专利名称：电子设备的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于一种电子设备的测试装置，特别是指一种可自动对电子设备进行测试，而不需手动进行反复操作的电子设备的测试装置。
背景技术：
参阅图1所示，是现有一种电子设备的测试方式，该电子设备5可能是一计算机主机或服务器等电子装置的主机。一般在电子设备5被制造出来时，为了确认电子设备5的功能及动作是否正常无误，通常会以手动操作方式，由一输入装置，例如键盘4输入测试数据给电子设备5以进行功能测试，因此，当待测的电子设备数量庞大、测试数据很多或必须进行多次测试时，操作者必须反复地将测试数据输入给电子设备5，如此一来，不但需要耗费相当多的人力及时间来进行测试数据的输入，而且效率不佳，相当不符合经济效益。此外，由于测试结果为直接显示在电子设备5上，操作者必须自行透过该电子设备5的测试反应来判断和纪录测试结果，在分析电子设备5的失效原因上有其困难性。另外，不同的待测的电子设备5，有不同的测试条件，例如测试时间、测试模式、测试次数...等，也只能以人工操作，难以达到测试的准确性和一致性。
发明内容
本实用新型的目的在于提供了一种可自动输入测试数据至电子设备，并储存测试结果的电子设备的测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型电子设备的测试装置包含一输入单元、一存储单元、一控制单元及一反馈单元。所述输入单元是用以输入一测试数据及一功能设定。所述控制单元连接输入单元及电子设备，用以接受该输入单元所输入的该测试数据和该功能设定。所述存储单元是连接该控制单元，用以储存经由该控制单元传送来的该测试数据，且所述控制单元是根据该功能设定将储存在存储单元的测试数据送至电子设备以进行测试。所述反馈单元是连接电子设备及存储单元，用以将电子设备的一测试结果送至存储单元储存。
本实用新型所述的电子没备的测试装置，其可自动输入测试且至电子设备，节约了时间，也提高了测试效率，且该测试装置能够自动存储测试结果，极大方便的操作者了解测试结果，并且其操作简单，极具有实用价值。
图1为现有一种电子设备的测试方式的示意图；图2为本实用新型电子设备的测试装置的第一较佳实施例的电路方块图；图3为本实用新型电子设备的测试装置的第二较佳实施例的电路方块图。
具体实施方式
有关本实用新型的前述及其它技术内容、特点与功效，以下配合参考附图的两个较佳实施例来详细说明。
参阅图2所示，本实用新型电子设备的测试装置1的第一较佳实施例主要是包含一控制单元11、一存储单元12、一反馈单元13及一输入单元15。其中电子设备2可以是一计算机主机或服务器等电子装置的主机。
输入单元15是用以输入一测试数据及一功能设定给控制单元11。控制单元11是连接输入单元15及电子设备2，用以接受输入单元15所输入的测试数据和功能设定。
存储单元12是连接控制单元11，用以储存控制单元11所传送来之测试数据，且控制单元11是根据功能设定，将储存在存储单元12的测试数据读出并送至电子设备2以进行测试。反馈单元13是连接电子设备2及存储单元12，用以将电子设备2的一测试结果送至存储单元12储存。
参阅图3所示，本实用新型电子设备的测试装置3之第二较佳实施例是包含一控制单元11、一存储单元12、一反馈单元13、一显示单元14、一输入单元15、一传输接口16及一反馈接口17。
输入单元15包括一第一输入接口151及第二输入接口152，第一输入接口151用以输入一测试数据给控制单元11，第二输入接口152用以输入一功能设定给控制单元11。在本实施例中，所述第一输入接口151可为一外接的键盘，而第二输入接口152则为一内建的键盘。且所述功能设定包括测试时间设定、测试次数设定、测试模式设定、测试开始设定、测试暂停设定及数据清除设定等，其中测试时间设定用以设定测试数据被输入至电子设备2的时间，测试次数设定是设定测试数据被输入电子设备2的次数，也即设定电子设备2的测试次数。所述测试模式设定是设定电子设备在测试过程中发生异常时，是否即自动停止测试，或是达到设定的测试次数后才停止测试。测试暂停设定为令控制单元11暂停对电子设备2的测试，也即暂停输出测试数据给电子设备2。而数据清除设定则是令控制单元11清除储存在存储单元12中的测试数据。
所述控制单元11连接存储单元12及电子设备2，以将测试数据储存在存储单元12中，并根据功能设定，读取储存在存储单元12中的测试数据，并送至电子设备2以进行测试。
所述控制单元11包括依序串接的一串行转并行接口111、一微处理器112及一并行转串行接口113。其中，串行转并行接口111与第一输入接口151连接，用以将第一输入接口151输入的测试数据由串行信号转成并行信号后，传给微处理器112，以经由微处理器112将测试数据储存至存储单元12中，微处理器112与第二输入接口152连接，用以接收第二输入接口152输入的功能设定。并行转串行接口113与传输接口16连接，以透过传输接口16连接电子设备，其中传输接口16可以是P/S2接口或USB接口。
因此，在所述第二输入接口152已完成功能设定之后，当微处理器112收到第二输入接口152传来的测试开始设定信号时，微处理器112即根据第二输入接口152预先设定的测试模式，读取储存在存储单元12中的测试数据，并送给并行转串行接口113，使将测试数据由并行信号转成串行信号后，输出至传输接口16，以经由传输接口16将测试数据送给电子设备2进行测试。
所述反馈单元13连接存储单元12，其经由反馈接口17与电子设备2连接，用以将电子设备2的测试结果送至存储单元12。由此，所述微处理器112即可根据储存在存储单元12中的测试结果，比较及判别电子设备2在测试过程中是否发生异常，以进一步判定电子设备2功能不佳之处。其中所述反馈接口17可以是PCI接口或COMM端口等主机板既有的传输接口。
所述显示单元14是一液晶显示器，其与存储单元12连接，主要用以显示电子设备2的运作状态、由第一输入接口151输入的测试数据、电子设备2在开机过程中进行POST(Power On Self Test，开机自我测试)时产生的POST码，以及电子设备2的测试结果。测试数据是由微处理器112传送至存储单元12，再经由存储单元12输出至显示单元14。测试结果和POST则是经由反馈单元13送至存储单元12，再输出至显示单元14。
综合上述说明可知，本实用新型的测试装置3借助所述控制单元11的微处理器112的控制，可由第一输入接口151经由串行转并行接口111输入测试数据给微处理器112，从而通过微处理器12将测试数据储存在存储单元12中。并在测试电子设备2时，由微处理器112根据第二输入接口152输入的功能设定，自动地读取储存在存储单元12中的测试数据，透过并行转串行接口113及传输接口16传给电子设备2进行测试，而达到将人力操作转换为自动化操作的目的，使得在每一次进行电子设备2的测试时，不须以手动方式反复输入测试数据，故可大大地节省测试人力及时间成本。此外，本实用新型的测试装置2更具有反馈测试结果的功能，其将电子设备2的测试结果经由反馈单元13传送至存储单元12储存，并同时显示在显示单元14上，使操作者可针对测试结果分析电子设备2的功能优劣及失效的原因，而有助于缩短电子设备2的改良时间。
权利要求1.一种电子设备之测试装置，其特征在于包含一输入单元；一控制单元，其连接所述输入单元及电子设备；一存储单元，其连接所述控制单元；及一反馈单元，其连接所述电子设备及存储单元。
2.根据权力要求1所述电子设备的测试装置，其特征在于更包含一用以连接该电子设备的传输接口，其连接所述控制单元与该电子设备。
3.根据权力要求1所述电子设备的测试装置，其特征在于所述功能设定包括测试时间设定、测试次数设定、测试模式设定、测试开始设定、测试暂停设定及数据清除设定等。
4.根据权力要求1所述电子设备的测试装置，其特征在于更包含一显示单元，其与存储单元连接。
5.根据权力要求1所述电子设备的测试装置，其特征在于所述控制单元更可与一外接的输入装置连接。
6.根据权力要求1所述电子设备的测试装置，其特征在于所述控制单元包括依序串接的一串行转并行接口、一微处理器及一并行转串行接口；所述串行转并行接口与第一输入接口以及微处理器连接；所述微处理器与存储单元、第二输入接口以及并行转串行接口连接。
7.根据权力要求2所述电子设备的测试装置，其特征在于更包含一反馈接口，其连接反馈单元与电子设备。
8.根据权力要求5所述电子设备的测试装置，其特征在于所述输入装置为一键盘。
9.根据权力要求7所述电子设备的测试装置，其特征在于所述输入单元更包括一第一输入接口及一第二输入接口。
10.根据权力要求9所述电子设备的测试装置，其特征在于所述第一及第二输入接口均为一键盘。
专利摘要本实用新型公开了一种电子设备的测试装置，其包含一可输入测试数据和功能设定的输入单元，一与该输入单元和该电子设备连接且接收所述测试数据及功能设定的控制单元，一储存由该控制单元传来的测试数据的存储单元，一与该电子设备和该存储单元连接的反馈单元，且该所述控制单元可根据该功能设定，自动地将储存在该存储单元的测试数据传至电子设备进行测试，并可经由反馈单元将电子设备的测试结果回传给存储单元，以供测试人员分析电子设备功能失效之原因。本实用新型所述测试装置操作容易，且方便，大大提高了测试效率。
文档编号G06F11/22GK2874525SQ20062003938
公开日2007年2月28日 申请日期2006年2月7日 优先权日2006年2月7日
发明者蒋天仁 申请人:上海环达计算机科技有限公司, 神达电脑股份有限公司