专利名称：低温测试操作箱的制作方法
技术领域：
低温测试操作箱
技术领域：
本实用新型涉及一种低温测试操作箱，特别是涉及一种强固型电子设备的低温测试操作箱。
背景技术：
随着科技日新月异的发展，电脑越来越广泛地应用于日常生活，尤其是近年来笔记本电脑以其便携性更是受到人们青睐。而由于科考、探险、军事等方面应用的需要，对于所使用的笔记本电脑等便携式设备所能承受的工作环境又有了更为严苛的需求。由此发展出强固型便携 式设备，例如为强固型笔记本电脑。对于强固型笔记本电脑来说，可应用的领域非常的广，且保护性极佳，不论是处于多么严苛的环境，像是工地、野外、沙漠环境或是军事重地等等，能承受外在环境的干扰，系统稳定运作。由于强固型笔记本电脑通常会需要满足在低温下工作的需求，因此需要进行在低温下进行测试以满足在低温下运行稳定性的需求。请参阅图1，其为现有技术的强固型笔记本电脑的低温测试操作箱。所述操作箱包括本体11、门12，所述门12在闭合状态下，所述本体11和所述门12形成一个基本密闭的空间，所述门12—般为透明，所述门12上开设有二操作口 13，所述操作口 13上由其四周向中心延伸设有软性密封部14。使用时，人手从所述操作口 13，拨开所述软性密封部14，伸入所述操作箱内部，对需要进行测试的强固型电脑15进行操作，而人手抽出后，所述软性密封部14又会合起来使得所述操作箱的内部基本成为一个密闭空间。由于所述操作箱的内部在测试的时候会保持一个较低的温度(例如为-37. 20C )。采用上述操作箱会有以下缺点人手在其内长期操作会出现冻伤的情况；由于所述操作箱内部空间有限，操作起来较不方便；由于所述操作箱内部空间有限，有些测试治具无法正常放入；测试时开关门动作相对多，造成箱内温度泄露。有鉴于此，实有必要开发一种低温测试操作箱，以解决上述问题。
发明内容因此，本实用新型的目的是提供一种低温测试操作箱，从而可以避免使用者操作后手被冻伤，又可以解决箱内操作空间有限所带来的问题。为了达到上述目的，本实用新型提供的低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，该操作箱包括箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。[0013]可选的，所述箱门为透明体，方便使用者观察所述操作箱内部。可选 的，所述箱门上设有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸设有软性密封部，从而方便使用者在不开箱门的情况下，将所述连接器内端口与所述电子产品的端口相连接，以及进行一些通过所述连接器所不能完成的操作。可选的，所述连接器为若干个，分散设于所述箱体上，从而使用者在所述箱体外部更方便连接测试治具。可选的，所述连接器为若干个，所述箱体外部设有一连接器座，各所述连接器的外端口集中设于所述连接器座上，从而使得箱体外部美观，测试起来较为集中方便。可选的，所述电子产品为强固型笔记本电脑，所述电子产品的端口为USB端口、LAN端口、COM端口或显示器端口。相较于现有技术，采用本实用新型的低温测试操作箱，由于采用具备内端口和外端口的连接器，将测试治具连接到箱体外部，使得操作可以在箱体外部，避免了人手在箱体内低温环境下长期操作；测试时开关箱门动作变少，减少箱内温度泄露。
图I绘示为现有技术强固型笔记本电脑的低温测试操作箱一较佳实施例的结构图。图2绘示为本实用新型的低温测试操作箱第一实施例的结构示意图。图3绘示为本实用新型的低温测试操作箱第二实施例的结构示意图。
具体实施方式请参阅图2，图2绘示为本实用新型的低温测试操作箱第一实施例的结构示意图。为了达到上述目的，本实用新型提供的低温测试操作箱，用于对电子产品200(以强固型笔记本电脑为例)的低温测试操作，该操作箱包括箱体20，其具有一开放端，所述箱体20内提供一低温环境；箱门21，与所述箱体20的开放端结合，所述箱门21闭合后，所述箱体20箱门21形成密闭空间；连接器22，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口 23和外端口 24，所述内端口 23设于所述箱体22内部，与待测试的所述电子产品200的端口相匹配(所述电子产品200的端口可以为USB端口、LAN端口、COM端口或显示器端口)，所述内外端口 24设于所述箱体20外部，与测试治具的端口相匹配。于该第一实施例，所述连接器22为若干个，分散设于所述箱体20上，从而使用者在所述箱体20外部更方便连接测试治具其中，所述箱门20可以为透明体，方便使用者观察所述操作箱内部。可见，采用本实用新型的低温测试操作箱，由于采用具备内端口 23和外端口 24的连接器22，使用时通过所述连接器22的外端口 24将测试治具连接到箱体20外部，使得操作可以在箱体20外部，避免了人手在箱体20内低温环境下长期操作；可以一次性将电子产品200需要测试的端口与所述连接器22的内端口 23连接，从而测试时开关箱门21动作变少，减少箱内温度泄露。[0030]请参阅图3，图3绘示为本实用新型的低温测试操作箱第二实施例的结构示意图。与所述第一实施例相同的部分不再详述，与所述第一实施例所不同的，于该第二实施例，所述连接器22为若干个，所述箱体20外部设有一连接器座25，各所述连接器22的外端口 24集中设于所述连接器座25上，从而使得箱体20外部美观，测试起来较为集中方便。其中，所述箱门20上也可以设有操作口 26，所述操作口 26上由其四周向中心延伸设有软性密封部27，从而方便使用者在不开箱门21的情况下，将所述连接器22内端口23与所述电子产品200的端口相连接，以及进行一些通过所述连接器22所不能完成的操作(例如需要进行按电源开关开机的操作)。使用时，人手从所述操作口 26，拨开所述软性密 封部27，伸入所述操作箱内部进行操作，而人手抽出后，所述软性密封部27又会合起来使得所述操作箱的内部基本成为一个密闭空间(所述软性密封部27可以为由其中心点作为中心向四周开十字型开口)。
权利要求1.一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，其特征在于，该操作箱包括 箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境； 箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间； 连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。
2.如权利要求I所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述连接器为若干个，分散设于所述箱体上。
3.如权利要求I所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述连接器为若干个，所述箱体·外部设有一连接器座，各所述连接器的外端口集中设于所述连接器座上。
4.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述箱门为透明体。
5.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述箱门上设有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸设有软性密封部。
6.如权利要求1、2或3所述的低温测试操作箱，其特征在于，所述电子产品的端口为USB端口、LAN端口、COM端口或显示器端口。
专利摘要本实用新型揭示一种低温测试操作箱，用于对电子产品的低温测试操作，该操作箱包括箱体，其具有一开放端，所述箱体内提供一低温环境；箱门，与所述箱体的开放端结合，所述箱门闭合后，所述箱体箱门形成密闭空间；连接器，其穿设于所述箱体的壁，所述连接器包括内端口和外端口，所述内端口设于所述箱体内部，与待测试的所述电子产品的端口相匹配，所述内外端口设于所述箱体外部，与测试治具的端口相匹配。采用该低温测试操作箱，由于采用具备内端口和外端口的连接器，将测试治具连接到箱体外部，使得操作可以在箱体外部，避免了人手在箱体内低温环境下长期操作；测试时开关箱门动作变少，减少箱内温度泄露。
文档编号G06F11/26GK202495028SQ20122001343
公开日2012年10月17日 申请日期2012年1月13日 优先权日2012年1月13日
发明者任光明 申请人:神讯电脑(昆山)有限公司