技术总结
本发明公开了一种系统磁盘分析方法和装置。所述方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。本发明的技术方案能够准确分析待测系统磁盘的性能情况，降低性能测试的测试难度，提高性能测试分析的效率和性能测试的质量，有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析。
技术研发人员：王庆磊
受保护的技术使用者：北京神州泰岳软件股份有限公司
文档号码：201510907268
技术研发日：2015.12.09
技术公布日：2017.06.16