一种异形非接触ic卡智能测试仪的制作方法
【专利摘要】实用新型公开了一种异形非接触IC卡智能测试仪，旨在提供一种检测准确度高且检测过程效率高的异形非接触IC卡智能测试仪。它包括测试主体，测试主体的表面设有IC卡感应区，测试主体的侧面设有用于与PC机连接的第一通讯接口和若干用于与PC机连接的第二通讯接口，测试主体的内部设有MCU控制器、若干读卡器、与读卡器相对应的天线模块和用于控制天线模块的控制模块，MCU控制器连接读卡器和控制模块，读卡器连接天线模块，控制模块连接天线模块，MCU控制器通过第一通讯接口与PC机连接，所述的读卡器通过第二通讯接口与PC机连接。本实用新型的有益效果是：检测准确度高，检测过程效率高，使用范围广。
【专利说明】一种异形非接触IC卡智能测试仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及非接触式IC卡的测试相关【技术领域】，尤其是指一种异形非接触IC卡智能测试仪。
【背景技术】
[0002]非接触式IC卡又称射频卡，非接触式IC卡与读写设备无电路接触、由非接触式的读写技术进行读写(例如光或无线电技术)，其内嵌芯片除了存储单元，控制逻辑外，还增加了射频收发电路。目前非接触式IC卡的应用越来越广泛，例如:交通卡、门禁控制卡、电子消费卡、银行卡等领域都在不断应用非接触式IC卡，且均须符合IS07816标准；同时，还有许多各种各样的符合IS07816标准异形非接触式IC卡，形状上是各式各样，更能融入于市场需求。
[0003]一张普通的IC卡，从芯片绑定到封装成成品，需要经过许许多多的特殊工艺，它首先将IC芯片与一定大小的铜线或铜箔天线焊接后，将其按一定的数量排列层压在PVC材料中，经过层压后，含IC芯片的PVC材料通常叫中料或INLAY，这些都是由IC卡本身的性质所决定的。其中很重要的一个环节，就是对INLAY的检测，传统的做法，对每个IC卡的INLAY都是用一个13.56兆频率的非接触式IC卡的读写设备进行单个检测，这种测试方法最主要的缺陷是:(I)准确度不高，存在有相邻的干扰；(2)效率低，当检测完所有的INLAY时，至少需要几分钟，而且还存在漏测现象。
[0004]因此，一种准确度和效率更高的测试装置成为了 IC卡生产商的迫切需求。
实用新型内容
[0005]本实用新型是为了克服现有技术中检测非接触IC卡准确度不高且效率低下的不足，提供了一种检测准确度高且检测过程效率高的异形非接触IC卡智能测试仪。
[0006]为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案:
[0007]一种异形非接触IC卡智能测试仪，包括测试主体，所述测试主体的表面设有IC卡感应区，所述测试主体的侧面设有用于与PC机连接的第一通讯接口和若干用于与PC机连接的第二通讯接口，所述测试主体的内部设有MCU控制器、若干读卡器、与读卡器相对应的天线模块和用于控制天线模块的控制模块，所述的MCU控制器连接读卡器和控制模块，所述的读卡器连接控制模块，所述的控制模块连接天线模块，所述的MCU控制器通过第一通讯接口与PC机连接，所述的读卡器通过第二通讯接口与PC机连接。
[0008]将IC卡放置于IC卡感应区之上，PC机发出检测指令，通过第一通讯接口给MCU控制器，MCU控制器通过控制模块控制天线模块，通过天线模块来检测IC卡内部的情况，然后将检测到的结果通过控制模块传递给读卡器，读卡器一方面将信息反馈给MCU控制器，另一方面通过第二通讯接口发送给PC机，这样设计不需要单独一个个的对天线进行检测，而且能够对指定的天线进行直接检测，达到了检测准确度高且检测过程效率高的目的。
[0009]作为优选，所述的天线模块包括若干天线，所述的控制模块包括选择器、与天线相对应的微型继电器和用于驱动微型继电器的驱动电路，所述的MCU控制器连接选择器，所述的选择器连接驱动电路，所述的驱动电路连接微型继电器，所述的微型继电器连接天线。
[0010]作为优选，所述的读卡器输入端连接微型继电器的输入端，所述的读卡器输出端连接MCU控制器的输入端。
[0011]作为优选，所述的天线模块安装在与IC卡感应区相对应的位置，所述天线模块的发射频率与读卡器的频率一致。
[0012]作为优选，所述测试主体的表面设有用于显示检测结果的IXD显示屏，所述的IXD显示屏连接MCU控制器。
[0013]作为优选，所述测试主体的侧面设有用于播报检测结果的语音提醒装置，所述的语音提醒装置连接MCU控制器。
[0014]作为优选，所述的第一通讯接口为RS232接口。
[0015]作为优选，所述的第二通讯接口为RS232接口或者USB接口。
[0016]本实用新型的有益效果是:检测准确度高，通过PC机运行程序进而对IC卡进行检测，用RS232串口自动逐个切换扫描，最大限度的减少人为的错误；检测过程效率高，通过多个读卡器同时操作，比现有技术的单个检测速度提高多倍；使用范围广，只要将IC卡置于IC卡感应区内即可对其进行检测。
【专利附图】
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型检测主体的结构示意图；
[0018]图2是本实用新型的检测原理框图。
[0019]图中:1.测试主体，2.1C卡感应区，3.第一通讯接口，4.第二通讯接口，5.1XD显示屏，6.语音提醒装置，7.PC机，8.MCU控制器，9.读卡器，10.天线模块，11.天线，12.选择器，13.微型继电器，14.驱动电路。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型做进一步的描述。
[0021]如图1、图2所述的实施例中，一种异形非接触IC卡智能测试仪，包括测试主体1，测试主体I的表面设有IC卡感应区2和用于显示检测结果的IXD显示屏5，测试主体I的侧面设有用于播报检测结果的语音提醒装置6、用于与PC机7连接的第一通讯接口 3和若干用于与PC机7连接的第二通讯接口 4，其中:第一通讯接口 3为RS232接口，第二通讯接口 4为RS232接口或者USB接口，本实施例中采用USB接口，测试主体I的内部设有MCU控制器8、若干读卡器9、与读卡器9相对应的天线模块10和用于控制天线模块10的控制模块，MCU控制器8连接LCD显示屏5、语音提醒装置6、读卡器9和控制模块，读卡器9连接控制模块，控制模块连接天线模块10，MCU控制器8通过第一通讯接口 3与PC机7连接，读卡器9通过第二通讯接口 4与PC机7连接。天线模块10包括若干天线11，控制模块包括选择器12、与天线11相对应的微型继电器13和用于驱动微型继电器13的驱动电路14，MCU控制器8连接选择器12，选择器12连接驱动电路14，驱动电路14连接微型继电器13，微型继电器13连接天线11。读卡器9输入端连接微型继电器13的输入端，读卡器9输出端连接MCU控制器8的输入端。天线模块10安装在与IC卡感应区2相对应的位置，天线模块10的发射频率与读卡器9的频率一致。
[0022]将IC卡放置于IC卡感应区2之上，PC机7发出检测指令，通过第一通讯接口 3发送给MCU控制器8信息，MCU控制器8将信息发送给选择器12，选择器12进行选择对应需要检测天线11的天线模块10时，通过驱动电路14驱动微型继电器13来控制天线模块10，通过天线模块10来检测IC卡内部的情况，然后将检测到的结果从天线模块10通过微型继电器13传递给读卡器9，读卡器9 一方面将信息反馈给MCU控制器8，MCU控制器8将检测结果显示在IXD显示屏5上并同时通过语音提醒装置6进行语音提醒，另一方面通过第二通讯接口 4发送给PC机7，并进行下一次的测试。
[0023]以上所述实施例仅表达了本实用新型的【具体实施方式】，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，包括测试主体(1)，所述测试主体(I)的表面设有IC卡感应区(2)，所述测试主体(I)的侧面设有用于与PC机(7)连接的第一通讯接口( 3 )和若干用于与PC机(7 )连接的第二通讯接口( 4)，所述测试主体(I)的内部设有MCU控制器(8 )、若干读卡器(9 )、与读卡器(9 )相对应的天线模块(10 )和用于控制天线模块(10)的控制模块，所述的MCU控制器(8)连接读卡器(9)和控制模块，所述的读卡器(9)连接控制模块，所述的控制模块连接天线模块(10)，所述的MCU控制器(8)通过第一通讯接口(3 )与PC机(7 )连接，所述的读卡器(9 )通过第二通讯接口( 4 )与PC机(7 )连接。
2.根据权利要求1所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述的天线模块(10 )包括若干天线(11 )，所述的控制模块包括选择器(12 )、与天线(11)相对应的微型继电器(13)和用于驱动微型继电器(13)的驱动电路(14)，所述的MCU控制器(8)连接选择器(12)，所述的选择器(12)连接驱动电路(14)，所述的驱动电路(14)连接微型继电器(13)，所述的微型继电器(13 )连接天线(11)。
3.根据权利要求2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述的读卡器(9)输入端连接微型继电器(13)的输入端，所述的读卡器(9)输出端连接MCU控制器(8)的输入端。
4.根据权利要求1或2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述的天线模块(10)安装在与IC卡感应区(2)相对应的位置，所述天线模块(10)的发射频率与读卡器(9)的频率一致。
5.根据权利要求1所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述测试主体(I)的表面设有用于显示检测结果的IXD显示屏(5 )，所述的IXD显示屏(5 )连接MCU控制器(8)。
6.根据权利要求1或2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述测试主体(I)的侧面设有用于播报检测结果的语音提醒装置(6 )，所述的语音提醒装置(6 )连接MCU控制器(8)。
7.根据权利要求1或2或3或5所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述的第一通讯接口(3)为RS232接口。
8.根据权利要求1或2或3或5所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪，其特征是，所述的第二通讯接口(4)为RS232接口或者USB接口。
【文档编号】G06K7/00GK203405823SQ201320413263
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年7月11日 优先权日:2013年7月11日
【发明者】忻伟 申请人:上海聚硕科技有限公司