专利名称：主机板测试程序设定系统以及方法
技术领域：
本发明涉及一种主机板测试程序设定技术，更详细地，涉及一种 应用于具有多个测试点的主机板测试程序的主机板测试程序设定系统 以及方法。
10
背景技术：
随着电路板以及电子元件的集成度大幅提升，电脑主机板所能够 提供的功能也随之增加。主机板可谓电脑装置的主要骨架，其上用于 接置中央处理器、总线、存储器、连接接口以及通过该连接接口接置 的储存与数据输出入单元等组件，该些组件通过主机板的整合，以依
15 据指使执行数据处理工作。
如前所述，为确保主机板能成功接置上述该些组件，并使该些组 件在主机板上正常运作。因而该些组件接置于该主机板上后，制造商 必须经过许多阶段的测试点，不同阶段的测试点可能针对该主机板的 特定功能予以测试。举例而言，某些测试点用于测试该主机板上所接
20 置的随机存取存储器是否能正常运作，某些测试点用于测试该主机板
的外设装置连接接口是否能正常运作；而某些测试点则用于测试内建
的显示驱动器是否能正常运作。
然而制造商所需要执行的主机板测试可能跟终端使用者所需要执 行的开机测试内容不同。举例而言，制造商在大量的主机板测试程序
25 中，不需要将随机存取存储器的全部存储区块进行测试，可能只要测 试开头或其中的部分区块，如此才能增加测试的速度。此外，有些测 试模式是终端使用者需要而制造商不需要进行测试者，这些测试模式 在制造商测试程序予以跳过或隐藏不执行，也会增加制造商测试的效 率。简言之，主机板测试模式会因不同的使用者目的而有不同的内容。
30 如前所述，现有的主机板测试系统均结合于基本输出入系统
(BIOS)中，该些测试程序通常是在开机的过程中由BIOS予以执行。
为满足制造商对测试模式的要求，主机板上会设有一个跳线(Jumper), 若将该跳线导通，则该开机后该BIOS将执行制造商所需要的主机板测 试。
前述的测试方式固然可以将制造商不需要的测试模式予以排除， 5 进而较有效率的执行主机板测试。然而不同的测试模式通常更包含许 多的测试选项，在制造商的主机板测试程序中，通常由不同的测试点 负责不同的测试选项。故仅通过跳线将主机板测试模式设定为制造商 所需者，仍有不足之处，且若有超过二个以上的测试点，便需要二组 以上的跳线，硬件上更增加成本，同时也占去主机板的位置。因为， 10制造商不同的测试点不能仅依据该站所需的主要测试选项进行测试， 应属于其他测试点而非属本测试点的其他非必要或无需完全测试的测 试项目，仍必需重复进行，导致每一个测试点因需重复该测试点不必 要的测试项目，使得主机板测试效率无法提升。
综上所述，如何能够提供一种能依据制造商不同的主机板测试点 15 而设定不同的测试模式及其测试选项，进而缩短每一个测试点的测试 时间，以增加主机板测试的效率，实为目前亟待解决的课题。
发明内容
为解决前述现有技术的种种缺失，本发明提供一种::、E机板测试程 20 序设定系统以及方法，能依据不同的测试点设定不同的测试模式及其 测试选项，进而达到提升具有多个测试点的主机板测试程序的测试效率。
本发明的主机板测试程序设定系统，应用主机板测试程序中，其 主要包括第一储存模块，储存有对应多个测试点个别所需要的多个
25 BIOS程序；第二储存模块，储存有对应各该BK3S程序的多个测试模 式值；设定模块，用于设定该主机板测试程序的该多个测试点所需要 的测试模式值，并将设定的测试模式值存入第二储存模块；读取模块， 用于自第二储存模块中读取已设定的测试模式值；载入模块，依据读 取模块读取到的已设定的测试模式值，自第一储存模块中，载入对应
30 的BIOS程序。
步骤上，先通过设定模块将下一个测试点所需要的测试模式值选 定并存入第二储存模块成为己设定的测试模式值，当系统重新开机， 在开机阶段，读取模块会从第二储存模块中读取已设定的测试模式值，
再由载入模块将对应该测试模式值的BIOS程序载入系统，测试点的工 5作人员，即可针对所需要的BIOS程序，来进行对应的测试工作。
相比于现有的信息标示技术，本发明的主机板测试程序设定系统 以及方法，通过前述第一储存模块、第二储存模块、设定模块、载入 模块以及读取模块的相互运作，能依据不同的测试点设定不同的测试 模式及其BIOS程序，进而达到提升整体的测试效率。
图1是本发明的主机板测试程序设定系统的应用架构示意图；以
及
图2是本发明的主机板测试程序设定方法通过本发明的主机板测 15试程序设定系统执行时的流程图。
主要元件符号说明
ll第一储存模块
12第二储存模块 20
13设定模块
14读取模块
15载入模块
21~24 BIOS程序
31 34第一 第四测试点 25 4主机板
S201 S205 步骤
具体实施例方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域的技 30 术人员可由本说明书所揭示内容轻易地了解本发明的其他优点与功 效。本发明亦可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下 进行各种修饰与变更。
请参阅图1，这是本发明的主机板测试程序设定系统的应用架构示 意图。如图1所示，本发明的主机板测试程序设定系统应用于主机板 5 测试程序中，该主机板测试程序包括至少一个测试点。本实施例中， 本发明的主机板测试程序设定系统1包括第一储存模块ll、第二储
存模块12、设定模块13、读取模块14以及载入模块15。
第一储存模块11及第二储存模块12设于主机板4。第一储存模块 U中储存有对应第一至第四测试点31 34所需要的四种BIOS程序
io 21 24，具体实施上，第一储存模块11也可以存有BIOS主程序及对应 第一至第四测试点31 34所需要的不同的BIOS副程序，其屮主程序是 四个测试点31 34所共同需要的部份，副程序则因四个测试点31 34 的需求不同而有所调整，以求较小的储存空间，但本实施例中，虽以 四种不同的BIOS程序21 24作为范例，主要是为简化说明，并不以此为限。本实施例中，该第一储存模块I设置于该主机板4的非易失性 存储器，其可例如但不限定为EPROM、 EEPROM或闪速存储器其中 之一。该多个BIOS程序21 24指现有BIOS所提供的针对存储器、主 机板芯片组、显示卡及外设装置执行初始化；针对存储器、主机板芯 片组、显示卡及外设装置等组件执行初始化；提供操作系统或应用程
序调用的中断常驻程序。
本实施例中，该BIOS程序21 24测试模式可例如但不限定于针对 不同的组件所执行的测试模式，该组件可例如但不限定为中央处理器、 总线、存储器、连接接口以及通过该连接接口接置的储存与数据输出 入单元等组件。较佳者，该些测试模式进一步包括至少一个测试选项， 该测试选项为对应不同组件的测试模块所具有的细部测试项目，其例 如但不限定为中央处理器的处理速度、中央处理器散热风扇的转速， 存储器的全部或局部存储区块是否完整正常，连接接口是否能够正常 连接外设装置、连接接口的数据传输速率等。
第二储存模块，储存有对应该各BIOS程序21 24的多个测试模式
值，该第二储存模块12设置于该主机板4的非易失性存储器，其可例 如但不限定为EPROM、 EEPROM或闪速存储器其中之一。该设定模块13用于设定该主机板测试程序的该第一至第四测试点
31 34所需要的测试模式，并将对应该设定的测试模式所对应的测试模 式值存入第二储存模块12。本实施例中，该设定模块1.3将对应第一测 试点31所需要的BIOS程序21所对应的测试模式值予以选取并存入第 5 二储存模块12中。读取模块14，用于自第二储存模块12中读取己设 定的测试模式值，载入模块15,则依据读取模块14读取到的已设定的 测试模式值，自第一储存模块11中，载入对应的BIOS程序21来供第 一测试点31使用。
具体实施上，该设定模块13、读取模块14和/或载入模块15建置 io 于该主机板4中，更进一歩，该设定模块13、读取模块14和/或载入 模块15可整合于主机板4中一能对第二储存模块12进行存取的控制 芯片中，从而通过该控制芯片来完成储存、读取第二储存模块12中所 储存的己设定的测试模式值，本实施例中，该控制芯片可例如为基板 售;理控帝ij器(Baseboard Management Controller, BMC)。 15 请参阅图2，这是通过前述本发明的主机板测试程序设定系统执行
本发明的主机板测试程序设定方法时的流程图。如图2所示，在步骤 S201中，通过设定模块将下一个测试点所需要的测试模式值选定并存 入第二储存模块成为己设定的测试模式值。接着进至歩骤S202。
在步骤S202中，该主机板4进入第一测试点31并与该第一测试 20点31完成执行测试所必要的机构和/或电性连接后，通过该第一测试点 31针对该主机板4执行开机程序。接着进至步骤S203。
在歩骤S203中，开机阶段使读取模块自第二储存模块中读取已设 定的测试模式值，本实施例中，该测试模式值系对应至该第一测试点 31所需要的BIOS程序21以及对应第一测试点31所需要的BIOS副程 25序。接着进至步骤S204。
在步骤S204中，使载入模块将该读取模块自第二储存模块中读取 已设定的测试模式值对应该测试模式值的BIOS程序21以及对应第一 测试点31所需要的BIOS副程序载入系统。接着进至步骤S205。
在步骤S205中，使系统执行通过该载入模块载入至该系统的BIOS 30程序21以及对应的BIOS副程序，从而进行对应的测试工作。
综上所述，本发明的主机板测试程序设定系统以及方法，通过前 述储存模块、设定模块以及调整模块间的相互运作，能依据不同的测 试点设定不同的测试模式及其测试选项，进而达到提升具有多个测试 点的主机板测试程序的测试效率。
上述实施例仅为例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限 制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下， 对上述实施例进行修饰与变化。因此，本发明的权利保护范围，应如 权利要求所列。
权利要求
1.一种主机板测试程序设定系统，应用于包括多个测试点的主机板测试程序中，该主机板测试程序设定系统包括第一储存模块，储存有对应该多个测试点个别所需要的多个BIOS程序；第二储存模块，储存有对应各该BIOS程序的多个测试模式值；设定模块，用于设定该主机板测试程序的该多个测试点所需要的测试模式，并将对应设定的该测试模式的测试模式值存入该第二储存模块；读取模块，用于自该第二储存模块中读取已设定的测试模式值；以及载入模块，依据该读取模块读取到的已设定的测试模式值，自该第一储存模块中载入对应的BIOS程序。
2. 根据权利要求1所述的主机板测试程序设定系统，其中，该第一储存模块与该第二储存模块是设置于该主机板的非易失性存储器。
3. 根据权利要求2所述的主机板测试程序设定系统，其中，该非 20易失性存储器为EPR0M、 EEPROM或闪速存储器。
4. 根据权利要求1所述的主机板测试程序设定系统，其中，该BIOS 程序包括BIOS主程序及对应各该测试点所需要的不同的BIOS副程 序，其中，该BIOS主程序是该多个测试点所共同需要者，该BIOS副25程序对应各该测试点的不同需求有所调整。
5. 根据权利要求1所述的主机板测试程序设定系统，其中，该设 定模块、读取模块和/或载入模块整合于能对第二储存模块进行存取的 控制芯片中。302
6. —种主机板测试程序设定方法，应用于权利要求1所述的主机 板测试程序设定系统中，该主机板测试程序设定方法包括通过设定模块将下一个测试点所需要的测试模式值选定并存入第 二储存模块成为已设定的测试模式值；使系统执行开机程序；在开机阶段使读取模块从该第二储存模块中读取已设定的测试模 式值；使载入模块将该读取模块从该第二储存模块中读取已设定的测试 模式值载入该系统；以及使该系统执行通过该载入模块载入至该系统的对应该测试模式值 的各个测试点个别所需要的BIOS程序，从而进行对应的测试工作。
全文摘要
一种主机板测试程序设定系统以及方法，先通过设定模块将下一个测试点所需要的测试模式值选定并存入第二储存模块成为已设定的测试模式值，当系统重新开机，在开机阶段，读取模块会自第二储存模块中读取已设定的测试模式值，再由载入模块将对应该测试模式值的BIOS程序载入系统，测试点的工作人员，即可针对所需要的BIOS程序，来进行对应的测试工作。据此，能依据不同的测试点设定不同的测试模式，进而达到提升具有多个测试点的主机板测试程序的测试效率。
文档编号G06F9/445GK101196821SQ20061016339
公开日2008年6月11日 申请日期2006年12月4日 优先权日2006年12月4日
发明者施温信 申请人:英业达股份有限公司