一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法
【专利摘要】本发明提供一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行IC、以及与列ITO图形连接的列ITO，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC；一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列IC。本发明不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。
【专利说明】一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于触控传感器的电容检测装置及其检测方法。
【背景技术】
[0002]触控传感器(Touch Sensor) 一般都是指镀上ITO导电层的触控导电玻璃(ΙΤ0Glass)，或是触控导电薄膜(ΙΤ0 Film)。触控传感器(Touch Sensor)常见的材料包括玻璃以及塑料薄膜PET，触控技术中，包括电阻式以及电容式都是透过ITO Glass或是ITO Film等导电介质进行触控感应，其中触控导电玻璃(ΙΤ0 Glass)，或是触控导电薄膜(ΙΤ0 Film)都称为T1图形，因此被称为触控传感器(Touch Sensor)。
[0003]现有触控传感器(Touch Sensor)的检测是在全部制程结束后给IC通电，根据输出的波形判断缺陷的位置。
[0004]如图1所示，触控传感器(Touch Sensor)包括行ITO图形11、列T1图形12、与行ITO图形11连接的行IC 20、以及与列ITO图形12连接的列IC 30，通过对行IC 10和列IC 20通电，检测触控传感器中行ITO图形11和列ITO图形12的波形断缺陷的位置，但此方法不利于及早发现问题，而且当触控传感器的图案为单层ITO结构时，无法准确定位缺陷出现的具体位置。
【发明内容】
[0005]本发明提的目的检测整块触控传感器电容的均匀性的检测装置和检测方法。
[0006]本发明提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行1C、以及与列ITO图形连接的列ΙΤ0，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC ;一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列1C。
[0007]本发明又提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有单层ITO图形、以及与ITO图形连接的1C，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一电源的一端连接于ITO电极、电源的另一端连接于1C。
[0008]本发明又提供一种检测方法，包括如下步骤:
[0009]给ITO电极和行IC通电，检测行ITO图形各个区域电容值的变化，当行ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO图形的光学异常；
[0010]给ITO电极和列IC通电，检测列ITO图形各个区域电容值的变化，当列ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的列ITO图形的光学异常；
[0011]同时给行IC和列IC通电，当行IC和列IC给予不同的电压时，当行ITO图形和列ITO图形之间有异物，造成行ITO图形和列ITO图形串联时，导致缺陷处的一整行或列电压因串联发生变化，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO和列ITO图形的光学异常。
[0012]本发明又提供一种检测方法，包括如下步骤:
[0013]给ITO电极和IC通电，检测ITO图形各个区域电容值的变化，当ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的ITO图形的光学异常。
[0014]本发明不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1所示为现有触控传感器的结构示意图；
[0016]图2为本发明触控传感器的电容检测装置的结构示意图；
[0017]图3为本发明电容检测装置的行方向通电的结构示意图；
[0018]图4为本发明电容检测装置的列方向通电的结构示意图；
[0019]图5为本发明电容检测装置的行和列方向通电的结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。
[0021]液晶显示技术是一种电光转换技术，即根据加在液晶两侧的电场大小，改变液晶的排列状态，从而改变经过液晶层的光路方向，最终改变液晶显示装置的出光效果。液晶显示技术可以直接把不同大小的电信号转变成不同亮度的光信号，从而显示成图案。从液晶显示技术的电光特性反推，可以根据不同亮度的光信号，判断加在液晶两侧的电场大小。利用这个特点，可以用液晶显示装置测试触控传感器(Touch Sensor)的ITO图形缺陷的具体位置。
[0022]如图2所示为本发明触控传感器的电容检测装置的结构示意图，通过将一液晶显示面板I悬挂在触控传感器2的上方，液晶显示面板I上方设有影像机(CXD) 5，该影像机5连接器电脑6，该影像机5可以阅读液晶显示面板I上的数据信息。
[0023]其中，液晶显示面板I包括玻璃状的上基板11、位于上基板11底部的ITO电极12、下基板14、以及夹设在上基板11和下基板14之间的盘状液晶层13，其中下基板14为具有绝缘作用的下基板，下基板14对应触控传感器I的ITO图形21、22。
[0024]本发明检测装置通过施加第一电源31和第二电源32，其中第一电源31的一端与液晶显示面板I的ITO电极12连接，第一电源31的另一端与触控传感器I的行IC 23连接，第二电源32的一端也与液晶显示面板I的ITO电极12连接，第二电源32的另一端与触控传感器I的行IC 24连接，并在第一电源31与行IC 22之间设有第一开关41、第二电源32与列IC 24之间设有第二开关42。
[0025]液晶显示面板I作为本发明的ITO上电极，触控传感器2的ITO图形21、22作为下电极，通过在液晶显示面板的上基板11的ITO电极12和触控传感器I的ITO图形对应的IC上施加电压产生电场，使ITO图形21、22上方对应的液晶13的状态发生改变，根据液晶显示面板I的显示效果可以有效判断触控传感器I的ITO图形21、22是否存在异常以及整个电容屏电容值的均匀性。
[0026]本检测装置与现有的触控传感器相比，通过用液晶显示装置检测电路基板的电学特性，更加直观形象，且没有外加的机械力不会造成线路板的表面损伤。
[0027]在图2中，液晶显示面板I的下基板14作为绝缘层，会消弱加载到液晶上的电场强度。所以，下基板14必须做到微米级的厚度，这么薄的基板频繁接触到电路基板就容易被电路基板磨损，因此液晶显示面板需要与触控传感器保持一定的距离，该距离为Ium至3mm，这个距离的存在也会消弱加载到液晶上的电场强度。
[0028]图3所示为本电容检测装置的第一开关合并的工作示意图，当通过第一电源31给行IC 23通电后，行ITO图形21作为液晶的下电极，在触控传感器I中，有ITO图形和无ITO图形处的感应电荷不同，因此其电容也不同，可以检测行ITO图形21各个区域电容值的变化。当行ITO图形21上某处有缺陷，则其缺陷对应处的电容发生异常，液晶显示面板I上对应处的光学也异常。
[0029]液晶显示面板I上的数据通过影像机(CXD) 5捕捉后传输至电脑6，可以准确定位行ITO图形缺陷的具体位置。
[0030]图4所示为本电容检测装置的第二开关合并的工作示意图，当通过第二电源32给列IC 24通电后，列ITO图形22作为液晶的下电极，在触控传感器I中，有ITO图形和无ITO图形处的感应电荷不同，因此其电容也不同，可以检测列ITO图形22各个区域电容值的变化。当列ITO图形22上某处有缺陷，则其缺陷对应处的电容发生异常，液晶显示面板I上对应处的光学也异常。
[0031]液晶显示面板I上的数据通过影像机(CXD) 5捕捉后传输至电脑6，可以准确定位列ITO图形缺陷的具体位置。
[0032]图5所示为本电容检测装置的第一开关和第二开关均合并的工作示意图，当给行IC 23和列IC 24同时通电时，根据需要，可以给同样的电压，也可以给不同的电压。当给不同的电压时，当行ITO图形21和列ITO图形22之间某处有异物，造成行ITO图形21和列ITO图形22串联，就会导致缺陷处的一整行或列电压因串联发生变化。对应处感应电荷发生变化，电容也由此发生变化，液晶显示面板I上对应处的光学也异常。
[0033]液晶显示面板I上的数据通过影像机(CXD) 5捕捉后传输至电脑6，可以准确定位行ITO图形21和列ITO图形22缺陷的具体位置。
[0034]本发明不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。
[0035]当触控传感器的图案为单层ITO图形时，此方法可以更简单和准确检测触控传感器的缺陷出现的具体位置。
[0036]当触控传感器的图案为单层ITO图形时，触控传感器具有单层ITO图形、以及与ITO图形连接的1C，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一电源的一端连接于ITO电极、电源的另一端连接于1C。
[0037]检测时，当通过电源给IC通电后，ITO图形作为液晶的下电极，在触控传感器中，有ITO图形和无ITO图形处的感应电荷不同，因此其电容也不同，可以检测行ITO图形各个区域电容值的变化。当ITO图形上某处有缺陷，则其缺陷对应处的电容发生异常，液晶显示面板上对应处的光学也异常。
[0038]液晶显示面板上的数据通过影像机(CXD)捕捉后传输至电脑，可以准确定位ITO图形缺陷的具体位置。
【权利要求】
1.一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行1C、以及与列ITO图形连接的列ΙΤ0，其特征在于:本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC ;一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列1C。
2.根据权利要求1所述的触控传感器的电容检测装置，其特征在于:所述第一电源与行IC之间设有第一开关，第二电源与列IC之间设有第二开关。
3.根据权利要求1所述的触控传感器的电容检测装置，其特征在于:还包括阅读液晶显示面板上的信息的影像机，影像机与电脑连接。
4.根据权利要求1所述的触控传感器的电容检测装置，其特征在于:所述下基板为绝缘基板。
5.根据权利要求4所述的触控传感器的电容检测装置，其特征在于:所述下基板的厚度为微米级，且下基板与触控传感器之间lum-3mm的距离。
6.一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有单层ITO图形、以及与ITO图形连接的1C，其特征在于:本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一电源的一端连接于ITO电极、电源的另一端连接于1C。
7.根据权利要求6所述的触控传感器的电容检测装置，其特征在于:还包括阅读液晶显示面板上的信息的影像机，影像机与电脑连接。
8.权利要求1所述的检测装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤--给ITO电极和行IC通电，检测行ITO图形各个区域电容值的变化，当行ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO图形的光学异常；给ITO电极和列IC通电，检测列ITO图形各个区域电容值的变化，当列ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的列ITO图形的光学异常；同时给行IC和列IC通电，当行IC和列IC给予不同的电压时，当行ITO图形和列ITO图形之间有异物，造成行ITO图形和列ITO图形串联时，导致缺陷处的一整行或列电压因串联发生变化，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO和列ITO图形的光学异常。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于:检测装置还包括阅读液晶显示面板上的信息的影像机，影像机与电脑连接，所述ITO图形的光学异常数据均由影像机捕捉，并在电脑中显示。
10.权利要求6所述的检测装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤--给ITO电极和IC通电，检测ITO图形各个区域电容值的变化，当ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的ITO图形的光学异常。
【文档编号】G06F3/044GK104516144SQ201410810972
【公开日】2015年4月15日 申请日期:2014年12月23日 优先权日:2014年12月23日
【发明者】李淑君, 洪孟锋 申请人:南京中电熊猫液晶显示科技有限公司