专利名称：储存装置的磁区测试方法
技术领域：
本发明涉及一种储存装置测试技术，更详细地，涉及一种通过数 据处理系统执行储存装置的磁区测试方法。
背景技术：
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随着数据储存技术的日新月异，相同体积的储存装置所能储存的
容量亦随之增加，对于使用者而言，单一的储存装置可以储存更多的 数据，因此大幅提高数据储存的效率。
在种类众多的储存装置类型中，磁盘冗余阵歹lj(Redundant Array of Independent Disks, RAID)是一种具备有多个实体储存单元(如硬磁盘)
15 的储存装置，其通常应用于搭接到网络服务器等数据处理装置，用于 储存数量极为庞大的电脑数据。由于RAID具备有多个硬磁盘，因此 可提供多工化的电脑数据存取功能来提升整体的存取效率，并可提供 多重备份的镜向储存功能来使得电脑数据的储存更加妥善。
实际应用上，RAID中的多个硬磁盘通常会预先规划成一个或多个
20 磁区(Volume),以利用每一个硬磁盘所规划出的磁区来提供特定目的 的数据储存功能，通过磁区的划分可更有弹性的规划该硬磁盘的储存 空间，并能增加数据存取的效率。
然而随着储存装置的快速增加，首先面对的问题便是该储存装置 存取功能测试的困难度。具体地，目前的硬磁盘均支持划分的功能，
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亦即单一硬磁盘中可规划成多个磁区，使用者可例如为依据实际需求 将硬磁盘规划成128、 256、 512或1024个磁区，并利用规划后的磁区 进行数据的存取。但是实际上，某一硬磁盘虽能在规划成256个磁区 的状态下正常运作，但可能在规划成1024个磁区的状态下，其中的一 个或多个磁区无法正常运作，反之亦然。
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为确保出厂的硬磁盘能在规划成每一种不同数量的磁区的状态下 均能正常运作，最直接且全面的测试方式便是逐一增加规划数量并逐
一测试规划后的硬磁盘的数据存取状况，此种方式固然具有完整的硬 磁盘磁区测试覆盖率，但执行过程必须一再使测试人员重新规划磁区 以进行测试，其测试效率相对低落。为提升测试效率，目前有直接将 硬磁盘做最大磁区数量的规划，并仅针对规划成最大数量磁区的状态 5 下测试硬磁盘是否能正常的进行数据存取，此测试方式固然省却每一 种磁区数量规划状态下的测试，但其硬磁盘磁区测试覆盖率则相对降 低。
综上所述，如何提供一种能兼顾储存装置磁区测试覆盖率的全面 性而且无须使测试人员一再重新规划磁区以进行测试的储存装置磁区 10 测试技术，遂成为目前亟待解决的课题。
发明内容
为解决前述现有技术的问题，本发明提供一种储存装置的磁区测 试方法，能在无须人为设定操作的条件下，针对于不同磁区数量规划
15 状态下的储存装置，进行规划后的磁区能否正常存取数据的测试。
本发明的储存装置的磁区测试方法，通过数据处理系统执行储存 装置的磁区测试，该储存装置包括至少一个能支持多个磁区的规划的 储存单元，本发明的储存装置的磁区测试方法包括以下步骤设定该 储存装置能规划出的最大磁区数n;依据该储存装置中的储存单元的容
20 量计算出该储存单元容量比例值；以及依据至少包括容量比例值分配 规则在内的磁区规划规则，以在该储存单元中规划出磁区，其中，该 容量比例值分配规则依据储存单元的容量比例值较高者取得较优先的 规划磁区顺序，此外，每当该规划出的磁区数加一时，即针对该储存 单元进行数据存取的测试，直至该规划出的磁区数达到n为止。
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本发明各种型态中，该容量比例值分配规则进一步包括n大于该
储存单元的数量的情况下，重复依照该规划磁区顺序，以在该储存单 元中增加磁区。
本发明各种型态中，该磁区规划规则进一步包括储存单元的容量 比例值相同的情况下，未规划磁区的储存单元的规划磁区顺序优先于 30 已规划磁区的储存单元。
本发明各种型态中，该磁区规划规则进一步包括储存单元的容量 比例值相同的情况下，较早建立于数据处理系统的储存单元的规划磁 区顺序优先于较晚建立于数据处理系统的储存单元。
本发明各种型态中，还包括依据对该储存单元进行数据存取的测 5 试结果产生测试报告的步骤。
相比于现有的储存装置磁区测试技术，本发明的储存装置的磁区 测试方法，由于能够通过数据处理系统，依据设定的最大磁区数以及 磁区规划规则，执行储存单元不同磁区数量的规划并针对不同磁区数 量状态下的储存单元进行数据存取的测试，因此无须人为设定操作， 10即能针对于不同磁区数量规划状态下的储存装置，进行规划后的磁区 能否正常存取数据的测试并产生测试报告。
图1是本发明的储存装置的磁区测试方法执行时的步骤流程图。
主要元件符号说明
S10-S14 步骤
具体实施例方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，本领域的技
术人员可由本说明书所揭示内容轻易地了解本发明的其他优点与功 效。本发明亦可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明 书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下 进行各种修饰与变更。
请参阅图1，这是本发明的储存装置的磁区测试方法的步骤流程
图。本实施例中，本发明的储存装置的磁区测试方法通过数据处理系 统执行储存装置的磁区测试，该储存装置包括至少一个能支持多个磁 区的规划的储存单元。具体地，该数据处理系统可例如但不限为个人 电脑、服务器、工作站或其他具有数据处理功能的测试机器或工作站
台。该储存装置可例如为磁盘冗余阵列(RAID),该磁盘冗余阵列是
由第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元所组成，其中，该
第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元分别为储存容量100 GB、 200GB以及100GB的硬磁盘。需补充说明，该储存装置所具有
的储存单元数量可依实际需求予以调整。
本发明的储存装置的磁区测试方法可以模块化的方式整合成应用 5程序，并以软件或固件的形式通过该数据处理系统予以执行。
如图1所示，在步骤S10中，设定该储存装置能规划出的最大磁 区数n，接着进至步骤Sll。本实施例中，该储存装置是由第一至第三 储存单元所组成，且该储存装置在该数据处理系统的实际应用上，通 过安装于该数据处理系统的磁盘冗余阵列测试应用程序予以测试。更 10具体地，本发明的储存装置的磁区测试方法应用于该磁盘冗余阵列测
试应用程序中，以通过该数据处理系统执行储存装置的磁区测试。此 夕卜，本步骤中所设定该储存装置能规划出的最大磁区数n的数据储存 于该数据处理系统中该储存装置以外的非易失性储存单元或易失性储 存单元中，该非易失性储存单元可例如但不限定为用于储存BIOS的
15CM0S、其他内建或外接的闪速存储器中，该易失性储存单元则可例如 但不限定为随机存取存储器。从而在该储存装置执行测试的过程中， 能正常设定或取用该储存装置能规划出的最大磁区数n的数据。
本发明的另一实施例中，该非易失性储存单元进一步包括该数据 处理系统中除前述包括该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存
20单元的储存装置外，其他可正常运作如硬磁盘等的储存装置。
在步骤Sll中，依据该储存装置中的储存单元的容量计算出该第 一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元容量比例值，接着进行 步骤S12。如前所述，该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单 元分别为储存容量100 GB、 200 GB以及100 GB的硬磁盘，因此本实
25施例中，该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元容量比例
值为1: 2: 1。
在步骤S12中，依据磁区规划规则以在该储存单元中规划出磁区，
接着进至步骤S13。本实施例中，该磁区规划规则至少包括容量比例值
分配规则；储存单元的容量比例值相同的情况下，未规划磁区的储存 30单元的规划磁区顺序优先于已规划磁区的储存单元的规则；以及储存 单元的容量比例值相同的情况下，较早建立于数据处理系统的储存单
元的规划磁区顺序优先于较晚建立于数据处理系统的储存单元的规 则。
本实施例中，该容量比例值分配规则进一步包括依据储存单元的 容量比例值较高的取得较优先的规划磁区顺序的规则；以在n大于该 5储存单元的数量的情况下，重复依该规划磁区顺序，以在该储存单元 中增加磁区的规则。
如前所述，该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元容 量比例值为l: 2: 1,假设在步骤S10中所设定的n为4，则依据上述
的磁区规划规则，该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元
10 由一个磁区规划至四个(n = 4)磁区的规划顺序为0: 1: 0; 1: 1: 0; 1: 1: 1;以及l: 2: 1。具体地，仅有一个磁区需规划时，该磁区 规划于该第二储存单元中；当有二个磁区需规划时，其中一个磁区规 划于该第二储存单元中，另一个磁区规划于该第一储存单元中；当有 三个磁区需规划时，其中一个磁区规划于该第二储存单元中，另二个
15 磁区则分别规划于该第一储存单元与该第三储存单元中；当有四个磁 区需规划时，其中二个磁区规划于该第二储存单元中，另二个磁区则 分别规划于该第一储存单元与该第三储存单元中。
在步骤S13中，每当该规划出的磁区数加一时，即针对该储存单 元进行数据存取的测试，并依据测试结果产生测试报告，接着进至步
20 骤S14。如前所述，该第一储存单元、第二储存单元以及第三储存单元 依据前述的规划顺序规划磁区时，亦即，每当增加一个磁区数时，即 针对该储存单元进行数据存取的测试，并依据针对该储存单元进行数 据存取的测试结果产生测试报告。
须特别说明，每当增加一个磁区数后，在针对该储存单元进行数
25据存取的测试前，相应增加磁区数的该第一储存单元、第二储存单元 或第三储存单元中的磁区容量会重新规划。具体地，将该第一储存单 元、第二储存单元或第三储存单元的储存容量依据增加后的磁区数平 均分配。如前所述，当该第二储存单元的磁区数从一个增加至二个时，
则由原本一个储存容量200 GB的磁区重新规划为二个储存容量分别 30为50 GB的磁区，再针对执行具有二个储存容量分别为50 GB的磁区 的该第二储存单元进行数据存取的测试，并依据针对该储存单元进行
数据存取的测试结果产生测试报告。需补充说明，前述的重新规划以 平均分配为原则，当该储存单元的储存容量无法为增加后的磁区数所 整除时，可将无法整除的储存容量余数规划于特定的磁区，但是这种 磁区规划模式为现有技术，其可能的规划模式亦有多种，为了避免模 5 糊本案技术特征，不再赘述。
本实施例中，本发明的储存装置的磁区测试方法进一步搭接到安
装于该数据处理系统的测试数据(test-pattern)产生模块，更具体地， 该测试数据产生模块可为应用程序，且每当该规划出的磁区数加一时， 可通过该数据处理系统发出测试触发信号，从而使该测试数据产生模
io块接收到该测试触发信号产生测试数据，进行该储存装置数据存取是 否正常的测试，并依据该测试结果产生测试报告。
在步骤S14中，判断该规划出的磁区数是否达到n，若是，则结束 流程步骤；若否，则返回步骤S12。
综上所述，本发明的储存装置的磁区测试方法，由于能够通过数
15 据处理系统，依据设定的最大磁区数以及磁区规划规则，执行储存单 元不同磁区数量的规划并针对不同磁区数量状态下的储存单元进行数 据存取的测试，因此无须人为设定操作，即能针对于不同磁区数量规 划状态下的储存装置，进行规划后的磁区能否正常存取数据的测试并 产生测试报告。
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上述实施例仅为例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限
制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下， 对上述实施例进行修饰与变化。因此，本发明的权利保护范围，应如 所述的权利要求所列。
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权利要求
1.一种储存装置的磁区测试方法，通过数据处理系统执行储存装置的磁区测试，该储存装置包括至少一个能支持多个磁区的规划的储存单元，该储存装置的磁区测试方法包括以下步骤设定该储存装置能规划出的最大磁区数n；依据该储存装置中的储存单元的容量计算出该储存单元容量比例值；以及依据至少包括容量比例值分配规则在内的磁区规划规则，以在该储存单元中规划出磁区，其中，该容量比例值分配规则依据储存单元的容量比例值较高者取得较优先的规划磁区顺序，从而当该规划出的磁区数加一时，即针对该储存单元进行数据存取的测试，直至该规划出的磁区数达到n为止。
2.根据权利要求1所述储存装置的磁区测试方法，其中，该容量比例值分配规则进一步包括n大于该储存单元的数量的情况下，重复依该规划磁区顺序，以在该储存单元中增加磁区。
3. 根据权利要求1或2所述储存装置的磁区测试方法，其中，该 磁区规划规则进一步包括储存单元的容量比例值相同的情况下，未规划磁区的储存单元的规划磁区顺序优先于已规划磁区的储存单元。
4. 根据权利要求1或2所述储存装置的磁区测试方法，其中，该 磁区规划规则进一步包括储存单元的容量比例值相同的情况下，较早建立于数据处理系统的储存单元的规划磁区顺序优先于较晚建立于数 据处理系统的储存单元。
5. 根据权利要求1或2所述储存装置的磁区测试方法，进一步包 括以下步骤依据对该储存单元进行数据存取的测试结果产生测试报告。
6. 根据权利要求1所述储存装置的磁区测试方法，其中，该数据 处理系统包括有测试数据产生模块，用于该规划出的磁区数加一时， 通过该数据处理系统发出测试触发信号，从而使该测试数据产生模块 接收到该测试触发信号产生测试数据，进行该储存装置数据存取是否正常的测试。
7. 根据权利要求6所述储存装置的磁区测试方法，其中，该测试 数据产生模块为应用程序。
8.根据权利要求6所述储存装置的磁区测试方法，其中，该测试数据产生模块依据该测试结果产生测试报告。
全文摘要
一种储存装置的磁区测试方法，通过数据处理系统执行储存装置的磁区测试，该储存装置包括至少一个能支持多个磁区的规划的储存单元，其主要包括设定该储存装置能规划出的最大磁区数n，并依据该储存装置中的储存单元的容量计算出储存单元容量比例值，再依据预设的磁区规划规则在该储存单元中规划出磁区，其中，每当该规划出的磁区数加一时，即针对该储存单元进行数据存取的测试并产生测试报告，直至该规划出的磁区数达到n为止。据此，能针对储存装置中储存单元的磁区规划的多种可能性进行数据存取测试，以提高该储存装置测试覆盖率，此外，通过测试报告的产生，还能提升测试的效率。
文档编号G06F11/22GK101196843SQ20061016338
公开日2008年6月11日 申请日期2006年12月4日 优先权日2006年12月4日
发明者陈志伟 申请人:英业达股份有限公司