专利名称：Sata端口测试信号生成方法
技术领域：
本发明涉及一种信号生成方法，尤其涉及一种用于SATA端口测试的测试信号生 成方法。
背景技术：
传统的SATA端口测试方法一般是在DOS下直接输入各种命令，以生成一代或二代
测试信号来进行SATA端口的测试。 上述测试信号生成方法有以下缺点 1.不能在windows系统下直接操作； 2.需对PCI总线，南桥控制器有一定的了解； 3.生成测试信号的方法不仅步骤烦琐，而且容易出错； 4.耗费时间大，操作人员容易疲劳。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种SATA端口测试信号生成方法。 为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案一种SATA端口测试信号生成
方法，其用以生成SATA端口的测试信号，该方法主要包括以下步骤 步骤a :将SATA控制器中偏移地址为92h的寄存器的值置为0，屏蔽所有SATA端 □; 步骤b :将SATA控制器中的偏移地址为AOh、 A6h的寄存器的值分别修改为lCh、 04h ; 步骤c :读取SATA控制器中的偏移地址为24h、25h、26h、27h寄存器的值，得到1/ O地址或者内存地址； 步骤d :对I/O空间内的I/O地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相加 后的值进行修改，以生成一代或二代的测试信号； 步骤e :将SATA控制器中的偏移地址为92h的寄存器设置不同的值，分别打开不 同的SATA端口，用于测试。 较佳的，本发明所述的SATA端口测试信号生成方法还适用于ICH6、 ICH7、 ICH8、 ICH9、 ICHIO、 IDE端口 ，可分别在IDE和ACHI模式下测试。 较佳的，本发明所述的SATA端口测试信号生成方法，所述步骤d中，若将1/0空间 内的1/0地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相加后的值修改为10h，则生成一 代的测试信号；若将I/O空间内的I/O地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相加 后的值修改为20h，则生成二代的测试信号，其中，所述相对偏移量的值可为12C、1AC、22C、 2AC、32C、3AC其中之一，且每一相对偏移量与相应的SATA端口对应。 相较于先前技术，本发明所述的SATA端口测试信号生成方法，可直接在WINDOWS 系统下操作，生成测试信号快，不仅节省时间、操作方便，而且不需了解PCI总线，南桥控制
3器也可以对SATA端口进行测试。
图1为本发明的流程图
具体实施例方式
请参照图1所示，为本发明的流程图。本发明所述的SATA端口测试信号生成方法， 其可直接在WINDOWS系统下操作。 其中，本发明所述的SATA端口测试信号生成方法主要包括以下步骤
步骤IOI:开始； 步骤102 :将SATA控制器中的偏移地址为92h寄存器的值置为0，屏蔽所有SATA 端口 ； 步骤103 :将SATA控制器中的偏移地址为AOh、 A6h寄存器的值分别修改为lCh、 04h ; 步骤104 :读取SATA控制器中的偏移地址为24h、25h、26h、27h的寄存器的值，得 到1/0地址或者内存地址； 步骤105 :对I/O空间内的I/O地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相 加后的值进行修改，以生成一代或二代的测试信号； 步骤106 :将SATA控制器中的偏移地址为92h的寄存器设置不同的值，分别打开
不同的SATA端口，用于测试； 步骤107 :结束。
具体如下表1 :
PortBaseAddress+OffsetGlG2
0ABAR+12C10h20h
1ABAR+1AC10h20h
2ABAR+22C10h20h
3ABAR+2AC10h20h
4ABAR+32C10h20h
5ABAR+3AC10h20h 表1 其中，Port代表SATA端口 ；ABABR代表基地址，即步骤104中读出来的1/0地址或 内存地址；相对偏移量为12C、1AC、22C、2AC、32C、3AC其中之一 ；G1， G2则代表一代、二代的 测试信号。
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上述步骤105中，若将I/O空间内的1/0地址或者内存空间内的内存地址与相对 偏移量相加后的值修改为10h，则生成一代的测试信号；若将I/0空间或者内存空间内的1/ O地址或者内存地址与相对偏移量相加后的值修改为20h，则生成二代的测试信号，其中， 所述相对偏移量的值可为12C、1AC、22C、2AC、32C、3AC其中之一，且上述相对偏移量12C、 1AC、22C、2AC、32C、3AC分别与相应的SATA端口 0至5——对应。 较佳的，本发明所述的SATA端口测试信号生成方法还适用于ICH6、 ICH7、 ICH8、 ICH9、 ICHIO、 IDE芯片以及其他类型的芯片，并且可以分别在IDE及ACHI模式下测试。
当需要测试时，可将上述SATA端口测试信号生成方法对应的应用程序加载至具 有操作系统的USB接口的移动硬盘中，令该移动硬盘与待测试的主板电性连接，以由该应 用程序控制操作，从而完成SATA端口测试信号的生成。
权利要求
一种SATA端口测试信号生成方法，其用以生成SATA端口的测试信号，其特征在于，该方法主要包括以下步骤步骤a将SATA控制器中偏移地址为92h的寄存器的值置为0，屏蔽所有SATA端口；步骤b将SATA控制器中的偏移地址为A0h、A6h的寄存器的值分别修改为1Ch、04h；步骤c读取SATA控制器中的偏移地址为24h、25h、26h、27h寄存器的值，得到I/O地址或者内存地址；步骤d对I/O空间内的I/O地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相加后的值进行修改，以生成一代或二代的测试信号；步骤e将SATA控制器中的偏移地址为92h的寄存器设置不同的值，分别打开不同的SATA端口，用于测试。
2. 根据权利要求1所述的SATA端口测试信号生成方法，其特征在于，所述SATA端口测 试信号生成方法适用于ICH芯片。
3. 根据权利要求1或2所述的SATA端口测试信号生成方法，其特征在于，所述SATA端 口测试信号生成方法分别在IDE和ACHI模式下测试。
4. 根据权利要求1所述的SATA端口测试信号生成方法，其特征在于，所述步骤d中，若 将I/O空间内的1/0地址或者内存空间内的内存地址与相对偏移量相加后的值修改为10h， 则生成一代的测试信号；若将1/0空间内的1/0地址或者内存空间内的内存地址与相对偏 移量相加后的值修改为20h，则生成二代的测试信号。
5. 根据权利要求1或4所述的SATA端口测试信号生成方法，其特征在于，所述相对偏 移量的值为12C、1AC、22C、2AC、32C、3AC其中之一，且每一相对偏移量与相应的SATA端口对 应。
全文摘要
本发明提供了一种SATA端口测试信号生成方法，其主要包括以下步骤将SATA控制器中偏移地址为92h的寄存器的值置为0，屏蔽所有SATA端口；将SATA控制器中偏移地址为AOh、A6h的寄存器的值分别修改为1Ch、04h；读取SATA控制器中偏移地址为24h至27h寄存器的值，得到I/O地址或者内存地址；修改I/O空间或者内存空间相对偏移量的值，生成一代或二代的测试信号；置SATA控制器中的偏移地址为92h寄存器不同的值，分别打开不同的SATA端口，用于测试。本发明可直接在WINDOWS系统下操作，生成测试信号快，不仅节省时间、操作方便，而且不需了解PCI总线，南桥控制器也可以对SATA端口进行测试。
文档编号G06F11/267GK101763300SQ20081022040
公开日2010年6月30日 申请日期2008年12月25日 优先权日2008年12月25日
发明者黄水才 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司