专利名称：利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法
技术领域：
本发明涉及触控面板技术领域，尤指利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法。
背景技术：
触控面板的技术原理是当手指或其他介质接触到屏幕时，依据不同感应方式，侦测电压、电流、声波或红外线等，进而测出触压点的坐标位置。例如电阻式触控面板即为利用上、下电极间的电位差，以在施压点位置进行计算进而检测出触碰点所在。电容式触控面板是利用排列的透明电极与人体之间的静电结合所产生的电容变化，从所产生的电流或电压来检测其坐标。现有的电容式触控系统在计算坐标时，必须经由感测电路量测触控面板上电容值的变化得到触控位置等信息，以计算用户触摸位置坐标。然而在取得触控数据的过程中，极可能因为电容感测电路、触控面板单元乃至驱动电路端受到噪声干扰、外部噪声对地干扰以及面板或集成电路内部所产生的噪声干扰使得触控数据产生失真飘移，造成图1中所示的杂点出现的情形或使真实触碰点消失或坐标偏移。现有的投射式电容触控感测(Projected Capacitive)技术又可分为自感电容型(Self capacitance)和互感电容型(Mutual capacitance)。自感电容型是指触控物与导体线间产生电容耦合，并量测导体线的电容变化，以确定触碰发生。而互感电容型则是当触碰发生时，会在邻近两层导体线间产生电容耦合现象。现有的自感电容感测技术是感测每一条导体线对地电容，藉由对地电容值变化判断是否有物体靠近电容式触控面板，其中，自感电容或对地电容并非实体电容，其为每一条导体线的寄生电容及杂散电容。现有的互感电容型感测技术是感测互感应电容(mutual capacitance,Cm)的大小变化，以判断是否有物体靠近触控面板，同样地，互感应电容并非实体电容，其是驱动导体线与感测导体线之间的互感应电容。自感电容感测技术容易产生鬼点，但是自感电容感测技术在相对位置上还是可以侦测出正确的位置。图2为自感电容感测技术的假点的示意图。虽然自感电容感测技术会产生两个假点，但是X、Y轴上的触碰点还是可以表示出来。即，虽然无法分辨出哪两点是真实的触碰点，但至少只需要去分辨图2中四点之中哪两点是触碰点即可。而互感电容型感测技术则使用不同时间打出的驱动信号，可以简单的侦测到两点的正确位置。图3为互感电容型感测技术的示意图。由图3可看出驱动信号是在不同的时间输出，也因为如此可以经由时间差，找出各触碰点的正确位置。然而当有外来噪声或是电路及面板接收到噪声时，可发现互感电容型感测技术在同一条感测线上容易受到噪声的干扰。其原因为当触控系统连接至真实的大地接地系统时，由于触控介质(例如使用者的手指)也是连接至真实的大地接地系统，故此时触控系统可以稳定且正确地的输出触碰点的坐标。但是当将触控系统改为独立电源，该独立电源的接地与真实的大地接地系统有所差异，此时就可以发现触碰点的坐标有晃动很大的现象或是有其他的杂点产生，如图4所示，这对触控系统的稳定度来说有不利的影响。图5为互感电容型感测技术的模型示意图。电容Cd代表驱动导体线上的寄生及杂散电容，电容Cs代表感测导体线上的寄生及杂散电容，电容Cm代表驱动导体线与感测导体线之间互感应电容，电容Cf2代表手指触碰时的电容。如图5所示，依据电容Cm变化量来判断面板是否被手指触碰。由于电容Cm为互感应电容，故其为一个极小的电容，其电容值约0. 7pF左右，因此当驱动导体线Dl输入驱动信号时，电容Cm反而成为一个大阻抗。当手指触摸时，噪声由手指传入。对积分器而言，驱动信号的振幅由于电容Cm缘故，相对较小，因此积分器的输出信号受噪声影响就大。图6为自感电容感测技术的模型示意图。电容Cf代表手指触碰时的电容，电容Cx代表导体线对地的电容。电容Cx为导体线对地的电容，远比电容Cm大，故驱动信号是对一个大电容Cx充放电，噪声影响相对比互感电容型感测技术较小。为了改善上述影响互电容输出结果，使得噪声影响变小并且坐标稳定输出，现有方法使用滤波电路以滤除不属于驱动信号的外来噪声。通常滤波电路会加在积分器前后，如图7所示。滤波电路可以是低通、高通、带通或是带拒等有滤波效果的抗噪声电路。滤波电路可以是电阻和电容的组合，即被动式滤波电路。被动式滤波电路在不复杂的电路系统下往往可以得到很好的效果。但是将被动式滤波电路应用在触控系统时，因为触控电路依各家厂商的设计不同，而有不同的解决方法。然而同样的困难点在于微小的电容变化量以及相对一般电路下较小的输入电压。这两种条件对于抗噪声来说就是不利的因素。滤波电路对于一些可预期或是影响不大的噪声率是可以发挥很好的效果，然而对容易受到干扰的微小信号量电路来说，些微的噪声影响就可能造成数据判断错误，甚至将原本的微弱信号给滤除掉，所以滤波电路对触控电路来说也是有其缺点存在。针对上述问题，也有触控集成电路的设计厂商将驱动信号的电压加大，用以应付噪声的干扰。但是相对而言，此会增加功率消耗，并不是很适合于手持式装置。同时，在积分电路前就已受到噪声影响的电路，即使将驱动信号的电压加大，也难以消除噪声的影响。另一种现有方法是将判断是否有触碰点产生的门限值予以调整。图8为一调整噪声门限值的示意图。电容触控系统通过使用电容的微量变化来侦测是否有触碰点产生，为避免噪声干扰而产生误判的触碰点，其中一种方法是调整噪声门限值(Noise Threshold)。此种方法可以随着环境变化，将噪声门限值调高或调低，以符合当时环境的影响。如图8所示，在设计A中，噪声门限值较低，然而在设计B中，则将噪声门限值调高。然而要做到可调变的噪声门限值却不是那么容易，因为触控集成电路内部并不清楚噪声来源为何，而且必须设定在哪些情况下必须调整噪声门限值，这代表着必须使系统重新初始化，将参数做调整才能得到最好的噪声门限值，这种情况下需要耗费相当多的系统资源。美国专利第7919367号公告中，采取了一种变频驱动的方式来避开不同频带噪声干扰。如图9A、图9B所示，其使用三个频率不同的驱动信号来扫描触控面板。对大部份的噪声而言，这是一个很好的避开噪声的方法，而且有三种频率的数据做比较，对于后续的坐标处理，可以提升触碰点坐标的准确度。然而，因为噪声来源不明，此方法无法完全避开可能碰到噪声的频率，同时由于使用三个频率不同的驱动信号，其无可避免的必须耗费较多系统资源、降低触碰点的侦测频率(Report Rate)、以及耗电的问题。因此，现有电容式触控面板的感测技术实仍有改善的空间。
发明内容
本发明的目的主要是提供一种利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法，以降低噪声对触碰位置的影响，并提升触碰位置的准确度，可应用于手持式装置中。本发明提出一种利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法，其用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包含一电容式触控面板、一第一驱动感测装置、一第二驱动感测装置和一控制装置，所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置分别具有一第一工作模式和一第二工作模式，其中，当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第一工作模式时，执行自感电容驱动感测，以及当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第二工作模式时，执行互感电容驱动感测，所述方法包含下列步骤步骤A、所述控制装置对所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置执行初始化；步骤B、设定所述第一驱动感测装置和/或第二驱动感测装置为所述第一工作模式，以对所述电容式触控面板进行至少一次自感电容驱动感测，以找出一第一可能触控范围，并将所述第一可能触控范围储存于该存储单元中；步骤C、设定所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置为所述第二工作模式，以对所述电容式触控面板进行至少一次互感电容驱动感测，以找出一第二可能触控范围，并将所述第二可能触控范围储存于该存储单元中；步骤D、判断所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围是否有交集；以及步骤E、若有，则产生一可能触控范围交集，并依据所述可能触控范围交集计算触碰点的坐标。本发明还提出另一利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包含一电容式触控面板、一第一驱动感测装置、一第二驱动感测装置和一控制装置，所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置分别具有一第一工作模式和一第二工作模式，其中，当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第一工作模式时，执行一自感电容驱动感测，以及当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第二工作模式时，执行一互感电容驱动感测，所述方法包含下列步骤步骤A、所述控制装置对所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置执行一初始化；步骤B、设定所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置为所述第二工作模式，以对该电容式触控面板进行所述互感电容驱动感测，以找出一第一可能触控范围，并将所述第一可能触控范围储存于所述存储单元中；步骤C、设定所述第一驱动感测装置和/或第二驱动感测装置为所述第一工作模式，以对所述电容式触控面板进行所述自感电容驱动感测，以找出一第二可能触控范围，并将所述第二可能触控范围储存于所述存储单元中；步骤D、判断所述第二可能触控范围和第一可能触控范围是否有交集；步骤E、若有，则产生一可能触控范围交集，并依据所述可能触控范围交集计算触碰点的坐标。由前述说明可知，单独使用互感电容型感测技术可能会产生许多杂点，甚至会使原本的触碰点消失。因此本发明整合自感电容驱动感测和互感电容型感测技术,将坐标数据进行相互比对，即先将可能的触控位置经由自容式侦测出来(包含鬼点)，再与互容式触控技术侦测触控面板，比对两者数据共同性，以判断出没有受噪声影响的数据，进而输出真实坐标。此方法可以减少滤波电路的使用与设计，因此能以较少的系统资源得到正确且稳定的坐标输出。而本发明使用自电容触控技术，具有在驱动或感测线上不易受噪声干扰的特性，先使用自电容标记出合理的触控发生范围，辅以互电容触控技术能正确找出触碰点的特性，进而达成滤除噪声的目的。
图1为一现有电容式触控系统杂点的示意图；图2为一现有自感电容感测技术的假点的示意图；图3为一现有互感电容型感测技术的示意图；图4为一现有互感电容型感测技术受噪声影响的示意图；图5为一现有互感电容型感测技术的模型示意图；图6为一现有自感电容感测技术的模型示意图；图7为一现有电容式触控系统使用滤波电路的示意图；图8为一现有调整噪声门限值的示意图；图9A为一现有使用三个频率不同的驱动信号来扫描触控面板的电路示意图；图9B为该现有使用三个频率不同的驱动信号来扫描触控面板的时钟示意图；图10为本发明应用于一电容式多点触控系统的方块图；图11为本发明一种利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法的流程图；图12为本发明使用自感电容驱动感测的示意图；图13为本发明使用互感电容型感测的示意图；图14为本发明产生一可能触控范围交集的示意图；图15为本发明广生一可能触控范围交集的另一不意图；图16为本发明一应用的示意图。附图中，各标号所代表的名称如下100、电容式多点触控系统，110、电容式触控面板，120、第一驱动感测装置，130、第二驱动感测装置，140、控制装置，112、第一导体线，111、第二导体线，141、存储单元
具体实施例方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对本发明作进一步详细说明。本发明为一种利用自电容与互电容感应交替扫猫以去除触控噪声的方法，用于一电容式多点触控系统中，图10为该电容式多点触控系统100的方块图，图11为本发明的利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法的流程图。如图10所示，该电容式多点触控系统100包含一电容式触控面板110、一第一驱动感测装置120、一第二驱动感测装置130和一控制装置140。所述电容式触控面板110具有于第一方向(X方向)分布的m条第一导体线112以及于第二方向(Y方向)分布的n条第二导体线111，其中，m、n为大于I的整数，第一方
向及第二方向互相垂直。所述第一驱动感测装置120和第二驱动感测装置130分别具有一第一工作模式和一第二工作模式。当所述第一驱动感测装置120和第二驱动感测装置130在所述第一工作模式时，执行自感电容驱动感测，以及当所述第一驱动感测装置120和第二驱动感测装置130在所述第二工作模式时，则执行互感电容驱动感测。所述控制装置140具有一存储单元141。参照图11所示的流程图，首先于步骤A中，所述控制装置140对所述第一驱动感测装置120和第二驱动感测装置130执行初始化。于步骤B中，所述控制装置140分别设定所述第一驱动感测装置120和/或第二驱动感测装置130为所述第一工作模式，以对所述电容式触控面板110进行至少一次自感电容驱动感测，进而找出一第一可能触控范围，并将所述第一可能触控范围储存于所述存储单元141中。图12为本发明使用自感电容驱动感测的示意图。进一步地，步骤B使用自感电容驱动感测来侦测所述电容式触控面板110上的触碰范围。步骤B可以使用至少一次平均的结果或是至少一次的有效结果来当作触控范围数据。使用自感电容驱动感测可以在实施互感电容型感测技术之前、之后或各个不同流程顺序中，有助于排除杂点而保留真实触控点。步骤B为进行至少一次自感电容驱动感测，以产生一自感电容影像未处理数据，所述控制装置140依据所述自感电容影像未处理数据是否大于一第一门限值Thl，以找出所述第一可能触控范围。当所述自感电容影像未处理数据大于所述第一门限值Thl时，所述控制装置140判定该处为触碰点，藉此找出所述第一可能触控范围。由于使用自感电容驱动感测，故所述自感电容影像未处理数据的数据量为m+n笔数据，其中，m和n为大于I的整数。如图12 所示，该第一可能触控范围可为{(D6, S4)、(D6, S5)、(D6, S6)、(D7, S4)、(D7, S5)、(D7, S6)、(D8, S4)、(D8, S5)、(D8, S6)}。于步骤C中，所述控制装置140设定所述第一驱动感测装置120和第二驱动感测装置130为所述第二工作模式，以对所述电容式触控面板110进行至少一次互感电容驱动感测，进而找出一第二可能触控范围，并将所述第二可能触控范围储存于所述存储单元141中。图13为本发明使用互感电容型感测的示意图。进一步地，步骤C使用互感电容型感测技术来侦测所述电容式触控面板110上可能产生的触控点的合理位置，也可使用至少一次平均的结果或是至少一次的有效结果当作触控点数据，互电容触控技术可以实施在自电容触控技术之前、之后或各个不同流程顺序中，有助于接下来的坐标输出的流程点实施。于步骤C中，进行至少一次互感电容驱动感测，以产生一互感电容影像未处理数据，所述控制装置140依据所述互感电容影像未处理数据是否大于一第二门限值Th2，以找出所述第二可能触控范围。当所述互感电容影像未处理数据中大于所述第二门限值Th2时，所述控制装置140判定该处为有触碰点，藉此找出所述第二可能触控范围。由于使用互感电容驱动感测，故所述互感电容影像未处理数据的数据量为mXn笔数据，m和n均为大于I的整数。第一门限值和第二门限值都是本领域技术人员根据经验取得。
如图13 所示，该第二可能触控范围可为{(D3，S5)、(D7，S4)、(D7，S5)、(D8，S4)、(D8, S5)、(D8, S6)}。于步骤D中，判断所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围是否有交集。于步骤D中，计算所述第一可能触控范围中的每一元素与所述第二可能触控范围每一元素的距离，由这些判断可得一可能触控范围交集。即依序计算所述第一可能触控范围中的元素与所述第二可能触控范围每一元素的距离，并判断所计算的这些结果中是否有一个距离值为0，若是，则表示所述第一可能触控范围中的元素也在所述第二可能触控范围内，故所述第一可能触控范围中的元素为所述可能触控范围交集的元素。当判断所计算的距离均不为0，则表示所述第一可能触控范围中的元素不在所述第二可能触控范围内，故所述第一可能触控范围中的元素不是所述可能触控范围交集的元素。例如，所述第一可能触控范围中的(D6，S4)与所述第二可能触控范围中的任一个元素{(D3, S5)、(D7, S4)、(D7, S5)、(D8, S4)、(D8, S5)、(D8, S6)}的距离均大于 0，因此(D6, S4)不是所述可能触控范围交集的元素，而所述第一可能触控范围中的(D7，S4)与所述第二可能触控范围中的(D7，S4)的距离为0，因此所述第一可能触控范围中的(D7，S4)为所述可能触控范围交集的元素。前述方式是以所述第一可能触控范围中的元素为基础，以计算该元素与所述第二可能触控范围中的每一元素的距离，以判断所述第一可能触控范围中的元素是否为所述可能触控范围交集的元素。也可以所述第二可能触控范围中的元素为基础，以计算该元素与所述第一可能触控范围中的每一元素的距离，以判断所述第二可能触控范围中的元素是否为所述可能触控范围交集的元素。例如，所述第二可能触控范围中的(D3，S5)与所述第一可能触控范围中的任一个元素{(D6, S4)、(D6, S5)、(D6, S6)、(D7, S4)、(D7, S5)、(D7, S6)、(D8, S4)、(D8, S5)、(D8, S6)}的距离均大于0，因此(D3，S5)不是所述可能触控范围交集的元素。为求更准确计算出触碰点的坐标，也可先以所述第一可能触控范围中的元素为基础以计算该元素与所述第二可能触控范围中的每一元素的距离，再以所述第二可能触控范围中的元素为基础，以计算该元素与所述第一可能触控范围中的每一元素的距离而获得所述可能触控范围交集。若有，即若所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围有交集，则于步骤E中，产生所述可能触控范围交集，并依据所述可能触控范围交集以计算触碰点的坐标。图14为本发明产生一可能触控范围交集的示意图。当执行步骤B和步骤C之后，可先通过自感电容驱动感测找出有效的触控范围，再通过互感电容型感测找出有效的触控点，如图14所示。其先将可能的触控位置经由多次自感电容驱动感测侦测出来(包含鬼点)，再与互感电容型感测技术侦测触控面板，比对两者数据共通性，判断出没有受噪声影响的数据。也可将所得到的触控范围与可能的触控点作比较，其中，触控范围可以是感测轴上可能的触控范围、驱动轴上可能的触控范围或是感测及驱动轴上可能的触控范围。可能的触控点为手指或触控介质的感测点、噪声或其他内外因素产生的杂点，实施例中在可能的触控范围寻找触控点，亦可在可能的触控点找出对应有效的触控范围。如图14所示,该可能触控范围交集为{(D7, S4)、(D7, S5)、(D8, S4)、(D8, S5)、(D8, S6)}。
图15为本发明产生一可能触控范围交集的另一示意图。其先通过互容触控找出有效的触控范围，再通过自容触控找出有效的触控点。于步骤F中，输出触碰点的坐标。此外，于步骤D中，若判定所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围没有交集，则重新执行步骤B。图16为本发明一应用的示意图。当电容式触控面板110上有水滴时，对互感电容驱动感测技术而言，只能侦测到负值，无法有效地判断触碰点的坐标。然而，对自感电容驱动感测技术而言，水滴跟手指的触碰反应一样，所以利用本发明技术而得知水滴的存在，以进行后续的处理。由前述说明可知，单独使用互感电容型感测技术可能会产生许多杂点，甚至会使原本的触碰点消失。因此本发明整合自感电容驱动感测和互感电容型感测技术,将坐标数据进行相互比对，即先将可能的触控位置经由自容式侦测出来(包含鬼点)，再与互容式触控技术侦测触控面板，比对两者数据共同性，以判断出没有受噪声影响的数据，进而输出真实坐标。此方法可以减少滤波电路的使用与设计，因此能以较少的系统资源得到正确且稳定的坐标输出。而本发明使用自电容触控技术，具有在驱动或感测线上不易受噪声干扰的特性，先使用自电容标记出合理的触控发生范围，辅以互电容触控技术能正确找出触碰点的特性，进而达成滤除噪声的目的。以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
权利要求
1.一种利用自电容与互电容感应交替扫猫以去除触控噪声的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包含一电容式触控面板、一第一驱动感测装置、一第二驱动感测装置和一控制装置，所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置分别具有一第一工作模式和一第二工作模式，其中，当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第一工作模式时，执行一自感电容驱动感测，以及当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第二工作模式时，执行一互感电容驱动感测，所述方法包含下列步骤: 步骤A、所述控制装置对所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置执行初始化； 步骤B、设定所述第一驱动感测装置和/或第二驱动感测装置为所述第一工作模式，以对所述电容式触控面板进行所述自感电容驱动感测，以找出一第一可能触控范围，并将所述第一可能触控范围储存于所述存储单元中； 步骤C、设定所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置为所述第二工作模式，以对所述电容式触控面板进行所述互感电容驱动感测，以找出一第二可能触控范围，并将所述第二可能触控范围储存于所述存 储单元中； 步骤D、判断所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围是否有交集；以及 步骤E、若有，则产生一可能触控范围交集，并依据所述可能触控范围交集计算触碰点的坐标。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤D中，若判定所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围没有交集，则重新执行步骤B。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包含: 步骤F:输出所述触碰点的坐标。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤B中，进行至少一次所述自感电容驱动感测，以产生一自感电容影像未处理数据，所述控制装置依据所述自感电容影像未处理数据是否大于一第一门限值，以判断所述第一可能触控范围。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤C中，进行至少一次所述互感电容驱动感测，以产生一互感电容影像未处理数据，所述控制装置依据所述互感电容影像未处理数据是否大于一第二门限值，以判断所述第二可能触控范围。
6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述电容式触控面板具有于一第一方向分布的m条第一导体线，以及于一第二方向分布的n条第二导体线，所述自感电容影像未处理数据的数据量为m+n笔数据，m及n皆为大于I的整数。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电容式触控面板具有于一第一方向分布的m条第一导体线，以及于一第二方向分布的n条第二导体线，所述互感电容影像未处理数据的数据量为mXn笔数据，m及n皆为大于I的整数。
8.如权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤D包括:计算所述第一可能触控范围中的每一元素与所述第二可能触控范围每一元素的距离，由所述距离获得所述可能触控范围交集。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，步骤D中，依序计算所述第一可能触控范围中的元素与所述第二可能触控范围每一元素的距离，并判断所述计算的多个结果中是否有一为O，若是，则所述第一可能触控范围中的元素为所述可能触控范围交集的元素。
10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，步骤D中，当所计算的距离均非为0，则所述第一可能触控范围中的元素不为该可能触控范围交集的元素。
11.一种利用自电容与互电容感应交替扫猫以去除触控噪声的方法，用于一电容式多点触控系统，所述电容式多点触控系统包含一电容式触控面板、一第一驱动感测装置、一第二驱动感测装置和一控制装置，所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置分别具有一第一工作模式和一第二工作模式，其中，当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第一工作模式时，执行一自感电容驱动感测，以及当所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置在所述第二工作模式时，执行一互感电容驱动感测，所述方法包含下列步骤: 步骤A、所述控制装置对所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置执行初始化； 步骤B、设定所述第一驱动感测装置和第二驱动感测装置为所述第二工作模式，以对所述电容式触控面板进行所述互感电容驱动感测，以找出一第一可能触控范围，并将所述第一可能触控范围储存于所述存储单元中； 步骤C、设定所述第一驱动感测装置和/或第二驱动感测装置为所述第一工作模式，以对所述电容式触控面板进行所述自感电容驱动感测，以找出一第二可能触控范围，并将所述第二可能触控范围储存于所述存储单元中； 步骤D、判断所述第二可能触控范围与所述第一可能触控范围是否有交集；以及步骤E、若有，则产生一可能触控范围交集，并依据所述可能触控范围交集计算触碰点的坐标。
全文摘要
本发明提供一种利用自电容与互电容感应交替扫瞄以去除触控噪声的方法，包括一控制装置对一第一驱动感测装置和一第二驱动感测装置执行初始化，并将其设定为第一工作模式，以对触控面板进行至少一次自感电容驱动感测，进而找出第一可能触控范围，以及控制装置再设定第一驱动感测装置和第二驱动感测装置为第二工作模式，以对触控面板进行至少一次互感电容驱动感测，进而找出一第二可能触控范围，控制装置判断第二可能触控范围与第一可能触控范围是否有交集，若有，则产生一可能触控范围交集进而计算触碰点的坐标。
文档编号G06F3/044GK103076939SQ201310045849
公开日2013年5月1日 申请日期2013年2月5日 优先权日2013年2月5日
发明者黄鑫茂, 游翔钲, 龚至宏, 黄世新 申请人:旭曜科技股份有限公司