现设备正确地读取记录在盘上的DMA信息和将DMA信息正确地记录在盘上以生成或更新DMA信息的方法。
为了解决上述问题，本发明的第一个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内没有认证的重新初始化时，正常生成或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内而没有认证的重新初始化时，是否正常生成或更新利用空白盘和使每种类型的缺陷信息都包括在主要缺陷列表中那样构成的测试基准DMA镜像文件，产生的盘的DMA信息的方法。
本发明的第三个目的是提供一种校核当盘记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内没有认证的重新初始化时，正常生成或更新缺陷管理区(DMA)信息的测试设备。
本发明的其它目的和优点部分体现在下述的说明书中，部分可以从说明书中明显看出，或可以从本发明的具体实践中得知。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明提供了校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的方法。该方法包括在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，从重新初始化后生成的缺陷管理区信息中生成测试信息，并将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较和提供关于测试信息的校核结果。
为了实现本发明的上述和其它目的，本发明还提供了测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的设备。该设备包括测试盘，含有测试基准信息；基准驱动器，利用测试盘从记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之后测试盘的DMA上生成测试信息；和校核器，将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较并提供校核测试信息的结果。
通过结合附图对本发明的优选实施例进行详细描述，本发明的上述目的和优点将更加清楚。在附图中图1显示了可重写盘的示意性结构；图2是显示根据本发明的测试设备的功能的方块图；图3显示C-2盘的缺陷结构的示例；图4A至4D是图2的校核器进行校核的详细校验列表的示例；图5是显示在重新初始化之前C-2盘的缺陷管理区(DMA)中主要缺陷列表(PDL)和次要缺陷列表(SDL)分别与在重新初始化之后C-2盘的DMA中PDL和SDL之间的相互关系的方块图；图6是根据本发明的校核方法的流程图；和图7是图2所示的待测试驱动器的方块图。
现在开始详细说明本发明的优选实施例，这些示例显示在附图中，其中自始至终相同的标号表示相同的部件。下面参照附图描述这些实施例以便说明本发明。
参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-2盘207、待测试驱动器209、C-2′盘211、C-2′盘DMA镜像文件213和校核器215。
C-1盘201是测试盘，为了测试可以将信息记录在诸如数字多功能盘随机存取存储器(DVD-RAM)之类的可写盘上或从中再现信息的盘驱动器，有意在测试盘上制成一些物理缺陷，并且这样的测试盘基本上是没有记录在上面的空白盘。只要在C-1盘201上没有记录“信息”，和只存在“有意缺陷”，就可以认为C-1盘201是空白的。因此，当测试盘驱动器时，C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，将C-1盘设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
DMA镜像文件提供器203提供DMA镜像文件，该DMA镜像文件是包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主要缺陷列表(PDL)信息和次要缺陷列表(SDL)信息，并满足辅助备用区(SSA)没有填满这个条件的测试基准信息。
具体地说，DMA镜像文件提供器203提供使所有类型的缺陷包括在PDL中那样构成的测试基准DMA镜像文件。换言之，测试基准DMA镜像文件包括PDL，该PDL包括含有在由盘制造商确定的缺陷扇区的信息的P-列表、含有在盘的认证期间检测到的缺陷扇区的信息的G1-列表、和含有没有认证移到SDL的缺陷扇区的信息的G2-列表。SSA是用于线性替换在盘正在使用中的同时发生的缺陷的备用区。SSA是在初始化期间或之后另外分配的。
为了提高测试效率，当待测试驱动器209进行重新初始化时提供测试基准DMA镜像文件，它包括关于位于最有可能发生错误的特定位置上的缺陷的信息。换言之，为了满足由“关于可重写盘第1部分物理规范第2.0版本的DVD规范”建议的、一种算法的所有情况，将测试基准DMA镜像文件构造成包括关于集中在位于假定第一逻辑扇区所处位置上的物理扇区附近的缺陷的信息，如图3所示。
此外，测试基准DMA镜像文件的特征在于，将每个区的第一和最后扇区当作有错误的扇区来对待，并将有缺陷的扇区设置成使每个区中的可用扇区总数不是16的倍数。镜像文件含有与实际文件相同的内容，但位于与实际文件的物理位置不同的位置上。
基准驱动器205是修改的测试驱动器，用于测试能够将信息记录在盘上或从盘上再现信息的设备。当将C-1盘201装载到基准驱动器205中和DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205将测试基准DMA镜像文件记录在C-1盘201上以形成C-2盘207。将测试基准DMA镜像文件与C-1盘201上的物理缺陷无关地记录到C-1盘201上。这样，C-2盘207包括在关于测试的基准缺陷状态与C-1盘201上的物理缺陷无关的假设下作出的测试基准DMA信息，因此，记录在C-2盘207上的DMA信息是用户已知的信息。C-2盘被设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。
当包括清除G2-列表和SDL在内而没有认证地重新初始化的C-2′盘211被装载到基准驱动器205中时，基准驱动器205直接读取记录在C-2′盘211上的DMA信息，并根据作为测试信息的DMA信息输出C-2′盘DMA镜像文件213。测试信息可以是C-2′盘DMA镜像文件213的一部分。例如，这部分可以是与图4A所示的那一部分相对应的信息。
待测试驱动器209是可以将信息记录在可重写盘上或从可重写盘上再现信息的盘记录和再现设备。当将C-2盘207装载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209进行包括清除在DMA的PDL中的G2-列表和SDL中的缺陷信息在内而没有认证的重新初始化。
当待测试驱动器209正常地进行重新初始化时，生成或更新C-2′盘211上的DMA以便从C-2盘207上的DMA擦除G2-列表和SDL。C-2′盘211通过在待测试驱动器209中对C-2盘207进行重新初始化生成，并被设计成满足相变记录DVD-RAM的条件，在“可重写盘第2.0版本的DVD规范”中规定这种DVD-RAM具有4.7千兆字节(GB)的容量。将C-2′盘211装载到基准驱动器205中，因此，测试信息按如上所述那样输出。
将来自基准驱动器205的测试信息提供给校核器215。在提供测试信息时，基准驱动器205可以直接将测试信息提供给校核器215。
校核器215利用待测试驱动器209正常进行包括清除G2-列表和SDL在内而没有认证的重新初始化时所得的关于DMA的预期基准信息(预期值)，校核C-2′盘DMA镜像文件213。预期基准信息可以由校核器215根据DMA镜像文件提供器提供的测试基准DMA镜像文件和包含在预先提供的C-1盘201中的物理缺陷信息来设置。或者，如图4A至4D所示，可以预先准备好并使用DMA信息表。
图4A显示用于DMA校核的校核器215可以包括的校验列表。该列表的校验项包括DMA1至DMA4的错误状况、在DDS1至DDS4中和在SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器和在SDL1至SDL4中的SDL更新计数器、和DMA1至DMA4的内容。
DMA的错误状况项是关于校验错误是否存在于DMA中的，其中的两个位于导入区中和其中的两个位于导出区中。不可纠正的错误一定不能存在于DMA1、DMA2、DMA3和DMA4四个DMA的任何一个中。如果在DMA的任何一个中检测到任何不可纠正的错误，则输出测试结果以通知用户待测试驱动器209在生成或更新C-2盘207的DMA时失败了。当DMA的生成和更新以失败告终时，用户需要利用另一个测试盘从头重新开始测试。
为了根据重新初始化校核DDS/PDL和SDL更新计数器，因为当更新或重写DDS/PDL时每个DDS/PDL更新计数器的值都递增1，所以要校验值“ M+k”以找出值“M”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“M+k”表示在四个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4中和在四个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器的值。“以前的值”是指待测试驱动器209进行包括清除缺陷列表在内不进行认证的重新初始化之前“M”的值。还要校验在四个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4中的八个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。
因为当更新或重写SDL时每个SDL更新计数器的值都递增1，所以要校验值“N+k”以找出值“N”是否是以前的值和值“k”是否是“1”，值“N+k”表示在四个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器的值。“以前的值”是指待测试驱动器209进行清除缺陷列表在内不进行认证的重新初始化之前“N”的值。还要校验四个SDL更新计数器的值是否相同。
另外，还要校验四个DMA，即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4的内容是否相同。
图4B显示用于DDS校核的校核器215可以包括的校验列表。该列表的校验项包括DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号(LSN0)的位置、和关于每个区的开始LSN等。
校验DDS标识符是否是“0A0Ah”。校验在盘认证标志的一个字节中的、表示正在进行中/没有正在进行中的位位置b7的值是否是“0b”。如果位位置b7的值是“0b”，那么这表示已经完成格式化。如果位位置b7的值是“1b”，那么这表示正在进行格式化。因此，当位位置b7的值是“1b”时，校核器215确定格式化已经失败(fail)了。另外，要校验在盘认证标志中保留的位位置b6至b2是否都是“0b”，和校验表示用户认证标志的位位置b1的值是否是“1b”。还要校验表示盘制造商认证标志的位位置b0的值是否是“1b”。
为了校核相应的DDS/PDL更新计数器，校验表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否是以前的值，和校验表示代表测试之前和之后DDS/PDL更新计数器“M”中的差值的DDS/PDL更新计数器增量的值k是否是“1”。还要校验组数的值是否是表示组数是1的“0001h”，和区数的值是否是表示区数是35的“0023h”。
并且，校验在主要备用区中的第一扇区号是否是“031000h”，和校验在主要备用区中的最后扇区号是否是“0341FFh”。校验LSN0的位置和关于每个区开始LSN，即第2区Zone1至第35区Zone34的开始LSN是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的。寄存在PDL中的缺陷涵盖了C-1盘201上的物理缺陷和寄存在DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中的缺陷。
校验DDS结构中其余保留区(字节位置396至2047)是否都是“00h”。
如图4C所示，用于校核PDL结构的校验项包括PDL标识符、PDL中的入口数、PDL入口的完整性和未用区。
校验PDL标识符是否是“0001h”。PDL中的入口数是C-1盘201上的物理缺陷数和寄存在DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中的缺陷数之和。对于每个PDL入口的完整性校核，要校验入口的类型和缺陷扇区号。校验PDL入口类型是否含有表示存在于C-2盘207上的已知P-列表的“00b”和表示在用户认证期间检测的缺陷扇区的G1-列表的“10b”。校核PDL入口类型不含有表示由于SDL转换生成的G2-列表的“11b”。
按如上所述校验PDL中的入口类型是因为，如图5所示，C-2′盘211上新PDL530中的P_列表531和G1_列表533保持了C-2盘207上旧PDL510中的P_列表511和G1_列表513，但包含在旧PDL510中的G2_列表515中的缺陷信息被处理掉了。
另外，校验PDL中的缺陷区号是否按升序写入，和校验PDL中的未用区是否被设置成“FFh”。
如图4D所示，用于校核SDL结构的校验项包括SDL标识符、SDL更新计数器、次要备用区(SSA)的开始扇区号、总逻辑扇区数、DDS/PDL更新计数器、备用区填满标志、SDL中的入口数、SDL入口的完整性、未用区、和保留区等。
校验SDL标识符是否是“0002h”。为了校核相应SDL更新计数器，先校验表示SDL更新计数器值的值N是否是以前的值，和校验表示SDL更新计数器增量的值k是否是“1”。为了校核相应DDS/PDL更新计数器的项，先校验表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否是以前的值，和校验表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否是“1”。
校验备用区填满标志是否表示次要备用区没有填满，和校验SDL中的入口数是否被设置成“00h”,“00h”是通常表示什么也没有的值。并且，因为SDL的总使用区是已知的，所以如果SDL中的入口数得到了校验，那么就可以确定SDL的未用区的大小。因此，校验C-2′盘DMA镜像文件213的未用区的大小是否等于SDL的未用区的大小，根据SDL中的入口数，此SDL的未用区的大小是已知的，还要校验未用区是否被设置成“FFh”。此外，校验所有保留区的预期值是否是“00h”。这是因为当待测试驱动器209正常进行包括清除SDL在内不进行认证的重新初始化时，寄存在C-2盘207上的旧SDL520中的缺陷信息全部处理掉了，如图5所示。
校核器215校核通过将如图4A至4D所示那样设置的基准信息与包含在C-2′盘DMA镜像文件213中的信息相比较，校核待测试驱动器209在进行包括清除SDL在内而没有认证的重新初始化期间是否正常生成或更新C-2盘207的DMA。
输出校核的结果作为在进行包括清除G2-列表和SDL在内不进行认证的重新初始化的模式中测试待测试驱动器209的结果。G2-列表包括在没有认证的重新初始化期间从SDL转移的信息，而SDL包括在没有认证的重新初始化期间为SDL生成的缺陷信息。可以将校核的结果显示出来供用户观看。为此，本发明可以包括显示单元。因此，可以通知用户待测试驱动器209是否从盘中正常读取DMA信息和在进行包括清除G2-列表和SDL没有认证的重新初始化的模式中生成或更新DMA。
图6是根据本发明的校核方法的流程图。在步骤601，通过将具有图2所述条件的测试基准DMA镜像文件记录在具有图2所述条件的空白C-1盘201上生成C-2盘207。
接着，在步骤602，将C-2盘207装载到待测试驱动器209中，并在C-2盘207上进行重新初始化。在重新初始化期间，缺陷列表被处理掉，和C-2盘207没有被充分认证。处理掉的缺陷列表是包含在PDL中的G2-列表和SDL。
在步骤603，从C-2′盘211中读取DMA信息文件，并根据该DMA信息生成C-2′盘DMA镜像文件213。在步骤604校核C-2′盘DMA镜像文件213。校核是以与图2所述的校核器215所进行的相同的方式，利用预期基准信息(或预期值)进行的。换句话来说，校核寄存在PDL的G2-列表中的缺陷信息和寄存在PDL的SDL中的缺陷信息是否全部处理掉。在完成校核之后，在步骤605输出校核的结果以便用户能够以上述的重新初始化模式估计待测试驱动器209的DMA生成或更新功能。
图7显示了待测试驱动器110含有发光的光源22、将来自光源的光聚焦在盘D上的聚焦部件24、和控制光源22的控制器26。如上所述的校核处理试图校核控制器26的适当操作。
如上所述，本发明在给定的盘记录和再现设备中，对利用没有信息记录在上面的空白盘和适合于包括所有类型的缺陷信息的测试环境的测试基准DMA镜像文件生成的C-2盘，进行包括清除诸如G2-列表和SDL之类的缺陷列表没有认证的重新初始化。此后，对盘上的DMA加以校核以测试相应的盘记录和再现设备，从而使用户在短的时间间隔内校核盘记录和再现设备的DMA生成或更新功能。另外，根据本发明，用户可以利用测试基准DMA镜像文件和空白盘自己生产包括所有类型的缺陷信息的C-2盘，从而不需要制造商生产和提供用于如上所述的测试的C-2盘，降低了成本。用户可以利用基准驱动器205、DMA镜像文件203、和C-1盘201生产C-2盘。
尽管已经对本发明的几个优选实施例作了图示和描述，但本领域普通技术人员应该明白，可以对这些实施例加以改动而不偏离本发明的原理和精神，本发明的范围由所附权利要求和它们的等效物来限定。
权利要求
1．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的方法，该方法包括在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，并从重新初始化后生成的DMA信息中生成测试信息；和将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供测试信息的校核结果。
2．根据权利要求1所述的方法，其中，进行重新初始化包括对测试盘进行没有认证的重新初始化。
3．根据权利要求1所述的方法，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是镜像文件。
4．根据权利要求1所述的方法，其中，在进行重新初始化过程中的测试基准信息是使数个缺陷包括在主要缺陷列表(PDL)中那样构成的DMA镜像文件。
5．根据权利要求4所述的方法，其中，进行重新初始化包括执行具有从测试盘上的DMA清除预定缺陷表包括消除G2-列表和次要缺陷列表(SDL)的重新初始化。
6．根据权利要求5所述的方法，其中，测试信息是镜像文件。
7．根据权利要求6所述的方法，其中，相比较包括校验G2-列表和SDL是否存在于测试信息中。
8．根据权利要求7所述的方法，其中，相比较包括检验在测试信息中是否保持包括在测试基准信息中的P-列表和G1-列表。
9．根据权利要求6所述的方法，其中，相比较包括校核测试信息中DMA的结构；校核测试信息的盘定义结构(DDS)；校核测试信息的主要缺陷列表(PDL)；和校核测试信息的次要缺陷列表(SDL)。
10．根据权利要求9所述的方法，其中，校核DMA结构包括校验DMA错误状况、DDS/PDL和SDL更新计数器和DMA的内容。
11．根据权利要求10所述的方法，其中校验DMA的错误状况包括校验错误是否存在于四个DMA的任何一个中，这四个DMA是写入测试盘上的四个位置中的DMA，其中的两个位于测试盘上的导入区中和其中的两个位于测试盘上的导出区中；校验DDS/PDL更新计数器包括校验在四个DDS中和在四个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”，和校验DDS/PDL更新计数器的值是否相同；校验SDL更新计数器包括校验在四个SDL中的SDL更新计数器的值是否是“以前的值”，校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”，和校验SDL更新计数器的值是否相同；和校验DMA的内容包括校验四个DMA的内容是否相同。
12．根据权利要求9所述的方法，其中，校验DDS包括校验DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号的位置、和关于每个区的开始逻辑扇区号。
13．根据权利要求12所述的方法，其中校验DDS标识符包括校验DDS标识符是否是预定值；校验盘认证标志包括校验在盘认证标志中表示正在进行中的位的值是否是“0b”，和校验表示盘制造商认证的位的值和表示用户认证的位的值是否是“1b”；校验DDS/PDL更新计数器包括校验DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”；校验组数包括校验组数是否是预定数；校验区数包括校验区数是否是预定数；校验第一逻辑扇区号包括校验主要备用区的第一和最后扇区号是否分别是预定扇区号；校验第一逻辑扇区号包括校验第一逻辑扇区号的位置是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的；和校验开始逻辑扇区号包括校验关于每个区的开始逻辑扇区号是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的。
14．根据权利要求9所述的方法，其中，校验PDL结构包括校验PDL标识符、PDL中入口数、和PDL入口的完整性。
15．根据权利要求14所述的方法，其中校验PDL标识符包括校验PDL标识符是否是预定值；校验入口数包括校验PDL中的入口数是否与寄存在PDL中的缺陷数相同；和校验PDL入口的完整性包括校验PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
16．根据权利要求9所述的方法，其中校验SDL结构包括校验SDL标识符、SDL更新计数器、次要备用区(SSA)的开始扇区号、总逻辑扇区数、DDL/PDL更新计数器、备用区填满标志、SDL中的入口数、SDL入口的完整性、未用区、和保留区。
17．根据权利要求16所述的方法，其中校验SDL标识符包括校验SDL标识符是否是预定值；校验SDL更新计数器包括校验SDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”；校验DDS/PDL更新计数器包括校验DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”，和校验代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”；校验SSA中的开始扇区号和总逻辑扇区数包括校验SSA的开始扇区号和总逻辑扇区数是否是根据由用户指定的SSA的大小适当设置的；校验备用区填满标志、SDL中的入口数、和SDL入口的完整性包括校验备用区填满标志是否表示SSA不是填满的，SDL中的入口数是否被设置成表示没有入口存在的“00h”，和在SDL入口上是否没有信息存在；和校验未用区和保留区包括校验SDL的未用区的大小和未用区是否是预定值，和保留区是否是预定值。
18．根据权利要求1所述的方法，其中，测试盘包括关于满足进行重新初始化时容易发生错误的条件的位置的缺陷信息。
19．根据权利要求18所述的方法，其中，测试盘是使每个区的第一和最后扇区被作为有错误扇区对待和在每个区中的总可用扇区数不是16的倍数那样构成的。
20．根据权利要求1所述的方法，进一步包括将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘。
21．根据权利要求20所述的方法，其中，测试基准信息与空白盘的物理条件无关地记录在空白盘上。
22．一种测试将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的设备，该设备包括基准驱动器，从在记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之后，含有测试基准信息和物理缺陷的测试盘的DMA中生成测试信息；和校核器，将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供校核测试信息的结果。
23．根据权利要求22所述的设备，其中，基准驱动器从对其进行没有认证的重新初始化的测试盘中生成测试信息。
24．根据权利要求22所述的设备，其中，测试基准信息是镜像文件。
25．根据权利要求22所述的设备，其中，测试基准信息是包括数种类型缺陷列表的DMA镜像文件。
26．根据权利要求25所述的设备，其中，记录和再现设备进行包括清除预定缺陷列表在内的重新初始化，由记录和再现设备清除的预定缺陷列表包括G2-列表和次要缺陷列表(SDL)。
27．根据权利要求26所述的设备，其中，测试信息是镜像文件。
28．根据权利要求27所述的设备，其中，校核器校验G2-列表和SDL是否存在于测试信息中。
29．根据权利要求28所述的设备，其中，校核器校验在测试信息中是否保持包括在测试基准信息中的P-列表和G1-列表。
30．根据权利要求27所述的设备，其中，校核器校核均在测试信息中的DMA结构、盘定义结构(DDS)、主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
31．根据权利要求30所述的设备，其中，校核器通过校验DMA错误状况、DDS/PDL和SDL更新计数器和DMA的内容校核DMA结构。
32．根据权利要求31所述的设备，其中，校核器校验错误是否存在于四个DMA的任何一个中，这四个DMA是写入测试盘上的四个位置中的DMA，其中的两个位于测试盘上的导入区中和其中的两个位于测试盘上的导出区中，在四个DDS中和在四个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否是“以前的值”，代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”,DDS/PDL更新计数器的值是否相同，在四个SDL中的SDL更新计数器的值是否是“以前的值”，代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在SDL更新计数器中的差值的SDL更新计数器增量是否是“1”,SDL更新计数器的值是否相同，和四个DMA的内容是否相同。
33．根据权利要求30所述的设备，其中，校核器通过校验DDS标识符、盘认证标志、DDS/PDL更新计数器、组数、区数、主要备用区的位置、第一逻辑扇区号的位置、和关于每个区的开始逻辑扇区号校核DDS。
34．根据权利要求33所述的设备，其中，校核器校验DDS标识符是否是预定值，校验在盘认证标志中表示正在进行中的位的值是否是“0b”，表示盘制造商认证的位的值和表示用户认证的位的值是否是“1b”,DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”和代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”，校验组数、区数、和主要备用区的第一和最后扇区号，和校验第一逻辑扇区号的位置是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的和校验关于每个区的开始逻辑扇区号是否是根据寄存在PDL中的缺陷数确定的。
35．根据权利要求30所述的设备，其中，校核器通过校验PDL标识符、PDL中入口数、和PDL入口的完整性校验PDL结构。
36．根据权利要求35所述的设备，其中，校核器校验PDL标识符和校验PDL中的入口数是否与寄存在PDL中的缺陷数相同和校验PDL入口的完整性是否包括P-列表和G1-列表而不包括G2-列表。
37．根据权利要求30所述的设备，其中，校核器通过校验SDL标识符、SDL更新计数器、次要备用区(SSA)的开始扇区号、总逻辑扇区数、DDL/PDL更新计数器、备用区填满标志、SDL中的入口数、SDL入口的完整性、未用区、和保留区校验SDL结构。
38．根据权利要求37所述的设备，其中，校核器校验SDL标识符和校验SDL更新计数器值是否是“以前的值”，SDL更新计数器的增量是否是“1”，DDS/PDL更新计数器值是否是“以前的值”，代表进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化之前和之后在DDS/PDL更新计数器中的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否是“1”,SSA的开始扇区号和总逻辑扇区数是否是根据由用户指定的SSA的大小适当设置的，备用区填满标志是否表示SSA不是填满的，SDL中的入口数是否被设置成表示没有入口存在的“00h”，在SDL入口上是否没有信息存在，SDL的未用区的大小和未用区是否是预定值，和保留区是否是预定值。
39．根据权利要求22所述的设备，其中，测试盘包括关于满足进行重新初始化时容易发生错误的条件的位置的缺陷信息。
40．根据权利要求22所述的设备，其中，基准驱动器将测试基准信息记录在空白盘上以生成测试盘。
41．根据权利要求40所述的设备，其中，基准驱动器将测试基准信息与空白盘的物理条件无关地记录在空白盘上。
42．一种校核在将信息记录在带有DMA信息的光盘上或从带有DMA信息的光盘上再现信息的记录和再现设备中是否适当地生成和更新缺陷管理区(DMA)信息的方法，该方法包括根据包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化设置测试基准根据包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化，从由记录和再现设备生成或更新的DMA信息生成测试信息；和执行利用测试基准校核测试信息的测试。
43．根据权利要求42所述的方法，其中，测试信息是DMA镜像文件。
44．根据权利要求42所述的方法，其中，测试信息是直接从测试盘上的DMA区中读取的。
45．根据权利要求42所述的方法，其中，生成测试信息包括记录DMA的预定内容和选择其中辅助备用区没有填满的DMA镜像文件。
46．根据权利要求45所述的方法，进一步包括通过在空白盘上制作已知物理缺陷获得第一测试盘；和通过在第一测试盘中记录DMA的预定内容，和在第一测试盘中记录表示辅助备用区没有填满的DMA镜像文件获得第二测试盘，和在生成测试信息的过程中使用第二测试盘。
47．根据权利要求46所述的方法，其中执行测试包括进行带有清除缺陷列表的重新初始化，校验第二测试盘的DMA信息是否遵从预定的DMA结构，校验是否保持P-列表和G1-列表，校验是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校验第二测试盘的每个区的开始逻辑扇区号。
48．一种校核在将信息记录在带有DMA信息的光盘上或从带有DMA信息的光盘上再现信息的记录和再现设备中是否适当地生成和更新缺陷管理区(DMA)信息的方法，该方法包括根据包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化的测试模式，从由记录和再现设备生成或更新的DMA信息生成测试信息；和利用用于校核DMA信息的测试基准校核测试信息。
49．根据权利要求42所述的方法，其中，测试信息是DMA镜像文件。
50．一种测试将信息记录在带有缺陷管理区(DMA)信息可记录和可再现光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现设备以校验是否适当地生成和更新缺陷管理区(DMA)信息的设备，该设备包括修改的驱动器单元，从记录和再现设备进行与包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化相对应的、包括清除存在于含有DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化之后获得的测试盘的生成或更新的DMA信息中生成测试信息；和校核器，将测试信息与对应于包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化的预定测试信息相比较以校核测试结果。
51．根据权利要求50所述的设备，其中，测试信息是DMA镜像文件。
52．根据权利要求50所述的设备，其中，修改的驱动器单元从测试盘上的DMA区读取测试信息并将测试信息提供给校核器。
53．根据权利要求52所述的设备，其中，测试盘是将DMA的预定内容记录在在空白盘上形成已知物理缺陷和辅助备用区没有填满的DMA镜像文件记录在上面的第一测试盘中获得的第二测试盘。
54．根据权利要求53所述的设备，其中，记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化，和校核器校验第二测试盘的DMA信息是否遵从预定的DMA结构，校验是否保持P-列表和G1-列表，校验是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校验第二测试盘的每个区的开始逻辑扇区号。
55．一种校核记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，该方法包括利用记录和再现设备进行包括清除存在于包含预定缺陷信息的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
56．根据权利要求55所述的方法，进一步包括在空白盘中的预定位置上制作已知物理缺陷，以产生第一测试盘；通过将DMA的预定内容记录在第一测试盘中，和将表示辅助备用区没有填满的镜像文件记录在第一测试盘中获得第二测试盘；让记录和再现设备进行包括清除存在于第二测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化，以生成带有DMA信息的第二测试盘；和利用基准驱动器从带有DMA信息的第二测试盘中只读取DMA信息，产生测试DMA镜像文件作为测试信息；其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。
57．根据权利要求56所述的方法，其中，相比较包括校验第二测试盘的DMA信息是否遵从预定的DMA结构，校验是否保持P-列表和G1-列表，校验是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校验第二测试盘的每个区的开始逻辑扇区号。
58．一种校核记录和再现设备是否适当地解译和处理缺陷信息的方法，该方法包括准备含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘；根据让记录和再现设备进行包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化生成测试信息；和根据测试信息实施校核测试。
59．根据权利要求58所述的方法，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
60．根据权利要求59所述的方法，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
61．一种校核记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，该方法包括利用记录和再现设备进行包括清除存在于含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成DMA信息；从生成的DMA信息中生成测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
62．根据权利要求61所述的方法，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
63．根据权利要求62所述的方法，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
64．根据权利要求59所述的方法，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
65．由记录和再现设备利用下列过程适当生成的DMA信息利用记录和再现设备进行包括清除存在于含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成DMA信息；从生成的DMA信息中生成测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
66．根据权利要求65所述的DMA信息，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
67．根据权利要求66所述的DMA信息，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
68．根据权利要求65所述的DMA信息，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
69．一种根据下列过程校核的记录和再现设备利用该记录和再现设备进行包括清除存在于含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成DMA信息；从生成的DMA信息中生成测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
70．根据权利要求69所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
71．根据权利要求70所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
72．根据权利要求69所述的记录和再现设备，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
73．一种根据下列过程校核的记录和再现设备利用该记录和再现设备进行包括清除存在于含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成DMA信息；和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
74．根据权利要求73所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
75．根据权利要求74所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
76．根据权利要求73所述的记录和再现设备，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
77．一种测试将信息记录在带有缺陷管理区信息的可记录可再现光盘上或从带有缺陷管理区信息的可记录可再现光盘上再现信息的记录和再现设备以校验是否适当地生成DMA信息的设备，该设备包括修改的驱动器，根据由再现装置利用记录和再现设备进行包括清除存在于含有已知物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成DMA信息生成的测试盘的DMA信息，生成测试信息；和校核器，将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
78．根据权利要求77所述的设备，其中，修改的驱动器从带有DMA信息的测试盘中只读取DMA信息，生成DMA镜像文件作为测试信息；其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。
79．根据权利要求77所述的设备，其中，修改的驱动器通过将DMA的预定内容记录在含有已知物理缺陷的第一测试盘上，和将表示辅助备用区没有填满的测试基准DMA镜像文件记录在该第一测试盘中生成第二测试盘；记录和再现设备进行包括清除存在于第二测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化，生成带有DMA信息的第二测试盘；和修改的驱动器从带有DMA信息的第二测试盘中只读取DMA信息，生成测试DMA镜像文件作为测试信息；其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。
80．根据权利要求79所述的设备，其中，记录和再现设备进行包括清除存在于第二测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化，和校核器校验第二测试盘的DMA信息是否遵从预定的DMA结构，校验是否保持P-列表和G1-列表，校验是否清除了G2-列表和次要缺陷列表(SDL)，和校验第二测试盘的每个区的开始逻辑扇区号。
81．根据权利要求77所述的设备，其中，校核器通过校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构比较测试信息和基准测试信息。
82．根据权利要求77所述的设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括关于集中在第一逻辑扇区应该在的位置处的物理扇区附近的缺陷的信息。
83．根据权利要求82所述的设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括被作为有错误扇区对待的每个区的第一和最后扇区，和有缺陷扇区是使每个区中可用扇区总数不是16的倍数那样设置的。
84．根据权利要求50所述的设备，进一步包括DMA镜像文件提供器，用于将基准文件提供给校核器使其比较测试信息和基准测试信息。
85．根据权利要求68所述的设备，进一步包括DMA镜像文件提供器，用于将基准测试信息提供给校核器使其比较DMA镜像文件和基准DMA镜像文件。
86．一种制造顺从性记录和再现设备的方法，该方法包括制造更新和生成缺陷管理区(DMA)信息的不认证记录和再现设备；和校核不认证记录和再现设备是否遵从一种标准，所述校核包括利用记录和再现设备进行包括清除存在于包含预定缺陷信息和测试基准DMA信息的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成测试信息，和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核，和表示不认证记录和再现设备遵从该标准的校核。
87．根据权利要求86所述的方法，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
88．一种用于针对光盘记录和再现信息的盘记录和再现设备，该设备包括发射光的光源；将光聚焦在光盘上以记录和再现信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，所述控制器通过下列过程得到校核以更新和生成缺陷管理区(DMA)信息利用记录和再现设备进行包括清除存在于包含预定缺陷信息和测试基准DMA信息的测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化以生成测试信息，和将测试信息与基准测试信息相比较以确定记录和再现设备的校核。
89．根据权利要求88所述的盘记录和再现设备，其中，相比较包括校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
90．一种用于针对光盘记录和再现信息的盘记录和再现设备，该设备包括发射光的光源；将光聚焦在光盘上以记录和再现信息的聚焦部件；和控制所述光源的控制器，在进行包括对光盘予以认证在内的重新初始化之后更新和生成缺陷管理区信息，以便该缺陷管理区信息遵从一种标准。
91．根据权利要求90所述的盘记录和再现设备，其中，控制器校验构成测试信息的DMA的结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA主要缺陷列表(PDL)结构和次要缺陷列表(SDL)结构。
92．根据权利要求13所述的方法，其中校核DDS进一步包括校核其余的保留区是否具有预定值。
93．根据权利要求15所述的方法，其中校核PDL进一步包括校核未用区是否具有预定值。
94．根据权利要求50所述的设备，其中，DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
95．根据权利要求58所述的方法，其中，测试基准DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
96．根据权利要求65所述的DMA信息，其中，测试基准DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
97．根据权利要求69所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证地移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
98．根据权利要求73所述的记录和再现设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
99．根据权利要求77所述的设备，其中，测试基准DMA镜像文件包括带有关于盘制造商定义的有缺陷扇区的信息的P-列表、带有关于在测试盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1-列表、和带有关于没有认证地移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2-列表。
100．根据权利要求42所述的方法，其中生成测试信息包括根据包括清除存在于测试盘上的缺陷列表在内的重新初始化生成测试信息；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在内的重新初始化之后被处理掉。
101．根据权利要求50所述的记录和再现设备，其中，记录和再现设备进行包括清除缺陷列表在内的重新初始化，和校核器校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在内的重新初始化之后被处理掉了。
102．根据权利要求65所述的DMA信息，其中进行重新初始化包括进行包括清除缺陷列表在内的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在内的重新初始化之后被处理掉了。
103．根据权利要求86所述的信息，其中进行重新初始化包括进行包括清除缺陷列表在内的重新初始化；和校核包括校核寄存在主要缺陷列表(PDL)的G2-列表中的缺陷信息和寄存在次要缺陷列表(SDL)中的缺陷信息是否在包括清除缺陷列表在内的重新初始化之后被处理掉了。
104．根据权利要求42所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在内的重新初始化是没有认证地进行的。
105．根据权利要求50所述的记录和再现设备，其中，包括清除缺陷列表在内的重新初始化是没有认证地进行的。
106．根据权利要求65所述的DMA信息，其中，包括清除缺陷列表在内的重新初始化是没有认证地进行的。
107．根据权利要求86所述的方法，其中，包括清除缺陷列表在内的重新初始化是没有认证地进行的。
全文摘要
一种校核当盘记录和再现设备进行清除存在于测试盘上的缺陷管理区中的预定缺陷列表而没有认证的重新初始化时正常生成或更新DMA信息的方法测试设备。包括:在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表的重初始化,并从重初始化后生成的DMA信息生成测试信息;将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息比较提供测试信息校核结果。因此用户可短时间内校核给定盘记录和再现设备在重初始化模式中正确生成或更新DMA信息。
文档编号G11B20/10GK1321976SQ01116269
公开日2001年11月14日 申请日期2001年4月9日 优先权日2000年4月8日
发明者高祯完, 郑铉权 申请人:三星电子株式会社