专利名称：电容式输入装置的测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种开关测试装置，特别是关于一种电容式输入装置的测试系统。
背景技术：
键盘是最常用也是最主要的输入设备，通过键盘，可以将英文字母、数字、标点符号等输入到计算机中，从而向计算机发出命令、输入数据等。
常规的键盘有机械式按键和电容式按键两种。机械式键盘是最早被采用的结构， 一般类似金属接触式开关的原理使触点导通或断开，大部分廉价的机械 键盘采用铜片弹簧作为弹性材料，铜片易折，易失去弹性，使用时间一长则故 障率升高，现在已基本被淘汰，取而代之的是电容式键盘。
电容式键盘基于电容式开关的键盘，原理是透过按键改变电极间的距离产生电容量的变化，暂时形成允许振荡脉冲通过的条件。理论上这种开关是无触 点非接触式的，磨损率极小甚至可以忽略不计，也没有接触不良的问题，具有 噪音小，容易控制手感，可以制造出高质量的键盘，但制作过程较机械结构复 杂。
由于电容式键盘具有上述的优点，且可减少厚度、增加质感，因此有渐渐取代传统键盘的趋势。以笔记型计算机而言，多半设计有一些周边输入的按键， 例如控制多媒体播放的操作按键，这些按键若以电容式键盘，可提高笔记型计 算机整体的质感。
而为了生产的方便，可将上述按键以模块化的方式生产，然而问题是，模块化的方式虽然生产组装方便，但是在测试上却不甚方便。由于该装置为计算 机的一周边，因此在测试时必须要设计类似计算机的治具或是以计算机辅助方能测试，如此不仅增加测试成本，也增加测试上的困难度。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种电容式输入装置的测试装置，以解 决现有技术中电容式键盘采用模块化的方式生产所导致的测试困难，测试成本高的问题。
为实现上述目的，本发明提出了一种电容式输入装置的测试系统，用以测 试一 电容式输入装置，该输入装置至少具有一个以上的电容式开关以及一控制 模块，该控制模块接收该电容式开关的一开关信号，其中，该测试装置包括有:
一单芯片，用以接收该控制模块输出的一控制信号，并响应该控制信号 以输出一测试信号；
一显示模块，由该单芯片控制以响应该测试信号而显示相应于该测试信 号的一测试信息；以及
一内存，由该单芯片控制以储存相应于该测试信号的该测试信息。
上述的电容式输入装置的测试系统，其中，更包括有一总线，用以连接该 控制模块与该单芯片。
上述的电容式输入装置的测试系统，其中，该总线为一内部集成电路总线。
上述的电容式输入装置的测试系统，其中，该输入装置更包括有一指示模 块，由该控制模块控制以显示相应于该电容式开关的开关状态。
上述的电容式输入装置的测试系统，其中，该显示模块由一个以上的发光 二极管组成。
本发明所提供的测试装置，可以快速测试待测物，操作简易，并可简化测 试设备，省测试成本，无需使用计算机做为测试主机，可省下在测试开始时的 计算机开机时间。
以上的关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释 本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。
图1为本发明所提供的电容开关测试装置的系统方块图2为具有电容开关的一应用实施例示意图。
其中，附图标记
100 输入装置110 电容式开关
120控制模块130指示模块
110a第一传感器110b第二传感器
110c第三传感器110d第四传感器
140总线210单芯片
220显示模块230内存
llla第一输入区111b第二输入区
lllc第三输入区
具体实施例方式
参考图1，为本发明所提供的电容式输入装置的测试系统的系统方块图。
图中所示的电容开关用以测试一输入装置100，输入装置IOO至少具有一个以 上的电容式开关110以及一控制模块120。控制模块120用以监视电容式开关 IIO的状态，并接收相应于电容式开关110的开关状态的一开关信号。输入装 置100更可包括有一指示模块130，由控制模块120控制以显示相应于电容式 开关110的开关状态。
在一示例性的实施例中，电容式开关110包含有多个传感器，例如分别为 第一传感器110a、第二传感器UOb、第三传感器110c及第四传感器110d， 其构成一触控感测区，其中传感器的位置可依据实际的状况排列成。另外，本 实施例中传感器数量仅为举例说明，并非用以限制可应用的传感器数量。
在一示例性的实施例中，指示模块130由一个以上的发光二极管组成。
输入装置100另具有一总线140，输入装置100透过总线140与一计算机 进行信号的传递与沟通。于测试时，也透过总线140连接控制模块120与单芯 片210，以与测试装置200进行信号的传递与沟通。在一实施例中，总线140 可为一内部集成电路(Inter-integratedCircuit, I2C)总线。在另一实施例中， 可将总线140设置于测试装置200中。
本发明所提供的测试装置200由一单芯片210、显示模块220以及内存230 组成。
控制模块120所监视的电容式开关110的开关状态有改变时，控制模块 120会送出相对应的控制信号。单芯片210则用以接收控制模块120的控制信 号并输出一测试信号，此一测试信号即代表输入装置100的测试结果。显示模 块220由单芯片210控制以响应测试信号而显示相应于测试信号的测试信息。 对于测试的结果，可由一内存230纪录，其由单芯片210控制以储存相应于测 试信号的测试信息。内存230可选用暂时储存数据的随机存取内存，或者可永 久储存数据的硬式磁盘驱动器。
此一输入装置100的实施例，参考图2，为应用于笔记型计算机的电容式 输入装置，如图所示，此一输入装置用以控制音量的大小，具有第一输入区 llla、第二输入区lllb、第三输入区lllc，第一输入区llla代表将音量调整 大声，第二输入区lllb代表将音量调整小声，第三输入区lllc代表静音。于 操作时，使用者仅需触碰相对应的输入区，即可使计算机进行相对应的操作。
以下说明测试的过程。由于输入装置100实际上可设计成一模块的形态， 以便于组装与制造，因此于生产时也可仅测试此一模块是否可正常的运作。因 此，在一实施例中，可将图1中所提供的测试装置200设置于一治具中，以供 生产线进行测试。
进行测试时，将输入装置100至于具有测试装置200的一治具中，由于输 入装置100具有一总线140，通过此一总线140与测试装置200连接。接着， 触碰电容式开关IIO，以使电容式开关产生开关状态的变化，当控制模块120 检测此开关变化时，可输出控制信号俾使指示模块130指示相应于开关的状 态。例如，以图2的实施例为例，当触碰第一输入区llla时，相应于该状态 的指示灯点亮。控制模块120并将控制信号送给单芯片210，当电容式开关110 正常运作时，控制信号可表示为正常，那么显示模块220即可显示『正常』， 并将『正常』的测试结果记录于内存230中。
根据本发明所提供的测试装置，可以快速测试待测物，操作简易，并可简 化测试设备，省测试成本，无需使用计算机做为测试主机，可省下在测试开始 时的计算机开机时间。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情 况下，熟悉本领域的普通技术人员当可根据本发明做出各种相应的改变和变 形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种电容式输入装置的测试系统，用以测试一电容式输入装置，该输入装置至少具有一个以上的电容式开关以及一控制模块，该控制模块接收该电容式开关的一开关信号，其特征在于，该测试装置包括有一单芯片，用以接收该控制模块输出的一控制信号，并响应该控制信号以输出一测试信号；一显示模块，由该单芯片控制以响应该测试信号而显示相应于该测试信号的一测试信息；以及一内存，由该单芯片控制以储存相应于该测试信号的该测试信息。
2. 根据权利要求1所述的电容式输入装置的测试系统，其特征在于，更 包括有一总线，用以连接该控制模块与该单芯片。
3. 根据权利要求2所述的电容式输入装置的测试系统，其特征在于，该总线为一内部集成电路总线。
4. 根据权利要求1所述的电容式输入装置的测试系统，其特征在于，该 输入装置更包括有一指示模块，由该控制模块控制以显示相应于该电容式开关 的开关状态。
5. 根据权利要求4所述的电容式输入装置的测试系统，其特征在于，该 显示模块由 一个以上的发光二极管组成。
全文摘要
本发明所提供的电容式输入装置的测试系统，用以测试一电容式输入装置，包括有一单芯片、显示模块以及内存，其中单芯片用以接收控制模块输出的一控制信号并响应控制信号以输出一测试信号，而显示模块响应测试信号而显示相应于测试信号的测试信息，该测试信息可记录于内存中。根据本发明所提供的测试装置，可以快速测试待测物，操作简易，并可简化测试设备。
文档编号G06F11/22GK101201777SQ20061016780
公开日2008年6月18日 申请日期2006年12月14日 优先权日2006年12月14日
发明者赵顺贤, 黄仲文 申请人:英业达股份有限公司