专利名称：内存工作电压范围测量方法
技术领域：
本发明是有关于一种电压范围测量方法，且特别是有关于一种内存工作电压范围 测量方法。
背景技术：
只要打开计算机，计算机中的数据或程序，都需要靠内存(Memory)来暂时储存管 理。所以内存可以说是计算机系统中的最佳仓储管理员。内存其实不止一种，按功能又可 分成只读存储器(Read Only Memory，ROM)、闪存(Flash Memory)以及随机存取内存(Read Access Memory, RAM)等三种。其中，随机存取内存亦可称为主存储器，可用以随时读写，且具有极快得数据传输 速度。因此，通常使用随机存取内存作为操作系统或其它正在执行中的程序的临时数据储 存媒介。随机存取内存可分为静态随机存取内存(StaticRAM，SRAM)和动态随机存取内存 (Dynamic RAM，DRAM)。其中，SRAM具有快速存取的优点。但由于SRAM生产成本较为昂贵， 常被应用在快取(cache)。而DRAM由于具有较低的单位容量价格，所以被大量的采用作为 系统的主存储器。然而，在内存的使用时，需提供内存正确的工作电压，才能使内存正常运作。因此， 如何测量内存正常工作的工作电压范围，作为内存电压的设定依据，实为目前亟待解决的 问题之一。
发明内容
因此，本发明的一目的是在提供一种内存工作电压范围测量方法，用以测量内 存的工作电压范围。通过陆续提供不同工作电压给内存，并进行内存测试程序(memory stress)，以取得内存的一第一电压临界值。在计算机不正常运作时，通过重新开机接口触 发计算机重新开机，以继续取得内存的一第二电压临界值。如此一来，通过第一电压临界值 以及第二电压临界值，即可得知内存的工作电压范围。依据本发明一实施例，一种内存工作电压范围测量方法包含使一内存插设于一 计算机。其中，计算机包含一重新开机接口。令一参考电压作为一工作电压，以提供给内 存，并使计算机使用内存执行一内存测试程序。持续侦测计算机是否正常运作。在计算机 执行完成内存测试程序时，将内存的工作电压记录为一先前电压。将工作电压加上一偏移 量。提供加上后的工作电压给内存，并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不 正常运作时，判定先前电压为内存的一第一电压临界值，透过重新开机接口，触发计算机重 新开机，测量内存的一第二电压临界值。其中，测量内存的第二电压临界值包含令参考电压减去偏移量作为工作电压，以 提供给内存，并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机执行完成内存测试程序时， 将内存的工作电压记录为另一先前电压。将工作电压减去偏移量。提供减去后的工作电压 给内存，并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不正常运作时，判定另一先前电
3压为内存的第二电压临界值。其中，可判定内存的一工作电压范围为第一电压临界值以及 第二电压临界值之间。其中，持续侦测计算机是否正常运作包含持续自计算机接收一确认回复。在自计 算机收到确认回复时，判定计算机仍正常运作。其中，内存工作电压范围测量方法还包含持 续传送一确认要求至计算机。确认回复是透过一确认接口所取得。一确认接口可为内部整 合电路(Inter-Integrated Circuit，I2C)、串 亍端口 (Communication port, COM)或网络。其中，重新开机接口可为基板管理控制器(Base Management Controller，BMC)。 工作电压是透过一可调整电压的治具提供给内存。偏移量可透过一使用者接口设定。应用本发明具有下列优点。可通过陆续提供多组不同工作电压给内存，而取得内 存的工作电压范围，作为设定内存电压时的依据。此外，即使所提供的电压不在内存的工作 电压范围内，而造成计算机无法继续正常运作，仍可在计算机重新开机后，重新设定所提供 的工作电压，而使得计算机继续执行内存工作电压范围测量方法。因此，在测量内存工作电 压范围的过程中，不需使用人力在一旁随时准备将计算机重新开机。另外，在使用者透过使 用者接口设定较小的偏移量时，可使所测得的工作电压范围较为精确；在使用者透过使用 者接口设定较大的偏移量时，可使测量时所需提供的工作电压的组数减少，因而减少测量 所需的时间。
为让本发明的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说 明如下图1是依照本发明一实施例的一种内存工作电压范围测量方法的流程图；图2是图1中步骤210的一实施例。主要组件符号说明100 内存工作电压范围测量方法110 219:步骤
具体实施例方式请参照图1，其是依照本发明一实施例的一种内存工作电压范围测量方法的流程 图。在内存工作电压范围测量方法中，通过陆续提供不同工作电压给内存，并进行内存测试 程序，以取得内存的一第一电压临界值。在计算机不正常运作时，通过重新开机接口触发计 算机重新开机，以继续取得内存的一第二电压临界值。其中，为了能提供不同工作电压给内 存，工作电压是透过一可调整电压的治具提供给内存。内存工作电压范围测量方法100包 含在步骤110中，使一内存插设于一计算机。其中，计算机包含一重新开机接口。重 新开机接口可为基板管理控制器或其它可用以触发计算机重新开机的数据传输接口。令一参考电压作为一工作电压(步骤120)，并提供工作电压给内存(步骤130)。 在步骤140中，使计算机使用内存执行一内存测试程序。在步骤150中，侦测计算机是否正常运作。由于计算机在不正常运作(如当机或 出现错误)时，计算机将无法进行任何回复。因此，步骤150的侦测可通过持续自计算机接
4收一确认回复而达成。其中，确认回复可透过一确认接口，如内部整合电路、串行端口、网络 或其它数据传输接口，所取得。在自计算机收到确认回复时，则判定计算机仍正常运作。此 外，在侦测计算机是否正常运作(步骤150)时，可持续传送确认要求至计算机，以使得计算 机回传确认回复。另外，亦可使计算机在执行内存测试程序时，自动传送确认回复。在其它 实施例中，亦可通过其它方式侦测计算机是否正常运作(步骤150)，并不限于本实施例。在计算机正常运作时，判断计算机是否执行完成内存测试程序(步骤160)。其中， 可使计算机在执行完成内存测试程序时，回传一完成信息，作为步骤160的判断依据。在计 算机未完成内存测试程序时，持续侦测计算机是否正常运作(步骤150)。在计算机执行完成内存测试程序时，将内存的工作电压记录为一先前电压(步骤 170)。接下来，将工作电压加上一偏移量(步骤180)，并提供加上后的工作电压给内存(步 骤130)，以继续使计算机使用内存执行内存测试程序(步骤140)。其中，使用者可透过一 使用者接口自行设定偏移量。在计算机不正常运作时，则判定先前电压为内存的一第一电压临界值(步骤 190)，并透过重新开机接口，触发计算机重新开机(步骤200)。在计算机重新开机后，便可 继续测量内存的一第二电压临界值(步骤210)。如此一来，即使提供的工作电压超出内存 的正常工作电压范围，而造成计算机无法继续正常运作，仍可在计算机重新开机后，重新设 定所提供的工作电压，而使得计算机继续执行内存工作电压范围测量方法。参照图2，其是图1中步骤210的一实施例。测量内存的第二电压临界值(步骤 210)包含令参考电压减去偏移量作为工作电压(步骤211)，并提供减去后的工作电压给内 存(步骤212)。在步骤213中，使计算机使用内存执行内存测试程序。在步骤214中，侦测计算机是否正常运作。由于计算机在不正常运作(如当机或 出现错误)时，计算机将无法进行任何回复。因此，步骤214的侦测可通过持续自计算机接 收一确认回复而达成。其中，确认回复可透过一确认接口，如内部整合电路、串行端口、网络 或其它数据传输接口，所取得。在自计算机收到确认回复时，则判定计算机仍正常运作。此 外，在侦测计算机是否正常运作(步骤214)时，可持续传送确认要求至计算机，以使得计算 机回传上述确认回复。另外，亦可使计算机执行内存测试程序时，自动传送确认回复。在其 它实施例中，亦可通过其它方式侦测计算机是否正常运作(步骤214)，并不限于本实施例。在计算机正常运作时，判断计算机是否执行完成内存测试程序(步骤215)。在计 算机未完成内存测试程序时，持续侦测计算机是否正常运作(步骤214)。在计算机执行完成内存测试程序时，将内存的工作电压记录为另一先前电压(步 骤216)。接下来，将工作电压减去偏移量(步骤217)，并提供减去后的工作电压给内存(步 骤212)，以继续使计算机使用内存执行内存测试程序(步骤213)。在计算机不正常运作时，则判定另一先前电压为内存的一第二电压临界值(步骤 218)。接下来，在步骤219中，即可判定内存的一工作电压范围为第一电压临界值以及第二 电压临界值之间。其中，在偏移量为一正数时，第一电压临界值为内存的正常工作的最高电 压(high margin)，且第二电压临界值为内存的正常工作的最低电压(low margin)。在偏 移量为一负数时，第一电压临界值为内存的正常工作的最低电压，且第二电压临界值为内 存的正常工作的最高电压。
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由上述本发明实施方式可知，应用本发明具有下列优点。可通过陆续提供多组不 同工作电压给内存，而取得内存的工作电压范围，作为设定内存电压时的依据。此外，即使 所提供的电压不在内存的工作电压范围内，而造成计算机无法继续正常运作，仍可在计算 机重新开机后，重新设定所提供的工作电压，而使得计算机继续执行内存工作电压范围测 量方法。因此，在测量内存工作电压范围的过程中，不需使用人力在一旁随时准备将计算机 重新开机。另外，在使用者透过使用者接口设定较小的偏移量时，可使所测得的工作电压范 围较为精确；在使用者透过使用者接口设定较大的偏移量时，可使测量时所需提供的工作 电压的组数减少，因而减少测量所需的时间。虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术 的人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范 围当视权利要求书所界定的范围为准。
权利要求
1.一种内存工作电压范围测量方法，其特征在于，包含 使一内存插设于一计算机，其中该计算机包含一重新开机接口 ；令一参考电压作为一工作电压，以提供给该内存，并使该计算机使用该内存执行一内 存测试程序；持续侦测该计算机是否正常运作；在该计算机执行完成该内存测试程序时，将该内存的该工作电压记录为一先前电压； 将该工作电压加上一偏移量；提供该加上后的工作电压给该内存，并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及在该计算机不正常运作时，判定该先前电压为该内存的一第一电压临界值，透过该重 新开机接口，触发该计算机重新开机，并测量该内存的一第二电压临界值。
2.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，测量该内存的该 第二电压临界值包含令该参考电压减去该偏移量作为该工作电压，以提供给该内存，并使该计算机使用该 内存执行该内存测试程序；在该计算机执行完成该内存测试程序时，将该内存的该工作电压记录为另一先前电压；将该工作电压减去该偏移量；提供该减去后的工作电压给该内存，并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序；以及在该计算机不正常运作时，判定该另一先前电压为该内存的该第二电压临界值。
3.根据权利要求2所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，还包含 判定该内存的一工作电压范围为该第一电压临界值以及该第二电压临界值之间。
4.根据权利要求2所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，持续侦测该计算 机是否正常运作包含持续自该计算机接收一确认回复，其中在自该计算机收到该确认回复时，判定该计算 机仍正常运作。
5.根据权利要求4所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，还包含 持续传送一确认要求至该计算机。
6.根据权利要求4所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，该确认回复是透 过一确认接口所取得。
7.根据权利要求6所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，该确认接口为内 部整合电路、串行端口或网络。
8.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，该重新开机接口 为基板管理控制器。
9.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，该工作电压是透 过一可调整电压的治具提供给该内存。
10.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法，其特征在于，还包含 透过一使用者接口设定该偏移量。
全文摘要
本发明提供一种内存工作电压范围测量方法，包含使一内存插设于一计算机。其中，计算机包含一重新开机接口。令一参考电压作为一工作电压，以提供给内存，并使计算机使用内存执行一内存测试程序。持续侦测计算机是否正常运作。在计算机执行完成内存测试程序时，将内存的工作电压记录为一先前电压。将工作电压加上一偏移量。提供加上后的工作电压给内存，并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不正常运作时，判定先前电压为内存的一第一电压临界值，透过重新开机接口，触发计算机重新开机，并测量内存的一第二电压临界值。
文档编号G06F11/24GK101996118SQ20091016593
公开日2011年3月30日 申请日期2009年8月18日 优先权日2009年8月18日
发明者孙佑良 申请人:英业达股份有限公司