硬盘测试系统的制作方法

文档序号:6332759阅读:180来源:国知局
专利名称:硬盘测试系统的制作方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统,尤其涉及一种检测硬盘(hard disk,HD)读写及相关功能的硬盘测试系统。
背景技术
计算机的硬盘安装有运行计算机所需的操作系统、不同的应用软件及保存有用户需要的数据。随着计算机技术的发展,为了满足不同计算机系统的需要,硬盘也存在的差异,比如硬盘的格式差异及与之相对应的硬盘转速(rotational speed)差异等。在生产测试时,一般先由主机总线适配器(host bus adapter,HBA)卡获取待测硬盘的测试参数,然后将该测试参数输出至计算机操作系统中。然而,由于计算机的硬盘格式与待测硬盘格式不同,二者往往无法兼容,使得读取测试参数较慢,效率较低,无法满足量产测试的需要。

发明内容
针对上述内容,有必要提供一种测试效率较高、且兼容性较好的硬盘测试系统。一种硬盘测试系统,包括计算机及与该计算机电性连接的硬盘测试装置,该硬盘测试系统用于对不同格式的至少一待测硬盘进行测试。该硬盘测试装置包括第一通讯接口、第二通讯接口、接口控制模块及与该接口控制模块电性连接的硬盘测试模块。该第一通讯接口和第二通讯接口与接口控制模块及计算机电性连接,并接收计算机的测试指令,硬盘测试模块依据该测试指令对不同格式待测硬盘的读写功能进行测试,接口控制模块选择性地控制由第一通讯接口或第二通讯接口传输测试指令和不同格式待测硬盘的测试结果。本发明提供的硬盘测试系统可以针对不同格式的硬盘进行测试作业,具有较好的兼容性。而且,该硬盘测试系统获取待测硬盘参数的速度较快,节约测试硬盘的时间,提高了测试效率。


图1为本发明第一较佳实施方式硬盘测试系统的模块示意图。图2为本发明第二较佳实施方式硬盘测试系统的模块示意图。主要元件符号说明硬盘测试系统100、300计算机10、110硬盘测试装置30、310供电模块32、320通讯接口模块34、340第一通讯接口342、346第二通讯接口344、348
接口控制模块35,350
硬盘测试模块36,360
待测试接口37,370
待测硬盘40,410
操作面板380
面板控制器390
具体实施例方式请参阅图1,本发明第一较佳实施方式的硬盘测试系统100包括一计算机10及一硬盘测试装置30,用于对至少一个待测硬盘40进行测试作业。该计算机10与硬盘测试装置30电性连接。所述计算机10可以采用IBM架构的个人电脑(PC)或者笔记本电脑,还可以采用 Apple架构的MAC PC。该计算机10用于向硬盘测试装置30发送测试指令,并从该硬盘测试装置30接收待测硬盘40的测试结果并显示该测试结果。所述待测硬盘40可以是3. 5英寸硬盘、2. 5英寸硬盘或1. 8英寸硬盘,其电性连接于硬盘测试装置30,从而进行测试作业。一般而言,该硬盘测试系统100可同时进行测试多个待测硬盘40的测试作业。所述硬盘测试装置30是一个韧体(firmware),其可安装不同的运行软件。该硬盘测试装置30包括一供电模块32、一通讯接口模块34、一接口控制模块35、一硬盘测试模块 36及至少一待测试接口 37。所述供电模块32外接一直流电源,其与所述硬盘测试模块36电性连接,用于为该硬盘测试装置30提供工作电能支持。所述通讯接口模块;34与计算机10电性连接,其包括一第一通讯接口 342及一第二通讯接口 ;344。该第一通讯接口 342可为一通用串行总线(universal serial bus,USB) 接口,其用于从计算机10接收测试指令,并向计算机10传送待测硬盘40的测试结果。该第二通讯接口 344可为一窜行端口(serial port),其用于从计算机10接收测试指令,并向计算机10传送待测硬盘40的测试结果。可以理解,针对不同计算机10的不同通讯接口, 可以适当地选择第一通讯接口 342或第二通讯接口 344作为与之匹配的通讯端口。所述接口控制模块35与所述第一通讯接口 342及第二通讯接口 344电性连接。该接口控制模块;35可为一单刀双掷开关(single poledouble throw, SPDT),其通过人工选择或通过软件控制选择所述第一通讯接口 342或第二通讯接口 344传输测试指令和测试结果。所述硬盘测试模块36与接口控制模块35电性连接,其可为一现场可编程门阵列 (field programmable gate array,FPGA)控制器。该硬盘测试模块36接收并处理计算机 10发送的测试指令,并根据该测试指令对待测硬盘40进行读写测试作业。所述待测试接口 37可以是针对相同待测硬盘40的相同接口组合,比如,高级技术附件规格(advanced technology attachment, ΑΤΑ)接口、整合电子式驱动(integrated drive electronics, IDE)接 Π > 串ι 阶硬盘架构(serial advanced technology architecture,SATA)接口、串行连接小型计算机系统接口 Serial Attached SmallComputer Systems Interface, SAS)。所述硬盘测试模块36通过每一待测试接口 37与相应的待测硬盘40电性连接,用于测试所述待测硬盘40是否可以进行读取、写入作业,并可测试待测硬盘40的读写速度是否符合标准。可以理解,该待测试接口 37也可以是针对不同待测硬盘40的不同接口组合,以测试不同的待测硬盘40。请参阅图1,在利用该硬盘测试系统100测试所述待测硬盘40时,计算机10通过第一通讯接口 342或第二通讯接口 344向硬盘测试模块36发送测试指令,该硬盘测试模块 36处理该测试指令,并根据该测试指令对待测硬盘40的读写功能进行测试。例如,若待测硬盘40无法写入数据,则说明待测硬盘40磁道损坏或有瑕疵;若待测硬盘40单位时间内转速不等于预设的转速,则说明待测硬盘40不符合标准,反之,若待测硬盘40单位时间内转速等于预设转速或在预定误差之内,则说明待测硬盘40符合标准。该硬盘测试模块36 获取待测硬盘40的测试结果,并通过所述第一通讯接口 342或第二通讯接口 344将测试结果输出至计算机10,并将该测试结果显示,或通过打印设备将测试结果打印出来。请参阅图2本发明第二较佳实施例所示的硬盘测试系统300进一步包括一操作面板380及一面板控制器390。该操作面板380与面板控制器390电性连接,面板控制器390 与硬盘测试模块360和计算机110电性连接。该操作面板380为一普通按键面板或触摸屏按键面板,其用于提供硬盘测试控制界面以对待测硬盘410进行测试作业。该面板控制器 390接收操作面板380的硬盘测试指令,根据该测试指令通过计算机110控制硬盘测试模块 360,以对待测硬盘410进行现场实时测试作业。本发明较佳实施例的硬盘测试系统可以针对不同格式的硬盘进行测试作业,具有较好的兼容性。而且,该硬盘测试系统获取待测硬盘参数的速度较快,节约测试硬盘的时间,提高了测试效率。另外,本领域技术人员还可在本发明权利要求公开的范围和精神内做其他形式和细节上的各种修改、添加和替换。当然,这些依据本发明精神所做的各种修改、添加和替换等变化,都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种硬盘测试系统,包括计算机及与该计算机电性连接的硬盘测试装置,其特征在于该硬盘测试系统用于对不同格式的至少一待测硬盘进行测试,该硬盘测试装置包括第一通讯接口、第二通讯接口、接口控制模块及与该接口控制模块电性连接的硬盘测试模块, 该第一通讯接口和第二通讯接口与接口控制模块及计算机电性连接,并接收计算机的测试指令,硬盘测试模块依据该测试指令对不同格式待测硬盘的读写功能进行测试,接口控制模块选择性地控制由第一通讯接口或第二通讯接口传输测试指令和不同格式待测硬盘的测试结果。
2.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试装置是一个韧体,其安装有不同的运行软件。
3.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试装置进一步包括与所述硬盘测试模块电性连接的供电模块,该供电模块用于为该硬盘测试装置提供电能。
4.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试系统进一步包括一操作面板及一与该操作面板电性连接的面板控制器,该操作面板用于提供硬盘测试控制界面以对待测硬盘进行测试作业,该面板控制器与硬盘测试模块和计算机电性连接,其接收操作面板的测试指令,根据该测试指令通过计算机控制硬盘测试模块对待测硬盘进行测试ο
5.如权利要求1所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试装置进一步包括至少一个与硬盘测试模块电性连接的待测试接口,所述硬盘测试模块通过每一待测试接口与相应的待测硬盘电性连接,用于测试该待测硬盘。
6.如权利要求5所述的硬盘测试系统,其特征在于所述待测试接口为ATA接口、IDE 接口、SATA接口或SAS接口中任一相同类型接口的组合,或为ATA接口、IDE接口、SATA接口或SAS接口中不同类型接口的组合。
7.—种硬盘测试系统,包括计算机及与该计算机电性连接的硬盘测试装置,其特征在于该硬盘测试系统用于对不同格式的至少一个待测硬盘进行测试,所述硬盘测试装置包括第一通讯接口、第二通讯接口、接口控制模块、操作面板、硬盘测试模块及至少一待测试接口 ;该第一通讯接口和第二通讯接口与计算机及接口控制模块电性连接,并接收计算机的测试指令;该操作面板与硬盘测试模块及计算机电性连接,其用于提供硬盘测试控制界面以对不同格式的待测硬盘进行测试;该每一待测试接口与相应的待测硬盘电性连接;该硬盘测试模块依据操作面板的测试指令对待测硬盘进行测试,并获取测试结果;该接口控制模块选择性地控制接通第一通讯接口或第二通讯接口传输测试指令或不同格式待测硬盘的测试结果。
8.如权利要求7所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试装置进一步包括与所述硬盘测试模块电性连接的供电模块,该供电模块用于为该硬盘测试装置提供电能。
9.如权利要求7所述的硬盘测试系统,其特征在于所述硬盘测试装置进一步包括一与该操作面板电性连接的面板控制器,该面板控制器与硬盘测试模块和计算机电性连接, 其接收操作面板的测试指令,根据该测试指令通过计算机控制硬盘测试模块对待测硬盘进行测试。
10.如权利要求7所述的硬盘测试系统,其特征在于所述待测试接口为ATA接口、IDE 接口、SATA接口或SAS接口中任一相同类型接口的组合,或为ATA接口、IDE接口、SATA接口或SAS接口中不同类型接口的组合。
全文摘要
本发明提供一种硬盘测试系统,包括计算机及与该计算机电性连接的硬盘测试装置,该硬盘测试系统用于对不同格式的至少一待测硬盘进行测试。该硬盘测试装置包括第一通讯接口、第二通讯接口、接口控制模块及与该接口控制模块电性连接的硬盘测试模块。该第一通讯接口和第二通讯接口与接口控制模块及计算机电性连接,并接收计算机的测试指令,硬盘测试模块依据该测试指令对不同格式待测硬盘的读写功能进行测试,接口控制模块选择性地控制由第一通讯接口或第二通讯接口传输测试指令和不同格式待测硬盘的测试结果。所述硬盘测试系统可对不同格式的硬盘进行测试作业,具有较好的兼容性。而且,该硬盘测试系统可节约测试硬盘的时间,提高了测试效率。
文档编号G06F11/22GK102419722SQ20101029354
公开日2012年4月18日 申请日期2010年9月27日 优先权日2010年9月27日
发明者张万宏 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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