待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统与流程

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统。

背景技术：

由于罐装物料的边缘处通常较厚(尤其是顶部区域)，透过x光对该罐装物料进行异物检测时，往往会将该边缘较厚处误判为异物。例如，如图1(a)所示，为罐装物料的原图，通过x光对该罐装物料进行异物检测时，得到异物识别结果图，如图1(b)所示，可以看出，由于罐装物料的瓶口处较厚，导致将该区域误判为异物。

相关技术中，通常通过屏蔽方法将影响异物检测结果的区域进行屏蔽，以避免发生上述罐装物料的边缘处被误判的情况，例如，如图2所示，为某公司在对待测瓶子进行异物检测时对待测瓶子进行屏蔽处理的示例图，如图2所示，黑线以上区域作为屏蔽区域，不做异物识别处理，以防止该屏蔽区域影响异物识别结果。但是，如果如图2所示标示为斜线的三角区域存在异物则不能识别，则会存在检测死角，导致异物识别结果不准确。因此，如何能够精确地获取待测物中屏蔽区域、又能最大程度的减少检测死角已经成为亟待解决的问题。

技术实现要素：

本发明的目的旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种待测物中屏蔽区域的获取方法。该方法实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

本发明的第二个目的在于提出一种待测物中屏蔽区域的获取装置。

本发明的第三个目的在于提出一种检测系统。

为达上述目的，本发明第一方面实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法，包括：获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像，其中，所述待测物包括罐装物或桶装物；对所述第一图像进行二值化处理；获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点和右边缘点，并根据所述左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线；将所述第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将所述第二直线上对应于所述第一直线上像素点按照所述预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点；根据所述新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线，并根据所述第一图像以及所述第一屏蔽阈值曲线获取所述待测物中的第一屏蔽区域。

根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法，可对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，之后，可根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，并将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，最后，将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

为达上述目的，本发明第二方面实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置，包括：第一获取模块，用于获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像，其中，所述待测物包括罐装物或桶装物；二值化处理模块，用于对所述第一图像进行二值化处理；第二获取模块，用于获取经过二值化处理的所述第一图像的左边缘点和右边缘点，并根据所述左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线；平移模块，用于将所述第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将所述第二直线上对应于所述第一直线上像素点按照所述预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点；第三获取模块，用于根据所述新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线，并根据所述第一图像以及所述第一屏蔽阈值曲线获取所述待测物中的第一屏蔽区域。

根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置，可通过二值化处理模块对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，第二获取模块根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，平移模块将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，第三获取模块将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

为达上述目的，本发明第三方面实施例的检测系统，包括：电磁辐射射源，用于发射电磁辐射射线；传送带，用于传送待测物；探测器，用于接收经过所述传送带上的待测物的电磁辐射射线以形成所述待测物的第一图像，其中，所述电磁辐射射源与所述探测器对立设置在所述传送带的两侧；电子设备，所述电子设备与所述探测器相连，所述电子设备包括：一个或者多个处理器；存储器；一个或者多个程序，所述一个或者多个程序存储在所述存储器中，当被所述一个或者多个处理器执行时，执行本发明第一方面实施例所述的待测物中屏蔽区域的获取方法。

根据本发明实施例的检测系统，在得到异物识别的第一图像之后，可对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，之后，可根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，并将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，最后，将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1(a)是通过x射线拍摄到的待测瓶子的原始图像的示例图；

图1(b)是在如图1(a)所示的基础上进行异物识别时待测瓶子的边缘误判的示例图；

图2是现有技术中对待测物进行屏蔽处理的示例图；

图3是根据本发明一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法的流程图；

图4(a)、(b)、(c)、(d)和(e)是根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法的示例图；

图5是根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法获得的屏蔽区域的效果图；

图6是根据本发明一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置的结构框图；

图7是根据本发明一个实施例的第二获取模块的结构框图；

图8是根据本发明另一个实施例的第二获取模块的结构框图；

图9是根据本发明另一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置的结构框图；

图10是根据本发明又一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置的结构框图；

图11是根据本发明再一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置的结构框图；

图12是根据本发明一个实施例的检测系统的结构框图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法、装置以及检测系统。

图3是根据本发明一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法的流程图。如图3所示，该待测物中屏蔽区域的获取方法可以包括：

s310，获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像，其中，待测物包括罐装物或桶装物。

此外，在本发明的实施例中，该电磁辐射射线可包括但不限于x射线等。

例如，假设本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法可应用于待测物中异物检测的系统中，当待测物在传送带上被传送时，传送带的一侧设置有电磁辐射射源，传送带的另一侧设置有探测器，当待测物被传送到电磁辐射射源与探测器之间时，待测物会被电磁辐射射源发射的射线穿透，并且该被穿透的射线照射到探测器上，探测器接收这些射线以形成该待测物的第一图像，本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法可对探测器生成的待测物的第一图像进行图像处理以获取该待测物中的屏蔽区域，即首先，可获取探测器生成的待测物的第一图像。

s320，对第一图像进行二值化处理。

其中，在本发明的实施例中，可通过大津法二值化对第一图像进行二值化处理，如图4(a)所示，为经过大津法二值化处理后的第一图像的示例图。可以理解，大津法是二值化算法中的一种算法，一般的灰度图像的灰度值为0～255，二值化后的图像非黑即白，其中黑白分割阈值可以人为设定如128，小于128即为黑，大于128即为白，而本发明采用的大津法二值化能够自动确定黑白分割阈值。

s330，获取经过二值化处理的第一图像的左边缘点和右边缘点，并根据左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线。

在本发明的实施例中，获取经过二值化处理的第一图像的左边缘点的具体实现过程可包括：从上至下、从左至右扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的左边缘，并记录左边缘中所包含的所有像素点的坐标；遍历左边缘中所包含的所有像素点的坐标，以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件；如果存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件，则将多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为左边缘点。

在本发明的实施例中，获取经过二值化处理的第一图像的右边缘点的具体实现过程可包括：从上至下、从右至左扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的右边缘，并记录右边缘中所包含的所有像素点的坐标；遍历右边缘中所包含的所有像素点的坐标，以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件；如果存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件，则将多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为右边缘点。

其中，在本发明的实施例中，上述多个可为5个，此外，上述预设条件可为：

|p1.x+p2.x+p3.x+p4.x-5*p.x|＜θ(1)

其中，p1.x为像素点p1的x坐标值，p2.x为像素点p2的x坐标值，p3.x为像素点p3的x坐标值，p4.x为像素点p4的x坐标值，p.x为像素点p的x坐标值，θ的取值范围为3～7。可以理解，θ可根据不同检测物体进行设定。

具体地，可通过扫描经过二值化处理的第一图像的左边缘以获取左边缘点：可从上到下、从左到右扫描该经过二值化处理的第一图像，扫描到当前所在行y行，当扫描到该行第一个灰度值为0的像素点(即该行的第一个黑点)，即为边缘点，并记录将该像素点坐标(x,y)，该行扫描结束，继续扫描下一行，直至记录整副图像所有坐边缘的像素点的坐标；之后，遍历记录的所有坐边缘的像素点坐标(x,y)，如果存在连续的5个像素点坐标p、p1、p2、p3和p4，满足上述预设条件，即满足上述公式(1)，则可认为坐标点p为顶部的左边缘像素点pl，遍历结束，如图4(b)所示，pl即为左边缘点。

可通过扫描经过二值化处理的第一图像的右边缘以获取右边缘点：可从上到下、从右到左扫描该经过二值化处理的第一图像，扫描到当前所在行y行，当扫描到该行第一个灰度值为0的像素点(即该行的第一个黑点)，即为边缘点，并记录将该像素点坐标(x,y)，该行扫描结束，继续扫描下一行，直至记录整副图像所有右边缘的像素点的坐标；之后，遍历记录的所有右边缘的像素点坐标(x,y)，如果存在连续的5个像素点坐标p、p1、p2、p3和p4，满足上述预设条件，即满足上述式(1)，则可认为坐标点p为顶部的右边缘像素点pr，如图4(b)所示，pr即为右边缘点。

最后，可利用左边缘点pl、右边缘点pr的坐标值，拟合得到直线l1方程y＝k1*x+b1，如图4(c)所示。

可以理解，左边缘点的获取过程与右边缘点的获取过程可以同时进行，也可以是具有先后顺序，即可先获取左边缘点再获取右边缘点，或者可先获取右边缘点再获取左边缘点。

s340，将第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点。

其中，在本发明的实施例中，上述预设城市距离可通过以下步骤获得：从左边缘点至右边缘点、从上至下扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的上边缘，并记录上边缘中所包含的各个像素点的坐标；根据上边缘中所包含的各个像素点的坐标、以及第一直线上各个像素点的坐标计算第一直线上各个像素点到上边缘的城市距离，并将城市距离作为预设城市距离。

例如，如图4(d)所示，可按照预设方向平移第一直线l1预设距离以形成第二直线l2，将第一直线l1上方，从左边缘点pl到右边缘点pr的所有像素点形成曲线s0，根据第一直线l1的方程、左边缘点pl和右边缘点pr的坐标值通过常规计算方法计算出第二直线l2的方程，然后，将第二直线l2上对应于直线l1的像素点在平移预设城市距离(该预设城市距离等于对于第一直线l1上的像素点到曲线s0的城市距离)，得到新的像素点。

可以理解，在本发明的实施例中，预设方向可以是沿着第一直线上左边缘点垂线的方向向下，或者，沿着第一直线上左边缘点的y轴的负方向向下。下面可从这两个不同的方向分别介绍新的像素点的获取方式：

第一种方式：如图4(d)所示，沿着第一直线l1上左边缘点pl垂线的方向向下平移预设距离以形成第二直线l2，此时第二直线l2上所有像素点对应于第一直线l1上所有像素点，如右边缘点pr对应于pr2，左边缘点pl对应于pl2，计算出第一直线l1上所有像素点到上边缘曲线s0的城市距离，然后将第二直线l2上所有对应第一直线l1上像素点平移预设城市距离，该预设城市距离与第一直线l1上像素点到上边缘曲线s0的城市距离大约相同，如第一直线l1上像素点(x1，y1)到曲线s0距离为d1，对应于直线l2上像素点(x1′，y1′)可以通过常规计算方法得出，在此不再赘述，然后将像素点(x1′，y1′)平移d1，平移的方向可以跟第一直线l1平移到第二直线l2的方向大致一致，从而可以得到平移预设城市距离后的新的像素点。具体如下：

a、扫描经过二值化处理后的第一图像的上边缘

从左边缘点pl到右边缘点pr、从上到下扫描该第一图像，当扫描到第一个灰度值为0的像素点时(该行的第一个黑点)，该列扫描结束，记录该像素点坐标(x,y)，并计算该像素点到第一直线l1的城市距离di，如该像素点坐标为(x1，y1)，则该像素点到第一直线l1的城市距离为d1＝|y1—(k1*x1+b1)|；

b、向下将第一直线l1平行移动预设距离(该预设距离为用户设定可调值)，得到第二直线l2的方程为y＝k2*x+b2，计算出左右边缘点pl、pr到第二直线l2上的垂点pl2、pr2的坐标值，如图4(d)所示；

从点pl2到点pr2，依次计算第二直线l2上各个像素点向下移动预设城市距离后得到对应的平移后的新的像素点，该新的像素点的坐标可为(x，k2*x+b2–di)，其中，di为第一直线l1上的各个像素点到曲线s0的城市距离。

例如，第一直线l1上pl到pr之间有100个像素点x1,x2,…,x100，则对应有100个城市距离di,d1,d2,…,d100，第二直线l2与第一直线l1有相对应的100个像素点x1′,x2′,…,x100′，第一直线l1的像素点x1与第二直线l2的相对应的像素点x1′关于对称轴c对称，x1可以通过常规的计算方法得到x1′，再通过方程：y＝k2*x+b2–di，x1′对应的y1′,一次算出所有100个点的坐标为(x1′，y1′)，(x2′，y2′)…,(x100′，y100′)，即新的像素点的坐标。

第二种方式：如图4(e)所示，沿着第一直线l1上左边缘点pl的y轴的负方向向下平移预设距离以形成第二直线l2，此时第二直线l2上所有像素点对应于第一直线l1上所有像素点，如pr对应于pr2，pl对应于pl2，计算出第一直线l1上所有像素点到曲线s0的城市距离，然后将第二直线l2上所有对应第一直线l1上像素点平移预设城市距离，该预设城市距离与第一直线l1上像素点到曲线s0的城市距离大约相同，例如，第一直线l1上像素点(x1，y1)到曲线s0距离为d1，对应于第二直线l2上像素点(x1′，y1′)可以通过常规计算方法得出，在此不再赘述，然后将该像素点(x1′，y1′)平移d1，平移的方向可以跟第一直线l1平移到第二直线l2的方向大致相同，此时得到该像素点(x1′，y1′)对应的新的像素点坐标。其中，新的像素点坐标的获取方式，跟上述第一种方式基本相同，就是平移的方向不同而已，如图4(e)所示，在此不再赘述。

s350，根据新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线，并根据第一图像以及第一屏蔽阈值曲线获取待测物中的第一屏蔽区域。

具体地，在获得新的像素点之后，可将这些新的像素点进行线连接，形成第一屏蔽阈值曲线，如图4(d)和图4(e)所示的第一屏蔽阈值曲线s1。之后，对于第一图像中的每列像素点，将纵坐标值大于第一屏蔽阈值曲线在每列的纵坐标值的像素点所在区域作为第一屏蔽区域。也就是说，在找到第一屏蔽阈值曲线之后，可对经过二值化处理后的第一图像进行异物识别后的图像进行屏蔽处理，即对于每列像素点，只要是像素点坐标y值大于曲线s1在该列的坐标y值，都是屏蔽区域，即第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物的第一屏蔽区域。

根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法，可对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，之后，可根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，并将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，最后，将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

为了能够尽可能的减少检测死角，可将待测物的本身物料进行屏蔽，即将待测物的本身物料的内侧作为非屏蔽区域，待测物的本身物料的外侧区域作为屏蔽区域，因此，还可对待测物的左边、右边和底部进行屏蔽处理，例如，可扫描第一图像的左右跟底部，记录图像的边缘点，所有边缘点形成边缘曲线(或者扫描二值化后的第一图像来获取左、右跟底部的边缘点形成边缘曲线)，然后，将左、右、底部的边缘曲线向待测物的内侧平移一定宽度，该宽度根据用户需求自行调节，平移后的边缘曲线即为屏蔽线sl、sr和sb，此时，屏蔽曲线外侧的为屏蔽区域，内侧为非屏蔽区域，如图5所示。具体如下：

在本发明的一个实施例中，该待测物中屏蔽区域的获取方法还可包括：从左至右、从下至上扫描第一图像，获取第一图像中待测物的底部边缘点，并将底部边缘点进行线连接以形成底部边缘曲线；将底部边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第二预设距离以形成第二屏蔽阈值曲线sb，并将第一图像中第二屏蔽阈值曲线的下方区域作为第二屏蔽区域。

具体地，从左到右、从下到上扫描第一图像，扫描当前列x，当扫描到像素点p，其灰度值gray满足条件gray<th(其中，th为用户设定可调值)，则点p即为当前列下边(即底部)缘屏蔽临界点，设定屏蔽宽度阈值d_b，当前列像素点pi.y<p.y+d_b都为屏蔽区域，该列扫描结束，继续扫描下一列直至整副图像完毕；其中，pi.y表示点pi的纵坐标值。

在本发明的一个实施例中，该待测物中屏蔽区域的获取方法还可包括：从下至上、从左至右扫描第一图像，获取第一图像中待测物的左边缘点，并将左边缘点进行线连接以形成左边缘曲线；将左边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第三预设距离以形成第三屏蔽阈值曲线sl，并将第一图像中第三屏蔽阈值曲线的左方区域作为第三屏蔽区域。

具体地，从下到上、从左到右扫描第一图像，当扫描到像素点p，其灰度值gray满足条件gray<th，则点p即为当前行左边缘屏蔽临界点，设定屏蔽宽度阈值d_l，当前行像素点pi.x<p.x+d_l则都为屏蔽区域，该行扫描结束，继续扫描下一行直至整副图像结束；其中，pi.x表示点pi的横坐标值。

在本发明的一个实施例中，该待测物中屏蔽区域的获取方法还可包括：从下至上、从右至左扫描第一图像，获取第一图像中待测物的右边缘点，并将右边缘点进行线连接以形成右边缘曲线；将右边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第四预设距离以形成第四屏蔽阈值曲线sr，并将第一图像中第四屏蔽阈值曲线的右方区域作为第四屏蔽区域。

具体地，从下到上、从右到左扫描第一图像，当扫描到像素点p，其灰度值gray满足条件gray<th，则点p即为当前行右边缘屏蔽临界点，设定屏蔽宽度阈值d_r，当前行像素点pi.x>p.x-d_r都为屏蔽区域，该行扫描结束，继续扫描下一行直至整副图像结束。

综上，通过本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取方法，可以获取待测物中的整个屏蔽区域，即如图8所示，线s1、sl、sr和sb形成的区域的外侧为整个待测物的屏蔽区域，即黑色区域以外的区域，，线s1、sl、sr和sb形成的区域的内侧即为待测物的非屏蔽区域。

需要说明的是，上述第一屏蔽区域、第二屏蔽区域、第三屏蔽区域和第四屏蔽区域的获取步骤并无先后关系，即第一屏蔽区域、第二屏蔽区域、第三屏蔽区域和第四屏蔽区域可以同时进行获取，也可以区分先后顺序分别获取。

还需要说明的是，为了能够通过待测物的拍摄原始图像做后期异物识别，不能够破坏待测物的拍摄原始图像，在本发明的一个实施例中，可对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的原始图像进行复制以获取第一图像，并对该第一图像进行屏蔽处理，以得到该待测物的第一屏蔽区域、第二屏蔽区域、第三屏蔽区域和第四屏蔽区域，最后，将第一屏蔽区域、第二屏蔽区域、第三屏蔽区域和第四屏蔽区域与上述原始图像进行合成，得到该待测物的最终屏蔽区域。

与上述几种实施例提供的待测物中屏蔽区域的获取方法相对应，本发明的一种实施例还提供一种待测物中屏蔽区域的获取装置，由于本发明实施例提供的待测物中屏蔽区域的获取装置与上述几种实施例提供的待测物中屏蔽区域的获取方法相对应，因此在前述待测物中屏蔽区域的获取方法的实施方式也适用于本实施例提供的待测物中屏蔽区域的获取装置，在本实施例中不再详细描述。图6是根据本发明一个实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置的结构框图。如图6所示，该待测物中屏蔽区域的获取装置100可以包括：第一获取模块110、二值化处理模块120、第二获取模块130、平移模块140和第三获取模块150。

其中，第一获取模块110用于获取通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的第一图像，其中，待测物包括罐装物或桶装物。

二值化处理模块120用于对第一图像进行二值化处理。

第二获取模块130用于获取经过二值化处理的第一图像的左边缘点和右边缘点，并根据左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线。

具体而言，在本发明的一个实施例中，如图7所示，该第二获取模块130可包括：第一获取单元131、第一判断单元132和第二获取单元133。

其中，第一获取单元131用于从上至下、从左至右扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的左边缘，并记录左边缘中所包含的所有像素点的坐标。

第一判断单元132用于遍历左边缘中所包含的所有像素点的坐标，以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件。

第二获取单元133用于在存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件时，将多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为左边缘点。

在本发明的一个实施例中，如图8所示，在如图7所示的基础上，该第二获取模块130还包括：第三获取单元134、第二判断单元135和第四获取单元136。

其中，第三获取单元134用于从上至下、从右至左扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的右边缘，并记录右边缘中所包含的所有像素点的坐标。

第二判断单元135用于遍历右边缘中所包含的所有像素点的坐标，以判断是否存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件。

第四获取单元136用于在存在连续的多个像素点的坐标满足预设条件时，将多个像素点中纵坐标值最大的像素点作为右边缘点。

其中，在本发明的实施例中，上述多个可为5个。在本发明的实施例中，上述预设条件可为：

|p1.x+p2.x+p3.x+p4.x-5*p.x|＜θ

其中，p1.x为像素点p1的x坐标值，p2.x为像素点p2的x坐标值，p3.x为像素点p3的x坐标值，p4.x为像素点p4的x坐标值，p.x为像素点p的x坐标值，θ的取值范围为3～7。

平移模块140用于将第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点。其中，在本发明的实施例中，预设方向可以为沿着第一直线上左边缘点垂线的方向向下，或者，沿着第一直线上左边缘点的y轴的负方向向下。

具体而言，在本发明的实施例中，平移模块140还用于：从左边缘点至右边缘点、从上至下扫描经过二值化处理后的第一图像，获取经过二值化处理后的第一图像中的上边缘，并记录上边缘中所包含的各个像素点的坐标；根据上边缘中所包含的各个像素点的坐标、以及第一直线上各个像素点的坐标计算第一直线上各个像素点到上边缘的城市距离，并将城市距离作为预设城市距离。

第三获取模块150用于根据新的像素点生成第一屏蔽阈值曲线，并根据第一图像以及第一屏蔽阈值曲线获取待测物中的第一屏蔽区域。具体而言，在本发明的实施例中，第三获取模块150还用于：对于第一图像中的每列像素点，将纵坐标值大于第一屏蔽阈值曲线在每列的纵坐标值的像素点所在区域作为第一屏蔽区域。

进一步地，在本发明的一个实施例中，如图9所示，该获取装置100还可包括：第四获取模块160和第五获取模块170。

其中，第四获取模块160用于从左至右、从下至上扫描第一图像，获取第一图像中待测物的底部边缘点，并将底部边缘点进行线连接以形成底部边缘曲线。

第五获取模块170用于将底部边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第二预设距离以形成第二屏蔽阈值曲线，并将第一图像中第二屏蔽阈值曲线的下方区域作为第二屏蔽区域。

进一步地，在本发明的一个实施例中，如图10所示，该获取装置100还可包括：第六获取模块180和第七获取模块190。

其中，第六获取模块180用于从下至上、从左至右扫描第一图像，获取第一图像中待测物的左边缘点，并将左边缘点进行线连接以形成左边缘曲线。

第七获取模块190用于将左边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第三预设距离以形成第三屏蔽阈值曲线，并将第一图像中第三屏蔽阈值曲线的左方区域作为第三屏蔽区域。

进一步地，在本发明的一个实施例中，如图11所示，该获取装置100还可包括：第八获取模块1100和第九获取模块1110。

其中，第八获取模块1100用于从下至上、从右至左扫描第一图像，获取第一图像中待测物的右边缘点，并将右边缘点进行线连接以形成右边缘曲线。

第九获取模块1110用于将右边缘曲线沿着第一图像中待测物的内侧平移第四预设距离以形成第四屏蔽阈值曲线，并将第一图像中第四屏蔽阈值曲线的右方区域作为第四屏蔽区域。

根据本发明实施例的待测物中屏蔽区域的获取装置，可通过二值化处理模块对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，第二获取模块根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，平移模块将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，第三获取模块将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

为了实现上述实施例，本发明还提出了一种检测系统。

图12是根据本发明一个实施例的检测系统的结构框图。需要说明的是，该检测系统可用于检测待测物中的异物。其中，该待测物可以是罐装物或者桶装物。

如图12所示，该检测系统可包括：电磁辐射射源10、传送带20、探测器30、电子设备40。

其中，电磁辐射射源10用于发射电磁辐射射线。其中，该电磁辐射射线可包括但不限于x射线等。

传送带20用于传送待测物a。

探测器30用于接收经过传送带上的待测物a的电磁辐射射线以形成待测物的第一图像，其中，电磁辐射射源与探测器对立设置在传送带的两侧。

也就是说，当待测物a被传送到电磁辐射射源10与探测器30之间时，待测物a会被电磁辐射射源10发射的射线穿透，并且该被穿透的射线照射到探测器30上，探测器30接收这些射线以形成该待测物的第一图像。

与探测器30相连的电子设备40，包括：一个或者多个处理器；存储器；一个或者多个程序，一个或者多个程序存储在存储器中，当被一个或者多个处理器执行时，执行本发明上述任一个实施例所述的待测物中屏蔽区域的获取方法。

根据本发明实施例的检测系统，可通过电子设备对通过电磁辐射射线拍摄到的待测物的图像进行二值化处理，之后，可根据该图像中的左边缘点的坐标和右边缘点的坐标进行直线拟合以得到第一直线，并将该第一直线按照预设方向平移第一预设距离以形成第二直线，并将第二直线上对应于第一直线上像素点按照预设方向平移预设城市距离以形成新的像素点，最后，将这些新的像素点进行线连接以形成第一屏蔽阈值曲线，该第一屏蔽阈值曲线以上的区域即为待测物中的第一屏蔽区域。相对于传统方式而言，实现了能够精确地获取待测物中的屏蔽区域，并又能最大程度的减少检测死角，提高了屏蔽区域的获取精度。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(eprom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(pga)，现场可编程门阵列(fpga)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。