技术特征：
技术总结
一种装置包括电容采样单元，该电容采样单元在触摸时段期间的多个时间点处测量电容触摸屏显示器的与触摸该电容触摸屏显示器的手指所接触的区域相关联的电容值。该装置还包括触摸变形区域单元，该触摸变形区域单元确定在多个时间点处电容触摸屏显示器上的与触摸电容触摸屏显示器的手指接触的区域的大小。该装置还包括触摸力估计单元，该触摸力估计单元确定与手指接触的区域的大小的变化率，并基于所确定的区域的大小的变化率来估计手指触摸电容触摸屏显示器的触摸力。
技术研发人员：F·约翰逊;M·米德霍特;O·索恩;M·林德奎斯特
受保护的技术使用者：索尼公司
技术研发日：2015.06.10
技术公布日：2017.08.29