基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法
【专利摘要】本发明涉及一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，属于集成电路设计与制造领域。本发明利用信度规则库(BRB)建模集成电路参数变量输入与成品率输出之间的映射关系。利用信度规则前项属性的参考值、后项属性的信度结构，建模输入和输出量之间的变化关系。构造优化函数，利用有限的训练样本优化信度规则库中的参数。在给定电路参数变量作为信度规则库输入的情况下，通过规则推理，能够精确和快速地估计出集成电路的成品率。与普遍采用的传统蒙特卡洛采样估计方法相比，所提出的估计方法大大节省了计算成品率的时间花销，提高了电路设计的效率。
【专利说明】基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，属于集成电路设计与制造领域。
【背景技术】
[0002]在集成电路批量制造过程中，优化集成电路产品的成品率已成为降低生产成本，提闻生广效益的关键因素之一。集成电路参数变量的统计分布决定了广品的成品率，在给定电路参数变量统计分布的情况下，如何准确和快速地估计出电路的参数成品率，是进一步实施电路优化设计的基础。目前，用于成品率估计的传统方法主要是蒙特卡洛采样(Monte Carlo)方法。该方法原理简单，但需要进行大量的电路仿真才能估计出成品率，从而导致电路设计的效率低下。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是提出一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，建立信度规则库描述集成电路参数变量与输出成品率之间的关系。通过有限的训练样本对信度规则库中的参数进行优化，使得在给定电路参数变量的情况下，可以通过信度规则推理精确和快速地估计出电路的成品率。与蒙特卡洛采样方法相比，所提方法大大节省了估计成品率的时间花销，提闻了电路设计的效率。
[0004]本发明提出的一种基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，包括以下各步骤:
[0005](I)给定集成电路的性能函数
[0006]y = f (x1； X2,..., χτ)(I)
[0007]其中，y为集成电路的性能参数&为集成电路性能函数f的输入，代表集成电路中电路元件的参数，Xi是在区间[LyRi]上符合正态分布的随机变
量，-⑴〈W+ CO，'为 Xi 的均值，
【权利要求】
1.基于信度规则库推理的集成电路参数成品率估计方法，其特征在于该方法包括以下各步骤: 步骤(1)给定集成电路的性能函数 y = f (x1； X2,..., χτ)(I) 其中，I为集成电路的性能参数A为集成电路性能函数f的输入，代表集成电路中电路元件的参数，Xi是在区间[Li, Ri]上符合正态分布厲Atf.σ~ >的随机变量，-OO〈 W+οο，μΧι 为 Xi 的均值，A1 € [jLm , Rn ] , -*< ￡-λ < <+m, 为 Xi 的方差，且满足 =(r-.//, /4)2 , Ti为集成电路元件参数偏差幅度的倍数，TiE [0.01,0.1]，其中i =I, 2...，T, T ^ I，表示集成电路元件参数的个数； 步骤(2)给出集成电路成品率Y的计算公式
【文档编号】G06F17/50GK103955580SQ201410184786
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年5月4日 优先权日:2014年5月4日
【发明者】徐晓滨, 刘征, 张镇, 文成林 申请人:杭州电子科技大学