一种led芯片数量统计方法

文档序号:6362878阅读:490来源:国知局
专利名称:一种led芯片数量统计方法
技术领域
本发明涉及一种LED芯片数量统计方法,也适用于其它黏附在胶膜上,无法以其它(重量、容积、计数)方法计算数量,同时需要处理各种不同尺寸、间距,呈规则排列的微型物体。
背景技术
LED芯片,是经外延生产(片)再切割成大约7mil_50mil的颗粒芯片,以直径为 2英时的外延片切割成每颗7mil (约等于O. 01778cm平方)的芯片计算,100%良率下大约有64,000颗,而生产制程中的不良耗损或外观不良的吸除后,其良品无法用人工方式一一点算,故需用科学方法才能精确计算出LED芯片的最终数量。LED芯片的制程中,是以规则、平整排列的方式由胶膜黏护着,上面覆盖离形纸,至最终出货前进行百分百外观检查,以确保每颗LED芯片在出货到客户端时的优良质量,且精确计算所有出货LED芯片的总数量。目前,LED芯片的计数技术大都对采集的全部芯片图像整体运算,没有经过区域分割,即使对图像进行色彩补正、仍可能因为个别产品的变异(如材质差异、制程差异、表面污染、个别色差)、外在环境光源的影响而造成较大的误差。LED芯片尺寸众多,间距、规格(电极大小、形状各家不同)繁复、材质差异、制程差异随着各厂家技术的改良而加大,更间接影响图像处理后的整体结果,使得依据图像处理后的结果来产生数量统计的变数加大。有鉴于此,本发明人对LED芯片数量的科学统计进行了研究,本案由此产生。

发明内容
本发明的目的在于提供一种LED芯片数量统计方法,以降低数量数据的误差,提高统计的方便性及准确性。为了实现上述目的,本发明的解决方案是一种LED芯片数量统计方法,先建立各种不同芯片尺寸的类棋盘BL0(N0. XX)及该芯片的标准影像阈值SM (NO. XX),再以CXD图像传感器采集黏附在胶膜上所有LED芯片的图像,将所有芯片图像再处理后导入类棋盘BLO (NO. XX),使每颗芯片落在棋盘的相应空格内LS (X,Y),并产生QS (Χ,Υ)的影像值,最后将所有LS (Χ,Υ)(^ (X,Y)与该芯片的标准影像阈值SM(N0. XX)比对,最后计算出棋盘内芯片的总数量。本发明还将采集的图像文件压缩、储存,以管理所有不同尺寸芯片的数量数据。采用上述方案后,所有不同尺寸、间距的各类黏附在胶膜上、呈规则、平整排列的芯片或其它类似的微型物体,皆可依据事前建立的类棋盘BLO(NO. XX)、芯片的标准影像阈值SM (NO. XX)进行CCD扫描影像的空格比对,以快速完成精确的数量统计,并使数量值误差小于O. 03%。就LED芯片而言,为高单价的产品,体积微小但相对价格较高,如统计数量误差过大,将大大影响交易双方的权益,本发明大大缩小统计上的误差,保证了交易双方和权益。以下结合具体实施例对本发明做进一步详细阐述。


图I是类棋盘BLO(NO. XX) I。
图2是空格尺寸Size (NO. XX) 11。
图3是完整无缺格的芯片图像12。
图4是扫描图与类棋盘的组合图像2。
图5是已经图像处理的空格内影像图3。
图6是QS(X,Y)与SM(N0. XX)比对后类棋盘空格整体呈现的结果4。
图7是类棋盘上呈现的芯片总数5。
图8是芯片最终保存的影像6。
具体实施例方式本发明是关于LED芯片的数量计算、统计、数据、影像储存的整合性方法。本发明先建立各种不同芯片尺寸的类棋盘BL0(N0. XX)及该芯片的标准影像阈值 SIM (NO. XX),再以CCD图像传感器采集黏附在胶膜上所有LED芯片的图像,将所有芯片图像再处理后导入类棋盘BLO (NO. XX),使每颗芯片落在棋盘的相应空格内LS(X,Y),并产生QS(X,Y)的影像值,最后将所有LS(Χ,Υ)QS(X,Y)与该芯片的标准影像值SM(N0. XX)比对,最后计算出棋盘内芯片的总数量,最后将采集的图像文件压缩、储存,以管理所有不同芯片的数量数据。LED 芯片一般的尺寸为 7mil-45mil(约等于 O. 01778cm-0. 1143cm)厚约 12mil (约等于O. 03cm),在由外延片切割至单颗芯片后需黏附于胶膜上,由于LED芯片经由外延片至单颗芯片的制程中需经药水的浸蚀、高温、高压处理、切割、研磨,故不能确保完成后的所有芯片都属于良品,且每一颗都有相同的表面积及外观。本发明以影像处理技术及特殊的类棋盘空格比对法,针对黏附在胶膜上,无法以其它(重量、容积、计数)方法计算数量,呈规则排列的各种不同尺寸的芯片的数量统计方法,完成减少误差值小于O. 03%的目标。本发明的具体流程如下I.建立各种规格的类棋盘BLO (NO. XX) I类棋盘BLO(NO. XX) I 以BLO(NO. XX)_AAA x BBB表示,其中 XX = 01,02,03...· 99 代表棋盘的种类编号;AAA = 1,2,3···..999 ;BBB = 1,2,3..... 999代表棋盘横向及纵向的空格数;BL0(N0. 10)_120xl20代表第10种棋盘,空格数=120x120 ;代表最多数量为14400
颗芯片。每一空格的位置以LS(X,Y)表示;LS(10,10)代表此棋盘上第10排第10列的空格。每一空格的尺寸以Size (NO. XX) 11 表示;Size (NO. XX) 11 以 Size (NO. XX)_CCC x DDD表示;Size (NO. 10) _035 x 025代表第10種芯片的空格,尺寸爲(λ 35_ X O. 25_,其中CCC =芯片长+芯片长边间距,DDD =芯片宽+芯片宽边间距。
2.建立芯片的标准影像阈值SM (NO. XX)。扫描各种尺寸的完整无缺格的芯片图像,依据编号套进BLO (NO. XX)类棋盘,产生完整无缺格的芯片图像12,将所有空格内的图像值加总后除以空格数以求取单一空格的平均值,并以此值作为标准影像阈值SM(N0. XX),标准影像阈值SM(N0. XX)与每个空格的最大差值作为未来判断的误差值AER (NO. XX)。3.以CXD图像传感器采集黏附在胶膜上所有LED芯片的图像,将此图像依据芯片规格种类导入相应的类棋盘BLO(NO. XX)1中,成为扫描图与类棋盘的组合图像2。其中芯片尺寸及芯片间距与类棋盘之空格完全一致。4.将已扫描之扫描图进行图像处理,提高图像的色彩反差,成为已经图像处理的空格内影像图3。5.将已经图像处理的空格内影像图3内所有落在LS(X,Y)空格内的影像进行影像值计算,依序产生QS(X,Y)的影像值。6.将LS (X,Y)空格的影像值QS (X,Y)与SIM (NO. XX)比对,产生AV_LS (X,Y) 的值,当不符合时AV_LS(X,Y) =0,所有05(乂,¥)与5頂(勵1乂)比对后产生类棋盘空格整体呈现的结果4;当符合时AV_LS(X,Y) = 1,所有加总后产生类棋盘上呈现的芯片总数5。当QS(X,Y)与SM(N0. XX)比对时误差< AER(NO. XX)内皆算符合,否则为不符
合ο7.完成芯片的统计后,将此芯片图像以压缩文件保存,产生芯片最终保存的影像6。本发明透过PC (个人计算机)之硬件、VB软件及CXD之驱动模块、CXD图像传感器、镜头以取得LED芯片图像,并建立類棋盤比對模快,以精确计算LED芯片的数量,使误差值小于O. 03%。以上所述,仅为本发明的较佳实施例,并非对本发明实施范围的限定,凡依本发明的设计要点所做的变化与修饰,均落入其保护范围。
权利要求
1.一种LED芯片数量统计方法,其特征在于先建立各种不同芯片尺寸的类棋盘 BLO(NO. XX)及该芯片的标准影像阈值SM(N0. XX),再以CXD图像传感器采集黏附在胶膜上所有LED芯片的图像,将所有芯片图像再处理后导入类棋盘BLO (NO. XX),使每颗芯片落在棋盘的相应空格内LS(X,Y),并产生QS(X,Y)的影像值,最后将所有LS(X,Y)的 [QS(X, Y)与该芯片的标准影像阈值SM(N0. XX)比对,最后计算出棋盘内芯片的总数量。
2.如权利要求I所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述类棋盘BLO(NO. XX)以BL0(N0. XX)_AAA x BBB]表示,其中NO. 10代表第10种棋盘,_120xl20代表具有 (120行xl20列)空格数。
3.如权利要求1、2所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述类棋盘的每个空格尺寸以Size (NO. XX) _CCC x DDD表示,其中Size (NO. 10)代表第10种芯片,_035 X 025代表空格尺寸爲O. 35mm X O. 25mm,其中CCC =芯片长+芯片长边间距,DDD =芯片宽+ 芯片宽边间距。
4.如权利要求I所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述芯片图像再处理为将采集到的图像数据进行加大影像色差。
5.如权利要求I所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述LS(X,Y)代表空格位置,LS (10,10)代表第10排第10列的空格。
6.如权利要求I所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述QS(X,Y)代表空格影像值,QS (10,10)代表第10排第10列的空格影像值。
7.如权利要求I所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述SM(N0.XX)为各种芯片单颗标准影像阈值,如SM(N0. 10)为第10种芯片之标准影像阈值。
8.如权利要求1、7所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述空格内影像QS(X,Y)与单颗标准影像阈值SM (NO. XX)比对,如不符合标准,其LS (X,Y)将产生AV_ LS(X,Y) = O 的判断值,否则 AV_LS(X,Y) = I。
9.如权利要求1、8所述的一种LED芯片数量统计方法,其特征在于所述棋盘内芯片的总数量即所有AV_LS(X,Y) = I的加总。
全文摘要
本发明公开一种LED芯片数量统计方法,先建立不同芯片尺寸的类棋盘BLO(NO.XX)及标准影像阈值SIM(NO.XX),再以CCD图像传感器采集胶膜上LED芯片的图像,将图像处理后导入类棋盘BLO(NO.XX),使每颗芯片落在棋盘的相应空格LS(X,Y),并产生QS(X,Y)的影像值,最后将所有LS(X,Y)QS(X,Y)与芯片的标准影像阈值SIM(NO.XX)比对,最后计算出棋盘内芯片的总数量,并将图像文件压缩、储存,以管理各种芯片的所有数量数据。本发明以影像处理技术及特殊的类棋盘比对法,针对黏附在胶膜上,无法以其它(重量、容积、计数)方法计算数量,呈规则排列的各种不同尺寸的芯片的数量统计方法,依此方法不但提高统计的准确性,同时可方便快速的交付处理各种不同尺寸的芯片,完成减少误差值小于0.03%的目标。
文档编号G06K9/00GK102609762SQ20121000537
公开日2012年7月25日 申请日期2012年1月10日 优先权日2012年1月10日
发明者吴顺泰 申请人:林美祥
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