一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，包括有以下步骤：根据电容触控膜的尺寸将其按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区；分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片；分别触发电容触控膜长和宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描；读取上述同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信息。本发明方法对电容触控膜采用分区并行处理的方法，从长和宽两个方向将膜分成适用于单个芯片处理的分区，解决了大尺寸电容触控膜难以快速扫描检测的问题，并且利用并行处理将处理时间极大地减小，提高处理效率和精度。本发明作为一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法可广泛应用于电容检测领域。
【专利说明】一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电容检测领域，尤其是一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法。
【背景技术】
[0002]电容触控技术经过多年的发展，在小尺寸领域已经非常成熟，大量使用在手机、平板等消费电子设备上。但大尺寸领域，发展相当缓慢，原因主要有两个方面:一个是目前电容触控膜基本上都是采用ITO原材料，价格昂贵；另一个是当前电容膜生产基本都是采用溅射工艺，不仅会带来原材的一定程度浪费，而且产线建设投入巨大。在这种背景下，电容触控扫描检测技术发展情况与电容膜的发展情况基本吻合，针对小尺寸的扫描检测技术相当成熟，市面上有众多的方案供应商，但这些方案商目前都没有针对超大尺寸的电容触控扫面检测提供相关的解决方案。
[0003]当前电容触控扫描基本上是一张膜，一个扫描检测专用芯片，采用时序的策略进行处理，即按照一定的规则(比如从上到下，从左到右)，逐个通道扫描检测。这种解决方案基本上是用来解决小尺寸电容膜(15尺以下)，其对应的电容通道数在2(Γ60个之间，基本上不会超过70个。这种解决方案用来处理小尺寸电容触控膜，有足够的余量来平衡速度和灵敏度的指标，以保证良好的用户体验。
[0004]目前在42尺及以上的电容触控膜领域，没有专用IC解决方案。如果借用小尺寸扫描检测思路来处理超大尺寸电容触控膜，则会遇到一定的局限。超大尺寸电容膜的通道数一般都是好几百个，数量是小尺寸的好几倍，这就意味着，按照同样的处理方案，如果想在同样的时间内扫描检测完所有通道，则需要大幅度缩短每一个通道的扫描时间，通道检测速度过快，则会大幅度降低感应灵敏度，这会导致在实际的应用中会漏掉很多触控操作。如果不按照不缩短单通道的扫描检测时间，则扫描完所有通道，则需要很长的时间周期，在实际的应用中会迟滞现象，即用户操作完之后需要过一段时间才能显示出来，这样的结果是用户无法接受的。
【发明内容】
[0005]为了解决上述技术问题，本发明的目的是:提供一种大尺寸电容触控膜的高灵敏度、快速扫描检测方法。
[0006]本发明所采用的技术方案是:将大尺寸电容触控膜分成单个电容检测芯片可检测的分区，每块分区的扫描策略跟现有技术中小尺寸电容触控膜的扫描策略一样，即在扫描的过程中不压缩单个通道的扫描检测时间，保证电容触控的灵敏度，各个模块并行工作并且并行采集扫描的信息，这样扫描检测N个模块跟扫描检测一个模块所用的时间是一样，对于整体而言，与现有的时序扫描检测策略相比，大幅度缩短了整体扫描所需要的时间，不仅可以保证扫描检测速度指标，而且可以不改变原有的灵敏度。
[0007]—种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，包括有以下步骤:
Α、根据电容触控膜的尺寸，将电容触控膜按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区；
B、分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片；
C、触发电容触控膜长的方向连接的电容检测芯片同步扫描；
D、触发电容触控膜宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描；
E、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信肩、O
[0008]进一步，所述步骤A中，同一方向上区域的通道数在单个电容检测芯片所能接入的最大通道数之内。
[0009]进一步，所述步骤A中，同一方向上区域的通道数平均分配。
[0010]进一步，所述步骤E包括有以下子步骤:
E1、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据；
E2、计算每个分区的触控情况，得到触摸坐标信息。
[0011]进一步，还包括有步骤E3:
若上述触控情况中存在多个分区得到触摸坐标信息，则根据触摸坐标信息判断是否为单点触控。
[0012]进一步，所述单点触控的判断方法为:若多个分区得到的触摸坐标信号在分区交界边缘处且触控点到分区边界的距离小于每个通道所占的分辨率，则是单点触控，否则判断为异常情况。
[0013]本发明的有益效果是:本发明方法对电容触控膜采用分区并行处理的方法，从长和宽两个方向将膜分成适用于单个芯片处理的分区，解决了大尺寸电容触控膜难以快速扫描检测的问题，并且利用并行处理将处理时间极大地减小，提高处理效率和精度。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本发明方法的主步骤流程图；
图2为本发明方法中电容触控膜分区示意图；
图3为本发明电容触控膜与电容检测芯片连接示意图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本发明的【具体实施方式】作进一步说明:
参照图1，一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，包括有以下步骤:
A、根据电容触控膜的尺寸，将电容触控膜按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区；
参照图2，将大尺寸的电容触控膜按照长和宽两个方向分成nXm个分区
B、分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片，如图3所示；
C、触发电容触控膜长的方向连接的电容检测芯片同步扫描；
D、触发电容触控膜宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描；
分块完成以后，给每块分区配置的一个电容检测芯片可以独立完成单独区域的扫描检测，同一方向同步触发扫描检测，即长方向(Cul，Cu..., Cun)同步触发扫描；宽方向(Lul，Lu..., Lum)同步触发扫描。因此每次扫描的时间跟单芯片的扫描时间是完全一致的。
[0016]E、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信息。
[0017]进一步作为优选的实施方式，所述步骤A中，同一方向上区域的通道数在单个电容检测芯片所能接入的最大通道数之内。
[0018]最大通道数跟电容检测芯片相关，例如ATA5008可以接入的最大通道数为42个。
[0019]进一步作为优选的实施方式，所述步骤A中，同一方向上区域的通道数平均分配。
[0020]为了保持同一个方向上每个检测芯片的尽可能同步，分区方式上采用均分的原贝U。例如42尺16:9的电容触控膜，长约920mm，高约520mm，假设以常规的1mm作为通道间距，就可以得到42尺电容膜长有92个通道，宽有52个通道；于是在长方向通道分成3块，每块31个通道，在单个ATA5008检测范围内，高方向通道分成2块，每块26个通道，在单个ATA5008检测范围内。因此，对于42寸的电容膜，一共采用5块电容检测芯片，其中长方向3个，高方向2个。其它尺寸也是遵守这一个原则:同一方向通道数均分，单块通道数在单个芯片的检测范围内。
[0021]进一步作为优选的实施方式，所述步骤E包括有以下子步骤:
E1、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据；
E2、计算每个分区的触控情况，得到触摸坐标信息。
[0022]进一步作为优选的实施方式，还包括有步骤E3:
若上述触控情况中存在多个分区得到触摸坐标信息，则根据触摸坐标信息判断是否为单点触控。
[0023]进一步作为优选的实施方式，所述单点触控的判断方法为:若多个分区得到的触摸坐标信号在分区交界边缘处且触控点到分区边界的距离小于每个通道所占的分辨率，则是单点触控，否则判断为异常情况。
[0024]在同一方方向如果只有一个分区有触控坐标信息，该触控坐标信息就是整个膜的这个方向的触控坐标，如果两块交界边缘都有触控(触控点到分块边界的距离小于每个通道所占的分辨率)，则求两坐标平均得到膜在这个方向的坐标，如果有两个或者两个以上的触控点，且这些点都远离边缘(触控点到分界边界的距离大于通道所占分辨率)，可以做区域多点触控处理或者异常处理，通常情况下电容检测只考虑单一触控的情况。
[0025]以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可以作出种种的等同变换或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
【权利要求】
1.一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，其特征在于:包括有以下步骤: A、根据电容触控膜的尺寸，将电容触控膜按照长和宽的方向分成单个电容检测芯片处理的分区； B、分别按照电容触控膜长和宽的方向区域的个数连接电容检测芯片； C、触发电容触控膜长的方向连接的电容检测芯片同步扫描； D、触发电容触控膜宽的方向连接的电容检测芯片同步扫描； E、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据，计算电容触控膜的触摸坐标信肩、O
2.根据权利要求1所述的一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，其特征在于:所述步骤A中，同一方向上区域的通道数在单个电容检测芯片所能接入的最大通道数之内。
3.根据权利要求2所述的一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，其特征在于:所述步骤A中，同一方向上区域的通道数平均分配。
4.根据权利要求1所述的一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法，其特征在于:所述步骤E包括有以下子步骤: E1、读取上述长和宽的方向同步扫描得到的坐标数据； E2、计算每个分区的触控情况，得到触摸坐标信息。
5.根据权利要求4所述的一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法,其特征在于:还包括有步骤E3: 若上述触控情况中存在多个分区得到触摸坐标信息，则根据触摸坐标信息判断是否为单点触控。
6.根据权利要求5所述的一种大尺寸电容触控膜的快速扫描检测方法,其特征在于:所述单点触控的判断方法为:若多个分区得到的触摸坐标信号在分区交界边缘处且触控点到分区边界的距离小于每个通道所占的分辨率，则是单点触控，否则判断为异常情况。
【文档编号】G06F3/044GK104461197SQ201410718858
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年11月26日 优先权日:2014年11月26日
【发明者】曾德文, 彭海炎, 吴晓鸰, 王砚文, 陈传友, 钱小立, 侯伟强, 王文韬 申请人:广州中国科学院先进技术研究所