电容触控板和具有所述电容触控板的电容触控装置的制作方法

本发明的示例性实施例涉及一种电容触控板和一种具有所述电容触控板的电容触控装置。更具体地，本发明的示例性实施例涉及具有在触摸区域降低了布线复杂性的电容触控板以及具有所述电容触控板的电容触控装置。

背景技术：

通常，触摸传感器是一种检测物体的存在的设备，所述物体例如为在指定输入区域内的手指或触控笔。触摸传感器的一种常见形式为触摸屏，其感测手指或触控笔在视觉显示器上的存在和位置。此类触摸屏可以在各种各样的电子设备中找到，略举数例，如ATM，家用电器，电视，蜂窝电话，便携式媒体播放器，个人数字助理和电子书。触摸屏以各种不同的形式存在，包括电阻式触摸屏，表面声波触摸屏，红外触摸屏和电容式触摸屏。

电阻式触摸屏包括多层电阻材料，所述电阻材料形成于基板上，如玻璃板或透明塑料板。其中，物体与电阻式触摸屏接触，它改变了跨一个或多个层的电流，而电流的改变被用于检测触摸事件。

表面声波触摸屏包括超声波发生器，所述超声波发生器穿过该触摸屏的表面发送超声波。其中，物体接近该触摸屏的表面时，超声波的一部分会被吸收或偏转，从而使得触摸事件被检测到。

红外触摸屏包括发光二极管(LED)，所述发光二极管穿过该触摸屏的表面发射红外光束，并包括检测光束的光电探测器。其中，当物体接近该触摸屏的表面时，所述光电探测器检测到一些红外光束的中断。中断光束的模式使得所述红外触摸屏检测到触摸事件。电容式触摸屏包括诸如玻璃的绝缘体和形成于该绝缘体上的透明导体，如氧化铟锡(ITO)。其中，当如手指之类的物体触摸电容式触摸屏时，它扭曲导体的静电场，其可作为电容的变化来测量。电容的变化被用于检测触摸事件。

在现有的触摸屏技术中，电阻式触摸屏是最常见的，这是由于其价格相对较低。然而，电阻式触摸屏的一个缺点是，它们通常每次只能感测一个触摸事件。因此，由于研究是在多点触摸用户界面上进行的，电容式触摸屏越来越受欢迎。

一种用于连接电容测量电路和触摸传感器的连接布线一般可以通过印刷含银颗粒的导电油墨制造，或者通过蒸发金属材料的布线制造，从而制造出触摸屏装置。触摸分辨率的提高，有可能增加连接布线的数量。特别是，大量连接布线被设置在触摸区域上，从而增加了布线复杂性而降低了触摸灵敏度。

技术实现要素：

本发明的这个方面旨在解决现有技术的问题，本发明的一个目的是提供一种电容触控板，实现在单层结构中的多点触控，以在触摸区域里具有降低的布线复杂性。

本发明的另一个目的是提供一种减少测量的触摸时间的失真的电容触控板，通过补偿触摸传感器和电容式触摸装置的两终端之间的电阻差以准确测量触摸位置。

本发明的另一个目的是提供一种电容式触控装置，其具有上述电容触控板。

根据本发明的一个方面，电容触控板包括多个主传感器和多个子传感器。主传感器被设置在触摸区域上。子传感器沿着与每个主传感器相邻的线上被设置。子传感器以一对多的方式设置而对应于一个主传感器。在此，设置在垂直于主传感器的长度方向的假想线上的子传感器彼此连接。

在一个示例性实施例中，沿一条线设置的所述主传感器和所述子传感器可以交替布置。

在一个示例性实施例中，与所述主传感器并联设置的子传感器可仅沿着一条线设置。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个主连接布线，所述主连接布线分别连接到主传感器的第一侧。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个子连接布线，所述子连接布线连接到设置在垂直于主传感器的长度方向的假想线上的子传感器。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括设置在与主传感器相邻的子连接布线和该主传感器之间的接地构件。

在一个示例性实施例中，所述主传感器和所述子传感器可包括金属网，银纳米线，碳纳米管和氧化铟锡(ITO)中的至少一种。

在一个示例性实施例中，设置在最外侧区域的子传感器的宽度可基本上等于设置在剩余区域的子传感器的宽度。

在一个示例性实施例中，设置在最外侧区域的子传感器的宽度比设置在剩余区域的子传感器的宽度更窄。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个次旁路布线，所述次旁路布线以一对一的对应关系设置在周边区域，以连接至所述子传感器的每个最外侧子传感器。

在一个示例性实施例中，每个主传感器可具有条形形状，而每个子传感器可具有矩形形状。

在一个示例性实施例中，每个主传感器可具有使多个菱形在其上彼此串联连接的形状，而每个子传感器可具有菱形形状。

在一个示例性实施例中，设置在彼此串联连接的子传感器构成的同一行上的每个子传感器可以连接到电容测量电路的不同端口，从而以自电容法感测到触摸位置。

一个示例性实施例中，设置在彼此串联连接的子传感器构成的同一行上的每个子传感器可以共同连接到电容测量电路，从而以互电容法感测到触摸位置。

根据本发明的另一方面，一种电容触控板包括多个主传感器和多个子传感器，所述多个主传感器沿着触摸区域的第一方向延伸以沿第二方向布置，与所述主传感器并联的所述多个子传感器以一对多的对应方式沿着第一方向布置。所述主传感器和与所述主传感器并联设置的所述子传感器被交替布置。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括连接到主传感器的第一侧的多个第一主连接布线和连接到主传感器的第二侧的多个第二主连接布线。在本文中，第一主连接布线和主传感器彼此连接于其上的一部分与第二主连接布线和主传感器彼此连接于其上的一部分，面对着彼此。

在一个示例性实施例中，子传感器的每个宽度可从触摸区域的中心部分朝着触摸区域的周边部分逐渐减小。

在一个示例性实施例中，可通过最外侧子传感器在子传感器之间形成狭缝部分，所述子传感器设置在彼此相邻的主传感器之间。

在一个示例性实施例中，设置在垂直于主传感器长度方向的假想线上的多个子传感器可以彼此并联连接。

在一个示例性实施例中，设置在垂直于主传感器长度方向的假想线上的多个子传感器可以彼此串联连接。

在一个示例性实施例中，设置在彼此相邻的主传感器之间的子传感器可具有相同的宽度，并且当从平面图观察时，每个子传感器可被转移到其上设置。

在一个示例性实施例中，设置在垂直于主传感器长度方向的假想线上的多个子传感器可以彼此并联连接。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个第一子连接布线，多个第二子连接布线，多个第一次旁路布线以及多个第二次旁路布线。所述第一子连接布线被连接至子传感器的一部分，当从平面图观察时，所述子传感器的该部分沿着第一方向布置并且沿着向上方向延伸。所述第二子连接布线被连接至子传感器或剩余的子传感器的一部分，并且当从平面图观察时，该部分沿着较低方向延伸。所述第一次旁路布线设置在围绕触摸区域的周边区域上，以一对一的对应关系被连接到每个第一子连接布线。所述第二次旁路布线设置在周边区域上，以一对一的对应关系被连接到每个第二子连接布线。

在一个示例性实施例中，第一旁路布线和第一子连接布线可以设置在彼此不同的层上。

在一个示例性实施例中，第二旁路布线和第二子连接布线可以设置在彼此不同的层上。

在一个示例性实施例中，主传感器可被设置以感测第一轴的触摸位置，而子传感器可被设置以感测第二轴的触摸位置。

在一个示例性实施例中，所述第一轴可以为X轴和Y轴中的至少一种，而所述第二轴则可为剩下的那个轴。

在一个示例性实施例中，当假设垂直于主传感器的长度方向且穿过主传感器的中心区域的一条线是一条假想线的时候，所述第一子连接布线可被连接至相对于假想线设置在上部区域的子传感器的第一和第二侧，并且所述第二子连接布线可被连接至相对于假想线设置在下部区域的子传感器的第一和第二侧。

在一个示例性实施例中，设置在与主传感器长度方向垂直的线上的子传感器的第一侧可被连接到第一子连接布线，并且设置在与主传感器长度方向垂直的线上的子传感器的第二侧可被连接到第二子连接布线。

在一个示例性实施例中，所述第一子连接布线可被设置在连接到第一子连接布线的子传感器与设置在相应的子传感器左侧的主传感器之间。所述第二子连接布线可被设置在连接到第二子连接布线的子传感器与设置在相应的子传感器右侧的主传感器之间。

根据本发明的另一方面，一种电容式触控装置包括电容触控板和电容测量电路。所述电容触控板包括设置在触摸区域上的多个主传感器和沿着与每个主传感器相邻的一条线设置的多个子传感器。所述子传感器以一对多的方式设置而对应于一个主传感器。电容测量电路分别连接到主传感器的两个终端和子传感器的两个终端，以感测主传感器和子传感器的电容变化，从而测量触摸位置。在此，设置在垂直于主传感器长度方向的假想线上的子传感器彼此连接。

在一个示例性实施例中，所述电容测量电路可基于主传感器测量触摸位置的第一轴值，并且可基于子传感器测量触摸位置的第二轴值。

在一个示例性实施例中，所述第一轴值可以是Y轴的值，而所述第二轴值可以是X轴的值。

在一个示例性实施例中，设置在彼此串联连接的子传感器构成的同一行上的每个子传感器可以连接到电容测量电路的不同端口，从而以自电容法感测到触摸位置。

在一个示例性实施例中，设置在彼此串联连接的子传感器构成的同一行上的每个子传感器可以共同连接到电容测量电路，从而以互电容法感测到触摸位置。

根据本发明的另一方面，一种电容式触控装置包括电容触控板和电容测量电路。所述电容触控板包括沿着触摸区域的第一方向延伸的以沿着第二方向布置的多个主传感器和以一对多的方式沿着第一方向与主传感器并联布置的多个子传感器。所述电容测量电路分别连接到主传感器的两个终端和子传感器的两个终端，以感测主传感器和子传感器的电容变化，从而测量触摸位置。在此，所述主传感器和与所述主传感器并联设置的子传感器交替布置。

在一个示例性实施例中，所述电容测量电路可基于主传感器测量触摸位置的第一轴值，并且可基于子传感器测量触摸位置的第二轴值。

在一个示例性实施例中，所述第一轴值可以是X轴的值，而所述第二轴值可以是Y轴的值。

在一个示例性实施例中，所述第一轴值可以是Y轴的值，而所述第二轴值可以是X轴的值。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个第一主连接布线，多个第二主连接布线，多个第一子连接布线以及多个第二子连接布线。所述第一主连接布线分别连接到主传感器的第一侧。所述第二主连接布线分别连接到主传感器的第二侧。所述第一子连接布线被连接至子传感器的一部分，当从平面图观察时，所述子传感器的该部分沿着第一方向布置并且沿着向上方向延伸。所述第二子连接布线被连接至子传感器或剩余的子传感器的一部分，并且当从平面图观察时，该部分沿着较低方向延伸。

在一个示例性实施例中，所述电容触控板还可包括多个第一次旁路布线和多个第二次旁路布线。所述第一次旁路布线设置在围绕触摸区域的周边区域上，以一对一的对应关系被连接到每个第一子连接布线。所述第二次旁路布线设置在周边区域上，以一对一的对应关系被连接到每个第二子连接布线。

根据所述电容触控板和具有该电容触控板的电容式触控装置，由于主传感器，子传感器，主连接布线，子连接布线，第一次旁路布线和第二次旁路布线设置在同一平面中，其可获得单层结构的电容触控板。

进一步地，主传感器和子传感器彼此独立地连接以获得一种电容触控板，使得其可实现多点触控。

进一步地，一条主连接布线被连接到主传感器，并且与主传感器相邻的子传感器彼此串联连接以连接到电容测量电路，从而可以降低触摸区域中布线的复杂性。

进一步地，配置一种电容测量电路，其被设置用于将参考信号施加到触摸传感器的第一侧，并且在通过该触摸传感器的第二侧产生触摸的时候接收具有变化电压的参考信号，所述变化电压由于在触摸传感器中形成的电阻和电容而产生。电容测量电路与触摸传感器之间的电阻差被补偿，以使得其可减少测量的触摸时间的失真，从而精确测量电压变化。

附图说明

本发明的上述和其它技术特征以及各方面，通过其详细的示例性实施例与参考附图的描述会变得更加清楚，其中：

图1为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图2为一幅框图，示意性地示出了图1中所示的电容测量电路；

图3为一幅框图，示意性地示出了图2中所示的电容测量电路；

图4为一幅电路图，示出了图2中所示的充/放电电路部分的一个实施例；

图5为一幅电路图，示出了图2中所示的充/放电电路部分的另一个实施例；

图6为一幅示意图，示意性地解释了通过图1中所示的电容触控板的电容感测；

图7为一幅曲线图，示意性地解释了感测信号沿图6中所示的第一感测方向和第二感测方向的延迟；

图8为一幅示意图，解释了图2中所示的复合开关；

图9A和9B为示意图，解释了电容感测信号的路径；

图10为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的一个实施例；

图11A-11C为平面图，示出了图10中所示的电容触控板的制造方法；

图12为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的另一个实施例；

图13为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的另一个实施例；

图14为一幅示意图，示出了通过图1中所示的电容触控板的触摸感测；

图15为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图16为一幅示意图，示出了通过图15中所示的电容触控板的触摸感测；

图17为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图18为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图19为一幅示意图，示出了通过图18中所示的电容触控板的触摸感测；

图20为一幅平面图，示意性地示出了图18中所示的电容触控板的一个变形例；

图21为一幅平面图，示意性地示出了图18中所示的电容触控板的一个变形例；

图22为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图23为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图24为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；

图25为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置；和

图26为一幅平面图，示意性地示出了图25中所示的电容触控板的一个变形例。

具体实施方式

以下对本发明的具体实施例进行了详细描述，但其只是作为范例，本发明并不限制于以下描述的具体实施例。对于本领域技术人员而言，任何对本发明进行的等同修改和替代也都在本发明的范畴之中。因此，在不脱离本发明的精神和范围下所作的均等变换和修改，都应涵盖在本发明的保护范围内。

应当理解的是，当元件或层被称为在另一元件或层“上”时，或“连接到”或“偶联至”另一元件或层时，其可直接处于另一元件或层之上、或直接连接、偶联至另一元件或层，或者可以存在中间元件或层。与此不同，当元件被称为“直接在另一元件或层上”，“直接连接到”或“直接偶联到”另一元件或层的时候，则不存在中间元件或层。相同的附图标记始终表示相同的元件。如本文所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关联的列出项目的任何和所有组合。

应当理解的是，虽然术语第一、第二、第三等在此可被用于描述各种元件，部件，区域，层和/或部分，但是这些元件，部件，区域，层和/或部分并不应受这些术语的限制。这些术语仅用于区分一个元件、部件、区域、层或部分和另一个区域、层或部分。因此，下文所述的第一元件，部件，区域，层或部分可被称为第二元件，部件，区域，层或部分，而没有脱离本发明的教导。

表示空间相对位置的术语，如“在……之下”，“下面”，“低于”，“在……之上”，“上面”等等，在本文中被用于易于描述如图所示的一个元件或特征与另一元件或特征之间的关系。应当理解的是，表示空间相对位置的术语，除了图中所示的取向之外，还旨在涵盖装置使用或操作时的不同取向。例如，如果图中的装置翻转，被描述为处于其它元件或特征“之下”或“下方”的元件将被定向为在该其它元件或特征“上方”。于是，示例性术语“在……之下”可以包括上方和下方的取向。该装置可以另外取向(旋转90度或在其它方向旋转)，而本文所使用的空间相对描述符可以得到相应地解释。

本文使用的术语旨在仅描述特定示例性实施例，而并不旨在限制本发明。可进一步理解的是，术语“包含”和/或“包括”，当在说明书中被使用时，指定所述特征、整体、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但是并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。

本发明的示例性实施例，在本文中参考横截面图示来描述，所述横截面图是本发明的理想化的示例性实施例(以及中间结构)的示意图。因此，例如，图示的形状的变化，作为制造技术和/或公差的结果，是可以预期的。因此，本发明的示例性实施例不应被解释为限于此处所示区域的特定形状，而应当被理解为包括在形状上的偏差，例如，由制造所导致的偏差。例如，示为矩形的注入区域将通常具有圆形或弯曲的特征和/或在其边缘的注入浓度的梯度，而非从注入区到非注入区的二进制变化。同样地，通过注入形成的掩埋区可导致在掩埋区域和表面之间的区域中的一些注入，通过此，发生注入。于是，图中所示的区域是示意性的，并且它们的形状并不旨在示出设备的区域的实际形状，并且不意欲限制本发明的范围。

在下文中，本发明将结合附图进行详细解释。

图1为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图1，根据本发明的一个示例性实施例所述的电容式触控装置100包括：电容触控板110和设置在电容触控板110上的电容测量电路120。

所述电容触控板110包括：基底111，多个主传感器112，多个子传感器113，所述子传感器以一对多的方式设置而与主传感器112并联，多个第一主连接布线114，多个第二主连接布线115，多个第一子连接布线116和多个第二子连接布线117。所述主传感器112，所述子传感器113，所述第一和第二主连接布线114和115，以及所述第一和第二子连接布线116和117可由银材料、金属材料、石墨烯材料等形成。在此示例性实施例中，为了描述的方便，显示出了主传感器112的数量为3，而子传感器113的数量为6；然而并不限于此。

所述基底111包括触摸区域TA和围绕该触摸区域TA的周边区域PA。在此示例性实施例中，所述基底111具有由长边和短边限定的矩形形状。

所述主传感器112被设置在触摸区域TA上以感测第一轴的触摸位置。每个主传感器112都具有条形形状以沿着第一方向延伸(例如，Y轴方向)并且沿着第二方向布置(例如，X轴方向)。每个主传感器112具有均匀的宽度。

子传感器513以一对多的方式设置而与主传感器512并联，以感测第二轴的触摸位置。每个子传感器513被设置在彼此相邻的主传感器512之间，并且沿着Y轴方向延伸，以沿着X轴方向布置。为了保持与不同的子传感器的电阻值相同，可通过最外侧子传感器在子传感器113之间形成狭缝部分，所述子传感器113设置在彼此相邻的主传感器112之间。狭缝部分的宽度和滑动部分的长度可以由电容触控板的设计者设计。所述子传感器113可以设置在一个主传感器附近。所述子传感器113的每个宽度可从电容触控板的边缘部分朝着电容触控板的中心部分逐渐增加。

在本示例性实施例中，当第二轴是Y轴时，第一轴可为X轴；当第一轴是X轴时，第二轴可为Y轴。

所述第一主连接布线114连接到主传感器112的每个第一端部。所述第一主连接布线114可包括与主传感器112相同的材料。此外，所述第一主连接布线114可在形成主传感器112的时候被形成。

所述第二主连接布线115连接到主传感器112的每个第二端部。所述第二主连接布线115可包括与主传感器112相同的材料。此外，所述第二主连接布线115可在形成主传感器112的时候被形成。

所述第一子连接布线116被连接至某些子传感器113，当从电容触控板110的平面图观察时，所述某些子传感器113沿着第一方向布置并且在向上方向延伸。所述第一子连接布线116可包括与子传感器113相同的材料。此外，所述第一子连接布线116可在形成子传感器113的时候被形成。

所述第二子连接布线117被连接至沿着第一方向布置的子传感器113的剩余部分，并且当从电容触控板110的平面图观察时，该部分沿着较低方向延伸。所述第二子连接布线117可包括与子传感器113相同的材料。此外，所述第二子连接布线117可在形成子传感器113的时候被形成。

在本示例性实施例中，当假设垂直于主传感器112的长度方向且穿过主传感器112的中心区域的一条线是一条假想线的时候，所述第一子连接布线116被连接至相对于假想线设置在上部区域的子传感器的第一和第二侧，并且所述第二子连接布线117被连接至相对于假想线设置在下部区域的子传感器的第一和第二侧。

所述电容触控板110可进一步包括多个第一次旁路布线118和多个第二次旁路布线119。第一次旁路布线118和第二次旁路布线119中的每一种可以由银材料、金属材料、石墨烯材料等形成。

所述第一次旁路布线118设置在周边区域PA上，以一对一的对应关系被分别连接至每个第一子连接布线116。在此示例性实施例中，每个第一次旁路布线118可经由第一子连接布线116发挥出将从电容测量电路120输出的感测信号传递至每个子传感器113的作用，并且可经由第一子连接布线116发挥出接收在每个子传感器113那里感测到的感测信号的作用，从而将感测信号递送至电容测量电路120。

所述第二次旁路布线119设置在周边区域PA上，以一对一的对应关系被连接至每个第二子连接布线117。在此示例性实施例中，每个第二次旁路布线119可经由第二子连接布线117发挥出将从电容测量电路120输出的感测信号传递至每个子传感器113的作用，并且可经由第二子连接布线117发挥出接收在每个子传感器113那里感测到的感测信号的作用，从而将感测信号递送至电容测量电路120。例如，当第一次旁路布线118发挥将从电容测量电路120输出的感测信号传递至子传感器113的作用的时候，第二次旁路布线119则发挥将在子传感器113那里感测到的感测信号传递至电容测量电路120的作用。同时，当第一次旁路布线118发挥将在子传感器113那里感测到的感测信号传递至电容测量电路120的作用的时候，第二次旁路布线119则发挥将从电容测量电路120输出的感测信号传递至每个子传感器113的作用。

所述电容测量电路120被连接到每个主传感器112和子传感器113的两个端部，以通过感测主传感器112和子传感器113的电容变化来测量触摸位置。特别是，所述电容测量电路120通过第一主连接布线114和第二主连接布线115被连接至主传感器112，并且通过第一次旁路布线118和第二次旁路布线119被连接至子传感器113，以通过感测主传感器112和子传感器113的电容变化测量触摸位置。

图2为一幅框图，示意性地示出了图1中所示的电容测量电路120。图3为一幅框图，示意性地示出了图2中所示的电容测量电路120。

参见图1、图2和图3，电容测量电路120包括参考电压产生部1410，电压比较部1420，控制部1430，计时器部1440，充电/放电部1450和复合开关1460。电容测量电路120被连接至多个触摸传感器TCS以施加恒定电流到所述触摸传感器TCS。电容测量电路120测量相应的触摸传感器TCS的电容，通过测量由触摸传感器TCS和人体产生的放电电容所需的整个放电时间。在此示例性实施例中，触摸传感器TCS可以是图1中所示的主传感器112和子传感器113。或者，触摸传感器TCS可以是图1中所示的主传感器112。

特别地，充电/放电电路部1450在一预定周期内连续进行充电和放电N次。当从连接到复合开关1466的触摸传感器TCS输入电容时，在预定周期内产生了时间差。计时器部1440在N次期间测量累积的差异以确定电容是否被输入。随着充电/放电次数增加，当通过触摸传感器TCS测量电容时，充电和放电的时间增加。

所述参考电压产生部1410包括彼此串联连接的第一电阻器R1、第二电阻器R2和第三电阻器R3，并且产生第一参考电压“refh”和第二参考电压“refl”，以提供所述第一和第二参考电压refh和refl给电压比较部1420。在此示例性的实施例中，第一至第三电阻器R1、R2和R3中的每一个都是可变电阻器。可变电阻器的电阻可以通过程序来改变。于是，第一参考电压“refh”和第二参考电压“refl”中的每一个都是可变电压。

当应用于电容测量电路的电源噪声很大的时候，或者从外侧提供的噪声很大的时候，第一参考电压“refh”和第二参考电压“refl”通过使用程序来改变，以使得可以设置不受噪声影响的参考电压。

尤其是，随着形成以感测电容的触摸传感器的尺寸的增大，由于外部环境，噪声会更多流入，以使得电容的灵敏度降低。但是，当第一参考电压“vrefh”和第二参考电压“vrefl”之间的差值被控制为具有小的值的时候，从而更多地降低噪声特性。当第一参考电压“refh”和第二参考电压“refl”之间的差值被设置为具有小的值的时候，用于测量结果的信噪比(SNR)被增强；然而，用于电容的感测信号被减小了。因此，用于第一参考电压“refh”和第二参考电压“refl”的适当的电压值被选择。

所述电压比较部1420将在参考电压产生部1410中产生的电压与由触摸传感器TCS提供的感测电压进行比较，响应于外部设备(未示出)提供的第一控制信号。例如，所述电压比较部1420包括第一电压比较器COM1和第二电压比较器COM2。在此示例性实施例中，第一控制信号启用或禁用第一和第二电压比较器COM1和COM2。也就是说，H电平的第一控制信号启用第一和第二电压比较器COM1和COM2，而L电平的第一控制信号禁用第一和第二电压比较器COM1和COM2。

响应于H电平的第一控制信号，所述第一电压比较器COM1将在参考电压产生部1410中产生的第一参考电压“refh”与来自触摸传感器TCS的输入的感测电压进行比较，以输出第一比较信号O_up。当在第一电压比较器COM1中进行比较的信号的电压大于或等于第一参考电压“refh”的时候，所述第一比较信号O_up被产生以具有H电平，并且当在第一电压比较器COM1中进行比较的信号的电压小于第一参考电压“refh”的时候，其被产生以具有L电平。当H电平的第一比较信号O_up被输出时，在正常操作时间间隔(例如，第二控制信号为H的间隔)的预定延迟时间内，从控制部1430输出的充电/放电信号“ctl”被控制以从H电平变化到L电平。

响应于H电平的第一控制信号，所述第二电压比较器COM2将在参考电压产生部1410中产生的第二参考电压“refl”与来自触摸传感器TCS的输入的感测电压进行比较，以输出第二比较信号O_dn。当在第二电压比较器COM2中进行比较的信号的电压小于或等于第二参考电压“refl”的时候，所述第二比较信号O_dn被产生以具有H电平，并且当在第二电压比较器COM2中进行比较的信号的电压大于第二参考电压“refl”的时候，其被产生以具有L电平。当H电平的第二比较信号O_dn被输出时，在正常操作时间间隔(例如，第二控制信号为H的间隔)的预定延迟时间内，从控制部1430输出的充电/放电信号“ctl”被控制以从L电平变化到H电平。

在此示例性实施例中，第一和第二电压比较器COM1和COM2中的每一个均可包括具有滞后现象的电压比较器。所述具有滞后现象的电压比较器被称为具有施密特触发器的比较器。通过使用具有滞后现象的电压比较器，它可防止比较器被敏感地操作，当电源电压的噪声被施加至电容测量电路或者接地电压的噪声被施加其上的时候。当基于本申请开发的半导体真正在应用电路中被操作的时候，信噪比(SNR)可以从电源电压的噪声中增强。

所述控制部1430，接收从第一电压比较器COM1输出的第一比较信号O_up，从第二电压比较器COM2输出的第二比较信号O_dn以及由外部设备提供的第二控制信号，并且控制充电/放电电路部1450的运行以及计时器部1440的运行。例如，所述控制部1430为所述充电/放电电路部1450提供一充电/放电控制信号“ctl”，以控制所述充电/放电电路部1450的运行。当第二控制信号从L电平转换为H电平的时候，所述充电/放电控制信号“ctl”从L电平转变为H电平，并且，当第一比较信号从L电平转换为H电平的时候，所述充电/放电控制信号“ctl”从H电平转变为L电平。此外，当第二比较信号从L电平转换为H电平的时候，所述充电/放电控制信号“ctl”从L电平转变为H电平，并且，当第一比较信号从L电平转换为H电平的时候，所述充电/放电控制信号“ctl”从H电平转变为L电平。也就是说，在通过第二控制信号将所述充电/放电控制信号“ctl”转变为H电平之后，通过第一控制信号将所述充电/放电控制信号“ctl”转变为L电平，然后，通过第二控制信号将所述充电/放电控制信号“ctl”转变为H电平。

所述充电/放电电路部1450分别连接至控制部1430和复合开关1460。响应于充电/放电控制信号“ctl”，所述充电/放电电路部1450通过复合开关1460从第一参考电压“refh”到第二参考电压“refl”对感测信号“signal_in”输入充电，或者从第二参考电压“refl”到第一参考电压“refh”对感测信号“signal_in”放电。在此示例性实施例中，开关SW响应于充电/放电控制信号“ctl”而被开启/关闭，该开关SW被连接在对应于该感测信号的节点VN和接地端之间。也就是说，当开关SW关闭的时候，充电/放电电路部1450为所述节点提供基于电源电压终端的电源电压产生的充电电流“i1”，以对触摸传感器TCS充电。当开关SW开启的时候，充电/放电电路部1450通过接地端释放对应于触摸传感器TCS的放电电流“i2”。

所述复合开关1460切换感测信号的输入和输出方向，响应于外部设备提供的第三控制信号。在此示例性实施例中，第三控制信号可发挥确定复合开关1460的信号传递路径作用。换言之，所述复合开关1460可以设置电容感测信号的路径，所述电容感测信号从充电/放电电路部1450输出。所述复合开关1460可以设置电容感测信号的路径，以使得所述电容感测信号从触摸传感器的上部(或左部)传输至触摸传感器的下部(或右部)。或者，所述复合开关1460可以设置电容感测信号的路径，以使得所述电容感测信号从触摸传感器的下部(或右部)传输至触摸传感器的上部(或左部)。

所述计时器部1440测量响应于源自外部设备的第四控制信号的充电/放电电路部1450的充电时间和放电时间。进一步地，所述计时器部1440测量整个充电时间和整个放电时间，并且输出对应于测量结果的测量信号。在此示例性实施例中，所述第四控制信号控制计时器部1440的运行。例如，在所述第四控制信号是H电平的第一边缘的一个间隔内，所述计时器部1440开始计算对应于感测信号“signal”的预定周期的时钟数。在L电平的边缘间隔内，其在第一H电平的边缘间隔之后产生，计时器部1440的运行停止以保持计时器部1440的值，并且所述计时器部1440起到发送测量结果的作用。

在第二控制信号为H电平的间隔内时，上述操作被连续地重复。计时器部1440的值被第三控制信号识别为每个垫的电容值。

初始启动在充电/放电电路部1450的输出信号中开始，即电容感测信号的接地电平。在此情况下，所述输出信号具有比第一参考电压“vrefh”和第二参考电压“vrefl”更低的较低值。第二参考电压“vrefl”是比接地电压“GND”的0V更高的电压。例如，所述第二参考电压“vrefl”可被设置为大约30mV。所述第二参考电压“vrefl”可被设置为约1/2VDD至VDD-300mV。

将要说明的是，电容测量电路在正常状态下被操作。当输出信号的电压低于vref的时候，控制部1430的输出充电/放电控制信号“ctl”为0V，以使得比较部1420和控制部1430运行，以从第二参考电压“vrefl”到第一参考电压“vrefh”具有三角形内的上升斜率的直线形状。与此同时，当输出信号的电压达到第一参考电压“vrefh”的时候，所述开关SW连接到控制部1430的输出终端，以使得比较部1420和控制部1430运行，以具有三角形内的下降斜率的直线形状。

充电/放电电路部1450的感测信号“signal”基于充电电流“i1”和放电电流“i2”发挥出将电荷充电和放电至连接至垫的触摸传感器TCS的操作的作用，根据增加或减少的波形可为直线形状。

图4为一幅电路图，示出了图2中所示的充电/放电电路部1450的一个实施例。

参见图4，充电/放电电路部1450包括：充电部1452，输出充电电流，用于给触摸传感器TCS充电；放电部1454，接收放电电流，用于使触摸传感器TCS放电；以及充电/放电开关SW，切换充电部1452和触摸传感器TCS之间的连接，或触摸传感器TCS与放电部1454之间的连接。

所述充电部1452包括第一PMOS晶体管P0和第二PMOS晶体管P1。第一PMOS晶体管P0的源极与第二PMOS晶体管P1的源极被连接到提供电源电压VDD的电源电压终端，而所述第一PMOS晶体管P0的栅极和漏极通常彼此连接。进一步地，第一和第二PMOS晶体管P0和P1的栅极通常彼此连接，以便构成电流镜。也就是说，第一PMOS晶体管P0和第二PMOS晶体管P1定义第一电流镜。第二PMOS晶体管P1的漏极连接至触摸传感器TCS和充电/放电开关SW。

所述放电部1454包括可变恒流源VI，第一NMOS晶体管N0，第二NMOS晶体管N1和第三NMOS晶体管N2。第一NMOS晶体管N0，第二NMOS晶体管N1和第三NMOS晶体管N2可定义第二电流镜。

所述可变恒流源VI确定第二电流镜的电流量。所述可变恒流源VI可包括可变电阻器，用于确定所述第一NMOS晶体管N0的偏置电流量。漏极与第一NMOS晶体管N0的源极'GND'之间的电流量由该可变电阻器的电阻值确定。

在第一NMOS晶体管N0中，源极连接至可变恒流源VI，漏极连接至接地端，而栅极连接至第二NMOS晶体管N1的栅极。

在第二NMOS晶体管N1中，源极连接至第一NMOS晶体管N0的漏极，栅极通常连接到第一NMOS晶体管N0的栅极与源极，并且漏极连接至接地端GND。

在第三NMOS晶体管N2中，源极连接至充电/放电开关SW，栅极连接至第二NMOS晶体管N1的栅极，并且漏极连接至接地端GND。

第一NMOS晶体管N0的源极与栅极通常彼此连接，并且第二NMOS晶体管N1的栅极连接到第三NMOS晶体管N2，以便被配置为定义一电流镜。也就是说，第一NMOS晶体管N0，第二NMOS晶体管N1与第三NMOS晶体管N2可定义第二电流镜。

所述充电/放电开关SW包括连接至充电部1452的第一终端，连接至放电部1454的第二终端，以及触摸传感器TCS和控制终端，所述控制终端用于从外部设备接收充电/放电控制信号“ctl”。所述充电/放电开关SW通过所述充电/放电控制信号“ctl”被开启或关闭。

当充电/放电开关SW开启时，在充电部1452和触摸传感器TCS之间形成电通路，以便从充电部1452输出的充电电流被提供给触摸传感器TCS，以对触摸传感器TCS充电。

当充电/放电开关SW关闭时，在充电部1452和触摸传感器TCS之间的电通路被阻断，并且触摸传感器TCS与放电部1454之间的电通路形成，以便充入触摸传感器TCS中的电流被提供给放电部1454，以使触摸传感器TCS放电。

如上所述，第一PMOS晶体管P0和第二NMOS晶体管N1正在镜像第二PMOS晶体管P1的电流。

第二PMOS晶体管P1和第三NMOS晶体管N2用于对触摸传感器TCS充电或放电电容，可以执行提供基本上等于由可变恒流源VI确定的第一NMOS晶体管N0的电流的功能。

在此示例性实施例中，它被设计成这样：充电电流“i1”不等于放电电流“i2”，且该放电电流“i2”大于该充电电流“i1”。此外，为了实现，感测信号的三角波的上升时间等于三角波的下降时间，放电电流“i2”被设计为充电电流“i1”的两倍。

【等式1】

N0＝N1

【等式2】

N2＝N0*2

可选地，第一PMOS晶体管P0和第二PMOS晶体管P1可被设计为具有相等大小的信道宽度。在此情况下，人们认为所有FET晶体管的信道长度彼此相等。

于是在间隔期间，当响应于充电/放电控制信号“ctl”操作的充电/放电开关SW处于“OFF”状态时，感测信号的电压增加以具有直型的斜率，因为它由充电电流“i1”充电。

与此同时，在间隔期间，当充电/放电开关SW处于“ON”状态时，它由对应于i2-i1＝i1(此处，i2＝i1*2)的电流放电，即放电电流“i2”；然而，充电操作也由充电电流“i1”执行，该充电电流“i1”对应于充电电流“i2”的一半。于是，通过触摸传感器信号“signal”施加的最终放电电流被放电到充电电流“i1”的电流量，以便信号的电压线性减小。

当使用i2＝i1*2的电流方程和充电/放电开关SW的操作的时候，电流为0的间隔，在信号线感测电容中不会在任何时刻产生，使得它相对于外部噪声很强，以增强电容的灵敏度。

在示例性实施例中，当第一和第二PMOS晶体管P0和P1与第一至第三NMOS晶体管N0、N1和N2的每个信道长度、第一PMOS晶体管P0的信道宽度与第二PMOS晶体管P1的信道宽度彼此相等的时候，第一NMOS晶体管N0的信道宽度和第二NMOS晶体管N1的信道宽度彼此相等，并且第三NMOS晶体管N2的信道宽度是第一NMOS晶体管N0的信道宽度的两倍。可选地，对于本领域技术人员而言是显而易见的是，FET的信道长度和信道宽度可以变化，以执行电流镜像操作。

例如，当第一和第二PMOS晶体管P0和P1以及第一和第三NMOS晶体管N0，N1与N2的每个信道长度基本上彼此相等的时候，第一PMOS晶体管P0的信道宽度与第二PMOS晶体管P1的信道宽度的比例可为1：N(‘N’为自然数)，第一NMOS晶体管N0的信道宽度与第二NMOS晶体管N1的信道宽度的比例可为1：N，并且，第一NMOS晶体管N0的信道宽度与第三NMOS晶体管N2的信道宽度的比例可为1：N*M(‘M’为2*N)。

例如，当N为1且M为2时，FET之间的信道宽度关系表示为以下等式3：

【等式3】

P0:P1＝1:1，

N0:N1:N3＝1:1:2

与此同时，当N为4且M为2时，FET晶体管之间的信道宽度关系表示为以下等式4：

【等式4】

P0:P1＝1:4,

N0:N1:N2＝1:4:8

图5为一幅电路图，示出了图2中所示的充电/放电电路部1450的另一个实施例。

参见图5，充电/放电部1550包括：充电/放电开关1610，第一电流镜1620，第二电流镜1630，放电控制部1640，放电部1650，第三电流镜1660，充电控制部1670和充电部1680。

所述充电/放电开关1610根据外部设备提供的充电/放电控制信号开或关(未示出)。所述充电/放电开关1610包括根据通过栅极接收的充电/放电控制信号开启或关闭的NMOSN11。当接收到H电平的充电/放电控制信号的时候，NMOS N11开启；并且，当接收到L电平的充电/放电控制信号的时候，NMOS N11关闭。

所述第一电流镜1620提供对应于电源电压的第一偏置电流。所述第一电流镜1620包括PMOS P21,PMOS P22,PMOS P23和PMOS P24。在此示例性实施例中，PMOS P21和PMOS P22彼此串联连接，而PMOS P23和PMOS P24彼此串联连接。PMOS P21的栅极与PMOS P23的栅极通常彼此连接，并且PMOS P22的栅极与PMOS P24的栅极通常彼此连接。PMOS P21的源极PMOS P23的源极通常连接到电源电压终端，以接收电源电压VDD，而PMOS P22的漏极连接到接地端。

所述第二电流镜1630被第一偏置电流镜像，以输出第二偏置电流。所述第二电流镜1630包括PMOS晶体管P31，PMOS晶体管P32，PMOS晶体管P33与PMOS晶体管P34。在此示例性实施例中，PMOS晶体管P31和PMOS晶体管P32彼此串联连接，并且PMOS晶体管P33与PMOS晶体管P34彼此串联连接。PMOS晶体管P31的源极与PMOS晶体管P33的源极分别连接到电源电压端以接收电源电压VDD。PMOS晶体管P31的栅极和PMOS晶体管P33的栅极分别连接到所述第一电流镜1620的PMOS晶体管P21的栅极和源极。PMOS晶体管P32的栅极和PMOS晶体管P34的栅极分别连接到所述第一电流镜1620的PMOS晶体管P22的栅极和源极。

所述放电控制部1640基于第二偏置电流输出放电控制信号。所述放电控制部1640包括NMOS晶体管N41，NMOS晶体管N42和NMOS晶体管N43。在此示例性实施例中，NMOS晶体管N41的源极与栅极共同连接以连接到第二电流镜1630的PMOS晶体管P32的漏极，而NMOS晶体管N41的漏极连接到接地端。NMOS晶体管N42的源极连接至第二电流镜1630的PMOS晶体管P34的漏极，并且NMOS晶体管N42的漏极连接至NMOS晶体管N41的源极和栅极。NMOS晶体管N43的源极连接到NMOS晶体管N42的漏极，NMOS晶体管N43的栅极连接至PMOS晶体管P34的漏极，并且NMOS晶体管N43的漏极连接至接地端。

所述放电部1650电连接到触摸传感器，以响应于放电控制信号来释放触摸传感器的电荷。所述放电部1650包括NMOS晶体管N51和NMOS晶体管N52。在此示例性实施例中，NMOS晶体管N51和NMOS晶体管N52彼此串联连接。NMOS晶体管N51的栅极连接至所述放电控制部1640的NMOS晶体管N42的栅极，并且NMOS晶体管N52的栅极连接至所述放电控制部1640的NMOS晶体管N43的栅极。NMOS晶体管N51的源极连接到触摸传感器。NMOS晶体管N52的漏极连接到接地端。

当充电开关1610关闭的时候，所述第三电流镜1660镜像对应于第一偏置电流的电流。所述第三电流镜1660包括NMOS晶体管N61，NMOS晶体管N62，NMOS晶体管N63，NMOS晶体管N64，NMOS晶体管N65和NMOS晶体管N66。在此示例性实施例中，NMOS晶体管N61和NMOS晶体管N63彼此串联连接，NMOS晶体管N62和NMOS晶体管N64彼此串联连接，并且NMOS晶体管N65和NMOS晶体管N66彼此串联连接。NMOS晶体管N61的源极和漏极共同连接到彼此以连接至所述第一电流镜1620的PMOS晶体管P24的漏极、NMOS晶体管N62的栅极以及NMOS晶体管N65的栅极。NMOS晶体管N62的源极连接至所述充电控制部1670。NMOS晶体管N63的的源极和栅极共同连接到彼此以连接至NMOS晶体管N61的漏极、NMOS晶体管N64的栅极以及NMOS晶体管N66的栅极。NMOS晶体管N63的漏极连接到接地端，NMOS晶体管N64的漏极连接到接地端并且NMOS晶体管N66的漏极连接到接地端。

所述充电控制部1670通过第三电流镜1660的镜像输出充电控制信号。所述充电控制部1670包括PMOS晶体管P71，PMOS晶体管P72和PMOS晶体管P73。在此示例性实施例中，PMOS晶体管P71与PMOS晶体管P72彼此串联连接。PMOS晶体管P71的源极连接到电源电压终端，以接收电源电压，并且PMOS晶体管P71的栅极通常连接到PMOS晶体管P72的漏极，以连接至充电部1680。进一步地，PMOS晶体管P72的漏极连接至第三电流镜1660的NMOS晶体管N62的源极。PMOS晶体管P73的源极连接至电源电压终端，以接收电源电压，并且，PMOS晶体管P73的栅极通常连接到PMOS晶体管P72的栅极，以连接到充电部1680。PMOS晶体管P73的漏极连接至第三电流镜1660的NMOS晶体管N65的源极。

所述充电部1680电气连接至触摸传感器，以响应于充电控制信号向所述触摸传感器充入电荷。所述充电部1680包括PMOS晶体管P81，PMOS晶体管P82，PMOS晶体管P83与PMOS晶体管P84。在此示例性实施例中，PMOS晶体管P81与PMOS晶体管P82彼此串联连接，而PMOS晶体管P83与PMOS晶体管P84彼此串联连接。PMOS晶体管P81的源极通常连接至PMOS晶体管P83的源极，以连接至电源电压终端，以接收电源电压VDD。PMOS晶体管P81的栅极和PMOS晶体管P83的栅极共同连接以被连接至PMOS晶体管P71的栅极和充电控制部1670的PMOS晶体管P72的漏极。PMOS晶体管P82的栅极和PMOS晶体管P84的源极共同连接以被连接至充电控制部1670的PMOS晶体管P72的栅极。PMOS晶体管P82的漏极与PMOS晶体管P84的漏极共同连接以被连接至触摸传感器和放电部1650的NMOS晶体管N51的源极。

下面将简要描述图5中所示的充电/放电部1550的运行。

当L电平的充电/放电控制信号“ctl”被提供给充电/放电开关1610的时候，由NMOS晶体管构成的充电/放电开关1610被关闭。第二电流镜1630由第一镜像电流激活，所述第一镜像电流是从第一电流镜1620输出的，以使得第二电流镜1630给放电控制部1640提供第二镜像电流。第二放电控制部1640基于第二镜像电流激活放电部1650。由放电控制部1640激活的所述放电部1650通过接地端释放在触摸传感器处充电的电荷。在此情况下，从第一电流镜1620输出的第一电流镜被提供给第三电流镜，以起偏置电流的作用。

当H电平的充电/放电控制信号“ctl”被提供给充电/放电开关1610的时候，由NMOS晶体管构成的充电/放电开关1610被开启。当充电/放电开关1610被开启时，从第一电流镜1620输出的第一镜像电流也被提供给所述充电/放电开关1610，以使第三电流镜1660镜像具有相对电平的低电流。由于第三电流镜1660镜像具有相对电平的低电流，由PMOS晶体管构成的充电控制部1670被激活以激活充电部1680。当充电部1680被激活时，所述充电部1680给触摸传感器提供电荷以对触摸传感器充电。在此情况下，由充电部1680充电的电压大于由放电部1650放电的触摸传感器的电压。因此，当充电部1680未激活时，在触摸传感器处充电的电荷被放电；然而，当充电部1680被激活时，对应于电源电压VDD的电流被提供给触摸传感器，以对触摸传感器充电。

图6为一幅示意图，示意性地解释了通过图1中所示的电容触控板的电容感测。

参见图1和图6，多个触摸传感器TCS被设置在电容触控板100上。所述触摸传感器TCS是通过图案化导电材料形成的，如氧化铟锡(ITO)或碳纳米管(CNT)，每个特定正方形具有均匀的电阻。在这个示例性实施例中，所述触摸传感器TCS以单层形式形成。

所述触摸传感器TCS具有沿着左右方向均匀的电阻元件“r”，并具有在空中或虚拟接地的微小寄生电容“c”。

假设对人体的触摸在‘f’位置产生。在沿左右方向(即第一感测方向)施加感测信号的情况下，会产生5*(r//c)+Cf的信号延迟效应。在沿右左方向(即第二感测方向)施加感测信号的情况下，会产生3*(r//c)+Cf的信号延迟效应。

产生触摸的触摸传感器上的物理位置可通过使用延迟时间的差值被计算出来。

为了归纳上述内容，当人体手指的触摸“Cf”在a，b，c，d，e，f，g，h和i的每个位置发生时，用于感测第一感测方向和第二感测方向的信号的延迟现象将表示为如下图8所示。

图7为一幅曲线图，示意性地解释了感测信号沿图6中所示的第一感测方向和第二感测方向的延迟。

参见图7，随着触摸位置从‘a’前进到‘i’，感测信号的延迟时间在第一感测方向上增加。随着触摸位置从‘i’前进到‘a’，感测信号的延迟时间在第二感测方向上降低。

在第一感测方向上测量的延迟时间与在第二感测方向上测量的延迟时间之间的差值对应于每个触摸传感器上的物理位置。

根据第一和第二感测方向的时间延迟效应没有在如图7中所示的具有均匀的斜率的直线上示出。但是，它的形状在形状上类似于直线形状，以使它表示在一条直线上。

图8为一幅示意图，解释了图2中所示的复合开关。

参见图2和图8，复合开关1460包括第一开关1462和第二开关1464。

所述第一开关1462被连接至充电/放电电路部1450，触摸传感器的每个第一终端，以及电压比较部1420，以将经过所述触摸传感器的感测信号切换到第一路径，响应于从外部设备提供的第三控制信号。

所述第二开关1464被连接至充电/放电电路部1450，触摸传感器的每个第二终端，以及电压比较部1420，以将经过所述触摸传感器的感测信号切换到第二路径，响应于从外部设备提供的第三控制信号。

当第三控制信号具有第一电平时，第一开关1462连接至充电电路部1450与触摸传感器的第一终端，并且第二开关1464连接至触摸传感器的第二终端和电压比较部1420。

当第三控制信号具有第二电平时，第二开关1464连接至充电电路部1450与触摸传感器的第二终端，并且第一开关1462连接至触摸传感器的第一终端和电压比较部1420。

图9A和9B为示意图，解释了电容感测信号的路径。特别是，图9A显示了从触摸传感器的左侧传输至触摸传感器的右侧的电容感测信号的路径，并且图9B显示了从触摸传感器的右侧传输至触摸传感器的左侧的电容感测信号的路径。

参见图9A，感测信号从触摸传感器的左侧传输至触摸传感器的右侧，并且传输的信号通过触摸传感器的右侧输出，以便电容的变化量被感测到。

当第三控制信号为0时，从充电/放电电路部450输出的感测信号“signal_out”通过SW0和PAD L被施加到触摸传感器的上侧，而穿过触摸传感器的信号通过PAD R和SW1经由触摸传感器的下侧被施加至电压比较部420。在此情况下，第一感测路径可被定义。

参见图9B，感测信号从触摸传感器的右侧传输至触摸传感器的左侧，并且传输的信号通过触摸传感器的左侧输出，以便电容的变化量被被感测到。

当第三控制信号为1时，从充电/放电电路部450输出的感测信号“signal_out”通过SW1和PAD R被施加到触摸传感器的下侧，而穿过触摸传感器的信号通过PAD L和SW0经由触摸传感器的上侧被施加至电压比较部420。在此情况下，第二感测路径可被定义。

在常规技术中，电容测量电路分别连接到触摸传感器的两个终端。换言之，由于两个电容测量电路在其中被使用，在半导体IC内的硅尺寸被消耗。进一步地，测量值不收敛于一个统一的值，由于两个电路之间的偏差。

然而，根据本发明，由于第一感测路径的流动和第二感测路径的流动彼此相对，感测路径通过复合开关1460被控制，通过使用一个电容测量电路以获得测量值，以使得由于半导体内部电路的偏差导致的错误率可被降低。

图10为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的一个实施例。特别是，其示出了孔是通过绝缘层形成的。

参见图10，电容触控板110包括限定在基底111上的触摸区域TA，以及围绕该触摸区域TA的周边区域PA。所述基底111可以是脊型透明材料，如玻璃或强化玻璃，或者柔性型透明材料，如膜。

所述电容触控板110包括：主传感器112，子传感器113，绝缘层130，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117，以及第一和第二次旁路布线118和119。

在此示例性实施例中，主传感器112，子传感器113，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117，以及第一和第二次旁路布线118和119可包括光学透明且导电的材料，如氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)。

同时，主传感器112，子传感器113，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117可包括光学透明且导电的材料，如氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)，并且，第一和第二次旁路布线118和119可包括具有优异导电性的材料，如铜(Cu)或银(Ag)。在此情况下，主传感器112，子传感器113，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117可包括同样的材料通过同样的方法形成在同一层中。

所述主传感器112被设置在触摸区域TA上，以沿着Y轴方向延伸。在本示例性实施例中，为了描述方便，显示了所述主传感器112的数量为3；然而，并不限于此。

所述子传感器113被设置在触摸区域TA上，以沿着Y轴方向延伸。在本示例性实施例中，为了描述方便，显示了与主传感器112相邻的所述子传感器113的数量为4；然而，并不限于此。

所述第一和第二主连接布线114和115从主传感器112延伸以设置在周边区域PA上，且以连接到电容测量电路120。当形成主传感器112时，所述第一和第二主连接布线114和115可以被图案化。

每个所述第一和第二子连接布线116和117的第一端部被连接至子传感器113的两个端部，以沿着Y轴方向(或X轴方向)在周边区域PA延伸。当形成子传感器113时，每个所述第一和第二子连接布线116和117可以被图案化。

第一子连接布线116的第二端部被弯曲以限定第一子垫构件116a。所述第一子垫构件116a在周边区域PA上朝向X轴方向弯曲。所述第一子垫构件116a的宽度可基本上等于第一子连接布线116的宽度。或者，所述第一子垫构件116a的宽度可大于第一子连接布线116的宽度。在该示例性实施例中，显示了从由一个子传感器113延伸的两个第一子连接布线116弯曲的第一子垫构件116a被形成以彼此面对；然而，所述第一子垫构件116a可以朝向不同的方向弯曲而被形成。此外，从由一个子传感器113延伸的两个第一子连接布线116弯曲的所述第一子垫构件116a可沿着相同的方向弯曲。

第二子连接布线117的第二端部被弯曲以限定第二子垫构件117a。所述第二子垫构件117a在周边区域PA上朝向X轴方向弯曲。所述第二子垫构件117a的宽度可基本上等于第二子连接布线117的宽度。或者，所述第二子垫构件117a的宽度可大于第二子连接布线117的宽度。在该示例性实施例中，显示了从由一个子传感器113延伸的两个第二子连接布线117弯曲的第二子垫构件117a被形成以彼此面对；然而，所述第二子垫构件117a可以朝向不同的方向弯曲而被形成。此外，从由一个子传感器113延伸的两个第二子连接布线117弯曲的第二子垫构件117a可沿着相同的方向弯曲。

所述绝缘层130在周边区域PA上形成，以暴露第一和第二子垫构件116a和117a。在此示例性实施例中，所述绝缘层130仅在剩余区域中形成，除了对应于第一和第二子垫构件116a和117a的区域和触摸区域TA，以使得可以省略形成通孔的额外步骤，所述通孔用于暴露所述第一和第二子垫构件116a和117a。

所述第一和第二次旁路布线118和119在周边区域PA上形成。所述第一和第二次旁路布线118和119在X轴方向上形成，以在Y轴方向上弯曲，随后在X轴方向上弯曲以连接到电容测量电路120。每个第一和第二次旁路布线118和119与由绝缘层130暴露的第一子垫构件116a和第二子垫构件117a接触。

如上所述，根据该示例性实施例，子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使得可确保子连接布线和子垫构件之间的接触面积，即使所述子垫构件的宽度较窄。因此，其可减少子连接布线与子垫构件之间接触失败的可能性。

进一步地，所述子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使得它可以减小设置子垫构件的区域的宽度。设置子垫构件的区域可对应于电容触控板一个边框。因此，其可减少电容触控板的边框的宽度。

进一步地，所述子垫构件彼此并联设置，以便其可降低次旁路布线的布线复杂性，所述次旁路布线与每个子垫构件接触。因此，其可增强通过次旁路布线传送的信号的信噪比(SNR)并可提高工作效率。

此外，，在拉延工艺期间，除了对应于每个次旁路布线和每个子垫构件的区域，所述绝缘层仅在剩余区域中形成，以省略在所述绝缘层上形成通孔的额外步骤，以使得它可降低电容触控板的制造成本。

图11A-11C为平面图，示出了图10中所示的电容触控板的制造方法。

参见图11A，在基底111上形成沿着Y轴方向延伸的主传感器112，从主传感器112的两个端部延伸的第一和第二主连接布线114和115，与主传感器112相邻的子传感器113，从子传感器113延伸的第一和第二子连接布线116和117，以及分别从第一子连接布线116和第二子连接布线117延伸的第一子垫构件116a和第二子垫构件117a。

主传感器112和子传感器113形成于触摸区域TA上，而第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117以及第一和第二子垫构件116a和117a形成于周边区域PA上。

在图11A中，形成彼此面对的第一子垫构件116a，其从两个第一子连接布线116弯曲，所述子连接布线116从一个子传感器113延伸；然而，所述第一子垫构件116a可以在不同的方向上弯曲。此外，第一子垫构件116a，其从两个第一子连接布线116弯曲，所述子连接布线116从一个子传感器113延伸，可以沿着相同的方向弯曲。

所述主传感器112，所述第一和第二主连接布线114和115，所述子传感器113，所述第一和第二子连接布线116和117以及第一和第二子垫构件116a和117a可以通过各种成形工艺形成。例如，其可在沉积光学透明且导电的材料之后，如氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)，通过光刻工艺形成。光学透明且导电的材料，如ITO或IZO可通过通过喷墨印刷，湿式涂布，干式涂布等等以薄膜的形式被涂布在基底111上。

参见图11B，暴露第一和第二子垫构件116和117的绝缘层130形成于周边区域PA上。所述绝缘层130可以是氧化硅(SiOx)或氮化硅(SiNx)，也可以是其它合适的绝缘材料。介电系数为2-4的材料可被用作绝缘层130。进一步地，透光油墨可被用作绝缘层130，并且遮光葫芦的绝缘材料可被用作绝缘层130。绝缘层130的形成方法可以通过各种方法来实现。

参见图11C，与被所述绝缘层130暴露的第一和第二子垫构件116a和117a接触的第一和第二次旁路布线118和119被形成，其沿着X轴方向延伸。所述第一和第二次旁路布线118和119可以包括导电材料。所述导电材料可为：铬(Cr)，铬合金，钼(Mo)，氮化钼(MoN)，钼-铌(MoNb)，钼合金，铜，铜合金，铜-钼(CuMo)合金，铝(Al)，铝合金，银(Ag)，银合金等。第一和第二次旁路布线118和119的形成方法可以通过各种方法来实现。例如，它可以通过光刻方法形成，或者可以通过印刷方法形成。

在图11A至11C中，描述的是，当主传感器112形成的时候，接触主传感器112的第一和第二主连接布线114和115被形成；但是，第一和第二主连接布线114和115可以在形成第一和第二次旁路布线118和119的方法中形成。在此情况下，通过所述绝缘层130形成了孔，以便主传感器112与第一和第二主连接布线114和115相接触。

图12为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的另一个实施例。特别是，其示出了，该电容触控板具有板状的结构，在其上没有形成孔。

参见图12，该电容触控板210包括：主传感器112，子传感器113，绝缘层130，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117，以及第一和第二次旁路布线118和119。图12中所示的电容触控板210与图10中所示的电容触控板110相同。于是，相同的附图标记将用于指代那些图10中描述的相同或相似的部件，并且，关于上述元件的任何进一步的解释将被省略。

绝缘层230具有板状的结构，在其上没有形成孔，所述绝缘层230形成于周边区域PA上，以暴露第一和第二子垫构件116a和117a。在本示例性实施例中，所述绝缘层230仅在剩余区域中形成，除了对应于第一和第二子垫构件116a和117a的区域和触摸区域TA，以使得用于暴露所述第一和第二子垫构件116a和117b而形成通孔的额外步骤可被省略。

如上所述，根据此示例性实施例，子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使其可确保子连接布线和子垫构件之间的接触面积，即使所述子垫构件的宽度较窄。因此，其可减少子连接布线与子垫构件之间接触失败的可能性。

进一步地，所述子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使得它可以减小设置子垫构件的区域的宽度。设置子垫构件的区域可对应于电容触控板一个边框。因此，其可减少电容触控板的边框的宽度。

进一步地，所述子垫构件彼此并联设置，以便其可降低次旁路布线的布线复杂性，所述次旁路布线与每个子垫构件接触。因此，其可增强通过次旁路布线传送的信号的信噪比(SNR)并可提高工作效率。

此外，在拉延工艺期间，除了对应于每个次旁路布线和每个子垫构件的区域，所述绝缘层仅在剩余区域中形成，以省略在所述绝缘层上形成通孔的额外步骤，以使得它可降低电容触控板的制造成本。

图13为一幅平面图，示意性地示出了图1中所示的电容触控板的另一个实施例。特别是，显示出了在绝缘层上形成孔的一个实施例。

参见图13，电容触控板310包括：主传感器112，子传感器113，绝缘层130，第一和第二主连接布线114和115，第一和第二子连接布线116和117，以及第一和第二次旁路布线118和119。图13中所示的电容触控板310与图10中所示的电容触控板110相同。于是，相同的附图标记将用于指代那些图10中描述的相同或相似的部件，并且，关于上述元件的任何进一步的解释将被省略。

绝缘层330形成于周边区域PA上，以暴露第一和第二子垫构件116a和117a。在此示例性实施例中，绝缘层330仅在剩余区域中形成，除了对应于第一和第二子垫构件116a和117a的区域和触摸区域TA，以使得形成通孔的额外步骤可被省略，所述通孔用于暴露所述第一和第二子垫构件116a和117b。

如上所述，根据此示例性的实施例，子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使其可确保子连接布线和子垫构件之间的接触面积，即使所述子垫构件的宽度较窄。因此，其可减少子连接布线与子垫构件之间接触失败的可能性。

进一步地，所述子垫构件基于子传感器长度方向垂直地弯曲，以使得它可以减小设置子垫构件的区域的宽度。设置子垫构件的区域可对应于电容触控板一个边框。因此，其可减少电容触控板的边框的宽度。

进一步地，所述子垫构件彼此并联设置，以便其可降低次旁路布线的布线复杂性，所述次旁路布线与每个子垫构件接触。因此，其可增强通过次旁路布线传送的信号的信噪比(SNR)并可提高工作效率。

此外，在拉延工艺期间，，除了对应于每个次旁路布线和每个子垫构件的区域，所述绝缘层仅在剩余区域中形成，以省略在所述绝缘层上形成通孔的额外步骤，以使得它可降低电容触控板的制造成本。

图14为一幅示意图，示出了通过图1中所示的电容触控板的触摸感测。

参见图14，用于感测触摸坐标的X轴坐标值的操作通过使用主传感器X0，X1，X2和X3被实施。具体地，在感测信号(例如，图9A的Signal_out)被输出到布置在第一列的主传感器X0的第一侧之后，其通过相应的主传感器X0的第二侧接收感测信号(例如，图9A的Signal_in)，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第一列的主传感器X0的第二侧之后，其通过相应的主传感器X0的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第一侧之后，其通过相应的主传感器X1的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第二侧之后，其通过相应的主传感器X1的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第三列的主传感器X2的第一侧之后，其通过相应的主传感器X2的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第三列的主传感器X2的第二侧之后，其通过相应的主传感器X2的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第四列的主传感器X3的第一侧之后，其通过相应的主传感器X3的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第四列的主传感器X3的第二侧之后，其通过相应的主传感器X3的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过布置在所有列中的主传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由主传感器通过所述主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的X轴值，以感测主传感器的电容变化量。

然后，用于感测触摸坐标的Y轴坐标值的操作通过使用子传感器被实施。特别地，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过布置在所有行中的子传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由子传感器通过主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的Y轴值，以感测主传感器的电容变化量。

图15为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图15，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置500包括一电容触控板510与一设置在该电容触控板510上的电容测量电路520。

所述电容触控板510包括：基底511，多个主传感器512，以一对多的对应关系设置而与主传感器512并联的多个子传感器513，多个第一主连接布线514，多个第二主连接布线515，多个第一子连接布线516以及多个第二子连接布线517。主传感器512，子传感器513，第一和第二主连接布线514与515，以及第一和第二子连接布线516与517可以由银材料、金属材料，石墨烯材料等制成。在此示例性实施例中，为了方便描述，显示出了主传感器512的数量为3并且子传感器513的数量为6；然而，并不限于此。

所述基底511包括触摸区域TA和围绕该触摸区域TA的周边区域PA。在此示例性实施例中，所述基底511具有由长边和短边限定的矩形形状。

所述主传感器512被设置在触摸区域TA上以感测第一轴的触摸位置。每个主传感器512都具有条形形状以沿着Y轴方向延伸并且沿着X轴方向布置。每个主传感器512具有均匀的宽度。

所述子传感器513以一对多的方式设置而与主传感器512并联，以感测第二轴的触摸位置。每个子传感器513被设置在彼此相邻的主传感器512之间，并且沿着Y轴方向延伸，以沿着X轴方向布置。为了保持与不同的子传感器的电阻值相同，可通过最外侧子传感器在子传感器113之间形成狭缝部分，所述子传感器113设置在彼此相邻的主传感器112之间。狭缝部分的宽度和滑动部分的长度可以由电容触控板的设计者设计。所述子传感器113可以设置在一个主传感器附近。所述子传感器113的每个宽度可从电容触控板的边缘部分朝着电容触控板的中心部分逐渐增加。

在本示例性实施例中，当第二轴是Y轴时，第一轴可为X轴；当第一轴是X轴时，第二轴可为Y轴。

所述第一主连接布线514连接到主传感器512的每个第一端部。所述第一主连接布线514可包括与主传感器512相同的材料。此外，所述第一主连接布线514可在形成主传感器512的时候被形成。

在本示例性实施例中，每个所述第一主连接布线514可发挥传递从电容测量电路520输出的感测信号到每个主传感器512的作用，并且发挥传递在每个主传感器512处感测到的感测信号到电容测量电路520的作用。

所述第二主连接布线515连接到主传感器512的每个第二端部。所述第二主连接布线515可包括与主传感器512相同的材料。此外，所述第二主连接布线515可在形成主传感器512的时候被形成。

在本示例性实施例中，每个所述第二主连接布线515可发挥将从电容测量电路520输出的感测信号传递至每个主传感器512的作用，并且发挥将在每个主传感器512处感测到的感测信号传递至电容测量电路520的作用。

所述第一子连接布线516被分别连接至布置在第一方向(例如，Y轴方向)上的子传感器513的一部分和电容测量电路520。所述第一子连接布线516可包括与子传感器513相同的材料。此外，所述第一子连接布线516可在形成子传感器513的时候被形成。

所述第二子连接布线517被分别连接至沿着第一方向布置的子传感器513的剩余部分和电容测量电路520。所述第二子连接布线517可包括与子传感器513相同的材料。此外，所述第二子连接布线517可在形成子传感器513的时候被形成。

在本示例性实施例中，当假设垂直于主传感器512的长度方向且穿过主传感器512的中心区域的一条线是一条假想线的时候，所述第一子连接布线516被连接至基于假想线设置在上部区域的子传感器的第一侧和第二侧中的每一个，并且所述第二子连接布线517被连接至基于假想线设置在下部区域的子传感器的第一侧和第二侧中的每一个。

在此示例性实施例中，每个所述第一子连接布线516可发挥将从电容测量电路520输出的感测信号传递至每个子传感器513的作用，并且发挥将在每个子传感器513处感测到的感测信号传递至电容测量电路520的作用。例如，当所述第一子连接布线516发挥将从电容测量电路520输出的感测信号传递至每个子传感器513的作用时，所述第二子连接布线517发挥将在每个子传感器513处感测到的感测信号传递至电容测量电路520的作用。与此同时，当所述第一子连接布线516发挥将在每个子传感器513处感测到的感测信号传递至电容测量电路520的作用时，所述第二子连接布线517发挥将从电容测量电路520输出的感测信号传递至每个子传感器513的作用。

所述电容测量电路520被连接至每个主传感器512和子传感器513的两个端部，以通过感测主传感器512和子传感器513的电容变化来测量触摸位置。

尤其是，所述电容测量电路520通过第一主连接布线514和第二主连接布线515被连接至主传感器512，并且通过第一子连接布线516和第二子连接布线517被连接至子传感器513，以通过感测主传感器512和子传感器513的电容变化来测量触摸位置。

图16为一幅示意图，示出了通过图15中所示的电容触控板的触摸感测。

参见图16，用于感测触摸的X轴坐标值的操作通过使用主传感器X0，X1，X2和X3被实施。具体地，在感测信号(例如，图9A的Signal_out)被输出到布置在第一列的主传感器X0的第一侧之后，其通过相应的主传感器X0的第二侧接收感测信号(例如，图9A的Signal_in)，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第一列的主传感器X0的第二侧之后，其通过相应的主传感器X0的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第一侧之后，其通过相应的主传感器X1的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第二侧之后，其通过相应的主传感器X1的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第三列的主传感器X2的第一侧之后，其通过相应的主传感器X2的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第三列的主传感器X2的第二侧之后，其通过相应的主传感器X2的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号被输出到布置在第四列的主传感器X3的第一侧之后，其通过相应的主传感器X3的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第四列的主传感器X3的第二侧之后，其通过相应的主传感器X3的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过布置在所有列中的主传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由主传感器通过主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的X轴值，以感测主传感器的电容变化量。

然后，用于感测触摸坐标的Y轴坐标值的操作通过使用子传感器被实施。特别地，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过彼此串联连接的子传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由彼此串联连接的子传感器通过主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的Y轴值，以感测主传感器的电容变化量。

图17为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图17，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置600包括电容触控板610与设置在该电容触控板610之上的电容测量电路620。

所述电容触控板610包括：基底611，多个主传感器612，以一对多的对应关系设置而与主传感器612并联的多个子传感器613，多个第一主连接布线614，多个第二主连接布线615，多个第一子连接布线616以及多个第二子连接布线617。主传感器612，子传感器613，第一和第二主连接布线614与615，以及第一和第二子连接布线616与617可以由银材料、金属材料、石墨烯材料等制成。在此示例性实施例中，为了方便描述，显示出了主传感器612的数量为3并且子传感器613的数量为6；然而，并不限于此。

所述基底611包括触摸区域TA和围绕该触摸区域TA的周边区域PA。在此示例性实施例中，所述基底611具有由长边和短边限定的矩形形状。

所述主传感器612被设置在触摸区域TA上以感测第一轴的触摸位置。每个主传感器612都具有条形形状以沿着Y轴方向延伸并且沿着X轴方向布置。每个主传感器612具有均匀的宽度。

所述子传感器613以一对多的方式设置而与主传感器612并联，以感测第二轴的触摸位置。每个子传感器613被设置在彼此相邻的主传感器612之间，并且沿着Y轴方向延伸，以沿着X轴方向布置。设置在彼此相邻的主传感器612之间的所述子传感器613具有相同的宽度。当从所述电容式触控装置600平面图观察时，每个子传感器613被移动到在其上设置。

虽然在图17中未示出，为了保持与不同的子传感器的电阻值相同，可通过最外侧子传感器在子传感器613之间形成狭缝部分，所述子传感器613设置在彼此相邻的主传感器612之间。狭缝部分的宽度和滑动部分的长度可以由电容触控板的设计者设计。所述子传感器613可以设置在一个主传感器附近。所述子传感器613的每个宽度可从电容触控板的边缘部分朝着电容触控板的中心部分逐渐增加。

在本示例性实施例中，当第二轴是Y轴时，第一轴可为X轴；当第一轴是X轴时，第二轴可为Y轴。

所述第一主连接布线614连接到主传感器612的每个第一端部。所述第一主连接布线614可包括与主传感器612相同的材料。此外，所述第一主连接布线614可在形成主传感器612的时候被形成。

在本示例性实施例中，每个所述第一主连接布线614可发挥传递从电容测量电路620输出的感测信号到每个主传感器612的作用，并且发挥传递在每个主传感器612处感测到的感测信号到电容测量电路620的作用。

所述第二主连接布线615连接到主传感器612的每个第二端部。所述第二主连接布线615可包括与主传感器612相同的材料。此外，所述第二主连接布线615可在形成主传感器612的时候被形成。

在本示例性实施例中，每个所述第二主连接布线615可发挥将从电容测量电路620输出的感测信号传递至每个主传感器612的作用，并且发挥将在每个主传感器612处感测到的感测信号传递至电容测量电路620的作用。

所述第一子连接布线616被连接至每个子传感器613的第一端部和电容测量电路620。所述第一子连接布线616可包括与子传感器613相同的材料。此外，所述第一子连接布线616可在形成子传感器613的时候被形成。

所述第二子连接布线617被连接至每个子传感器613的第二端部和电容测量电路620。所述第二子连接布线617可包括与子传感器613相同的材料。此外，所述第二子连接布线617可在形成子传感器613的时候被形成。在本示例性实施例中，第一子连接布线616的延伸方向与第二子连接布线617的延伸方向彼此相对。也就是说，当所述第一子连接布线616沿着Y轴方向延伸时，所述第二子连接布线617沿着-Y轴方向延伸。

在此示例性实施例中，设置在与主传感器长度方向垂直的线上的子传感器的第一侧连接到第一子连接布线616，并且设置在与主传感器长度方向垂直的线上的子传感器的第二侧连接到第二子连接布线617。在此情况下，第一子连接布线616设置在连接到第一子连接布线616的子传感器和设置在相应的子传感器左侧的主传感器之间。此外，第二子连接布线617设置在连接到第二子连接布线617的子传感器和设置在相应的子传感器右侧的主传感器之间。

在此示例性实施例中，每个所述第一子连接布线616可发挥将从电容测量电路620输出的感测信号传递至每个子传感器613的作用，并且发挥将在每个子传感器613处感测到的感测信号传递至电容测量电路620的作用。例如，当所述第一子连接布线616发挥将从电容测量电路620输出的感测信号传递至每个子传感器613的作用时，所述第二子连接布线617发挥将在每个子传感器613处感测到的感测信号传递至电容测量电路620的作用。与此同时，当所述第一子连接布线616发挥将在每个子传感器613处感测到的感测信号传递至电容测量电路620的作用时，所述第二子连接布线617发挥将从电容测量电路620输出的感测信号传递至每个子传感器613的作用。

所述电容测量电路620被连接至每个主传感器612和子传感器613的两个端部，以通过感测主传感器612和子传感器613的电容变化来测量触摸位置。

尤其是，所述电容测量电路620通过第一主连接布线614和第二主连接布线615被连接至主传感器612，并且通过第一子连接布线616和第二子连接布线617被连接至子传感器613。所述电容测量电路620通过感测主传感器612和子传感器613的电容变化来测量触摸位置。

如上所述，根据本发明，电容测量电路被构成，用于将参考信号施加至触摸传感器的第一侧并且用于接收具有变化电压的参考信号，所述变化电压是由于通过触摸传感器的第二侧产生触摸的时候在触摸传感器中形成的电阻和电容导致的。电容测量电路和触摸传感器之间的电阻差被补偿，以使其可减少测量的触摸时间的失真，从而精确测量电压变化。

图18为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。具体地，其描述了：具有对应于电容触控板的第一侧的长度的主传感器，以及沿着一条线与主传感器并联设置的子传感器，被交替地布置以限定感测组。

参见图18，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置2100包括一电容触控板2110和设置在该电容触控板2110上的一电容测量电路2120。

所述电容触控板2110包括：基底2111，多个主传感器2112，沿着在每个主传感器2112附近的一条线设置的多个子传感器2113。所述子传感器2113基于一个主传感器2112以一对多的对应关系设置。在此示例性实施例中，主传感器2112与沿着一条线设置的子传感器2113被交替布置。换言之，多个子传感器2113沿着在一个主传感器2112附近的一条线设置的这一结构被不断重复。在此示例性实施例中，设置在垂直于主传感器2112长度方向的假想线上的子传感器2113彼此连接。

所述基底2111包括触摸区域TA和围绕该触摸区域TA的周边区域PA。在此示例性实施例中，所述基底2111具有由长边和短边限定的矩形形状。所述基底2111可以是脊型材料或者柔性型材料。

所述主传感器2112被设置在触摸区域TA上以感测第一轴的触摸位置。在此示例性实施例中，当第二轴是Y轴时，第一轴可为X轴；当第一轴是X轴时，第二轴可为Y轴。每个主传感器2112都具有条形形状以沿着Y轴方向延伸并且沿着X轴方向布置。每个主传感器2112具有均匀的宽度。

所述子传感器2113以一对多的对应方式设置而与主传感器2112并联，以感测第二轴的触摸位置。每个子传感器2113被设置在彼此相邻的主传感器2112之间，并且沿着Y轴方向延伸，以沿着X轴方向布置。所述子传感器2113被设置在一个主传感器2112附近。

主传感器2112和子传感器2113可以由金属网、氧化铟锡(ITO)、银纳米线、碳纳米管等形成，所述金属网具有每单位面积的恒定电阻。进一步地，所述主传感器2112与所述子传感器2113可以由银材料，金属材料，石墨烯材料等形成。在此示例性实施例中，为了方便描述，显示出了主传感器2112的数量为2并且沿线设置的子传感器2113的数量为4；然而，并不限于此。

所述电容触控板2110还可包括多个子连接布线2114。每个所述子连接布线2114连接到设置在垂直于主传感器2112的长度方向的假想线上的子传感器2113。例如，当从图1观察时，设置在第一行的子传感器通过第一子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，设置在第二行的子传感器通过第二子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，设置在第三行的子传感器通过第三子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，以及设置在第四行的子传感器通过第四子连接布线(未示出附图标记)彼此连接。

所述电容触控板2110还可包括多个第一次旁路布线2116以及设置在周边区域PA上的多个第二次旁路布线2117。

第一次旁路布线2116连接到分别设置在电容触控板2110的左侧区域和电容测量电路2120的最外侧子传感器。

第二次旁路布线2117连接到分别设置在电容触控板2110的右侧区域和电容测量电路2120的最外侧子传感器。

所述电容触控板2110可进一步包括多个主连接布线2118，其连接到每个主传感器2112第一端部和电容测量电路2120。

电容测量电路2120连接到每个主传感器2112和子传感器2113的两个端部，以通过感测主传感器2112和子传感器2113的电容变化来测量触摸位置。

在图18中的设置在同一行的子传感器这一结构中，左侧最外面的子传感器通过第一次旁路布线2116连接至电容测量电路2120，而右侧最外面的子传感器通过第二次旁路布线2117连接至电容测量电路2120。

然而，第一次旁路布线2116与第二次旁路布线2117可以省略或者可以不连接到电容测量电路2120，以物理和电气浮动。当第一次旁路布线2116或第二次旁路布线2117未连接到电容测量电路2120且其为物理和电气浮动的时候，相应的次旁路布线可以在邻近最外侧子传感器的区域中省略，并且在邻近电容测量电路2120的区域中省略。

如上所述，根据本发明，由于主传感器，子传感器，主连接布线，子连接布线，第一次旁路布线和第二次旁路布线被设置在同一平面中，其可获得单层结构的电容触控板。

进一步地，主传感器和子传感器彼此独立地连接以获得电容触控板，使得其可实现多点触控。

此外，一个主连接布线连接至主传感器以及邻近所述主传感器的子传感器彼此串联连接以连接到电容测量电路，以使得其可降低接触区域内的布线复杂性。

图19为一幅示意图，示出了通过图18中所示的电容触控板的触摸感测。

参见图19，用于感测触摸部分的X轴坐标值的操作通过使用主传感器X0和X1而被实施。

例如，在感测信号被输出到布置在第一列的主传感器X0的第一侧之后，其通过子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X0的第一侧之后，其通过子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过布置在所有列中的主传感器的第一侧输出感测信号后，它可以通过经由子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的X轴值，以感测主传感器的电容变化量。

然后，用于感测触摸坐标的Y轴坐标值的操作通过使用子传感器被实施。

例如，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第二侧之后，所述子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)被设置在第一行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y0(1)，Y0(2)和Y0(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第二侧之后，所述子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)被设置在第二行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y1(1)，Y1(2)和Y1(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

然后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第二侧之后，所述子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)被设置在第三行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y2(1)，Y2(2)和Y2(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

随后，在感测信号输出到子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)的第一侧之后，所述子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)被设置在第四行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。随后，在感测信号输出到子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)的第二侧之后，所述子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)被设置在第四行以彼此串联连接，它通过相应的子传感器Y3(1)，Y3(2)和Y3(3)的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过彼此串联连接的子传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由彼此串联连接的子传感器通过主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的Y轴值，以感测主传感器的电容变化量。

在图19中，它描述了触摸位置的X坐标在以下结构中被检测，其中，主传感器的第一侧连接到电容测量电路。可选地，它也可检测以下结构中的触摸位置的X坐标，其中，主传感器的第一和第二侧连接到电容测量电路。

例如，在感测信号被输出到布置在第一列的主传感器X0的第一侧之后，其通过相应的主传感器X0的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第一列的主传感器X0的第二侧之后，其通过相应的主传感器X0的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

随后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第一侧之后，其通过相应的主传感器X1的第二侧接收感测信号，以感测电容变化。然后，在感测信号被输出到布置在第二列的主传感器X1的第二侧之后，其通过相应的主传感器X0的第一侧接收感测信号，以感测电容变化。

以这种方式，通过布置在所有列中的主传感器的第一侧输出感测信号后，它可以经由主传感器通过主传感器的第二侧接收所述感测信号检测对应于一个或多个触摸坐标的X轴值，以感测主传感器的电容变化量。

图20为一幅平面图，示意性地示出了图18中所示的电容触控板的一个变形例。

参见图20，所述电容触控板2200包括第一感测组2210和与第一感测组2210镜像对称的第二感测组2220。当观察图20时，第一感测组2210设置在电容触控板2200的左侧区域，而第二感测组2220设置在电容触控板2200的右侧区域。

所述第一感测组2210包括：沿Y轴方向延伸以沿着X轴方向设置的多个主传感器，以及沿着与每个主传感器相邻的线布置的多个子传感器。当观察图20时，设置在相同的X坐标的子传感器通过子连接布线彼此连接。主传感器和子传感器的描述如图18中所描述的一样，以便省略其详细描述。

所述第二感测组2220包括：沿Y轴方向延伸以沿着X轴方向设置的多个主传感器，以及沿着与每个主传感器相邻的线布置的多个子传感器。设置在第二感测组2220中的主传感器和子传感器的设置结构与设置在第一感测组2210中的主传感器和子传感器的设置结构是左右对称的。

在此示例性实施例中，第一次旁路布线2216分别连接至检测相同的X坐标的第一感测组2210的最外侧子传感器，而第二次旁路布线2226分别连接至第二感测组2220的最外侧子感测器，所述第一次旁路布线2216和所述第二次旁路布线2226可以独立地连接到电容测量电路2120(如图18中所示)。可选地，第一次旁路布线2216分别连接至检测相同的X坐标的第一感测组2210的最外侧子传感器，而第二次旁路布线2226分别连接至第二感测组2220的最外侧子感测器，所述第一次旁路布线2216和所述第二次旁路布线2226可以共同地彼此连接，以连接到电容测量电路2120(如图18中所示)。

在本示例性的实施例中，第一主旁路布线2218分别连接至检测相同的Y坐标的第一感测组2210的主传感器，而第二主旁路布线2228分别连接至第二感测组2220的主传感器，所述第一主旁路布线2218与所述第二主旁路布线2228可以独立地连接到电容测量电路2120(如图18中所示)。可选地，第一主旁路布线2218分别连接至检测相同的Y坐标的第一感测组2210的主传感器，而第二主旁路布线2228分别连接至第二感测组2220的主传感器，第一主旁路布线2218和所述第二主旁路布线2228可以共同地彼此连接，以连接到电容测量电路2120(如图18中所示)。

在图20中，显示了用于检测电容式触控面板2200的左侧区域的触摸位置的第一感测组2210和用于检测电容式触控面板2200的右侧区域的触摸位置的第二感测组2220是左右对称的。

但是，四个感测组可以设置在电容触控板上。例如，用于检测对应于电容触控板的第一象限区域的触摸位置的第一感测组可被设置在第一象限上，用于检测对应于电容触控板的第二象限区域的触摸位置的第二感测组可被设置在第二象限上，用于检测对应于电容触控板的第三象限区域的触摸位置的第三感测组可被设置在第三象限上，以及用于检测对应于电容触控板的第四象限区域的触摸位置的第四感测组可被设置在第四象限上。

在图20里，显示了第一次旁路布线分别连接至设置在左侧区域的第一感测组2210的最外侧子传感器，并且第二次旁路布线分别连接至设置在右侧区域的第二感测组2220的最外侧子传感器，所述第一次旁路布线与第二次旁路布线被设置为连接到电容测量电路(未示出)。

但是，对应于第一感测组2210的第一次旁路布线或者对应于第二感测组2220的第二次旁路布线没有连接到电容测量电路，以从所述电容测量电路电气地或物理地浮动。当所述第一次旁路布线或者所述第二次旁路布线没有连接到电容测量电路，以从所述电容测量电路电气地或物理地浮动的时候，相应的次旁路布线可以在一个相邻于相应的最外侧子传感器的区域中被省略，或者在一个相邻于电容测量电路的区域中被省略。

图21为一幅平面图，示意性地示出了图18中所示的电容触控板的一个变形例。

参见图21，电容触控板2300包括第一感测组2310，第二感测组2320，第三感测组2330和第四感测组2340。当观察图21时，第一感测组2310设置在电容触摸板2300的上部区域的上部，第二感测组2320设置在电容触摸板2300的上部区域的下部，第三感测组2330设置在电容触摸板2300的下部区域的上部，以及第四感测组2340设置在电容触摸板2300的下部区域的下部。

主传感器，子传感器，主连接布线，子连接布线和次旁路布线以图18中所示的布置结构被设置在第二感测组2320和第四感测组2340中的每个之上。

主传感器，子传感器，主连接布线，子连接布线和次旁路布线被设置在布置结构中的第一感测组2310和第三感测组2330中的每个之上，该布置结构基于图18中所示的布置结构为水平对称设置。

图22为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图22，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置2400包括电容触控板2110和设置在该电容触控板2110上的电容测量电路2120。

图22中所示的电容式触控装置2400与图18中所示的电容式触控装置2400基本上相同，除了连接到电容测量电路2120的第一和第二次旁路布线2416和2417的结构以外。于是，图22中使用的相同的附图标记表示相同的元件或与图18中所示的那些元件相似的元件，因此，将省略其详细描述。也就是说，类似于图18中所示的电容触控板2110，在图22中所示的电容触控板2110中，主传感器2112和沿着一条线设置的子传感器2113被交替布置。换言之，多个子传感器2113沿着在一个主传感器2112附近的一条线设置的这一结构被不断重复。

在图18中，第一和第二次旁路布线2116和2117中的每一个被独立地连接到电容测量电路2120，以自电容法感测到触摸位置。也就是说，彼此串联连接的子传感器的第一个子传感器和最后一个子传感器是电容测量电路2120的不同端口，以自电容法感测到触摸位置。

可选地，在图22中，第一次旁路布线2416和第二次旁路布线2417通常彼此连接且被连接到电容测量电路2120，以互电容法感测到触摸位置。例如，连接到对应于第一行的左侧子传感器的第一次旁路布线和连接到对应于第一行的右侧子传感器的第二次旁路布线通常彼此连接且连接到电容测量电路2120。连接到对应于第二行的左侧子传感器的第一次旁路布线和连接到对应于第二行的右侧子传感器的第二次旁路布线通常彼此连接且连接到电容测量电路2120。连接到对应于第三行的左侧子传感器的第一次旁路布线和连接到对应于第三行的右侧子传感器的第二次旁路布线通常彼此连接且连接到电容测量电路2120。连接到对应于第四行的左侧子传感器的第一次旁路布线和连接到对应于第四行的右侧子传感器的第二次旁路布线通常彼此连接且连接到电容测量电路2120。

换言之，彼此串联连接的子传感器的列的方向的第一个和最后一个子传感器共同连接到电容测量电路2120，以互电容法来感测触摸位置。

图23为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图23，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置2500包括电容触控板2110和设置在该电容触控板2110上的电容测量电路2120。

图23中所示的电容式触控装置2500与图18中所示的电容式触控装置2100相同，除了接地构件2518不同以外。于是，相同的附图标记将用于指代与如图18中所述的那些相同或相似的部件，而关于以上元件的任何进一步的解释将被省略。

所述接地构件2518被设置在最接近主传感器2112的子连接布线2114与主传感器2112之间。所述接地构件2518防止在主传感器2112和子连接布线2114之间产生耦合电容。因此，它可增强电容触控板的触摸灵敏度。在此示例性实施例中，所述接地构件2518可由每单位面积具有恒定电阻的金属网、氧化铟锡(ITO)、银纳米线、碳纳米管等制成。此外，所述接地构件2518可由银材料，金属材料，石墨烯材料等制成。

进一步地，所述接地构件2518被设置在第一次旁路布线2116和子连接布线2114之间，所述子连接布线2114设置在电容触控板2110的左侧区域。所述接地构件2518防止在第一次旁路布线2116和设置在其左侧区域的子连接布线2114之间产生耦合电容。因此，它可提高电容触控板的触摸灵敏度。

此外，所述接地构件2518被设置在第二次旁路布线2116和子连接布线2114之间，所述子连接布线2114设置在电容触控板2110的右侧区域。所述接地构件2518防止在第二次旁路布线2117和设置在其右侧区域的子连接布线2114之间产生耦合电容。因此，它可提高电容触控板的触摸灵敏度。

所述接地构件2518从电容测量电路2120接收接地电压。在图23中描述了，所述接地构件2518连接到电容测量电路2120的两个端口以接收接地电压。或者，所述接地构件2518可连接到电容测量电路2120的一个端口。

图24为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图24，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置2600包括电容触控板2110与设置在该电容触控板2110上的电容测量电路2120。

图23中所示的电容式触控装置2600与图18中所示的电容式触控装置2100相同，除了设置在电容式触控装置2600的最外侧区域的子传感器2613的宽度比设置在电容式触控装置2100的最外侧区域的子传感器2113的宽度更窄以外。于是，相同的附图标记将被用于表示相同的元件或与图18中所示的那些元件相似的元件，而关于以上元件的任何进一步的解释将被省略。

在此示例性实施例中，设置在最外侧区域的子传感器2613的宽度基本上是设置在剩余区域的子传感器2613的宽度的一半。

也就是说，设置在左侧区域的最外侧区域的子传感器对应于一个主传感器，而设置在右侧区域的最外侧区域的子传感器对应于一个主传感器。另一方面，设置在剩余区域上的子传感器对应于两个主传感器。

图25为为一幅平面图，示意性地示出了根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置。

参见图25，根据本发明的另一个示例性实施例所述的电容式触控装置2700包括电容触控板2710和设置在该电容触控板2710之上的电容测量电路2720。

所述电容触控板2710包括：基底2711，多个主传感器2712和多个子传感器2713，所述多个子传感器2713沿着在每个主传感器2712附近的一条线设置。所述子传感器2713基于一个主传感器2712以一对多的对应关系设置。在此示例性实施例中，布置在垂直于主传感器2712的长度方向的假想线上的子传感器2713彼此连接。换言之，在图25中，对应于相同的Y坐标值的子传感器彼此连接。

所述基底2711包括触摸区域TA和围绕该触摸区域TA的周边区域PA。在此示例性实施例中，所述基底2711具有由长边和短边限定的矩形形状。所述基底2711可以是脊型材料或者柔性型材料。

所述主传感器2712被设置在触摸区域TA上以感测第一轴的触摸位置。当第二轴是Y轴时，第一轴可为X轴；当第一轴是X轴时，第二轴可为Y轴。在此示例性实施例中，主传感器2712检测X坐标值。所述主传感器2712具有使多个菱形在其上彼此串联连接的形状。与此同时，邻近周边区域PA的主传感器2712可以具有三角形形状。

所述子传感器2713以一对多的对应方式设置而与主传感器2712并联，以感测第二轴的触摸位置。在此示例性实施例中，子传感器2713检测Y坐标值。每个子传感器2713被设置在彼此相邻的主传感器2712之间，并且沿着Y轴方向延伸，以沿着X轴方向布置。所述子传感器2713被设置在一个主传感器2712附近。所述子传感器2713具有菱形形状。与此同时，邻近周边区域PA的子传感器2713可具有三角形形状。

主传感器2712和子传感器2713可以由氧化铟锡(ITO)、金属网、银纳米线、碳纳米管等形成。进一步地，所述主传感器2712与所述子传感器2713可以由银材料，金属材料，石墨烯材料等形成。在此示例性实施例中，为了方便描述，显示出了主传感器2712的数量为2并且沿线设置的子传感器2713的数量为4；然而，并不限于此。

所述电容触控板2710还可包括多个子连接布线2714。每个所述子连接布线2714连接到设置在垂直于主传感器2712的长度方向的假想线上的子传感器2713。例如，当从图1观察时，设置在第一行的子传感器通过第一子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，设置在第二行的子传感器通过第二子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，设置在第三行的子传感器通过第三子连接布线(未示出附图标记)彼此连接，以及设置在第四行的子传感器通过第四子连接布线(未示出附图标记)彼此连接。

所述电容触控板2710还可包括多个第一次旁路布线2716以及设置在周边区域PA上的多个第二次旁路布线2717。

第一次旁路布线2716连接到分别设置在电容触控板2710的左侧区域和电容测量电路2720的最外侧子传感器。

第二次旁路布线2717连接到分别设置在电容触控板2710的右侧区域和电容测量电路2720的最外侧子传感器。

所述电容触控板2710可进一步包括多个主连接布线2718，其连接到每个主传感器2712第一端部和电容测量电路2720。

电容测量电路2720连接到每个主传感器2712和子传感器2713的两个端部，以通过感测主传感器2712和子传感器2713的电容变化来测量触摸位置。

如上所述，根据本发明，由于具有使多个菱形在其上彼此串联连接的形状的主传感器被布置在与具有菱形形状的子传感器相同的层，使得防止云纹现象成为可能，所述云纹现象可由电容触控板和设置在电容触控板下方的显示面板之间的错位引起。

进一步地，由于具有使多个菱形在其上彼此串联连接的形状的主传感器，具有菱形形状的子传感器，主连接布线，子连接布线，第一次旁路布线和第二次旁路布线设置在同一平面中，其可获得单层结构的电容触控板。

进一步地，具有使多个菱形在其上彼此串联连接的形状的主传感器与具有菱形形状的子传感器彼此独立地连接，以获得电容触控板，以使得它可以实现多点触控。

此外，一个主连接布线被连接到主传感器和与彼此串联连接的主传感器相邻的子传感器，以连接到电容测量电路，以使其可在触摸区域内降低布线复杂性。

图26为一幅平面图，示意性地示出了图25中所示的电容触控板的一个变形例。

参见图26，所述电容触控板2800包括沿-Y轴方向依次设置的第一感测组2810，第二感测组2820，第三感测组2830和第四感测组2840。

所述第一感测组2810包括：如图25所示，交替布置的主传感器与沿着一条线布置的子传感器。也就是说，主传感器被限定为彼此串联连接的菱形形状并且与Y轴方向平行地设置，并且每个所述子传感器由与Y轴方向平行设置的每个菱形形状限定。

在连接到主传感器的每个上侧的主连接布线中，设置在左侧区域的主连接布线在左侧方向上延伸，而设置在右侧区域的主连接布线在右侧方向上延伸。

在连接到沿着较低方向延伸的每个子传感器的子连接布线中，设置在左侧区域的子连接布线在左侧方向上延伸，而设置在右侧区域的子连接布线在右侧方向上延伸。

第二感测组2820包括：交替布置的主传感器与沿着一条线布置的子传感器。也就是说，多个子传感器沿着在一个主传感器附近的一条线设置的这一结构被不断重复。在此示例性的实施例中，设置在垂直于主传感器的长度方向的假想线上的子传感器彼此连接。

此外，所述第二感测组2320包括主连接布线和子连接布线。设置在第二感测组上2820上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构相对于设置在第一感测组2810上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构为水平对称布置。

设置在第三感测组上2830上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构相对于设置在第二感测组2820上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构为水平对称布置。于是，关于第三感测组2830的详细说明将被省略。

设置在第四感测组上2840上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构相对于设置在第三感测组2830上的主传感器，子传感器，主连接布线和子连接布线的一种布置结构为水平对称布置。于是，关于第四感测组2840的详细说明将被省略。

如上所述，根据本发明，由于主传感器，子传感器，主连接布线，子连接布线，第一次旁路布线和第二次旁路布线被布置在同一平面中，其可获得单层结构的电容触控板。

进一步地，主传感器和子传感器彼此独立地连接以获得电容触控板，使得其可实现多点触控。

此外，一个主连接布线连接至主传感器和邻近主传感器的子传感器，彼此串联连接以连接到电容测量电路，以使得其可降低接触区域内的布线复杂性。

已经描述了本发明的示例性实施例，进一步值得注意的是，对于本领域的技术人员是显而易见的是，在不脱离本发明的精神和范围的情况下可以进行的各种修改，其由所附权利要求的边界和界限限定。

如上所述，根据本发明，电容测量电路将参考信号施加到触摸传感器的第一侧并且接收具有变化的参考电压的信号，所述变化的参考电压是由于通过触摸传感器的第二侧产生触摸的时候在触摸传感器中形成的电阻和电容导致的。电容测量电路和触摸传感器之间的电阻差被补偿，以使其可减少测量的触摸时间的失真，从而精确测量电压变化。

进一步地，根据本发明所述的电容触控板可以安装在各种产品上，如感测触摸位置的感测装置可被适用。触摸屏类产品被广泛应用于各个行业领域并且由于其优越的空间特性而正在迅速取代按键式设备。最具爆炸性的需求是在手机领域内。具体地，在手机中，方便性和终端的大小非常重要，因此，不包括附加键的触屏手机或者最小化键的数量的手机最近成为了焦点。于是，具有安装在其上的根据本发明所述的电容型触控模式的感测装置，可以在手机中使用并且也可广泛应用于包括触摸屏的电视(TV)，自动服务现金提款和银行汇款的异步传输模式(ATM)设备，电梯，在地铁中使用的售票机，便携式多媒体播放器(PMP)，电子书，导航设备，等等。除此之外，触摸显示装置在需要用户界面的所有领域中取代了一般的按钮式界面。

附图标记的描述

110，310，510，610，2110，2710：电容触控板

111，511,611,2111,2111：基底

112，512，612，2112，2712：主传感器

113，513，613，2113，2713：子传感器

114，514，614：第一主连接布线

115，515，615：第二主连接布线

116，516，616：第一子连接布线

117，517，617：第二子连接布线

118，2116，2416：第一次旁路布线

119，2117，2417：第二次旁路布线

120，520，620，2120，2720：电容测量电路

1410：参考电压产生部 1420：电压比较部

1430：控制部 1440：计时器部

1450，1550：充电/放电部 1452：充电部

1454：放电部 1460：复合开关

1462：第一开关 1464：第二开关

1640：放电控制部 1610，SW：充电/放电开关

1620：第一电流镜 1630：第二电流镜

1650：放电部 1660：第三电流镜

1670：充电控制部 1680：充电部

TA：触摸区域 PA：周边区域

2210，2310，2810：第一感测组 2220，2320，2820：第二感测组

2218：第一主旁路布线 2228：第二主旁路布线

2330，2830：第三感测组 2340，2840：第四感测组

2518：接地构件。